專利名稱：在微波產品機內電路設置連接器實現其可測試性的方法
技術領域：
本發明涉及一種測試機內電路的方法，尤其是一種測試微波產品機內電路 的方法。
背景技術：
微波產品具有非常復雜的微波電路系統，作為微波電路工程師，在設計電 路中必須十分小心，以解決數模電路、電磁兼容方面的問題。如何調試復雜的 微波電路系統，對微波工程師是比較困難的工作。如
圖1所示，電路系統中包
括功能電路1和連接各功能電路，如功能電路ll、功能電路12和功能電路13 的微波傳輸線4， 一旦某一指標不合格或者要對系統中的某一功能電路，如功能 電路12進行測試，微波工程師只能將連接功能電路12輸入與輸出端的微波傳 輸線4在其41處與42處斷開，以隔離功能電路12，再將功能電路12的前后各 焊接一根電纜31進行測試。這種方法破壞了原有電路系統，只適于在實驗室調 試樣機時采用，而不適于在產品的生產制造和維護時采用。
發明內容
本發明的目的是針對現有微波產品在進行測試時存在的破壞原有電路系統 的缺點，提供一種測試時不會破壞原有電路的測試方法。
為實現上述目的，本發明采用如下技術方案
一種在微波產品機內電路設置連接器實現其可測試性的方法，機內各功能
具體實施例方式
一種通過在機內電路設置連接器實現其可測試性的方法，如圖2或者圖3 所示，機內微波電路系統包括各功能電路l，如功能電路ll、功能電路12和功 能電路13,各功能電路通過微波傳輸線4連接。
如圖2或者圖3所示，相鄰兩功能電路之間彼此反向地接入兩個高頻信號 連接器2;連接器2包括第一金屬彈片21和第二金屬彈片22，如圖2所示，第 二金屬彈片22和第一金屬彈片21接觸時導通高頻信號；如圖3所示，第二金 屬彈片22和第一金屬彈片21斷開時關斷RF信號；其中，如圖2或者圖3所示， 在功能電路11和功能電路12之間，兩個高頻信號連接器2的連接方式如下
第一連接器2的第一金屬彈片21與功能電路11的信號輸出端連接；第一 連接器2的第二金屬彈片22與第二連接器2的第二金屬彈片22連接；第二連 接器2的第一金屬彈片21與功能電路12的信號輸入端連接；其它各功能電路 之間的兩個連接器2的連接方式，如圖2或圖3中的功能電路12與功能電路13 之間的兩個連接器2的連接方式與上述相同。
在本實施例中可以采用專利號為ZL 200720147786.5的髙頻信號連接器， 如圖2所示，常態時，高頻信號連接器2的第一金屬彈片21和第二金屬彈片22 接觸，高頻信號導通，機體可以正常工作。
當需要對微波電路系統中的某一功能電路，如功能電路12進行測試時，如 圖3所示，采用的方法是將兩根測試電纜5的測試探頭分別插入與其連接的 第二連接器2和第一連接器2內，此時，測試探頭與第二連接器2和第一連接 器2的第一金屬彈片21接觸，并下壓第一金屬彈片21，使第一金屬彈片21與
具體實施例方式
一種通過在機內電路設置連接器實現其可測試性的方法，如圖2或者圖3 所示，機內微波電路系統包括各功能電路l，如功能電路ll、功能電路12和功 能電路13，各功能電路通過微波傳輸線4連接。
如圖2或者圖3所示，相鄰兩功能電路之間彼此反向地接入兩個高頻信號 連接器2;連接器2包括第一金屬彈片21和第二金屬彈片22，如圖2所示，第 二金屬彈片22和第一金屬彈片21接觸時導通高頻信號；如圖3所示，第二金 屬彈片22和第一金屬彈片21斷開時關斷RF信號；其中，如圖2或者圖3所示， 在功能電路11和功能電路12之間，兩個高頻信號連接器2的連接方式如下
第一連接器2的第一金屬彈片21與功能電路11的信號輸出端連接；第一 連接器2的第二金屬彈片22與第二連接器2的第二金屬彈片22連接；第二連 接器2的第一金屬彈片21與功能電路12的信號輸入端連接；其它各功能電路 之間的兩個連接器2的連接方式，如圖2或圖3中的功能電路12與功能電路13 之間的兩個連接器2的連接方式與上述相同。
在本實施例中可以采用專利號為ZL 200720147786.5的高頻信號連接器， 如圖2所示，常態時，高頻信號連接器2的第一金屬彈片21和第二金屬彈片22 接觸，高頻信號導通，機體可以正常工作。
當需要對微波電路系統中的某一功能電路，如功能電路12進行測試時，如 圖3所示，采用的方法是將兩根測試電纜5的測試探頭分別插入與其連接的 第二連接器2和第一連接器2內，此時，測試探頭與第二連接器2和第一連接 器2的第一金屬彈片21接觸，并下壓第一金屬彈片21，使第一金屬彈片21與第二金屬彈片22斷開，將功能電路12從微波電路系統中隔離，由于兩個測試 探頭此時分別與第二連接器2和第一連接器2的第一金屬彈片接觸，所以通過 測試電纜連接測試裝置，即可將功能電路12連接至測試電路中完成測試。
當測試完成后，只需拔出測試探頭，由于第一金屬彈片21具有彈性，所以 在撤銷測試探頭對其產生的下壓力時，第一金屬彈片21自動彈回原位與第二金 屬彈片22接觸，從而將功能電路12重新接入微波電路系統，而不會破壞原有 整個微波電路系統。
權利要求
1、一種在微波產品機內電路設置連接器實現其可測試性的方法，機內各功能電路彼此之間相互連接，形成微波電路系統；其特征在于每相鄰兩個功能電路之間彼此反向地接入兩個高頻信號連接器，分別為第一連接器和第二連接器；其中，第一連接器的第一金屬彈片與前一功能電路的信號輸出端連接，第一連接器的第二金屬彈片與第二連接器的第二金屬彈片連接；第二連接器的第一金屬彈片與后一功能電路的信號輸入端連接；而后一功能電路的信號輸出端與另一第一連接器的第一金屬彈片連接；當對一功能電路進行測試時，將兩根測試電纜的測試探頭分別插入此功能電路兩端的高頻信號連接器內，測試探頭與第一金屬彈片接觸、并下壓第一金屬彈片，使其與第二金屬彈片分開，此時對此功能單元進行單獨測試；測試完成后，拔出兩根測試電纜的測試探頭，此時第一金屬彈片將彈回原位與各自的第二金屬彈片重新接觸，將此功能電路重新連接至微波電路系統中。
全文摘要
本發明公開了一種在微波產品機內電路設置連接器實現其可測試性的方法，機內各功能電路彼此之間相互連接；每相鄰兩個功能電路之間彼此反向地接入兩個高頻信號連接器，其中，高頻信號連接器的第一金屬彈片與功能電路的信號輸入端或者信號輸出端連接，而第二金屬彈片與另一高頻信號連接器的第二金屬彈片連接；當對一功能電路進行測試時，將測試探頭分別插入此功能電路兩端的高頻信號連接器內，測試探頭下壓第一金屬彈片，使其與第二金屬彈片分開，此時對此功能單元進行單獨測試；測試完成后，拔出兩根測試電纜的測試探頭，第一金屬彈片將彈回原位將此功能電路重新連接至微波電路系統中，解決了測量某一功能電路時破壞微波電路系統的問題。
文檔編號G01R31/28GK101299056SQ20081009429
公開日2008年11月5日 申請日期2008年4月25日 優先權日2008年4月25日
發明者黃金亮 申請人:黃金亮