專利名稱：一種適用于鈾資源勘查的低本底地氣勘查方法
一種適用于鈾資源勘查的低本底地氣勘査方法
技術領'域
本發明屬于鈾資源勘查領域，具體涉及一種適用于鈾資源勘查的低本底 地氣勘查方法。
背景技術：
在隱伏鈾資源勘查中，地氣測量方法是一種定位深部鈾礦體的有效方法。 地氣找鈾方法測量的采樣對象是流經礦體的地氣所攜帶至土壤層中的納米 級鈾微粒，地氣(鈾)測量所使用的探測器是聚酯膜，測量的是天然附著在 聚酯膜上的微量鈾。從市場購置回來的聚脂膜，由于生產廠家的不同而其所 含的雜質、污垢含量也不一樣，如果直接用作地氣探測器，那么其所含的雜 質、污垢等就會成為地氣測量的一種干擾；聚酯膜作為找礦專用的地氣探測 器，在使用前必須經凈化處理(去雜質)，降低其本底鈾含量；地氣探測器上 的本底鈾含量越低，則在鈾礦體上測得的微量鈾信噪比將越大。國內有關部 門多以常態清水漂洗用做地氣探測器的聚酯膜，在降低雜質方面取得了一定 效果，但仍然洗不干凈；在鈾資源勘查中，地氣探測器的野外埋藏方法和最 佳的地氣探測器埋藏時間，也未見報道；國內外的地氣測量方法仍以剖面測 量為主，難以消除體積效應的影響。
發明內容
本發明目的在于提供一種適用于鈾資源勘查的低本底地氣勘査方法，該 勘查方法在鈾資源勘查中可獲得隱伏鈾礦化引起的高信噪比納米級鈾微粒信 息。
實現本發明目的的技術方案 一種適用于鈾資源勘查的低本底地氣勘査 方法，它包括以下步驟
(1) 把擬用做地氣探測器的聚酯膜裁減成坯料；
(2) 將超聲波清洗器置于凈化工作臺里，在超聲波清洗器中加入去離子 水；
(3) 將聚酯膜探測器浸泡于超聲波清洗器中的去離子水中，在常溫、常壓條件下，應用超聲波、去離子水清洗時間至少卯分鐘；
(4)將去離子水中的聚酯膜探測器晾干且稱重后，封裝在保鮮袋中，便 制成了用于鈾礦勘查的低本底地氣探測器；
(5) 在鈾資源勘查區，設置等間距的測線，每條測線上取點距和線距相 等的多^f點；在每一個測點下方挖50cm 60cm深的深坑，將坑底部整平， 并在現場將懸有細線的聚酯膜探測器，通過細線固定在半球形塑料容器的內 側頂部，將半球形容器開口向下，放置在坑底；在深坑的上面用塑料布遮封， 最后在其上面用浮土覆蓋；
(6) 應用地氣方法尋找隱伏鈾礦時，將地氣探測器的埋藏時間至少為 30天，埋藏時間到期后，取出各個測點對應的聚酯膜地氣探測器，且封裝在 塑料保鮮袋中；
(7) 對聚酯膜地氣探測器經灰化、酸溶預處理后，再用等離子體質譜儀 實施樣品中的鈾測量、并進行聚酯膜地氣探測器重量歸一化處理后，可獲得 聚酯膜地氣探測器中的納米級鈾含量。
本發明的有益技術效果在于本發明綜合應用超聲波、去離子水清洗的 聚酯膜地氣探測器，可極大地減低探測器本身引起的各種干擾噪聲；提出的 野外地氣采集和分析測試方法容易操作，有利于獲得高信噪比的納米級鈾異 常信息；提出的點距和線距相等的面積測量方法，相對于"剖面測量"方法 而言，有利于消除體積效應的影響；采用多重分形空間插值方法，在保持和 增強局部異常信息方面具有良好的應用效果。
具體實施例方式
下面結合實施例對本發明所提供的一種適用于鈾資源勘查的低本底地氣 勘査方法作進一步詳細說明。 實施例1
一種適用于鈾資源勘查的低本底地氣勘查方法，它包括以下步驟
(1) 在室內把擬用做地氣探測器的聚酯膜裁減成4cmx4cm的坯料。
