專利名稱：浮動式校檢平臺的制作方法
技術領域：
本發明屬于計量儀器檢測裝置領域，涉及一種浮動式校檢平臺。
背景技術：
現有的計量檢測裝置，其被檢測物是固定不能浮動的，測微元件是浮動 的，但是測微元件在浮動校檢測過程中只能作單向測微而非雙向測微，由于 這種結構設計的不合理，因而造成校檢精度大大降低。
發明內容
本發明的目的在于提供一種結構簡單，設計合理，有效提高校驗精度的
浮動式校檢平臺。
本發明采用的技術方案 一種浮動式校檢平臺，其底座上設置有測量元 件本體、頂桿夾具及浮動工作臺夾具，測量元件測頭在測量元件本體的控制 下水平移動，頂桿緊固在頂桿夾具上，浮動工作臺緊固在浮動工作臺夾具上， 浮，工作臺上設置有被檢測物緊固夾具，所述的被檢測物緊固夾具底部固聯
、浮動— 平臺
所述的浮動平臺底面設置有滑軌，浮動工作臺上面設置有與導軌相配合
的滑動件。
所述的滑動件選用滾珠、滾針、滑軌、直線導軌、氣浮導軌之一種或組合。
口所述的浮動平臺底面為光滑平面或帶溝槽的光滑平面，與浮動工作臺的 光滑平面或帶溝槽的光滑平面相配合。
本發明所具有的積極有益效果
1. 設計為測量元件不浮動而被檢測物浮動的結構，徹底解決了現有計量 檢測儀測微元件只能做單向測微，導致檢測精度降低的問題，使校準及檢測 的精度提高了約50%;
2. 即符合檢測規程又符合檢測工作原理，該平臺上的被測物夾具可以以 絕對小于測微元件的浮動推力值與測微元件作用力做平行相對移動，通過測 微元件單向浮動推力與浮動校檢夾具的平行相對運動實現了對被測物大小相
等，方向相反，雙向受力的檢測要求，有效提高了檢測精度；
3. 本發明設計合理，結構簡單，體積小，重量輕，精度高，易操作，適 于安裝在DS系列光柵式指示表檢定儀上使用，以滿足漲簧\鋼球式內徑表的檢定要求，提高檢測精度；也可廣泛用于內徑測量及雙向測量的計量儀器及其 它需要雙向受力的高精度被測物體在浮動平臺上的校準及檢測。
圖1為本發明結構示意圖。
具體實施例方式
參閱圖1所示， 一種浮動式校檢平臺，主要包括底座1、測量元件本體2、 測量元件測頭3、鎖緊鈕4、頂桿5、頂桿夾具6、旋鈕7、浮動工作臺夾具8、 被檢測物緊固夾具9、緊固旋鈕10、浮動平臺11、浮動工作臺12、滑動件13 等；其底座1上設置有測量元件本體2、頂桿夾具6及浮動工作臺夾具8，可 通過鎖緊鈕4緊固在底座1上；測量元件測頭3在測量元件本體2的控制下 可作水平左右移動，頂桿5穿過頂桿夾具6及浮動工作臺夾具8的內孔通過 螺紋旋鈕7緊固在頂桿夾具6上；浮動工作臺12通過鎖緊鈕4緊固在浮動工 作臺夾具8上，浮動工作臺12上設置有被檢測物緊固夾具9，被檢測物15由 緊固旋鈕10夾緊；所述的底座l、測量元件本體2、測量元件測頭3、鎖緊鈕 4、頂桿5、頂桿夾具6、旋鈕7、浮動工作臺夾具8、被檢測物緊固夾具9、 緊固旋鈕10、浮動工作臺12均為光柵式指示表檢定儀的現有結構，本發明設 計為測量元件不浮動而被檢測物浮動的結構，具體實施是在被檢測物緊固夾 具9底部固聯有浮動平臺11，浮動平臺11底面設置有滑軌1101，浮動工作 臺12上面設置有滑動件13，滑動件13與導軌1101相配合作水平方向左右滑 動。
由于所述的浮動平臺11受力極微即可作自由滑動，因此滑動件13可以 選用現有多種滑動方式，如采用滾珠、滾針、滑軌、直線導軌、氣浮導軌等 之一種或組合;而且浮動平臺11底面也可以是光滑平面或帶溝槽的光滑平面， 與浮動工作臺12的光滑平面或帶溝槽的光滑平面相配合，上述結構均可實現 浮動平臺11的水平方向左右滑動。
本發明的工作原理將被檢測物15，如漲簧式或鋼球式內徑測微表的桿 部置入被檢測物緊固夾具9中，并插入浮動平臺11、浮動工作臺12的內孔， 通過螺紋緊固旋鈕10夾緊，底部觸頭置于頂桿5與測量元件測頭3之間，通 過測量元件本體2帶動測量元件測頭3水平方向左右移動，同時帶動被檢測 物緊固夾具9及被檢測物15在滑動件13的作用下，作與測量元件本體2相 對的平行運動，實現計量檢測儀對被檢測物15的雙向測微。
權利要求
1.一種浮動式校檢平臺，其底座上設置有測量元件本體、頂桿夾具及浮動工作臺夾具，測量元件測頭在測量元件本體的控制下水平移動，頂桿緊固在頂桿夾具上，浮動工作臺緊固在浮動工作臺夾具上，浮動工作臺上設置有被檢測物緊固夾具，其特征在于所述的被檢測物緊固夾具(9)底部固聯有浮動平臺(11)。
2. 根據權利要求l所述的浮動式校檢平臺，其特征在于所述的浮動平臺 (11)底面設置有滑軌(1101)，浮動工作臺(12)上面設置有與導軌(1101)相配合的滑動件(13)。
3. 根據權利要求1所述的浮動式校檢平臺，其特征在于所述的滑動件(13) 選用滾珠、滾針、滑軌、直線導軌、氣浮導軌之一種或組合。
4. 根據權利要求l所述的浮動式校檢平臺，其特征在于所述的浮動平臺 (11)底面為光滑平面或帶溝槽的光滑平面，與浮動工作臺(12)的光滑平面或帶溝槽的光滑平面相配合。
全文摘要
本發明涉及一種浮動式校檢平臺。其底座上設置有測量元件本體、頂桿夾具及浮動工作臺夾具，測量元件測頭在測量元件本體的控制下水平移動，頂桿緊固在頂桿夾具上，浮動工作臺緊固在浮動工作臺夾具上，浮動工作臺上設置有被檢測物緊固夾具，所述的被檢測物緊固夾具底部固聯有浮動平臺；使被測物夾具可以以絕對小于測微元件的浮動推力值與測微元件作用力做平行相對移動，通過測微元件單向浮動推力與浮動校檢平臺的平行相對運動實現了對被測物大小相等，方向相反，雙向受力的檢測要求，有效提高了校準及檢測的精度；本發明結構簡單，體積小，重量輕，精度高，易操作，適于安裝在DS系列光柵式指示表檢定儀上使用，也可廣泛用于內徑測量及雙向測量的計量儀器及其它需要雙向受力的高精度被測物體在浮動平臺上的校準及檢測。
文檔編號G01B5/12GK101294790SQ20071009837
公開日2008年10月29日 申請日期2007年4月23日 優先權日2007年4月23日
發明者田龍元 申請人:嚴為民