專利名稱：電池分析系統和方法
電池分析系統和方法
背景技術：
筆記本或膝上型計算機和其他類型的便攜計算裝置使用內部電池 以實現該計算裝置的自供電使用(即，不依賴于插座和/或其他類型的 外部電源)。當該計算機裝置的消費者和/或使用者察覺到與電池相關的 問題時，或者由使用者購買更換電池，或者請求保修更換電池(例如， 如果電池仍在保修范圍內)。然而，由于電池仍正常工作或者僅僅是需 要重新校準，工作中的電池常常被不必要地更換，由此導致為消費者 和/或電池供應商產生附加和不必要的成本。
為了更全面理解本發明及其優點，現在結合附圖進行下述描述，
附圖中
圖1為示出根據本發明的電池分析系統的實施例的圖示； 圖2為示出根據本發明的電池分析方法的實施例的流程圖； 圖3為示出根據本發明的電池分析方法的另一實施例的流程圖； 圖4為示出根據本發明的電池分析方法的另 一 實施例的流程圖； 圖5為示出根據本發明的電池分析方法的另一實施例的流程以及
圖6為示出根據本發明的電池分析方法的再一實施例的流程圖。
具體實施例方式
通過參考附圖的圖1至6，可以最好地理解本發明的優選實施例 及其優點，各個附圖中相同的參考數字表示相同和相應的部件。
圖1為示出根據本發明的電池分析系統10的實施例的圖示。在圖 1所示實施例中，分析系統10示為布置在計算機裝置12內用于分析和 /或確定電池14是否有缺陷和/或需要更換。計算機裝置12可包括任意 類型的計算機裝置，例如但不限于膝上型或筆記本計算機、平板計算 機、個人數字助理、或者能夠由電池供電的任意其他類型的計算機裝 置。在圖l所示實施例中，電池14示為計算機裝置12的一部分和/或 形成計算機裝置12的一部分(例如內部電池14)。然而，應理解，電 池14可包括外部電池(例如旅行電池、二次電池、或者其他類型的外 部電池)。在圖l所示實施例中，分析系統10示為布置在計算機裝置 12內和/或形成計算機裝置12的一部分。然而，應理解，分析系統IO 可以相對于計算機裝置12來布置。例如，在圖l所示實施例中，分析 系統IO可以遠離計算機裝置12，通常用16表示，并配置成通過通信 網絡18 (例如互聯網、內聯網、局域網(LAN)、廣域網(WAN)、或 者其他類型的有線和/或無線通信網絡)與電池14通信和/或接口。為 了便于說明，下面僅描述分析系統10;然而，應理解，系統16可以類 似地配置用于遠程使用。此外，應理解，本發明的實施例不限于包含 單個系統10或16 (例如，計算機裝置12可以配置成具有內部系統10 且也可以配置成通過系統16實現遠程訪問)。
在圖1所示實施例中，分析系統10包括處理器20和存儲器22。 處理器20可以是形成分析系統10的一部分的離散處理器元件，和/或 分析系統10可以使用布置于計算機裝置12上的另一處理元件。在所 示實施例中，分析系統10包括測試模塊24。測試模塊24可包括硬件、 軟件、或者硬件和軟件的組合。在圖l所示實施例中，測試模塊24示 為存儲在存儲器22內，從而可由處理器20訪問和執行。然而，應理 解，測試模塊24可以按其他方式布置，甚至遠離計算機裝置12定位。 在工作中，測試模塊24從電池14讀取各種信息并分析這些信息以確 定電池14是否有缺陷和/或需要更換。優選地，在運行分析系統10時， 計算機裝置12使用除被分析電池14以外的電源(例如外部交流(AC) 插座或者AC適配器)來工作，以利于對電池14的精確讀取。應理解， 確定電池14是否有缺陷和/或需要更換，這可以基于在重新校準電池 14之后和/或重新校準電池14之前進行的分析的結果。
在圖l所示實施例中，電池14包括微處理器30和一個或多個存 儲寄存器32。存儲寄存器32包括由微處理器30存儲的與電池14的各 種預設和/或工作參數相關聯的信息。例如，存儲在寄存器32內的信息 可包括在電池14的笫 一次用戶4吏用之前預設和/或存儲在電池14內的 信息(例如在電池14出廠之前的默認值、設計值和/或存儲在寄存器 32內的其他類型信息)，和/或在電池14工作期間(例如，計算機裝置 12使用電池14期間)由微處理器30監測、記錄和/或存儲的信息。
