用于分析干式化學測試元件的方法和裝置的制作方法

專利名稱：用于分析干式化學測試元件的方法和裝置的制作方法
用于分析干式化學測i^;件的方法和^g獄領域本發明涉朋于分析干式化學i斷件的方法和鍾，篇免疫測淑件。 背景獄本技術用于化驗(assay)裝載干式化學觀Ji^件的一種或多種分析物。為此 目的，在測淑件上形成多個化驗區域，如條形、圓形敘形，根據化i^f需液 ,品的用量在鵬區嫩只聚一種或多種分豐斶(如US 6,707,554 Bl)。通常分析 物直接被標記，從而以備隨后干式化學卿K^件的光學分析。干式化學測i^i件 的準備還可以包括禾,緩沖溶液、 、 液 或沖冼。 :tig，干式化學 測i^;件可以皿光學掃描而被分析，從而確定觀!H^i件的化驗區中一種或多種 特定分豐斶的雜。光學掃描，中，掃描化驗區產生的測S^束離開4^區后可ffi3i1tiim 測。Mimtl鵬i^^產生測1^，其一部分利用魏的單頓多色光源產生, ^^述化驗區載有待測光活性物質。在鵬區，須B^e^的光與光活性物質相互 作用，導致測i魏束的光學l4M發生相應的變化，作為觀S^m離開化驗區。當 施加測i^^時，娜、^S^戯光tN"用于分析測l^的光學M。測散 束也可以基于化驗區的光活性物質的發光。隨著測默束離開各自的化驗區后測歡§雖可能會隨分析的化驗區的不同 而不同。例如，測^^在各自鵬區產生的熒光會以不同的《M^:出，這可是 例如待測分析物濃度的指示。發出的頂!B3fe強度與觀察的化驗區的光吸收范圍尤 期眹。如熒光化驗，它的范圍與熒光肝濃度尤期眹。干式化學測販件的光學掃描期間，iKl例如澳'K^件和檢lll^g^撿測 測量，，或測i^&束和光,+樹于彼此而榭奐，從而光學分析一個又一個化 驗區。根據已知的光學掃描禾聘，在開始掃描前設^^3描織，然后開始掃 描。通常設定檢測^CT的度定掃^ES和曝光時間。如mM干式化學ll^^件 上的化驗區鄉弓破不同的測散，會產生有的區鄉ijfi^艘較低的問題，一 艦應于較低濃度的待測分鵬，—些清況下，掃^IM:麵實際上不能收集
到適于分析物的檢測信號。在其他W^:濃度分,的區域，離開化驗區的測量艦的光^X太麵吏當鵬描驗下微^SSg負荷。發明內容本發明的目的在于衝共在一種用于分析干式化學沸K^件的方法和裝置，其 中即便在載有待測光活性物質的檢測元件的化驗區具有不同光學活性時也肖嫩利 用光翔描實現優化分析。根據本發明，鵬蚊權利要求l的用于分析干式化學測細牛的方法禾卿 ^l利要求12的用于分析干式化學觀^f;件的體實l^發明的目的。也麟了 用于進fri會斷藥物測試的方法和體。本發明的雌實施例形成了/AM權利要求 中的主要內容。根據本發明的一個方面，這里,一種分析干式化學測^;件的方法，尤其 免疫學測i玩件，其中利用光對3描分析干式化學測i^;件，由此，測量棘離 開測販件的化驗區，所述化驗區載有一種或多種固定的光活性物質，禾傭檢測 器裝置檢測各測量光 M，戶/M的方^^括以下步驟第一B區光學掃描戰呈 中，具有第一測fi^販的觀^^^開織一鵬區，根據掃描織的第一設S^擇掃描參數，對檢測，置的工作范圍和照射到檢測 置的測1^的第 —光量，相對于彼jtbia糊整，和第二化驗區光學掃描纖中，具有區別于第一 測量光^l的第二測量光纟M的須!)ft^束離開第二化驗區，根據區別于掃描參數 的第一設置的掃描參數的第二^g^擇掃描Mt對檢觀J^S的工作范圍和照 射到檢測l^g的測S^的第二爐，艦于彼鵬預整。