專利名稱：檢測裝置及檢測方法
技術領域：
本發明是有關于一種檢測裝置及檢測方法，且特別是有關于一種用于檢測 液晶面板的偏光片的吸收軸的角度的檢測裝置及檢測方法。
背景技術：
隨著電子產業日益發達，平面顯示器已將陰極射線管顯示器淘汰，成為目 前的主流。而在平面顯示器中，又以液晶顯示器的技術最為純熟且普及化。其 中，液晶面板更是液晶顯示器品質良宥的關鍵所在。
圖1是現有液晶面板的分解示意圖。請參照圖1，液晶面板ioo包括一第 一偏光片110、 一第一基板120、 一第二基板130、 一液晶層140以及一第二偏 光片150。液晶層140位于第一基板120與第二基板130之間。第一偏光片110 配置于第一基板120上，且第一偏光片IIO與液晶層140分別位于第一基板120 的兩側。第二偏光片150配置于第二基板130上，且第二偏光片150與液晶層 140分別位于第二基板130的兩側。
在一般情況下，第一偏光片IIO與第一基板120之間會有對位誤差，而第 二偏光片IIO與第二基板130之間也會有對位誤差。但若第一偏光片110及第 二偏光片150因對位誤差過大時，應用此液晶面板100的液晶顯示器的顯示品 質將下降。因此，在液晶面板的制造過程中需隨時監控偏光片貼附的精度，將 對位誤差控制在可接受的范圍內。
現有的量測偏光片貼附精度的方法是在液晶面板及偏光片上預先設置多 個標記，并以顯微鏡觀察液晶面板上的標記與偏光片上的標記的距離以判定偏 光片的貼附精度。
上述檢測方法雖然可檢測偏光片的貼附精度，但檢測時顯微鏡需在各個標 記間移動，并且進行對焦等動作，因此在進行檢測時會耗費相當多的時間。
發明內容
本發明提供一種檢測裝置，可快速檢測液晶面板的偏光片的光吸收軸的角度。
本發明另提供一種檢測方法，可應用上述檢測裝置以快速檢測液晶面板的 偏光片的光吸收軸的角度。
為解決上述問題，本發明提出一種檢測裝置，適于檢測一液晶面板的一第 一偏光片的一光吸收軸的角度，而液晶面板還包括一第一基板、 一第二基板與 一液晶層，其中液晶層配置于第一基板與第二基板之間，而第一偏光片配置于 第一基板上，且第一偏光片與液晶層分別位于第一基板的兩側。檢測裝置包括 一光源、 一可旋轉的檢測偏光片以及一光檢測器。光源配置于液晶面板的一側， 且液晶面板位于光源的光徑。可旋轉的檢測偏光片配置于液晶面板的另一側， 并位于光源的光徑，且第一偏光片位于第一基板與可旋轉的檢測偏光片之間。 光檢測器位于光源的光徑，且光檢測器與第一偏光片分別位于可旋轉的檢測偏 光片的兩側。
在本發明的檢測裝置中，上述檢測裝置還包括一載臺，用于承載液晶面板。
在本發明的檢測裝置中，上述檢測裝置還包括一步進馬達，控制可旋轉的 檢測偏光片的旋轉角度。
在本發明的檢測裝置中，上述檢測裝置還包括一記錄裝置，記錄可旋轉的 檢測偏光片的旋轉角度。
在本發明的檢測裝置中，上述光源為一雷射光源。
在本發明的檢測裝置中，上述光檢測器為一電荷耦合元件光檢測器(CCD photodetector)。
在本發明的檢測裝置中，上述光檢測器為一互補式金屬氧化物半導體光檢 測器(CMOS photodetector)。
在本發明的檢測裝置中，上述光檢測器為一光電二極管光檢測器 (photodiode photodetector)。
在本發明的檢測裝置中，上述液晶面板還包括一第二偏光片，配置于第二 基板上，并位于第二基板與光源之間。
本發明另提出一種檢測方法，適于檢測一液晶面板的一第一偏光片的一光