(2) 在室內，將公知的超聲波清洗器置于凈化工作臺里，在超聲波清 洗器中加入一半容積的去離子水。
(3) 將聚酯膜探測器浸泡于超聲波清洗器中的去離子水中，在常溫、 常壓條件下，應用超聲波、去離子水清洗時間達90分鐘。(4) 將去離子水中的聚酯膜探測器晾干且稱重后，封裝在保鮮袋中， 編號后，便制成了用于鈾礦勘査的低本底地氣探測器。
(5) 在鈾資源勘查區，設置20條等間距的測線，每條測線上取點距和 線距相等的多個點；在每一個測點下方挖50cm深的深坑，將坑底部整平， 并在現場將懸有細線的聚酯膜探測器，通過細線固定在半球形塑料容器的內 側頂部，將半球形容器開口向下，放置在坑底；在深坑的上面用塑料布遮封
(防漏氣、擋雨水)，最后在其上面用浮土覆蓋。
(6) 應用地氣方法尋找隱伏鈾礦時，將地氣探測器的埋藏時間設為30 天，時間到后，取出各個測點對應的聚酯膜地氣探測器(避免探測器受人為 污染)，且封裝在塑料保鮮袋中，編號封存。
(7) 在實驗室里，對聚酯膜地氣探測器經公知的灰化、酸溶預處理后， 再用公知的等離子體質譜儀實施樣品中的鈾測量、并進行聚酯膜地氣探測器 重量歸一化處理后，可獲得聚酯膜地氣探測器中的納米級鈾含量。
(8) 采用公知的多重分形插值方法繪制出研究區地氣中鈾含量等值圖; 然后應用公知的統計分析方法圈定鈾異常下限，對鈾礦化的空間位置進行推
實施例2
一種適用于鈾資源勘査的低本底地氣勘查方法，它包括以下步驟
(1) 在室內把擬用做地氣探測器的聚酯膜裁減成6cmx6cm的坯料。
(2) 在室內，將公知的超聲波清洗器置于凈化工作臺里，在超聲波清 洗器中加入三分之二容積的去離子水。
(3) 將聚酯膜探測器浸泡于超聲波清洗器中的去離子水中，在常溫、 常壓條件下，應用超聲波、去離子水清洗時間達150分鐘。
(4) 將去離子水中的聚酯膜探測器晾干且稱重后，封裝在保鮮袋中， 編號后，便制成了用于鈾礦勘查的低本底地氣探測器。
(5) 在鈾資源勘查區，設置30條等間距的測線，每條測線上取點距和 線距相等的多個點；在每一個測點下方挖55cm深的深坑，將坑底部整平， 并在現場將懸有細線的聚酯膜探測器，通過細線固定在半球形塑料容器的內 側頂部，將半球形容器開口向下，放置在坑底；在深坑的上面用塑料布遮封
(防漏氣、擋雨水)，最后在其上面用浮土覆蓋。
5(6) 應用地氣方法尋找隱伏鈾礦時，將地氣探測器的埋藏時間設為40
天，時間到后，取出各個測點對應的聚酯膜地氣探測器(避免探測器受人為污染)，且封裝在塑料保鮮袋中，編號封存。
(7) 在實驗室里，對聚酯膜地氣探測器經公知的灰化、酸溶預處理后，
再用公知的等離子體質譜儀實施樣品中的鈾測量、并進行聚酯膜地氣探測器重量歸一化處理后，可獲得聚酯膜地氣探測器中的納米級鈾含量。
(8) 采用公知的多重分形插值方法繪制出研究區地氣中鈾含量等值圖;然后公知的應用統計分析方法圈定鈾異常下限，對鈾礦化的空間位置進行推斷。
實施例3
一種適用于鈾資源勘査的低本底地氣勘査方法，它包括以下歩驟
(1) 在室內把擬用做地氣探測器的聚酯膜裁減成8cmx8cm的坯料。
(2) 在室內，將公知的超聲波清洗器置于凈化工作臺里，在超聲波清洗器中加入五分之四容積的去離子水。
(3) 將聚酯膜探測器浸泡于超聲波清洗器中的去離子水中，在常溫、常壓條件下，應用超聲波、去離子水清洗時間達180分鐘。