根據本發明另一個的方面，麟了一種用于艦光對3描分析干式化學測試 元件的裝置，絲免疫學觀iji^i件，該縫艦魏，用于保if用于^3描 分析的干式化學測販件，檢tJ^S，用于檢測離開微區盼測fi^，戶腐 化驗區載有一種或多種固定的光活性物質，并具有相應的測歡 艘，禾啦帝蝶 置，用于按如下方繼制千式化學測i^;件的光對3描第一化驗區光對3描過 程中，具有第一測量光弓販的頂ijl^^開織一化驗區，根據掃描參數的第一 設置選擇掃描參數，對檢I，置的工作范圍和照射到檢泖J^g的測fi^束的 第一光量，相對于彼雌fi^整，和第二化驗區光^3描ai呈中，具有區別于第 一測量光 雖的第二測^^販的測fi^離開第二化驗區，根據區別于掃描參 數的第一設置的掃描參數的第二^2^f掃描參數，對檢l!l^置的工作范圍和
照朝至|臉 §的測*^的第二 ,相對于《^i^彌整。根據本發明，在分析干式化翔斷件的掃描雖中， 也調魁頓 用的測量系統的光對3描'M,特別是光學元件，4媒與正在分析的化驗區的光 活性相適應。控制照射至IJ檢頂^g的測fi^的^fi，使得檢測器總;K作在 予跌規定的工作范圍。所虹作范圍是為檢測驢予跌規定的，如發光二極管， 發光二極管^電倍增器的二維設置，并可M檢測器適當的電布線有選掛也設 置。檢測器裝置的工作范圍， 一般為檢觀離產生的電信號與照射的光ft^性相關的范圍，檢測^g^J見清晰并可重現的行為。如果照朝至iMi螺表面的^MIg 出檢測器工作范圍，也就是鵬范圍，"^會因為照謝的jfel^:低而觀測不到輸 出信號，棘是檢壩幡超負荷導致1:頓喊非線性。在這種膚況下，即使電輸出信 號能與檢測器噪音區分，iJ5^隹以甚至不可倉調于iff古以分l腺化驗。如果是已 知化驗裝置可再現的響應功能，并允許iff古產生的輸出電信號，非線性范圍也可 指定為檢測^g的工作范圍。測量光^T3Iil特別^iM光束、gM、 t^t光^Mt，的形^測。至于選擇分析明附aw光學'頓可艦具將慮包^m^分析物的干式化學測貌件的性質來決定。娜、CT或艦棘是由于施加在化驗區的測試 光束產生的，所述測i^^與含有固定的光活性物質的化驗區相互作用，源于產 生了相應變化的測量光束。然而，^^^6對3描中也可肖^生熒光和m形式 的皿M。財卜，光學掃描可包括來自化驗區的， 的檢測，i^P分是 由于生物發光、化學發艦電化學發光。生物發^^化學發光的情況下，添加物 質并M f機區的光活性物MM^:光(luminescence)方式的^^鄉。相反， 電化學發光是基于向干式化學測i^^m^區鄉電能，以^t活性物質進行發 光。在本方法的實施例中給出了為雌區鄉電能的魏方式，如一個或多個電 極。光活性物質由一種或多種固定在測^:件上的試劑鵬產生，腿的^S可能^合反應或化學，。準備光^g描MfOT觀^i件期間的，的結果是，產生具備可用于光學掃描'M的光活性物質。結合M^T能為例如免麟合腿 ，化皿。這種反應或化學Mi^J能會發生多次。皿一個或多個結合^， —個或多個固定在測i玩件的試齊阿以被間接豐祝。 一個或多1S^劑的^^也可 能會,硫的試劑的結合。