吸收軸的角度，而液晶面板還包括一第一基板、 一第二基板與一液晶層，其中 液晶層配置于第一基板與第二基板之間，而第一偏光片配置于第一基板上，且 第一偏光片與液晶層分別位于第一基板的兩側，檢測方法包括以下步驟。首先， 提供一上述的檢測裝置，并將液晶面板置于光源與可旋轉的檢測偏光片之間， 且第一偏光片位于第一基板與可旋轉的檢測偏光片之間。接著，使用光源照射 液晶面板，并以光檢測器量測光強度。接下來，調整可旋轉的檢測偏光片的光 吸收軸的角度，其中當光檢測器所量測到的光強度達到最大值時，可旋轉的檢 測偏光片的角度代表第一偏光片的光吸收軸的角度。
基于上述，本發明利用可旋轉的檢測偏光片來檢測第一偏光片的光吸收軸 的角度。當調整可旋轉的檢測偏光片的角度，使光強度達到最大值時，可旋轉 的檢測偏光片的角度便代表第一偏光片的光吸收軸的角度。因此，相較于現有 的檢測方法，本發明的檢測方法比較快速。此外，本發明的檢測裝置也可應用
在生產線上，以便于進行即時(realtime)的檢測，以提高產品良率。
為讓本發明的上述目的、特征和優點能更明顯易懂，以下結合附圖對本發 明的具體實施方式
作詳細說明，其中 、 圖1是現有液晶面板的分解示意圖。 圖2A為本發明的檢測裝置與液晶面板的分解示意圖。 圖2B為圖2A中檢測裝置的方塊圖。 圖3為使用圖2A中檢測裝置的檢測方法流程圖。
主要元件符號說明 100:液晶面板 110:第一偏光片 120:第一基板 130:第二基板
140:液晶層 z 150:第二偏光片
200:檢測裝置
210:光源
212:光線
214:偏振光
220:可旋轉的檢測偏光片
230:光檢測器
240:載臺
250:步進馬達
260:記錄裝置
300:液晶面板
310:第一偏光片
320:第一基板
330:第二基板
340:液晶層
350:第二偏光片
410、420、 430:步驟
A"A2、 AR:光吸收軸
I、 I，:光強度
y:方向
e ^ eR:角度
具體實施例方式
圖2A為本發明的一實施例的一種檢測裝置的分解示意圖，而圖2B為本發 明的一實施例的一種檢測裝置的方塊圖。請參照圖2A與圖2B，檢測裝置200 適于檢測一液晶面板300的一第一偏光片310的一光吸收軸A,的角度，而液晶 面板300還包括一第一基板320、 一第二基板330、 一液晶層340與一第二偏 光片350，其中液晶層340配置于第一基板320與第二基板330之間，而第一 偏光片310配置于第一基板320上，且第一偏光片310與液晶層340分別位于 第一基板320的兩側。此外，第二偏光片350配置于第二基板330上，并位于
第二基板330與光源210之間。
值得注意的是，此液晶面板300并不需要被驅動。此外，在本實施例中， 液晶面板300已經貼附第一偏光片310與第二偏光片350。然而，在另一實施 例中，檢測裝置200也可以用于檢測只有貼附第一偏光片310的液晶面板300。
檢測裝置200包括一光源210、 一可旋轉的檢測偏光片220以及一光檢測 器230。光源210配置于液晶面板300的一側，且液晶面板300位于光源210 的光徑上。可旋轉的檢測偏光片220配置于液晶面板300的另一側，并位于光 源210的光徑，且第一偏光片310位于第一基板320與可旋轉的檢測偏光片220 之間。光檢測器230位于光源210的光徑，且光檢測器230與第一偏光片310 分別位于可旋轉的檢測偏光片220的兩側。
