專利名稱：采樣裝置的制作方法
技術領域：
無
背景技術：
痕量檢測具有各種重要應用，例如，在運輸中心對個人和行李的檢査、設施安全、 軍事應用、法庭應用和清潔確認。
現代檢測設備可檢測毫微克到微微克范圍的目標化合物，但有效的檢測需要獲得 合適的樣品。已知各種采樣方法且其主要涉及蒸氣和顆粒采樣。例如，美國專利第
4,909,090號教授加熱表面以幫助驅逐被捕集在探針中的收集器表面上的蒸氣的手操 作蒸氣采樣器的使用。然而，由于某些目標化合物具有低蒸氣壓力，因此此方法的使
用可多少受到限制。
還已知顆粒收集方法。顆粒收集技術包含通過物理顆粒收集表面檢査微量顆粒， 使用灰塵盤-刷布置，真空抽吸到多孔或半多孔襯底、過濾器、薄膜和類似物上以及使 用拭抹物、桿、手套等。美國第3，970，428、 4,220,414、 4,192,176和5,425,263號專利 涉及用于法庭和表面地球化學勘探的顆粒收集方法，其中可將痕量金屬和有機金屬用 作礦物勘探活動中的指引指示符。美國第5,476,794號專利描述用手套和使用涉及真空 抽吸所述手套的中間步驟來收集樣品顆粒。
用于收集痕量顆粒的另一方法涉及將濾盤插入真空吸塵器單元的抽吸線路中以 通過抽吸移除用于分析的顆粒。在收集充足量的灰塵/材料之后，移除濾盤或襯底并將 其呈給分析裝置。將濾盤插入被快速加熱以使所收集材料揮發的熱解吸裝置中。加熱 過程將痕量顆粒轉換成蒸氣以用于常規化學蒸氣分析，例如，IMS、質譜儀或氣相色 譜法或此類其它儀器。此方法遭受真空吸塵器污染的缺點且需要操縱笨重的真空吸塵 器來獲得樣品。
已以各種方式使用呈手覆蓋物形式(例如，手套、露指手套和桿)的收集媒介用 于顆粒收集，但所述技術經常需要將收集在手套或類似物上的樣品傳送到分析裝置的 中間步驟。 一個方法涉及將收集媒介暴露于抽吸裝置以真空抽吸手套或露指手套，如 在美國第5,476,794號專利中所描述。此方法耗費時間且真空傳送效率低，從而導致由 于從收集媒介的不完整傳送所致的樣品損失。另外，真空抽吸裝置有噪音、笨重且需 要電力來激勵抽吸電機。即使小的真空采樣裝置也具有相對受限制的電池壽命。而且， 抽吸裝置可在傳送含有在下次使用之前需要徹底清潔的目標化合物的樣品期間被污染。最后，抽吸經常產生甚至更大的問題是抽吸致使收集媒介纖維和毛絨被釋放， 從而可阻礙分析裝置或當例如在使用離子遷移頻譜儀時(其中因手覆蓋材料所致的基 質效應可在離子化過程中形成太具侵略的對抗)，呈現在分析過程中可能形成對抗的 干擾化學品或軟毛/毛絨。
美國第5,476,794號專利描述顆粒的收集，其中將顆粒從樣品收集手套傳送到收
集探針，且將完成的探針插入分析器中以使樣品汽化。此技術涉及復雜采樣探針，其 可容易地被來自采樣手套的碎片和毛絨阻塞。
還已知手持且覆蓋手指的常規采樣襯底用于從表面收集顆粒，其中材料被直接插 入分析裝置中。所述材料具有避免中間傳送步驟和使用抽吸裝置的優點。然而，用手 收集樣品可導致樣品的污染或由于采樣襯底對被分析物件的不足壓力所致的不完整收 集。
而且，常規采樣襯底經常依靠操作者來確保襯底材料的采樣區域(或"拭抹物") 在分析器(或"分析裝置")內適當對準以便分析裝置對襯底材料中含有樣品的部分
進行實際分析。例如，在IMS中，在樣品解吸器上必須適當地對準所收集的樣品以使 IMS對所收集的樣品進行解吸和分析。當襯底的樣品區域在分析器內未適當對準時， 所收集的樣品不能完全解吸。因此，樣品的測試結果可受襯底的樣品區域在分析器內 的對準程度的影響。
發明內容