在圖l所示實施例中，存儲寄存器32包括設計電壓寄存器34、溫 度寄存器36、單元(cell)電壓寄存器38、周期計數寄存器40、狀態 寄存器42和容量寄存器44。如上所述，存儲在存儲寄存器32內的信 息可包括在電池14使用期間采集和/或收集的信息和/或預先存儲在電 池14內的信息。例如，在本發明某些實施例中，設計電壓寄存器34 包括與電池14的設計電壓電平相關聯的信息，溫度寄存器36包括與 電池14的記錄工作溫度相關聯的信息(例如，最小和/或最大記錄的工 作溫度)，單元電壓寄存器38包括電池14的每個單元38t-38n的單元 電壓電平，周期計數寄存器40包括與電池14的再充電周期量相關聯 的信息，狀態寄存器42包括與各種狀態警報位(alarm bit)或指示符 相關聯的信息，以及容量寄存器44包括與電池14的充電容量相關聯 的信息。例如，在圖l所示實施例中，狀態寄存器42包括過熱寄存 器46，具有與電池14的過熱狀態相關聯的信息；以及終止放電寄存器 48，具有與電池14的放電相關聯的信息。此外，在圖l所示實施例中， 容量寄存器44包括設計容量寄存器49，具有與電池14的設計充電 容量相關聯的信息；以及最后獲知容量寄存器50，具有與最后確定的 和/或存儲的電池14的充電容量水平相關聯的信息。然而，應理解，電 池14可包括其他類型的存儲寄存器32和/或可由分析系統IO使用的相 關信息以確定電池14是否有缺陷。
在工作中，測試模塊24從電池14的各種存儲寄存器32讀取信息 以確定電池14是否有缺陷和/或需要更換。例如，在本發明的某些實施 例中，測試模塊24從各種存儲寄存器32讀取信息并將讀取值與預定 閾值和/或預定范圍值比較。在圖l所示實施例中，數據庫52具有電池 參數數據54。電池參數數據54包括與從存儲寄存器32讀取的與值相 關聯的信息、和/或用于分析和/或評估所讀取的寄存器值的預定值，以 確定電池14是否有缺陷和/或需要更換。
在圖l所示實施例中，電池參數數據54包括設計電壓值60、單元 電壓值62、溫度值64、端子值66、容量值68、周期值70和狀態值72。 設計電壓值60包括寄存器值80，代表從設計電壓寄存器34讀取的 設計電壓值；以及預定設計電壓值82,代表電池14的預設和/或默認 設計電壓值，用于分析和/或評估所讀取的寄存器值80，和/或用于與其 他所讀取的寄存器值和/或預定值結合來確定電池14是否有缺陷和/或
需要更換。在圖l所示實施例中，單元電壓值62包括寄存器值86， 代表從電池14每個單元的寄存器38t - 38n讀取的單元電壓值；以及預 定單元電壓值88，代表預定閾值和/或單元電壓值范圍，用于分析和/ 或評估所讀取的寄存器值86，和/或用于與其他所讀取的寄存器值和/ 或預定值結合來確定電池14是否有缺陷和/或需要更換。
在圖l所示實施例中，溫度值64包括寄存器值90，代表從溫度 寄存器36讀取的溫度寄存器值；以及預定溫度值92，代表預定閾值和 /或溫度值范圍，用于分析和/或評估所讀取的寄存器值90，和/或用于 與其他所讀取的寄存器值和/或預定值結合來確定電池14是否有缺陷 和/或需要更換。端子值66包括與在電池14的電源端子的端子電壓水 平96和端子電流水平98相關聯的信息。例如，端子值66分別代表在 電池14的電源端子測量的實際電壓和電流值96、 98。端子值66還包 括預定端子值99，代表預定閾值和/或端子電壓和/或端子電流值范圍， 用于分析和/或評估所確定的值96和/或98，和/或用于與其他所讀取的 寄存器值和/或預定值結合來確定電池14是否有缺陷和/或需要更換。 容量值68包括設計容量寄存器值100，代表從設計容量寄存器49讀 取的設計容量寄存器值；最后獲知容量寄存器值102，代表從最后獲知 容量寄存器50讀取的最后獲知容量值；以及預定容量值104,代表預 定閾值和/或值范圍，用于分析和/或評估所讀取的寄存器值100和/或 102，和/或用于與其他所讀取的寄存器值和/或預定值結合來確定電池 14是否有缺陷和/或需要更換。
