專(zhuān)利名稱(chēng)：產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試裝置，特別是涉及一種對(duì)產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)試 以及測(cè)量的機(jī)械測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
目前， 一些小型元器件的彎曲強(qiáng)度的測(cè)試，對(duì)于一些代加工廠商而言鑒于 成本以及實(shí)際測(cè)試時(shí)情況，都很難對(duì)該類(lèi)產(chǎn)品進(jìn)行此類(lèi)測(cè)試，通常都是采用在 該類(lèi)產(chǎn)品進(jìn)來(lái)時(shí)要求產(chǎn)品制造廠商出具保證書(shū)及測(cè)試報(bào)告的方式。雖然，時(shí)下 市面上出現(xiàn)了一些彎曲強(qiáng)度測(cè)試儀器，但是絕大多數(shù)都是針對(duì)系統(tǒng)而言，因?yàn)樵?類(lèi)小型元器件其本身的因素，其放置于針對(duì)系統(tǒng)的彎曲強(qiáng)度測(cè)試儀器上時(shí)是根 本無(wú)法對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。發(fā)明內(nèi)容鑒于上述問(wèn)題，本實(shí)用新型的主要目的在于提供了一種實(shí)現(xiàn)對(duì)小型元器件 的彎曲強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)試，并且其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，亦可提供直觀的測(cè)試效果之彎曲強(qiáng)度 測(cè)試裝置。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用了下述技術(shù)方案所述產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置包括 一底座，其包括一平板和一對(duì)置放于該 平板上的柱狀物，其中，在所述平板上且于其中央位置處設(shè)置有一具有磁性的 中線，所述柱狀物為分別位居于該平板磁性線兩側(cè)方位處，且在測(cè)試時(shí)供給產(chǎn) 品所設(shè)置的測(cè)試板得以放置； 一于底座上撞壓產(chǎn)品的壓力頭，其由一撞壓端和 --與撞壓端相連接的手柄組成；以及一定高部件，其由數(shù)個(gè)片長(zhǎng)、寬度相同且 厚度不同的不銹鋼片迭加組成，且其為置設(shè)吸附于所述底座的磁性線上，所述 不銹鋼片可根據(jù)測(cè)試實(shí)際需求及其厚度不同而增添或減少。另外，該所述產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置還包括一具有緩沖作用的墊片，且該 墊片可為置于所述定高部件上，其在測(cè)試時(shí)可起到對(duì)元器件的保護(hù)作用。通過(guò)本實(shí)用新型所述的產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置，其可對(duì)小型的元器件進(jìn)行 彎曲強(qiáng)度測(cè)試，并且通過(guò)定高部件的設(shè)置測(cè)試人員可很直觀的觀察到測(cè)試時(shí)的 彎曲度。
圖l為所述產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置的整體結(jié)構(gòu)示意圖2為所述底座的俯視結(jié)構(gòu)圖； 圖3為一實(shí)施例的示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖以及具體實(shí)施例來(lái)對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。參閱圖l中所示，并結(jié)合圖2，所述產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置包括有一底座IO、 一于底座10上撞壓產(chǎn)品的壓力頭20以及一定高部件30。