因此，需要一種樣品收集裝置，所述樣品收集裝置能夠在操作者的手不觸摸所述 采樣襯底的條件下收集樣品并將其傳送到分析裝置，且避免操作者在收集樣品并將所 收集的樣品定位在分析裝置中時發生錯誤。
因此， 一個實施例提供用于將樣品收集在襯底上以供在分析器中分析的采樣裝 置，其包括本體和經布置以夾持所述襯底的采樣頭，其中所述采樣裝置經布置以便插 入樣品接收裝置中以使得所述襯底在所述分析器中適當地對準來將所述樣品最優地或 大致最優地引入分析器中。
另一實施例提供收集樣品的方法，其包括將襯底安裝于手持采樣裝置中，所述手 持采樣裝置包含本體和經布置以夾持所述襯底的采樣頭，其中所述采樣裝置經布置以 便插入分析器中以使得所述襯底在所述分析器內適當地對準來從所述襯底最優地或大 致最優地引入所述樣品，操縱所述采樣裝置以使所述襯底接觸所關注的表面，且將所 述采樣頭插入用于所述樣品的解吸和分析的所述分析器中。
應理解，上文的一般說明及下文的詳細說明二者僅是實例性及闡釋性，而非限制 所主張的本發明。
通過下述說明、隨附權利要求書及圖示中所示的隨附實例性實施例本發明的這些 及其它特征、方面及優點將變得明了，下文將簡要說明各個圖示。 圖1是實例性采樣裝置的部分分解側視圖。 圖2是圖1中裝置的(a)側視圖和(b)正視圖。
圖3是移除采樣頭以顯示搖擺臂和搖擺頭的圖1中裝置的(a)側視圖和(b)正 視圖。
圖4是圖3中裝置的分解透視圖。
圖5顯示圖1中裝置的外殼的(a)側視圖、(b)分解透視圖和(c)正視圖。 圖6顯示根據實施例(a)實例性采樣頭的分解圖、(b)實例性采樣頭的透視圖、 (c)采樣頭的底區段的透視圖和(d)采樣頭的仰視圖。
圖7是插入實例性樣品接收裝置中的圖1采樣裝置的透視圖。 圖8顯示插入實例性樣品接收裝置中的實例性采樣頭的(a)透視圖和(b)端視圖。
圖9是實例性樣品接收裝置的透視圖。
圖IO是呈分解圖形式的具有控制線的實例性樣品接收裝置的透視圖。 圖11是實例性樣品接收裝置的分解圖。
具體實施例方式
一種避免操作者錯誤的采樣裝置用于收集樣品以供分析裝置分析。所述裝置解決 操作者錯誤，所述操作者錯誤可導致樣品污染、不完整或無效樣品收集和所收集的樣 品在分析裝置內的不正確放置。
圖l-6顯示用于收集樣品以供分析的采樣裝置10的實施例。此采樣裝置能夠在操 作者不直接搬運采樣襯底的條件下收集樣品以供分析且消除收集樣品中的操作者錯 誤。圖7-8顯示定位在樣品接收裝置220中的采樣裝置10的實施例，其消除將樣品收 集襯底定位在分析裝置中以使樣品適當地對準以供有效分析的困難。圖8-11顯示經配 置以接收采樣裝置10的樣品接收裝置220的實施例。
采樣裝置IO可經配置以便操作者可操縱采樣裝置10以用樣品收集襯底100的樣 品區域110來擦拭、接觸或"拭抹"任何所關注的物件或物體，因此從所述物件收集 樣品。例如，采樣裝置可用于從例如行李、包、包裹、衣服和個人收集樣品。在一個 實施例中，所述裝置可以是手持裝置。
圖1顯示根據實施例的采樣裝置10。采樣裝置10可經配置以提供本體20和采樣 頭30。本體20和采樣頭30可以是整體的或可拆分的。操作者可將采樣裝置10的本 體20握于手中以便操作者可容易地操縱采樣裝置10。所述裝置可視需要包含附接到 本體20的吊帶70以便在不使用采樣裝置10時采樣裝置10可支撐于操作者的胳膊上或通過吊帶懸掛。
采樣裝置IO可使用可替換的采樣襯底100，其可使用任何適合襯底保持布置夾持 于裝置中。可使用例如搭鎖裝置、玻璃框、鉤和環、搭鎖配合件或使用框架的夾層式 布置來固定襯底100。例如，采樣裝置10可包含采樣頭30，如圖1中所示。例如，圖 6顯示采樣頭30，其經配置以支撐襯底100以便襯底100的樣品區域110經布置以收 集樣品。