對于根據掃描參,一^S的掃描，和根據掃描M^二^S的掃描參數之間的轉變，可以提供一個或多個措施(measure),從而將照射至l臉測，置的 測量光束的光量相應體至IJ^PI幡的工作范圍。這鵬施也包括如在測1^^'J 檢U^e路徑中插A^出濾光片。隔膜(diaphragm)的JOT也Jlf共了范例。 理論上，可利用任何措l^l5根據檢i^M的工作范圍調^ 射至'Mi麟置的測量光束的^S。在一實施例中甚至可以ffl^OT檢U^置的電布,改n作范圍，這樣又一次可以實JlMM的^fi和工作范圍間的配合。皿實施例， 在這種連接方式中，放大系數可改變。對檢1^置的工作范圍的調節，可作為替代的或附加措施來影響照射至'J檢測^g的^l:。檢Si^g工作范圍的調節也成為相翔描鵬掃描織的—部分。本發明更皿的實施例提供了如下一個^L個選自如下設定的掃描參數組中的錢掃描艦、曝光時間、11^^的觀微3賊、檢觀幡的放絲數和為化驗區提供電能。掃描皿是指， 一方面其上具有化驗區的干式化學 ^;件， 另一方面特別是包括檢測 §的掃描體，二者的相鄉^MJt。作為附加或 可選擇，j頓測i^;束時，可OT測i^^!31化驗區的3M。 S51^，施， 對^iM七驗區，得到相關的掃描時間，這期間M^f!!Kfi為M^區檢測測 量光束。如果離開化驗區的測S^的觀iS^，相對較低，通常表明分f/^r濃度較低，掃描驗可相應的選擇的較低以ii^夠的測a^^s^射至i臉溯鵬 置。相反的，如果確定不同鵬區的湖IJfi^敏強可加対3Mt。曝光時間是指檢測驟置為化驗區檢測測fi^的時間。其首先^I3描鄉的影響。另外， 可以在預定的時間段或多^hf腕的時間段，開^^暴露^M檢頂^S的檢測 器表面的光學元件。 :，可 可調式隔膜。然而，澳!H^6^的光^ffi常會影 響測M^:束的光強，該測i^^PW式化學lH^;件以進行分析。這個掃描 織也可調整。本發明的一優選實施例中，對于掃描參數的第一和第二設置，至A一個掃描 參數為常數。^一和第二掃描參數間進行B^時，必須g^的掃描,的數目 齡，6K^im本發明的-^選實施例中，在干式化學測i^6件纖掃描過程中，進行根據掃描M^—^a辦3描參數到根據掃描參^m二設置的掃描,的^0更鵬的是，本發明的進1賺為，根據掃描M^—體附3描織到根據掃描M^二^S的掃描,的變化，是H^予l5fcit行的預掃描^S導出的 湖優信息的函數。予M5feia行的予廚3描鵬可鵬關于干式化學i斷件3te化驗 區的光活性的信息，這一信息是鄉M淑目對Uffi^。根據這一信息，化驗區掃描織體可被體，從麗在光學掃描器件相鵬亍變化。預掃描鵬可為快速掃描。作為附加或可選擇，比為隨后的主掃描體更低的併Jf率的劍牛下進行預掃描 。對Tf頁掃描M，不必《OT實際^^析的干式化學1^;件，可使用與化驗區構造類似的,觀y^;件莉示準測^件。本發明優選實施例中，根據掃描# —體的掃描 ^搬據掃描參鄉 二設置的掃描參數的變化，是根據干式化學測^^件光對3描an的當前測量值 導出的當前測量信息的函數。即使掃描行為己予跌設定，掃描鄉呈期間可即時或 當劍^掃描,^ 司的 。本發明的頓—步艦在于，干式化學泖鵬件光學掃描繊中，根據掃描 參，一設置的掃描參數至搬據掃描#|^二^§的掃描參數的對撥生多次。 掃描參數設置間的變化可根據預設的控審慘數自動進行多次。然而，作為附加或 可選擇，掃描娥呈中獲得的當前的測量信息也可能弓胞多次變化。本發明的更,的改進在于，第一^區在利用根據掃描^cB—^g的掃描，的光^3描后,利用根據掃描#^二^1的掃描參數再^2行^3描。 第一化驗區的第二次光^3描可以在隨后的化驗區光對3描之前馬上進行。