周期值70包括周期計數寄存器值IIO，代表從周期計數寄存器 40讀取的周期計數值；以及預定周期計數值112，代表預定閾值和/或 值范圍，用于分析和/或評估所讀取的寄存器值110,和/或用于與其他 所讀取的寄存器值和/或預定值結合來確定電池14是否有缺陷和/或需 要更換。狀態值72包括過熱狀態寄存器警報值120,代表從過熱寄 存器46讀取的警報和/或位值；終止放電寄存器警報值122，代表從終 止放電寄存器48讀取的警報和/或位值；以及預定狀態值124，用于與 過熱狀態寄存器警報值120和/或終止放電寄存器警報值122結合來確 定電池14是否有缺陷和/或需要更換。
在本發明一些實施例中，測試模塊24讀取設計電壓寄存器34以 獲得設計電壓寄存器值80，并使用預定設計電壓值82來自動確定電池
14內單元的數量。例如，在本發明一些實施例中，預定設計電壓值82 包括通常與具有不同單元數目的電池相關聯的預定和/或預設值范圍 (例如，針對三單元電池、四單元電池等每一種的不同值范圍，以確 定電池14內的單元數目)。因此，例如在本發明一些實施例中，對于 三單元電池14，設計電壓寄存器值80通常應在10800亳伏(mV)和 11100mV之間，而對于四單元電池，設計電壓寄存器值80應在14400mV 和14800mV之間。應理解，可以提供和/或使用設計電壓值82的其他 預定范圍。因此，測試模塊24配置成基于所讀取的設計電壓寄存器值 80落在哪個預定設計電壓值82范圍來自動確定電池14的單元數量。 此外，如果所讀取的設計電壓寄存器值80不落在任何預定設計電壓值 82范圍內，則測試模塊24將電池14識別為有缺陷(例如，指示出錯 的設計電壓寄存器34和/或通常與有缺陷電池14相關聯的其他異常)。
在本發明一些實施例中，測試模塊24讀取單元電壓寄存器38以 確定電池14的每個單元的單元電壓值。例如，在本發明一些實施例中， 測試模塊24讀取每個單元38i - 38n的單元電壓寄存器38，并存儲該寄 存器值作為單元電壓寄存器值86。測試模塊24評估所讀取的單元電壓 寄存器值86,并確定從與單元38i - 38n相對應的單元電壓寄存器38讀 取的最大和最小單元電壓寄存器值86之間的最大展寬和/或差異。在本 發明一些實施例中，預定單元電壓值88包括單元38i-38n之間的最大 閾值容量差異。例如，如果從單元電壓寄存器38讀取的最大單元電壓 寄存器值86和最小單元電壓寄存器值86之間的最大展寬和/或差異超 過預定單元電壓閾值88 (例如50mV)，測試模塊24將電池14識別為 有缺陷(例如，指示故障電池單元、出錯的寄存器38、和/或通常與有 缺陷電池狀態相關聯的其他異常)。
在本發明一些實施例中，測試模塊24從溫度寄存器36讀取溫度 寄存器值90,并相對于預定溫度值92評估溫度寄存器值卯。例如， 在本發明一些實施例中，預定溫度值92包括預定的最小和/或最大閾 值。因此，例如，如果溫度寄存器值卯低于預定的最小閾值溫度值92 和/或超過預定的最大闊值溫度值92，測試模塊24將電池14識別為有 缺陷(例如，由于可能的熱敏電阻斷開、出錯的寄存器、和/或通常與 有缺陷電池狀態相關聯的其他異常)。在本發明一些實施例中，測試模 塊24分別從過熱寄存器46和終止放電寄存器48讀取過熱狀態寄存器
警報值120和終止放電寄存器警報值122，以分別確定在過熱寄存器 46和/或終止放電寄存器48內是否已經設置警報位。如果狀態寄存器 42的警報位已經被設置和/或與狀態寄存器42內代表警報設置和/或錯 誤記錄狀態的預定狀態值124相對應，則測試模塊24將電池14識別為 有缺陷(例如，由于過熱狀態、出錯的寄存器、和/或通常與有缺陷電 池狀態相關聯的其他異常導致)。