根據實施例，采樣頭30可包含采樣框架120，其用于將襯底100夾持在釆樣頭 30內。采樣頭可具有任何適合尺寸。例如，采樣頭30可具有從采樣頭30的一端到襯 底100的中心點的長度X，和直徑D。例如，采樣頭30可具有大約4英寸的長度和大 約2英寸的直徑。采樣框架120可包含上部件122和下部件124以使襯底100可夾持 在上部件122與下部件124之間(見圖6)。借助此布置，可容易地安裝和從采樣頭 30釋放襯底。例如，上部件122可通過銷子126鉸接到下部件124以使上部件122可 相對于下部件124移動，從而允許襯底100從采樣框架120移除且將新的襯底100放 置于下部件124與上部件122之間。上部件122可緊固到下部件124，例如使用搭鎖 裝置、卡口緊固件或可將襯底100夾持就位的任何其它附接件。采樣框架120可經布 置以使襯底100的樣品區域IIO在采樣頭30內居于中心以用于合適的樣品收集和熱解 吸。
可使用任何適合材料構造采樣頭30。在一個實施例中，所述材料能夠在短時間(例 如，少于90秒、60秒、30秒、20秒、10秒、l秒、0.5秒或少于0.25秒)處于大于 300° C的溫度時抵抗變形和降級。在另一實施例中，采樣頭可由以下組成鋼、不銹 鋼、鎳超級合金、鈷超級合金、鍍鉻和/或鍍鋅和/或鍍鋁鋼、鋁或鋁合金、鈦或鈦合金、 陶瓷、金屬基質復合物和碳纖維復合物。在其它實施例中，采樣頭由聚醚酮(PEEK) 組成。在額外的實施例中，采樣頭由黑色PEEK組成。
在收集樣品之后，可對樣品進行分析。釆樣頭30可用于解吸所收集樣品的各種 方法。例如，可使用熱解吸、紅外線解吸或通過所述技術中已知的其它方法的解吸來 汽化樣品。
采樣裝置10可還包含本體，其經配置以接收采樣頭。所述本體可以是能夠接收 采樣頭的任何適合配置。圖5(a)是根據實施例采樣裝置10的本體20的側視圖。圖5(b) 是根據實施例采樣裝置的本體20的分解圖，其中本體20包含上體部分22、下體部分 24和用于電源(例如電池)的部件26。例如，如在圖5(b)中所顯示，本體20可包含 接合在一起的上體部分22和下體部分24，其可形成采樣裝置10的抓握部分。所述本 體可由任何適合材料構成，例如高溫塑料、鋼、不銹鋼和鋁。
根據實施例，采樣頭30可從采樣裝置10的本體20中移除。圖5(c)是根據實施例 采樣裝置10的本體20的端視圖，其顯示其中采樣頭30與本體20相交的配合特征。 采樣頭30可通過連接機構80附接到本體20，所述連接機構80可將采樣頭30緊固到 采樣裝置10的本體20以使連接機構80可容易地附接到采樣裝置10的本體20和與采樣裝置10的本體20拆分。連接機構80可包含任何適合緊固裝置82，其能夠將采樣 頭30緊固到采樣裝置10的本體20。適合的緊固裝置包含例如搭鎖裝置、摯子連接、 卡口緊固件、間斷的螺紋、磁鐵、螺線管或所述技術中已知的其它緊固裝置。在一個 實施例中，緊固裝置82可以是磁鐵。連接機構80可包含在采樣頭30中的緊固裝置 82和在采樣裝置10的本體20中的對應緊固裝置。
裝置10可包含用于嚙合和解嚙合襯底保持布置的機構。例如，本體20可進一步 包含用于致動與搖擺頭30相關聯的搖擺臂40的觸發器60，所述搖擺頭30與采樣頭 30相交以夾持襯底100。