其中，所述底座10包括 一平板101和一對(duì)置放于該平板101上的柱狀物102，在該所述平板101中央位置 處，即可將該平板101—分為二的地方設(shè)置有一磁性線103，上述柱狀物102為分 別置設(shè)于平板101磁性線103兩側(cè)且分別靠近平板101兩側(cè)邊位置處；所述壓力頭 20為測(cè)試時(shí)用以撞壓產(chǎn)品以測(cè)試產(chǎn)品的彎曲強(qiáng)度，且其由一撞壓端201和一與撞 壓端201相連接的手柄202組成，所述手柄202可為帶螺紋的不銹鋼棒，撞壓端201 可用硬度較高之塑料制作而成；所述定高部件30，其為置設(shè)吸附于所述底座IOI 的磁性線103上，且其由數(shù)個(gè)片長(zhǎng)、寬度相同且厚度不同的不銹鋼片迭加組成， 測(cè)試時(shí)，可根據(jù)實(shí)際彎曲強(qiáng)度測(cè)試的需求以及根據(jù)不同厚度的產(chǎn)品來(lái)增加不銹 鋼片或者減少,不銹鋼片。另外，如圖3中所示，所述產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置還可在所述定高部件30上 置設(shè)一具有緩沖作用的墊片50，用以在測(cè)試時(shí)得以保護(hù)該產(chǎn)品。見(jiàn)圖3所示，測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員只需將設(shè)置有待測(cè)產(chǎn)品的印刷電路板40置于 底座10上且于兩柱狀物102上，且測(cè)試人員根據(jù)產(chǎn)品的厚度以及測(cè)試要求增加置 設(shè)吸附于底座10磁性線103之不銹鋼片或者減少該不銹鋼片，保證測(cè)試所需要的 彎曲度即可，最后，便可使用壓力頭20來(lái)對(duì)所述印刷電路板40進(jìn)行撞壓，進(jìn)而 實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品的彎曲強(qiáng)度測(cè)試。通過(guò)該測(cè)試裝置，因?yàn)椴讳P鋼片的的厚度為不一，測(cè)試人員可根據(jù)該厚度 去增添減少不銹鋼片，從而改變定高部件30的高度，進(jìn)而調(diào)整產(chǎn)品所需要測(cè)試 的彎曲強(qiáng)度，亦使彎曲強(qiáng)度測(cè)試過(guò)程中彎曲度變的直觀，且該裝置相對(duì)于目前 市場(chǎng)上的彎曲強(qiáng)度測(cè)試儀器而言，其簡(jiǎn)易方便，并且其可對(duì)于小型的元器件， 譬如小電容之類(lèi)的進(jìn)行彎曲強(qiáng)度測(cè)試，符合實(shí)際測(cè)試需求。
權(quán)利要求1. 一種產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置，其特征在于，包括一底座，其包括一平板和一對(duì)置放于該平板上的柱狀物，其中，且在該平 板中央位置處設(shè)置有一磁性線，所述柱狀物為分別位居于該平板磁性線兩側(cè)方 位處；一于底座上撞壓產(chǎn)品的壓力頭，其由一撞壓端和一與撞壓端相連接的手柄 組成；以及一定高部件，其為置設(shè)于所述底座的磁性線上。
2. 如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置，其特征在于，所述定高部件 為數(shù)個(gè)片長(zhǎng)、寬度相同且厚度不同的不銹鋼片迭加組成。
3. 如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置，其特征在于，還包括一具有 緩沖作用的墊片，該墊片為置于所述定高部件上。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種產(chǎn)品彎曲強(qiáng)度測(cè)試裝置，其包括一底座，其包括一平板和一對(duì)置放于該平板上的柱狀物，其中，在所述平板上且于其中央位置處設(shè)置有一具有磁性的中線，所述柱狀物為分別位居于該平板磁性線兩側(cè)方位處，且在測(cè)試時(shí)供給產(chǎn)品所設(shè)置的測(cè)試板得以放置；一于底座上撞壓產(chǎn)品的壓力頭，其由一撞壓端和一與撞壓端相連接的手柄組成；以及一定高部件，其由數(shù)個(gè)片長(zhǎng)、寬度相同且厚度不同的不銹鋼片疊加組成，且其為置設(shè)吸附于所述底座的磁性線上，所述不銹鋼片可根據(jù)測(cè)試實(shí)際需求及其厚度不同而增添或減少。通過(guò)本測(cè)試裝置可對(duì)小型的元器件進(jìn)行彎曲強(qiáng)度測(cè)試，并且通過(guò)定高部件的設(shè)置測(cè)試人員可很直觀的觀察到測(cè)試時(shí)的彎曲度，極具有實(shí)用價(jià)值。
文檔編號(hào)G01M99/00GK201037821SQ20072005091
公開(kāi)日2008年3月19日 申請(qǐng)日期2007年4月28日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月28日
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