在本實施例中，檢測裝置200還可具有一載臺240以承載液晶面板300。 然而，液晶面板300也可以被夾持、懸吊或其他方式而固定于光源210與可旋 轉的檢測偏光片220之間。此外，檢測裝置200還可具有一步進馬達250以驅 動可旋轉的檢測偏光片220。然而，可旋轉的檢測偏光片220也可以由其他機 械裝置或電子裝置所驅動。另外，檢測裝置200可再包括一記錄裝置260，用 以記錄可旋轉的檢測偏光片220的光吸收軸AR的角度9 R。
上述光源210可為一激光光源、紅外光光源、紫外光光源、可見光光源或 波長的光源。此外，上述光檢測器230為金屬氧化物半導體光檢測器、電荷耦 合元件光檢測器、光電二極管光檢測器或其他型態的光檢測器。
光源210發出的光線在通過第一偏光片310后會被偏極化，而變成偏振方 向垂直于光吸收軸A,的偏振光214。偏振光214在通過可旋轉的檢測偏光片220 后光強度會改變。此外，偏振光214的光強度的改變可以用下列算式表示
<formula>formula see original document page 8</formula>
其中角度e ,為第一偏光片310的光吸收軸A!與方向y的夾角，而角度e k為可旋轉的檢測偏光片220的光吸收軸Ar與方向y的夾角。I為偏振光214 在通過第一偏光片310后的光強度，而I'為光線212在通過可旋轉的檢測偏光 片220后的強度，也就是光檢測器230所檢測到的光強度。值得注意的是，當
光強度r為最大值時，角度0,與角度0r相等。因此，當光強度r為最大值時 量測角度eii即可推得角度ep
基于上述的內容，以下將以檢測液晶面板300的第一偏光片310的光吸收 軸A,的角度e,為例，介紹使用檢測裝置200檢測偏光片的光吸收軸角度的檢 測方法。
圖3為使用圖2A中檢測裝置所進行的檢測方法流程圖。請參照圖2A與 圖3，首先，如步驟410所示，提供檢測裝置200，并將液晶面板300置于光 源210與可旋轉的檢測偏光片220之間，且使第一偏光片310位于第一基板320 與可旋轉的檢測偏光片220。
接下來，如步驟420所示，使用光源210照射液晶面板300，并以光檢測 器230量測光強度I'。
然后，如步驟430所示，調整可旋轉的檢測偏光片220的光吸收軸Ak的 角度0r，當光檢測器230所量測到的光強度I'達到最大值時，可旋轉的檢測偏 光片220的光吸收軸Ar的角度9K即為第一偏光片310的光吸收軸A,的角度 8 "
在檢測第一偏光片310的光吸收軸A,的角度e,時，操作人員僅需調整可 旋轉的檢測偏光片220的光吸收軸AK的角度6K，使光強度r達到最大值，即 可由此時的角度0K推得角度e ,。因此，檢測第一偏光片310的光吸收軸Aj 的角度e,的所需的時間將可以縮短。此外，檢測裝置200也可以使用于生產
線中以便于進行即時(realtime)的檢測，以提高產品的良率。
除此之外，若要測量第二偏光片350時，可翻轉液晶面板300，使第二偏 光片350位于第二基板330與可旋轉的檢測偏光片220之間。之后，可參考上 述步驟410、步驟420以及步驟430來進行第二偏光片350的光吸收軸的角度 的檢測。
綜上所述，本發明的檢測裝置僅需調整可旋轉的檢測偏光片的角度，使光 強度達到最大值，即可由可旋轉的檢測偏光片的角度推得第一偏光片的光吸收 軸的角度。由于本發明的檢測方法簡單，因此可縮短檢測的時間，并將檢測裝 置使用在生產線中即時檢測，以提高產品良率。