在一個實施例中，可提供搖擺臂40用于支撐接觸和/或定形襯底100的表面。在 一個實施例中，采樣裝置10可包含具有搖擺頭46的搖擺臂40。搖擺頭46可包含表 面42，其可用于按壓在襯底100的表面上以使襯底100的所述表面可具有預定形狀和 支撐。搖擺頭46的表面42可包含附接到搖擺頭46的盤44 (見圖3 (a))。搖擺頭 46可附接到搖擺臂40以便在對搖擺臂40向下施力時使盤44按壓在襯底100的表面 上。盤44可與搖擺頭46形成整體或是可替換的。在一個實施例中，可通過將盤44 與搖擺頭46拆分來替換盤44。例如，可使用任何適合方式(例如黏合劑或維可牢尼 龍搭扣(Velcro))將盤44附接到搖擺頭46。在另一實施例中，可在一個或一個以上 表面上用維可牢尼龍搭扣將盤附接到搖擺頭以實現容易替換。盤44可以是任何適合剛 性或彈性材料，例如金屬、聚合物、陶瓷或復合物。適合的聚合物材料包含熱塑性或 熱固性聚合物和純的或經填充聚合物。在一個實施例中，盤44可由聚硅氧、膠乳橡膠 或軟塑料構成。
搖擺臂40可包含控制搖擺臂40的移動且沿正確方向移動搖擺臂40和搖擺頭46 以對襯底IOO施加力的裝置。例如，如圖4中所示，采樣裝置10包含柱塞50，其按 壓臂40以使搖擺頭46按壓在襯底100的表面上。柱塞50可包含彈簧或多個彈簧52， 其提供按壓搖擺臂40以使搖擺頭46按壓在襯底100的表面上的力，或者所述彈簧或 多個彈簧可經布置以在從其中搖擺頭46與采樣頭30嚙合的鎖定位置釋放時使搖擺臂 40遠離搖擺頭46移動。
搖擺臂40可經布置以在將采樣頭30插入分析器中或要替換采樣頭30中的襯底 100時沿著遠離采樣頭的方向搖擺，以便搖擺臂40不干擾采樣頭30的操縱。例如， 可啟動柱塞50以將搖擺臂40向上移動到遠離采樣頭30的位置中。向上且遠離采樣頭 30移動搖擺臂40的所述操作可由由操作者啟動的裝置執行。所述裝置可以是觸發器、 操縱桿、按鈕或所述技術中已知的其它啟動裝置且可將其安裝在采樣裝置的本體20 上。在圖4中所示的實例中，啟動裝置是觸發器60，其由操作者扳動，從而致使搖擺 臂40抵抗彈簧52力而向上且遠離采樣頭30移動或致使搖擺臂40從鎖定位置釋放以 使得彈簧52力使搖擺臂40向上且遠離采樣頭30移動。
可需要在樣品的分析期間拆分采樣頭30。例如，可在樣品分析期間將采樣頭與本 體20拆分以便本體20可與其它采樣頭一起使用以收集額外的樣品以供分析。以此方式，多個分析器可與采樣裝置10和采樣頭30—起使用。
根據實施例且如圖1中所示，可將采樣頭30與采樣裝置10的本體20拆分。借 助此布置，采樣裝置IO可用于通過用襯底IOO擦拭或拭抹物體來收集樣品，所述襯底 100置于采樣頭30內。在收集樣品之后且未將襯底100從采樣頭30移除，可將采樣 頭30插入分析器中而保持本體20以與另一采樣頭30使用。
圖3 (a)顯示移除采樣頭30的根據實施例的采樣裝置10的側視圖。圖2(b)顯示 根據實施例采樣頭30就位的采樣裝置10的端視圖。圖3(b)顯示根據實施例移除采樣 頭30的采樣裝置10的端視圖。
采樣裝置10可經配置以與樣品接收裝置嚙合，所述樣品接收裝置能夠容納采樣 裝置IO。例如，樣品接收裝置可經配置以沿關于所收集樣品的分析最優的定向容納采 樣頭30。
圖11是根據實施例的樣品接收裝置200的分解圖。樣品接收裝置200可連接到 分析器或為分析器的一部分。樣品接收裝置200包含樣品區域位置210，其中定位襯 底100的樣品區域110以供解吸和分析。可通過將采樣裝置10的采樣頭30插入樣品 接收裝置200中使襯底100的樣品區域110定位于樣品區域位置210中。樣品接收裝 置200可包含導向結構或多個導向結構220以在樣品接收裝置200內引導并對準采樣 頭30，例如槽、軌道、銷子、滑道、凹槽或所述技術中已知的任何其它適合對準結構。 引導并對準采樣頭30的所述導向結構220可對應于采樣頭30尺寸以便在將采樣頭30 插入樣品接收裝置200中時適當地對準并引導采樣頭30。借助此布置，襯底100的樣 品區域IIO可在分析器內適當地對準以便可大致或完全解吸所收集的樣品，從而提供 樣品的精確分析。此外，操作者能夠在樣品收集和分析期間使用樣品裝置IO來搬運襯 底IOO，從而最小化樣品的交叉污染和/或損失。圖9顯示樣品接收裝置200的透視圖。