在本發明一些實施例中，測試模塊24分別讀取代表位于電池14 的電源端子處的實際電壓和電流值的端子電壓值96和/或端子電流值 98，并對于預定端子值99和/或其他讀取的寄存器值和/或信息來評估 端子電壓值96和/或端子電流值98。例如，在本發明一些實施例中， 至少基于對電池14單元數量的確定(例如，基于從設計電壓寄存器34 讀取的設計電壓寄存器值80 )，測試模塊24評估端子電壓值96和端子 電流值98，以確定電池14是否有缺陷。例如，如果電池14包括四個 單元且端子電壓值96低于四單元電池14的預定端子電壓水平值99(例 如，對于四單元電池14為llmV)但是端子電流值98大于預定端子電 流水平值99(例如，500mA)，則測試模塊24將電池14識別為有缺陷 (例如，指示電池14未被正常通電和/或通常指示通常與有缺陷電池狀 態相關聯的其他異常)。
在本發明一些實施例中，測試模塊24使用至少預定容量值104來 評估從設計容量寄存器49讀取的設計容量寄存器值100和從最后獲知 容量寄存器50讀取的最后獲知容量寄存器值102，以確定電池14的狀 態。例如，在本發明一些實施例中，預定容量值104代表預定值和/或 最后獲知容量寄存器值102相對于設計容量寄存器值100的閾值比。 因此，例如，如果最后獲知容量寄存器值102相對于設計容量寄存器 值100之比大于預定值和/或閾值比例值104 (例如，110% )，則測試 模塊24將電池14識別為有缺陷(例如，指示出錯的寄存器、讀取最 后獲知容量寄存器值102的問題、和/或通常與有缺陷電池狀態相關聯 的其他異常)。
在本發明 一些實施例中，測試模塊24使用預定周期計數值112和 /或其他所讀取的寄存器值和/或信息來評估從周期計數寄存器40讀取 的周期計數寄存器值110，以評估電池14的狀態。例如，在本發明一 些實施例中，測試模塊24結合設計容量寄存器值100和最后獲知容量
寄存器值102來評估周期計數寄存器值110,以評估電池14的狀態。 例如，如果最后獲知容量寄存器值102小于設計容量寄存器值100的 一半且周期計數寄存器值110小于由值112指示的預定周期數目(例如， 已經執行的充電周期小于300 )，則測試模塊24將電池14識別為有缺 陷(例如，指示極低的電池14容量、出錯的寄存器、和/或與有缺陷電 池狀態相關聯的其他異常)。
因此，本發明的實施例評估一個或多個與電池14相關聯的參數 值，以自動確定電池14是否有缺陷和/或需要更換。應理解，在本發明 一些實施例中，測試模塊24配置成基于單一分析項目和/或多個分析項 目的組合(例如，使用多個分析項目作為對其他分析項目的檢查或驗 證)來指示有缺陷的電池14。此外，在本發明一些實施例中，測試模 塊配置成顯示電池14缺陷狀態的指示(例如，顯示元件或者閃光發光 二極管(LED))。測試模塊24可配置成自動地(例如，對應于預定時 間安排、計算機裝置12使用電池14提供的電力每次啟動時、和/或對 到計算機裝置12供電而每次從外部電源切換到電池14或者從電池14 切換到外部電源時)或者響應于使用者請求來開始對電池14的分析。
圖2為示出根據本發明的電池分析方法200的實施例的流程圖。 該方法開始于塊202,其中測試模塊24從設計電壓寄存器34讀取設計 電壓寄存器值80。在塊204,測試模塊24基于設計電壓寄存器值80 確定電池14內單元的數目。例如，如上所述，可將設計電壓寄存器值 80與一個或多個預定設計電壓范圍值82比較，基于設計電壓寄存器值 80落在哪個設計電壓范圍值82，確定電池14所具有的相應單元數目。
在塊206，測試模塊24從單元電壓寄存器38讀取與每個單元38t -38n相對應的單元電壓寄存器值86。在塊208,測試模塊24識別從 單元電壓寄存器38讀取的最小和最大單元電壓寄存器值86。在判斷塊 210，判斷該最小和最大讀取的單元電壓寄存器值86之間的最大差異 和/或展寬是否超過預定最大差異閾值單元電壓值88。如果最小和最大 單元電壓寄存器值86之間的差異超過預定最大差異閾值單元電壓88， 該方法行進到塊212,其中測試模塊24將電池14識別為有缺陷。如果 最小和最大單元電壓寄存器值86之間的差異沒有超過預定最大差異閾 值單元電壓值88,該方法結束。