(4) 將去離子水中的聚酯膜探測器晾干且稱重后，封裝在保鮮袋中，編號后，便制成了用于鈾礦勘査的低本底地氣探測器。
(5) 在鈾資源勘查區，設置40條等間距的測線，每條測線上取點距和線距相等的多個點；在每一個測點下方挖60cm深的深坑，將坑底部整平，并在現場將懸有細線的聚酯膜探測器，通過細線固定在半球形塑料容器的內側頂部，將半球形容器開口向下，放置在坑底；在深坑的上面用塑料布遮封
(防漏氣、擋雨水)，最后在其上面用浮土覆蓋。
(6) 應用地氣方法尋找隱伏鈾礦時，將地氣探測器的埋藏時間設為50天，時間到后，取出各個測點對應的聚酯膜地氣探測器(避免探測器受人為污染)，且封裝在塑料保鮮袋中，編號封存。
(7) 在實驗室里，對聚酯膜地氣探測器經公知的灰化、酸溶預處理后，再用公知的等離子體質譜儀實施樣品中的鈾測量、并進行聚酯膜地氣探測器重量歸一化處理后，可獲得聚酯膜地氣探測器中的納米級鈾含量。
(8) 采用公知的多重分形插值方法繪制出研究區地氣中鈾含量等值6然后公知的應用統計分析方法圈定鈾異常下限，對鈾礦化的空間位置進行推 斷。
權利要求
1.一種適用于鈾資源勘查的低本底地氣勘查方法，其特征在于它包括以下步驟(1)把擬用做地氣探測器的聚酯膜裁減成坯料；(2)將超聲波清洗器置于凈化工作臺里，在超聲波清洗器中加入去離子水；(3)將聚酯膜探測器浸泡于超聲波清洗器中的去離子水中，在常溫、常壓條件下，應用超聲波、去離子水清洗時間至少90分鐘；(4)將去離子水中的聚酯膜探測器晾干且稱重后，封裝在保鮮袋中，便制成了用于鈾礦勘查的低本底地氣探測器；(5)在鈾資源勘查區，設置等間距的測線，每條測線上取點距和線距相等的多個點；在每一個測點下方挖50cm～60cm深的深坑，將坑底部整平，并在現場將懸有細線的聚酯膜探測器，通過細線固定在半球形塑料容器的內側頂部，將半球形容器開口向下，放置在坑底；在深坑的上面用塑料布遮封，最后在其上面用浮土覆蓋；(6)應用地氣方法尋找隱伏鈾礦時，將地氣探測器的埋藏時間至少為30天，埋藏時間到期后，取出各個測點對應的聚酯膜地氣探測器，且封裝在塑料保鮮袋中；(7)對聚酯膜地氣探測器經灰化、酸溶預處理后，再用等離子體質譜儀實施樣品中的鈾測量、并進行聚酯膜地氣探測器重量歸一化處理后，可獲得聚酯膜地氣探測器中的納米級鈾含量。
全文摘要
本發明屬于鈾資源勘查領域，具體公開一種適用于鈾資源勘查的低本底地氣勘查方法將聚酯膜探測器浸泡于超聲波清洗器中的去離子水中，用超聲波、去離子水清洗至少90分鐘；將聚酯膜探測器晾干后制成地氣探測器；設置等間距的測線，每條測線上多個點；在每一個測點下方挖深坑，將懸有細線的探測器放置在坑底；地氣探測器的埋藏時間至少為30天，到期后，取出各個測點對應的地氣探測器；地氣探測器經灰化、酸溶預處理后，再用等離子體質譜儀實施樣品中的鈾測量、并進行聚酯膜地氣探測器重量歸一化處理后，獲得納米級鈾含量。本發明的方法在鈾資源勘查中獲得隱伏鈾礦化引起的高信噪比納米級鈾微粒信息。
文檔編號G01V9/00GK101676747SQ200810211220
公開日2010年3月24日 申請日期2008年9月18日 優先權日2008年9月18日
發明者丹 柯, 華 田, 談成龍, 韓紹陽 申請人:核工業北京地質研究院