圖7顯示采樣裝置10,其中襯底100的樣品區域110朝上且操作搖擺臂40以移 動搖擺頭46遠離襯底100以使搖擺頭46不會妨礙將采樣頭30插入樣品接收裝置200 內。如圖7中所示， 一旦以此方式布置采樣裝置10，就可將采樣頭30插入樣品接收 裝置200的槽220中且采樣頭30和采樣裝置10可沿箭頭B指示的方向移動以便將采 樣頭30和樣品區域110適當地放置于樣品區域位置210中且可對所收集樣品執行分 析。樣品接收裝置200可以另一方式布置以同樣接納處于不同定向的采樣裝置10，例 如樣品區域IIO朝下的采樣裝置10。
一旦襯底100的樣品區域110在分析器內對準，就可分析襯底100上含有的樣品。 在一個實施例中，可加熱襯底IOO。借助此布置，當將采樣裝置10插入樣品接收裝置 200中時實現襯底100的樣品區域110在樣品區域位置210中的適當對準，從而允許 樣品的精確分析。 一旦從襯底移除樣品，操作者就可將采樣頭30再附接到采樣裝置 10的本體20并從分析器移除采樣頭30。此外，在拆分采樣頭30和具有第一樣品的襯 底100并將其放置于分析器內以供分析時，操作者可將第二或其它額外的采樣頭30 附接到采樣裝置10的本體20以便在分析第一樣品時可用采樣裝置10收集額外樣品。在一個實施例中，采樣頭30插入樣品接收裝置200中可致使分析器開始樣品的分析， 因此不需要操作者的額外行為來使分析開始。另一選擇是，操作者可插入采樣頭30 且然后起始樣品引入。可通過任何適合方法進行樣品引入，例如解吸。在一個實施例 中，解吸器是樣品接收裝置的一部分。
上述實例將樣品接收裝置200描述為與具有可拆分釆樣頭的采樣裝置一起使用。 然而，樣品接收裝置200還可與具有與采樣裝置的本體是整體的采樣頭的采樣裝置一 起使用。
樣品接收裝置200可包含鎖定機構240，其用于在樣品接收裝置200內已接收采 樣頭30之后將采樣頭30鎖定在樣品接收裝置200內的適合位置。鎖定機構240可通 過鎖定機構外殼230定位在樣品接收裝置200中。鎖定機構240可包含鎖定裝置，其 與采樣頭30嚙合以在樣品分析期間或至少在將樣品引入分析器中期間保持采樣頭30 在采樣接收裝置200內，從而維持襯底100的樣品區域110在樣品區域位置210中的 位置。鎖定機構240可以是銷子、搭鎖裝置、卡口緊固件、螺線管或其它緊固裝置。 在圖ll中所示的實例中，鎖定機構240是螺線管，其在啟動時，沿箭頭A指示的方 向移動銷子250。借助此布置，螺線管可經啟動以使銷子250向上伸展以便銷子250 與采樣頭30嚙合。例如，銷子250可與采樣頭30中的孔128 (見圖6 (a))嚙合以 將采樣頭30鎖定在樣品接收裝置200內的適合位置。 一旦完成分析或至少樣品引入， 就可啟動螺線管以抽出銷子250且允許采樣頭30從樣品接收裝置200中移除。圖10 以分解圖形式顯示具有用于鎖定機構240的控制線260和托架270的樣品接收裝置200 的透視圖。托架270可用于將控制線260固定到樣品接收裝置200。
