專利名稱：小型碎樣裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種粉碎樣品的裝置，具體的說是用于粉碎少量陶瓷、玻璃、 晶體或礦石等材料的裝置。
背景技術：
在材料研究領域，經常涉及到材料的物相、結構和成分的分析。XRD (X射線 衍射)、SEM (掃描電子顯微鏡)IR (紅外光譜)和TEM (透射電子顯微鏡)等都 是材料分析的常用手段，這些分析手段通常要求供試的樣品為粉體。材料的化學 成分分析一般也需要供試的樣品為粒徑小的粉體。在粉碎少量僅供檢測的樣品 時，通常所用的粉碎裝置氣流磨、砂磨機、攪拌磨、振動磨、高速行星式輥輪磨 機等均不能使用。另外，由于一些陶瓷、玻璃、晶體、礦石等材料價格昂貴，制 備出的樣品少，故不可能有大量的樣品用來粉碎，僅供檢測的少量樣品遠不夠在 這些大型的粉碎裝置中消耗損失，而且還有可能污染樣品，引入一些雜質(主要 為Fe等元素)，不利于檢測。所以在粉碎少量樣品時，只能用研缽來粉碎樣品。
陶瓷、玻璃、晶體、礦石等材料硬度都很大， 一般都用瑪瑙研缽來粉碎樣品。 但在碎樣時，必須將樣品擊碎至顆粒狀，然后研磨。在擊碎過程中，大部分樣品 都濺出研缽，浪費了樣品，如果重新回收濺出的樣品，又容易造成污染，影響檢 測結果。 發明內容
本實用新型目的在于克服上述現有技術不足而提供一種小型碎樣裝置，該裝 置能夠粉碎少量樣品，且避免粉碎的樣品濺出，并能有效地防止污染樣品。
實現本實用新型目的采用的技術方案是 一種小型碎樣裝置至少包括研缽和 杵，研缽外罩有遮擋蓋，遮擋蓋頂部設有圓孔，圓孔直徑大于杵的直徑。
所述遮擋蓋上部分呈半球形，遮擋蓋下部分內設有環形擋片，環形檔片外環 邊固定于遮擋蓋內側，環形檔片內環邊擱置于研缽上，可以起密封作用，避免粉 碎的樣品泄出。其中環形擋片的中心軸與遮擋蓋中心軸重合。研缽的直徑大于環 形擋片的內環直徑，小于環形擋片的外環直徑。
或者研缽上直接蓋有遮擋蓋，且兩者的結合面呈臺階狀。所用研缽的內凹面呈半球面。上述所用杵的下部直徑小于遮擋蓋頂部圓孔直徑，可以方便地從遮擋蓋頂部 圓孔進入，從而方便地粉碎研缽內的樣品。使用本實用新型時，將樣品置于研缽上，合上遮擋蓋，將杵通過遮擋蓋頂部 圓孔把樣品擊碎至顆粒狀，然后移去遮擋蓋，用杵將顆粒狀的樣品研磨至粉末狀。本實用新型的有益效果是(1)可以粉碎少量的樣品，降低了粉碎過程中樣品的損失；(2)避免樣品濺出，節約了樣品；(3)有效地防止在粉碎過程中污染樣品，降低了引入雜質元素的可能。
以下結合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進一步的說明。 圖1為本實用新型第一個實施例的剖面示意圖。圖2為本實用新型第二個實施例的剖面示意圖。圖中，l.杵，2.遮擋蓋頂部圓孔，3.遮擋蓋上部分，4.遮擋蓋，5.遮擋蓋下 部分，6.環形擋片，7.研缽，8.遮擋蓋頂部圓孔，9.遮擋蓋，IO.遮擋蓋與研缽 的結合面，ll.研缽。
具體實施方式
實施例1如圖1所示的小型碎樣裝置，包括杵1、遮擋蓋4和研缽7。遮擋蓋4的材 質可為玻璃、塑料等，研缽2的材質可為瑪瑙、陶瓷、硬質金屬等。遮擋蓋4 的頂部設有圓孔2，圓孔2直徑大于杵1的直徑。遮擋蓋上部分3呈半球形，遮 擋蓋下部分5內設有環形擋片6，環形檔片6外環邊固定于遮擋蓋下部分5的內 側，環形檔片內環邊擱置于研缽上7，防止粉碎的樣品泄出。使用本實用新型時， 將樣品置于研缽7上，合上遮擋蓋4，將杵1通過遮擋蓋頂部圓孔2把樣品擊碎 至顆粒狀，在粉碎樣品的過程中，環形檔片6可防止樣品濺出，節約了樣品。然 后移去遮擋蓋4，用杵將顆粒狀的樣品研磨至粉末狀。實施例2如圖2所示的小型碎樣裝置，包括杵l、遮擋蓋9和研缽11，研缽ll的內凹 面呈半球面。遮擋蓋8的材質可為玻璃、塑料等，研缽ll的材質可為瑪瑙、陶 瓷、硬質金屬等。遮擋蓋8的頂部設有圓孔8，圓孔8直徑大于杵1的直徑。研缽11上直接蓋有遮擋蓋9，且遮擋蓋9與研缽11的結合面10結合面呈臺階狀。 使用本實用新型時，將樣品置于研缽7上，合上遮擋蓋4，將杵l通過遮擋蓋頂 部圓孔2把樣品擊碎至顆粒狀后，在粉碎樣品的過程中遮擋蓋9直接防止樣品濺 出。移去遮擋蓋9，用杵l將顆粒狀的樣品研磨至粉末狀。
權利要求1. 一種小型碎樣裝置，至少包括研缽和杵，其特征在于研缽外罩有遮擋蓋，遮 擋蓋頂部設有圓孔，圓孔直徑大于杵的直徑。
2. 根據權利要求1所述小型碎樣裝置，其特征在于遮擋蓋上部分呈半球形，遮 擋蓋下部分內設有環形擋片，環形檔片外環邊固定于遮擋蓋內側，環形檔片內環 邊擱置于研缽上。
3. 根據權利要求2所述小型碎樣裝置，其特征在于環形擋片的中心軸與遮擋蓋 中心軸重合。
4. 根據權利要求2所述小型碎樣裝置，其特征在于研缽的直徑大于環形擋片的 內環直徑，小于環形擋片的外環直徑。
5. 根據權利要求1所述小型碎樣裝置，其特征在于研缽上直接蓋有遮擋蓋，且 兩者的結合面呈臺階狀。
6. 根據權利要求5所述小型碎樣裝置，其特征在于研缽的內凹面呈半球面。
專利摘要本實用新型提供的一種小型碎樣裝置至少包括研缽和杵，研缽外罩有遮擋蓋，遮擋蓋頂部設有圓孔，圓孔直徑大于杵的直徑。遮擋蓋上部分呈半球形，遮擋蓋下部分內設有環形擋片，環形擋片外環邊固定于遮擋蓋內側，環形擋片內環邊擱置于研缽上，研缽的直徑大于環形擋片的內環直徑，小于環形擋片的外環直徑；或者在內凹面呈半球面的研缽上直接蓋有遮擋蓋，兩者的結合面呈臺階狀。該裝置能夠粉碎少量樣品，且避免粉碎的樣品濺出，并能有效地防止污染樣品，提高檢測精度。
文檔編號G01N1/28GK201156025SQ20082006560
公開日2008年11月26日 申請日期2008年2月2日 優先權日2008年2月2日
發明者珍 李, 飛 李, 金成國, 魯立強 申請人:中國地質大學(武漢)