然而， 也可以在干式化學測^i件，的一次掃描之后^一4t^區進行第二次光對3 描。在此瞎況下，通常需要返回第一化驗區。如禾擁第一體掃描纖，檢測器 ^S上無信號或信號不足以用于分析時,,一ft驗區可以進行第二 M;學掃描。然后iiiie^掃描,的^a再次分析第一i^區。在本發明一個有意義的實施例中，分職相應條區的觀^^z用區，在化驗區光學掃描過程中不會重疊。觀!l試光應用區作為與相關的化驗區關聯的(in conjunction with)光^g描鵬中觀鵬穿過的干式化學lB^i件上的區域。對此， 實施例提供了使得領微細區彼此緊鄰，從而在其間殆有不暴露于測微的 區域。本發明有利的實施例中，鵬第~^ 以位于工作范圍的第~^范圍內，選 擇第二光量以位于工作范圍的與第"T范圍不同的第二子范圍內。更優選的，第 —子范圍和第二子范圍是工作范圍較f舒B較高的子范圍。這樣，檢測^S的工 作范圍和動態范圍得至嘬充分的禾傭。雌的，本發明的一個^a在于，多個相同的條區在一個掃描錢進行光學掃描，并以二維備(resolved) fi^^PJ。該實施例，j頓了允許二維爐 的測^6^^t在檢測器表面的檢i!lll^g。 ^^戶脫的方法的實施例，獸辦測 量掃描方向的橫向上的多個化驗區。^^f述的方法的多種實施例中，光學掃描an中得到的圖像信息可以根據所謂的整合(stitching) iiSbS。 M:M中，單3蟲的圖，合形成全圖，多次產 生的圖象信息，如重疊，可以被消除。！^可以^S利用不同方法獲得的^的 軟件實現。關于本發明用于分析干式化學頂B^;件的裝置的實施例，結合相關的方法給予說明。


結合雌實施例合附圖詳細說明本發明，其中圖i戶^為分析干式化^^測i^;件的^S示意圖，圖2戶標為干式化學 縱件示例， 圖3麻為掃描Mli^圖，圖4所示為干式化學測i^i件示意亂其具有布置于掃描體糊黃向上的多個化驗區，和圖5所示為掃描戰M^意圖，其中干式化學測i^f;件的化驗區第一次掃描鵬后的再次光^3描。具體實舫式圖1戶標為禾擁光對3描分析干式化學l^i件1的錢示意圖。置于支架 2 (特別用作I^;件1的固定器)上的測i^;件1的光學分析，可ili共測i^i件 l化驗區中的一種或多種光活性物質的分析檢測，特別是用于醫學診斷分析。光 活性物質由一種或多種固定在測i^;件1上的試劑H^生，腿的^Z可能是 結合鵬(bindingreaction)或化學鵬。律恪用于光對3描鵬的測淑件期間 發生的反應的結果是，產生具備可用于光，描M的光活性物質。結合HiS可 能為例如免自合皿^HtSiS (hybridization reacticMi)。這種^SiS^;化學g 可能會發生多次。 31—個或多個結合，， 一個或多個固定在、鵬^:件1上的 試齊阿以被間擻祝。 一個或多^H^劑的^^會P^aih豐疏的試劑的結合。
在該實施例中，在光對3描，，觀iJi^W 3產生的測i^^施加給干式化 學測i^;件1。 ilil檢測^g 4可檢測離肝式化學頂縱件1的測默束。 光學分析期間，干式化學測i^;件1和一個或多a學元件(特別是觀^fc源3 ^!!^g 4)之間會發生相對移動。與檢頂!)^a 4和測WI 3 !^的控 翁，5，用于光翔描期間，在^M青況下，針對干式化學觀!H^;件l上的不 同化驗區^t^描參ifctfi^。為了這一目的，控審隨5船到用于在掃描 戰驢生鵬移動的移動單元6。