雖然本發明已以較佳實施例揭示如上，然其并非用以限定本發明，任何本 領域技術人員，在不脫離本發明的精神和范圍內，當可作些許的修改、和完善， 因此本發明的保護范圍當以權利要求書所界定的為準。
權利要求
1.一種檢測裝置，適于檢測一液晶面板的一第一偏光片的一光吸收軸的角度，而該液晶面板更包括一第一基板、一第二基板與一液晶層，其中該液晶層配置于該第一基板與該第二基板之間，而該第一偏光片配置于該第一基板上，且該第一偏光片與該液晶層分別位于該第一基板的兩側，其特征在于，該檢測裝置包括一光源，配置于該液晶面板的一側，且該液晶面板位于該光源的光徑；一可旋轉的檢測偏光片，配置于該液晶面板的另一側，并位于該光源的光徑，且該第一偏光片位于該第一基板與該可旋轉的檢測偏光片之間；以及一光檢測器，位于該光源的光徑，且該光檢測器與該第一偏光片分別位于該可旋轉的檢測偏光片的兩側。
2. 如權利要求1所述的檢測裝置， 該液晶面板。
3. 如權利要求1所述的檢測裝置， 該可旋轉的檢測偏光片的旋轉角度。
4. 如權利要求1所述的檢測裝置， 該可旋轉的檢測偏光片的旋轉角度。
5. 如權利要求1所述的檢測裝置，
6. 如權利要求1所述的檢測裝置， 元件光檢測器。
7. 如權利要求1所述的檢測裝置, 屬氧化物半導體光檢測器。
8. 如權利要求1所述的檢測裝置, 管光檢測器。
9. 如權利要求1所述的檢測裝置,其特征在于，還包括一載臺，用于承載其特征在于，還包括一步進馬達，控制其特征在于，還包括一記錄裝置，記錄其特征在于， 其特征在于，該光源為一激光光源。 該光檢測器為一電荷耦合其特征在于，該光檢測器為一互補式金其特征在于，該光檢測器為一光電二極其特征在于，該液晶面板還包括一第二 偏光片，配置于該第二基板上，并位于該第二基板與該光源之間。
10.—種檢測方法，適于檢測一液晶面板的一第一偏光片的一光吸收軸的角 度，而該液晶面板還包括一第一基板、 一第二基板與一液晶層，其中該液晶層 配置于該第一基板與該第二基板之間，而該第一偏光片配置于該第一基板上， 且該第一偏光片與該液晶層分別位于該第一基板的兩側，其特征在于，該檢測 方法包括提供一如權利要求l所述的檢測裝置，并將該液晶面板置于該光源與該可 旋轉的檢測偏光片之間，且該第一偏光片位于該第一基板與該可旋轉的檢測偏 光片之間；使用該光源照射該液晶面板，并以該光檢測器量測光強度；以及 調整該可旋轉的檢測偏光片的光吸收軸的角度，其中當該光檢測器所量測到的光強度達到最大值時，該可旋轉的檢測偏光片的光吸收軸的角度代表該第一偏光片的該光吸收軸的角度。
全文摘要
本發明涉及一種檢測裝置，適于檢測一液晶面板的一第一偏光片的一光吸收軸的角度，而液晶面板還包括一第一基板、一第二基板與一液晶層。檢測裝置包括一光源、一可旋轉的檢測偏光片以及一光檢測器。光源配置于液晶面板的一側，且液晶面板位于光源的光徑。可旋轉的檢測偏光片配置于液晶面板的另一側，并位于光源的光徑，且第一偏光片位于第一基板與可旋轉的檢測偏光片之間。光檢測器位于光源的光徑，且光檢測器與第一偏光片分別位于可旋轉的檢測偏光片的兩側。因此，使用上述檢測裝置可快速的檢測出第一偏光片的光吸收軸的角度。
文檔編號G01M11/00GK101369059SQ200710142319
公開日2009年2月18日 申請日期2007年8月13日 優先權日2007年8月13日
發明者吳俊緯, 張照松, 胡正中, 黃秋蓉 申請人:中華映管股份有限公司