圖3為示出本發明的電池分析方法300的另一實施例的流程圖。該方法開始于塊302,其中測試模塊24從電池14的溫度寄存器36讀 取溫度寄存器值90。在塊304，確定溫度寄存器值90是否超過預定最 大溫度閾值92。如果溫度寄存器值90超過預定最大溫度閾值92,該 方法進行到塊308,其中測試模塊24將電池14識別為有缺陷。如果溫 度寄存器值90沒有超過預定最大溫度閾值92，該方法行進到判斷步驟 306，其中判斷溫度寄存器值90是否低于預定溫度最小閾值92。如果 溫度寄存器值90低于預定最小閾值溫度值92,則該方法進行到塊308， 其中測試模塊24將電池14識別為有缺陷。如果溫度寄存器值90沒有 低于預定溫度最小閾值92，該方法結束。
圖4為示出本發明的電池分析方法400的另一實施例的流程圖。 該方法開始于塊402,其中測試模塊24從電壓寄存器34讀取設計電壓 寄存器值80。在塊404，測試模塊24識別與電池14內單元數目相對應 的最小預定設計電壓值82。在塊406，測試模塊24識別與電池14內單 元數目相對應的最大預定設計電壓值82。在判斷塊408,判斷設計電 壓寄存器值80是否落在最小和最大預定設計電壓值82內。如果設計 電壓寄存器值80落在最小和最大預定設計電壓值82內，該方法結束。 如果設計電壓寄存器值80沒有落在最小和最大預定設計電壓值82內， 該方法進行到塊410 ，其中測試模塊24將電池14識別為有缺陷。
圖5為示出本發明的電池分析方法500的另一實施例的流程圖。 該方法開始于塊502，其中測試模塊24從設計電壓寄存器34讀取設計 電壓寄存器值80。在塊504,測試模塊24基于設計電壓寄存器值80 確定電池14內單元數目。在塊506，測試模塊24確定與在電池14端 子的電壓水平相關聯的端子電壓值96。在塊508，測試模塊24基于電 池14內單元數目來識別預定最小和最大端子電壓閾值99。
在塊510，確定端子電壓值96是否超過預定最大端子電壓閾值99。 如果端子電壓值96超過預定最大端子電壓閾值99，該方法進行到塊 520,其中測試模塊24將電池14識別為有缺陷。如果端子電壓值96 沒有超過預定最大端子電壓閣值99，該方法進行到判斷塊512，其中 確定端子電壓值96是否低于預定最小端子電壓閾值99。如果端子電壓 值96不低于最小預定端子電壓閾值99，該方法結束。如果端子電壓值 96低于最小預定端子電壓閾值99,該方法進行到塊514，其中測試模 塊24確定與在電池14端子的電流水平相關聯的端子電流值98。在塊
516，測試模塊24識別與充電的電池14相關聯的預定端子電流值99。 在判斷塊518，確定端子電流值98是否超過預定端子充電電流值99。 如果端子電流值98沒有超過預定端子充電電流值99,該方法結束。如 果端子電流值98超過預定端子充電電流值99，該方法進行到塊520， 其中測試模塊24將電池14識別為有缺陷。
圖6為示出本發明的電池分析方法600的另一實施例的流程圖。 該方法開始于塊602 ，其中測試模塊24從設計容量寄存器49讀取設計 容量寄存器值IOO。在塊604，測試模塊24從最后獲知容量寄存器50 讀取最后獲知容量寄存器值102。在判斷塊606,確定最后獲知容量寄 存器值102是否超過設計容量寄存器值100。如果最后獲知容量寄存器 值102超過設計容量寄存器值100，該方法進行到塊614，其中測試模 塊24將電池14識別為有缺陷。如果最后獲知容量寄存器值102沒有超 過設計容量寄存器值100，該方法進行到判斷塊608，其中確定最后獲 知容量寄存器值102是否低于預定最小設計容量值104。如果最后獲知 容量寄存器值102不低于預定最小設計容量值104，該方法結束。如果 最后獲知容量寄存器值102低于預定最小容量值104，該方法進行到塊 610，其中測試模塊24從周期計數寄存器40讀取周期計數寄存器值 110。在判斷塊612，確定周期計數寄存器值110是否低于預定最小周 期計數值112。如果周期計數寄存器值110不低于預定最小周期計數值 112，該方法結束。如果周期計數寄存器值110低于預定最小周期計數 值112,該方法進行到塊614，其中測試模塊24將電池14識別為有缺 陷。