依 帶，5，根據干式化學測^;件1不同化驗區^g掃描參數， 4接收的爐和檢泖 § 4的工作范圍相對于彼ltki^預整。體的 掃描 ^別^括檢測^§ 4的掃Mt和曝光時間，測i^^光強禾P^測 5的放大系數的設定。圖2所示為干式化學測^t件的示意圖，在可設計成如膜的基底20上形成化 驗區21。用于化驗的光活性物質被'俘蕕，(即，被固定)在多個化驗區21。化驗 區21的光活性物質發生結合(binding),特別M31與光活性敏域標識的^f MiS的抗體。掃描期間離開多個化驗區21的測M^束的強度為一個或多個4^區 21中TO的一個或多^h^:活性物質的范圍(extent) t尉瘋indicator)。圖3所示為掃描^fi^m圖，干式化學艦^;件30上為兩個壩Wfc^^ 區31、 32。它們是掃描各自相劉七驗區時測^^151的干式化學測^件30 上的區域。可以看到測W6^用區31、 32彼此相鄰，它們不錢。根據一個實 施例，光對3描時兩個測W(^應用區31、 32的掃描參數的體可以不同，如不 同的掃^S。圖4麻為干式化學頂^￡件40的雜圖，此元件的雌區41不僅髓掃 航向42延伸也在期黃向上(transversely)延伸。光^^描干式化學頂職件40 期間，如果有魏的檢汲!l^g如二維^!5管陣列，可實現掃 向42糊黃向上 的空間分辨率。其優械于，M體的化驗區41屬于"相同信號數i廣，即它們 發出相同淑目似^^的測 ;光束，也可以用,的掃描參數^S來分析。圖5為掃描MIM^圖，第一次掃描之后對干式化學測i^;件50上的化驗區 51積M:對3描，然后對隨后的il^區52進行掃描。這樣，在化驗區51的掃描 過程中，如果確定初始接收的光強不足以產^I合在檢卿J^fiJ^行分析的信 號，則肯辦在，掃描MI呈期間起作用。
以上說明涉及1頓施加到化驗區的觀1^^的光對3描，要分析的光活性物 質以固定的形式存在于化驗區，由此，產生1H^，特別的，該測S3^T以 Jiit^光束、鄉光束、戯出的棘。作為附加或可選擇，用于分析干式化學 測i玩件1 ，產生測fi^，該測fi^鉢上可基于生物發光(bioluminescence)、 化學發M電化學發光M^測。掃描參數可M以上說明^g。戰說明書、權利要斜卩附圖公幵的本發明的餘征，對判MS^對本發明各種實施例的實嫩im
權利要求
1. 一種分析干式化學測試元件的方法，尤其免疫學測試元件，其中利用光學掃描分析干式化學測試元件，由此，測量光束離開測試元件(1；20；30；50)的化驗區(21；41；51)，所述化驗區(21；41；51)載有一種或多種固定的光活性物質，利用檢測器裝置(4)檢測各測量光強度，所述的方法包括以下步驟第一化驗區光學掃描過程中，具有第一測量光強度的測量光束離開該第一化驗區，根據掃描參數的第一設置選擇掃描參數，對檢測器裝置(4)的工作范圍和照射到檢測器裝置(4)的測量光束的第一光量，相對于彼此進行調整，和第二化驗區光學掃描過程中，具有區別于第一測量光強度的第二測量光強度的測量光束離開第二化驗區，根據區別于掃描參數的第一設置的掃描參數的第二設置選擇掃描參數，對檢測器裝置(4)的工作范圍和照射到檢測器裝置(4)的測量光束的第二光量，相對于彼此進行調整。
2. 如^l利要求1戶，的方法，，征在于設為掃描 的一個或多個變量選自以下^t組掃描艦，曝光時間，泖Ji^^的測^^雖，檢 5 (4)的放大系數和化驗區(21; 41; 51)的電能伊應。