圖8(a)顯示定位在樣品接收裝置200內的采樣頭30的透視圖，同時圖8 (b)顯 示定位在樣品接收裝置200內的采樣裝置IO的端視圖。在實施例中， 一旦操作者已使 用采樣裝置10來將采樣頭30定位在樣品接收裝置200內，操作者就可將采樣頭30 與采樣裝置10的本體20拆分，從而允許操作者將額外采樣頭30附接到采樣裝置10 以便在分析第一樣品時可收集額外樣品。操作者可通過啟動將采樣頭30鎖定到采樣裝 置10的本體20的連接機構80來將采樣頭30與采樣裝置10的本體20拆分。 一旦完 成樣品的分析，操作者就可將采樣頭30再附接到采樣裝置10的本體20并從分析器中 移除采樣頭30。
可重復使用襯底100直到襯底100是臟的或被損壞，此時可用新的襯底100替換 所述襯底100。
根據實施例，采樣裝置10可包含指示采樣頭30和/或襯底100的解吸循環數目的 遞增計數器。所述遞增計數器可包含在釆樣頭30上或采樣裝置10的本體20上的顯示 器，其向操作者視覺地顯示解吸循環數目。所述遞增計數器可包含唯一識別器，其定 位在采樣頭30或采樣框架120內。所述唯一識別器可經布置以由分析器和/或采樣裝 置10的本體20內的計數器或控制系統檢測，所述計數器或控制系統計數采樣頭30 和/或襯底100的解吸循環數目。然后，計數器或控制系統可例如通過有線或無線傳輸向采樣裝置IO的顯示器輸出解吸循環數目。例如，可使用射頻信號在唯一識別器、計 數器或控制單元和顯示器之間傳輸信息。也可在并非所述釆樣裝置的裝置上顯示計數 器信息，例如分析裝置、CPU或能夠顯示解吸循環數目的其它裝置。
遞增計數器可經布置以在一旦解吸循環數目已達到指示采樣頭30和/或襯底100 的限制的預定值時就向操作者顯示警告。 一旦顯示所述警告，操作者可更換采樣頭30 和/或襯底100，并重設遞增計數器。例如，操作者可通過重設裝置上的計數器或通過 重設分析器上的計數器來重設遞增計數器。在一個實施例中，分析器包含用于重設所 述裝置的觸摸屏幕。
根據實施例，采樣裝置10可包含壓力傳感器以在使用適量壓力擦拭物品以獲得 樣品之時加以指示。壓力傳感器可包含警告裝置90，在用采樣裝置IO擦拭或拭抹物 品以收集樣品期間當操作者采用不足壓力或過度壓力時，所述警告裝置90會提醒操作 者。警告裝置90可為任何適合的輸出裝置，例如光指示器、LCD屏幕、指針或可聽 信號。在一個實施例中，壓力傳感器可用于警告操作者在樣品收集期間使用更大的壓 力。例如，在一個實施例中，壓力傳感器可用于警告操作者在擦拭或拭抹行李表面時 使用更大壓力以確保適當表面接觸和有效收集可能在行李表面上發現的樣品材料。在 另一實施例中，壓力傳感器可用于在所述裝置施加小于2磅的力，施加小于l磅的力 或小于0.5磅的力時警告操作者。
根據實施例，采樣裝置10包含電源。例如，所述電源可為固定的可再充電電源、 可拆卸再充電電池或可提供以驅動壓力傳感器和顯示器的一次性電池。
襯底100可用于收集固體顆粒、氣溶膠、微滴和痕量化學品的樣品。襯底100可 由任何適合材料制成。在一個實施例中，襯底100是Nomex⑧、Kevlar⑧、Teflon 、 玻璃纖維、鯊皮、棉花、或所述材料的組合。可涂布或不涂布襯底。
采樣裝置10可與任何適合分析器或分析裝置一起使用，例如IMS、 GC-IMS、 IMS-IMS、或雙IMS分析器。在一個實施例中，結合雙IMS分析器使用樣品接收裝置 200。可使用任何適合方法將樣品引入分析器中，例如通過熱、紅外線或激光方法的解 吸。
在給出本發明的解釋內容的情況下，所屬領域的技術人員將理解可存在本發明范 圍和精神內的其它實施例和修改。因此，所屬領域的技術人員可從本揭示內容獲得的 在本揭示內容的范圍和精神內的所有修改將作為其它實施例包含在內。
權利要求
