專利名稱：電路參數多點測試儀的制作方法
技術領域：
本發明涉及虛擬儀器技術領域，是一種電路參數多點測試儀器。
背景技術：
現有的電路參數測試儀器，有些采用矩陣開關，但帶來了開關數量的浪費，有些采 用多路開關，但帶來了測試不靈活的缺點。另外，電路參數測試儀器的擴展性差，多臺測試 儀器不能同時工作。
發明內容
本發明目的在于克服電路參數測試中測試儀器擴展性差，多臺測試儀器不能同時 工作，僅用矩陣開關帶來的開關數量的浪費和僅用多路開關帶來的測試的不靈活的缺點， 提供一種擴展性強、拓撲結構靈活的開放式電路參數多點測試儀。本發明的技術解決方案是一種電路參數多點測試儀，包括至少一臺電路參數測試儀器1、模擬總線2、多路 開關組、轉接器6，所述多路開關組包括多個多路開關5，所述轉接器6用于連接多路開關5 和被測電路9，其特殊之處在于所述電路參數多點測試儀還包括儀器端矩陣開關4，所述 儀器端矩陣開關4用于儀器測試線8和模擬總線2之間的選通，所述每個多路開關5包括 模擬總線連接開關51和電路連接開關52，所述多路開關組的模擬總線連接開關51、模擬總 線2組成電路端矩陣開關7，所述電路連接開關52用于實現測試回路在不同被測電路9之 間的切換。上述電路參數測試儀器1包括萬用表、絕緣性測試儀、耐壓測試儀中的一種或任 意幾種的組合。上述電路參數測試儀器1包括萬用表、信號源、示波器、絕緣性測試儀、耐壓測試 儀中的一種或任意幾種的組合。上述模擬總線2還包括擴展模擬總線3。本發明具有以下優點1、本發明通過測試儀器、儀器端矩陣開關的組合，可實現多種測試功能的任意擴 展；通過增加多路開關的數量可以實現多路測試的測試點數的任意擴展；2、本發明可實現多臺測試儀器同時測試。3、本發明特別適合于大型設備和系統中各種電路的維修和故障定位，可應用于船 舶、航天、航空、大型測試系統及自動化工廠等領域中。
圖1是本發明多芯電纜測試儀的結構示意框圖；圖2是本發明多芯電纜測試儀的拓撲結構圖；其中1_電路參數測試儀器，2-模擬總線，3-擴展模擬總線，4-儀器端矩陣開關，5-多路開關，51-模擬總線連接開關，52-電路連接開關，6-轉接器，7-電路端矩陣開關， 8-儀器測試線，9-被測電路。
具體實施方式
本發明電路參數多點測試儀的組成如圖1和圖2所示，由多臺電路參數測試儀器 1、儀器端矩陣開關4、電路端矩陣開關7、電路連接開關52、轉接器6組成。測試儀器用來實 現被測電路各個性能參數的測試，包括萬用表、信號源、示波器、絕緣性測試儀、耐壓測試儀 等，還可根據需求增加其它參數測試儀。儀器端矩陣開關和電路端矩陣開關用來實現把測 試儀器的測試端選通到不同的電路連接開關52。左邊部分為儀器端矩陣開關，由模擬總線 和測試儀器的儀器測試線通過開關連接而成；右邊部分為電路端矩陣開關，由模擬總線和 模擬總線連接開關51連接而成。模擬總線的數量由同時工作的測試儀器的最多測試線數 決定，其它儀器的測試則采用模擬總線共享的方法。電路連接開關52用來實現測試回路在 被測電路的不同的測試點之間的切換。在2線測試中，把被測電路的兩端分別連接到兩個 電路連接開關上；在4線測試中，按照4線測試的方法，把被測電路的各端分別連接到四個 電路連接開關上；也可以把多個電路分別連接到多個電路連接開關上，對多個被測電路進 行同時測試；可以把多個電路連接開關合并，形成通道更多的電路連接開關。轉接器用來實 現電路連接開關和被測電路之間的連接。本發明是利用電路測試儀器、矩陣開關和多路開關來實現電路參數多點測試的功 能，主要作用是對各種電路的電氣參數、導通性、絕緣性和耐壓等指標進行檢測，并可以把 電路的故障定位到具體的測試點上。本發明測試儀器可以任意擴展，可以把測試儀器的測 試端選通到不同的測試點之間，所以可實現測試回路在不同的測試點之間的切換。本發明模擬總線的數量如果選用4根，則可進行電路參數的2線測試和4線測試； 多路開關選用8個1選24多路開關，可實現2線測試最多80點電路的測試和4線測試最 多40點電路的測試，并可實現兩臺2線測試儀器同時進行工作。圖2所示模擬總線的數量 是5根，擴展模擬總線的數量是2根。本發明可測點數等于多路開關的通道數減去模擬總 線數。本發明可用于多芯電纜的參數和性能測試。
權利要求
一種電路參數多點測試儀，包括至少一臺電路參數測試儀器(1)、模擬總線(2)、多路開關組、轉接器(6)，所述多路開關組包括多個多路開關(5)，所述轉接器(6)用于連接多路開關(5)和被測電路(9)，其特征在于所述電路參數多點測試儀還包括儀器端矩陣開關(4)，所述儀器端矩陣開關(4)用于儀器測試線(8)和模擬總線(2)之間的選通，所述每個多路開關(5)包括模擬總線連接開關(51)和電路連接開關(52)，所述多路開關組的模擬總線連接開關(51)、模擬總線(2)組成電路端矩陣開關(7)，所述電路連接開關(52)用于實現測試回路在不同被測電路(9)之間的切換。
2.根據權利要求1所述的電路參數多點測試儀，其特征在于所述電路參數測試儀器 (1)包括萬用表、絕緣性測試儀、耐壓測試儀中的一種或任意幾種的組合。
3.根據權利要求1所述的電路參數多點測試儀，其特征在于所述電路參數測試儀器(1)包括萬用表、信號源、示波器、絕緣性測試儀、耐壓測試儀中的一種或任意幾種的組合。
4.根據權利要求1或2或3所述的電路參數多點測試儀，其特征在于所述模擬總線(2)還包括擴展模擬總線(3)。
全文摘要
本發明涉及一種電路參數多點測試儀，包括至少一臺電路參數測試儀器、模擬總線、多路開關組、轉接器，所述多路開關組包括多個多路開關，所述轉接器用于連接多路開關和被測電路，所述電路參數多點測試儀還包括儀器端矩陣開關，所述儀器端矩陣開關用于儀器測試線和模擬總線之間的選通，所述每個多路開關包括模擬總線連接開關和電路連接開關，所述多路開關組的模擬總線連接開關、模擬總線組成電路端矩陣開關，所述電路連接開關用于實現測試回路在不同被測電路之間的切換。本發明解決了電路參數測試中測試儀器擴展性差，多臺測試儀器不能同時工作，浪費以及測試不靈活的缺點，具有擴展性強、拓撲結構靈活的優點。
文檔編號G01R31/02GK101876685SQ200910022230
公開日2010年11月3日 申請日期2009年4月28日 優先權日2009年4月28日
發明者劉衛東, 張亞峰, 白曉峰, 郭恩全, 高寶平 申請人:陜西海泰電子有限責任公司