3. 如權利要求1或2戶腿的方法，辦征在于掃描 的第一和第二設置中至^V^個掃描皿為常數。
4. 如J^SA一個權利要求戶脫的方法，辦征在于，在干式化學 賦元件(1; 20; 30; 50)纖掃描鵬中，將根據掃描參織一設置的掃描織變^g據掃描^^二^S的掃描Mt
5. 如J^^一個權利要求臓的方法，期寺征在于，根據掃描Mi^一設置的掃描參數到根據掃描參數第二^g的掃描參數的變化，是根據予^ta行 的預掃描鵬導出的測量信息的函數。
6. 如jd^d^個權利要求戶腿的方法，^tr征在于，根據掃描參鄉—^g的掃描參數到根據掃描^^二^S的掃描,的變化，是根l^f式化學澳l斷件(1; 20; 30; 50)光對3描鵬的當ti糧值導出的當箭測量信息的函數。
7. 如J^M^-個權利要求戶;M的方法，，征在于，干式化學 ^件(1; 20; 30; 50)光^^描iil呈中，在根據掃描^B—體的掃描參數與根 據掃描^^二^的掃描#1^間的 ^生多次。
8. 如Jd^M^"個權利要求戶艦的方法，，征在于，第一化驗區在利用根據掃描參I^一^S的掃描，的光對3描后，利用根據掃描^m二iSS 的掃描織積熵行光翔描。
9. 如±^1>~個權利要求臓的方法，蕭征在于，分職目應化驗 區(21; 41; 51)的觀iJi^OT區(31, 32)，在化驗區(21; 41; 51)光學掃描鵬中不會驢。
10. 如J^Sd^"^^權利要求戶;M的方法，，征在于，選擇第一;M以 位于工作范圍的第一子范圍內，選擇第二光量以位于工作范圍的與第一子范圍不 同的第二^^范圍內。
11. 如±3^!>~個權利要求臓的旅，辦征在于，多個相同的雌 區(41)在一個掃描^2進行光學掃描，并以二維，的方^^測。
12. —種用于分析干式化學頂ii^i件的縫，尤其免疫學IJi^;件，其利 用至d^"個前述權利要求的方^a行光學掃描，包括支架(2)，被^g^f用于光學掃描分析的干式化學鵬玩件(1; 20; 30;50),檢測,置(4)，被^g^檢測離開化驗區(21; 41; 51)的測t^，所 述化驗區載有一種或多種固定的光活性物質，并具有相應的測i^M，禾口控第l隨(5),被體來按如下方微制干式化學測i^;件(1; 20; 30; 50)的光翔描..第一化驗區光學掃描戰呈中，具有第一測a^販盼測fty^開織一化 驗區，根據掃描織的第一^a^擇掃描織，對檢i麟置(4)的工作范圍和 照謝至i臉測fi^g (4)的測散束的第~^*，木附于ma糊整，和第二化驗區光學掃描鵬中，具有區另吁第一測1^虧艘的第二測4^破 的測量光束離開第二化驗區，根據區另盱掃描參數的第一體的掃描參數的第二設置選擇掃描參數，對檢測t!M (4)的工作范圍和照射至i臉測i^a (4)的測散束的第二爐，艦于彼雌 整。
13. 女敗利要求12戶腐的體，辦征^^審體(5)被^g^將從以 下錢組選擇的一個或多個錢體為掃描織掃^M，曝光時間，Ui就束的泖jm弓雖，檢1^1 (4) 6^狄系數和化驗區(21; 41; 51)的電能供
14. 女財又利要求12或13戶脫的驢，辦征在于控帶MS (5)被^S^^g描,的第一和第二tM中的至d^個掃描參數^^為常數。
15. 如權利要求12-14中至一個臓的驢，辦征在于，控審隨(5) 被^S^在干式化學頂^i件(1; 20; 30; 50)麟掃描戰呈中，將根據掃描參 鄉—體的掃描參 ^ 掃描#1^二體的掃描織。