1、一種用于將樣品收集于襯底上以供在分析器中分析的采樣裝置，其包括本體，及采樣頭，其經布置以夾持所述襯底，其中所述采樣裝置經布置以便插入樣品接收裝置中，使得所述襯底在所述分析器內適當地對準以將所述樣品最優地或大致最優地引入所述分析器中。
2、 如權利要求1所述的采樣裝置，其中所述采樣頭可與所述本體拆分開。
3、 如權利要求2所述的采樣裝置，其中所述采樣頭經布置以在分析所述樣品期 間保持在所述分析器內。
4、 如權利要求3所述的采樣裝置，其中在所述分析器內的采樣頭為第一采樣頭， 且其中所述采樣裝置經布置以在所述第一采樣頭保持在所述分析器內時將第二采樣頭 附接到所述本體。
5、 如權利要求2所述的采樣裝置，其進一步包括將所述采樣頭附接到所述本體 的連接機構，其中所述連接機構可將所述采樣頭附接到所述本體。
6、 如權利要求1所述的采樣裝置，其中所述采樣頭包含上部件和下部件，且其 中所述上部件和所述下部件經布置以將所述襯底夾持在所述上部件與所述下部件之 間。
7、 如權利要求1所述的采樣裝置，其進一步包括計數所述釆樣頭的解吸循環數 目的計數器。
8、 如權利要求7所述的采樣裝置，其中所述計數器包含顯示所述采樣頭的解吸 循環數目的顯示器，且其中所述顯示器位于所述采樣裝置上或其中所述顯示器位于并 非所述采樣裝置的裝置上。
9、 如權利要求1所述的采樣裝置，其進一步包括壓力傳感器，其檢測所述采 樣裝置在樣品收集期間施加在獲得樣品的物件上的壓力量；和警告裝置，其在操作者 在樣品收集期間采用不足壓力時提醒所述操作者。
10、 如權利要求l所述的采樣裝置，其進一步包括搖擺臂，所述搖擺臂包含搖擺 頭和按壓在所述襯底的表面上的表面。
11、 如權利要求1所述的采樣裝置，其中所述采樣頭經布置以用于熱解吸或經由 紅外線輻射的解吸。
12、 一種用于收集樣品的采樣頭，其包括-采樣頭，其經布置以夾持襯底，其中所述采樣頭經布置以便插入樣品接收裝置中， 使得所述襯底在分析器內適當地對準以將所述樣品最優地或大致最優地引入所述分析 器中。
13、 如權利要求12所述的采樣頭，其中所述采樣頭可附接到采樣裝置的本體。
14、 如權利要求12所述的采樣頭，其中所述采樣頭包含上部件和下部件，且其 中所述上部件和所述下部件經布置以將所述襯底夾持在所述上部件與所述下部件之 間。
15、 如權利要求12所述的采樣頭，其進一步包括計數所述采樣頭的解吸循環數 目的計數器。
16、 如權利要求12所述的采樣頭，其進一步包括壓力傳感器，其檢測所述采 樣裝置在樣品收集期間施加到獲得樣品的物件上的壓力量；和警告裝置，其在操作者 在樣品收集期間采用不足壓力時提醒所述操作者。
17、 一種收集樣品的方法，其包括將襯底安裝在手持采樣裝置中，所述手持采樣裝置包含本體和經布置以夾持所述 襯底的采樣頭，其中所述采樣裝置經布置以便插入分析器中，使得所述襯底在所述分 析器內適當地對準以從所述襯底最優地或大致最優地弓I入所述樣品，操縱所述采樣裝 置以使得所述襯底接觸所關注的表面，及將所述采樣頭插入所述分析器中。
全文摘要
本發明提供一種獲得樣品的采樣設備和方法。所述設備具有本體、連接到所述本體的頭和用于將襯底保持在所述頭上的機構。所述設備能夠使得快速且高效地對一區域進行采樣，同時最小化樣品的交叉污染和樣品在分析器中的不正確放置。
文檔編號G01N1/44GK101438141SQ200680052485
公開日2009年5月20日 申請日期2006年12月15日 優先權日2005年12月16日
發明者尤里·懷斯曼, 德拉戈柳布·里焦希奇, 薩巴蒂諾·納克林, 謝爾蓋·卡皮陶爾斯基 申請人:史密斯探測-多倫多有限公司