因此，本發明的實施例使得能夠在更換電池和/或將電池返回到供 應商之前可以自動確定電池狀態。應理解，在所述方法中，特定功能 可以省略，可以以不同于圖2至6所述的順序來完成，或者可以同時 或組合地執行。此外，應理解，在圖2至6中所述的方法可以變更為 包含在說明書其余部分中描述的本發明的其余特征或方面。此外，本 發明的實施例可以在軟件中實施，且可適合于在不同平臺和操作系統 上運行。特別地，測試模塊24所實施的功能例如可以設置為可執行指 令的有序列表，這些可執行指令可以實施在任何計算機可讀取介質中， 以供指令執行系統、設備或裝置使用或者與之結合，例如是基于計算 機的系統、包含處理器的系統、或者可以從指令執行系統、設備或裝
置取來執行并執行該指令的其他系統。在本文檔的上下文中，"計算機 可讀取介質，，可以是包含、存儲、通信、傳播或傳送程序以供指令執行 系統、設備或裝置使用或與之結合的任何裝置。該計算機可讀取介質 可以是例如但不限于電子、磁性、光學、電磁、紅外或半導體系統、 設備、裝置或者傳播介質。
權利要求
1.一種電池分析系統(10)，包括測試模塊(24)，配置成從電池(14)的至少一個寄存器(32)讀取至少一個電池參數值(80，86，90，100，102，110，120，122)，并將所述至少一個電池參數值(80，86，90，100，102，110，120，122)與預定值(82，88，92，104，112，124)比較以確定所述電池(14)是否有缺陷。
2. 如權利要求1所迷的系統(10)，其中所述測試模塊(24)配置 成讀取設計電壓參數值(80)以確定所述電池(14)內單元(38)的數目。
3. 如權利要求1所述的系統(10)，其中所述測試模塊(24)配置 成從與所述電池(14)的每個單元(38)相對應的單元電壓電池參數值(86)中識別最大單元電壓值和最小單元電壓值。
4. 如權利要求3所述的系統(10)，其中所述測試模塊(24)配置 成當所述最大和最小單元電壓值之間的差異超過所述預定值(88)時將 所述電池(14)識別為有缺陷。
5. 如權利要求1所述的系統(10)，其中所述測試模塊(24)配置 成使用針對預定數量的電池單元(38)的所述預定值(82)來評估設計 電壓電池參數值(80)。
6. 如權利要求1所述的系統(10)，其中所述測試模塊(24)配置 成將所述電池(14)的端子電壓(96)與預定最大設計電壓電池參數值(82)比較。
7. 如權利要求1所述的系統(10)，其中所述測試模塊(24)配置 成如果所述電池(14)的端子電壓(96)低于預定設計電壓值(82)和 所述電池(14)的端子電流值(98)超過預定充電電流值(99)，則將所 述電池(14)識別為有缺陷。
8. 如權利要求1所述的系統(10)，其中所述測試模塊(24)配置 成將最后獲知容量參數值(102)與預定設計容量值(104)比較。
9. 如權利要求1所述的系統(10)，其中所述至少一個電池參數值 包括溫度值(90)。
10. 如權利要求1所述的系統(10)，其中所述至少一個電池參數值 包括狀態寄存器值(120， 122)。
全文摘要
一種電池分析系統(10)，包括測試模塊(24)，該測試模塊配置成從電池(14)的至少一個寄存器(32)中讀取至少一個電池參數值(80，86，90，100，102，110，120，122)，并將該至少一個電池參數值(80，86，90，100，102，110，120，122)與預定值(82，88，92，104，112，124)比較以確定該電池(14)是否有缺陷。
文檔編號G01R31/36GK101351717SQ200680049586
公開日2009年1月21日 申請日期2006年7月19日 優先權日2005年10月27日
發明者J·沃茲尼亞克 申請人:惠普開發有限公司