16. 如權利要求12-15中至il^^個戶腿的縫，^JT征在于，控律i隨(5) 被體來弓胞根據掃描參麟一體的掃描^^'瓶據掃描 ^二體的掃描 參數的變化，i^^化是根據予l5feia行的預掃描鵬導出的測量信息的函數。
17. 如權利要求12-16中至^"個戶脫的體，辦征在于，控帶鵬(5) 被^S來弓胞根據掃描參 —^§的掃描參數到根據掃描參,二^的掃描 織的變化，被化是根軒式化學測細牛(1; 20; 30; 50)光學掃描鵬的當itr測量值導出的當fr測量^t息的函數。
18. 如權利要求12-17中至^>~個戶腿的體，^IT征在于，控審驢(5) 被^2^在干式化學泖M^件(1; 20; 30; 50)光翔描鵬中，在根據掃描參，一^g的掃描，與根據掃描參，二^g的掃描參lfct間多次e^。
19. 女P^利要求12-18中至^"個戶員的^S， ^!T征在于，控帶，(5) 被設置來，在利用根據掃描#^一^§的掃描#^的光^3描后，禾IJ用根據掃描參,二^a的掃描參i^一化驗區再 ^t行光對3描。
20. ;to^禾腰求12-19中至i^"個，的^S,期伊征在于，控帶mS (5) 被^S^形^!imOT區(31, 32)，該1H^IS用區(31， 32)被分I2^相應 的麟區，從而在鵬區光對3描MI呈中它們不會錢。
21. 如權利要求12-20中至知個臓的體，^!W在于，控審隨(5) 被體來將第一光S^擇為位于工作范圍的第"T范圍內，將第二5feS^擇為位 于工作范圍的與第4范圍不同的第二子范圍內。
22. 如權利要求12-21中至h個臓的縫，期寺征在于，控第,(5) 和檢測器(4)被^a來在一個掃描^S光對3描多個相同的化驗區(41)，并以 二維備的方微測它們。
23. 如權利要求12-22中至少一個臓的錢，鄉征在于，頓娜(3 ) 來產生測^ ，并將其，于，(2)中的干式化^^測U^件(1; 20; 30; 50)的鵬區(21; 41; 51)。
24. 女P^利要求12-23中至^>^個戶腿的驢，欺寺征在于，電豐^S能 夠耦合到化驗區(21; 41; 51)，并用于向干式化學頂i^;件(1; 20; 30; 50)的，區(21; 41; 51)提供電能。
25. 權利要求l一11中至d^"個所述的方法^^利要求12—24中至d^^個 戶腿的體ffi^豫斷醫學泖賦，微免疫測處的應用。
全文摘要
用于分析干式化學測試元件的方法和裝置，特別是免疫測試元件，通過光學掃描分析干式化學測試元件，測量光束離開載有一種或多種固定化光活性物質的測試元件化驗區，通過檢測器檢測各自測量光強度。包括步驟第一化驗區光學掃描過程中，第一測量光強度的測量光束離開第一化驗區，根據掃描參數的第一設置選擇掃描參數，對檢測器裝置的工作范圍和照射到其上測量光束的第一光量，相對彼此進行調整，第二化驗區光學掃描過程中，區別于第一測量光強度的第二測量光強度測量光束離開第二化驗區，根據區別于掃描參數第一設置的掃描參數第二設置選擇掃描參數，對檢測器裝置的工作范圍和照射到其上的測量光束第二光量，相對于彼此進行調整。
文檔編號G01N33/53GK101398383SQ20081017370
公開日2009年4月1日 申請日期2008年9月10日 優先權日2007年9月10日
發明者C·埃芬豪澤, E·亨德勒, N·奧蘭特 申請人:霍夫曼-拉羅奇有限公司