專利名稱：用于測試未設置零件的印刷電路板的指狀測試機及使用指狀測試機測試未設置零件的印 ...的制作方法
技術領域：
本發明系有關一種用以測試未設置零件的印刷電路板之指狀測試機，以及 一種使用此指狀測試機以測試未設置零件的印刷電路板的方法。尤其系有 關一種具有復數個測試指之指狀測試機，其中測試指能自動移動以與待測 試電路板之電路板測試點相接觸。
背景技術：
用以測試電路板的測試機通常可以分為兩類指狀測試機(飛針)及平行 測試機。平行測試機為藉由一轉接器同時與待測試電路板之全部或至少主 要接觸點接觸之測試機。指狀測試機為用以測試未設置零件或有設置零件 的印刷電路板之測試機，其使用兩個或更多個測試指依次掃描各接觸點。 測試指通常連結至一滑塊上，此滑塊可沿著一橫桿移動，而橫桿可由一導 軌上引導并沿此導軌移動。因而滑塊可定位于通常為一矩形測試陣列中之 任何期望之地點上。為了與一待測試電路板相接觸，將滑塊設計成可于橫 桿上垂直移動或測試探針能沿滑塊垂直移動，使得測試指可以從上方與/ 或從下方放置于電路板接觸點、電路板測試點上。
指狀測試機在歐洲專利案第0 468 153Al號中揭露，并且使用一指狀測試 機以測試電路板的方法在歐洲專利案第0 853 242A1號中有揭露。 指狀測試機之測試探針于歐洲專利案第1 451 594B1號、美國專利案第 6,384，614Bl號、世界專利案第03/096037A1號及歐洲專利案第0 990 912A2 號中有揭露。
歐洲專利案第1 451 594B1號揭露了用以測試電路板之指狀測試機之測試 探針，此測試探針沒有獨立驅動。測試探針具有一測試針，測試針之針尖 可與一電路板之測試點相接觸。測試針主要藉由至少兩組彈性彈簧保持臂 固定至一基座上，其中至少一保持臂由導電材料制成并電連接至測試針上。 自上向下來看，保持臂組為橫跨一三角形，使得在電路板接觸期間所使用 的測試探針即使重量很輕，也具有高抗扭勁度以防止在接觸過程中探針尖 之滑動。
世界專利案第03/096037A1號揭露了一種指狀測試機及一種在指狀測試機 支援下以測試電路板之方法，其中各測試指均配有一聚焦于測試針尖端處的照相機，使得照相機可用于偵測與電路板測試點接觸之相應探針尖端之 任何偏離，并且電路板平面中測試指之位置可以適當修正。在此文件中， 照相機示意性地表示為在各探針尖端上方垂直排列。實際上，雖然照相機 沒有在探針尖上方垂直排列，而是輕微偏于一側，使得探針尖端視角方向
包含與垂直方向為30度至50度的角度范圍。因而照相機可以自一角度觀 測測試針之探針尖。透過此種方式，可靠地確保了即使必須在同時接觸兩 個相距很近之電路板測試點時，測試指不與照相機發生碰撞。此裝置及相 應用以校正探針尖端位置之方法實際上很成功。此方法也可用于取得決定 測試針接觸尖端及待測試的電路板測試點間局部關系之標準資料。 習知之指狀測試機具有一與測試指相分離的照相機，并且在一電路板測試 點與測試針相接觸之實際測試過程之前，此照相機可全部覆蓋電路板之表 面。為達此目的，照相機類似于測試指平行于電路板作平面移動。照相機 排列為垂直地面對電路板表面。透過此種方式可取得電路板表面的全部影 像。由于照相機之排列為了可垂直地對電路板表面取像，較之以一角度固 定于此測試指上的照相機所取得的電路板表面影像具有明顯更小的失真。 與電路板表面垂直排列的視角方向是符合需求的，因為在此種方式下，電 路板表面之影像品質較佳，并且可以取得電路板之全部影像，此影像在隨 后的光學分析中更容易處理。
因此，如果用以偵測測試針之探針尖端位置的照相機能以相對于電路板表 面一垂直視角方向排列的話，是具有很大優點的，因為這樣指狀測試機能 夠省去一用以拍攝電路板整個影像之照相機。此附屬照相機需要一占據指 狀測試機寶貴空間之獨立驅動系統。接下來電路板整個影像被一屬于測試 指之照相機取得。
歐洲專利案第1 122 546A2號中之測試機為一用以測試電路板之測試機。 此測試機具有一單獨的照相機，照相機透過一固定于一角度之鏡片掃描樣 品表面，該測試機用一配設于鏡片鄰近處之發光二極體作為光源。
發明內容
依據世界專利案第03/096037A1號，本發明致力于開發一種指狀測試機， 此種方式下，彼此相距很近的未設置零件的印刷電路板之電路板測試點可 在沒有碰撞的情況下進行測試。并且此指狀測試機較之傳統測試機具有成 本效益。
此問題由申請專利范圍權利要求第1項解決，其他的優點則由其附屬權項定義。
本發明也致力于設計一種使用此裝置進行電路板測試之方法，此方法使用 迅速且可靠。
此問題由申請專利范圍權利要求第11項解決，其他的優點則由其附屬項定 義。
本發明指狀測試機藉由兩個或多個測試指為各單獨接觸點提供了連續掃 描。透過習知之滑塊以固定測試指，此滑塊能沿一橫桿移動。由于各測試 指具有一光偵測裝置，此光偵測裝置可光學掃描測試指目前所要檢査的區 域，因此在光偵測裝置間不存在碰撞的可能性。使用于本發明之偵測裝置 具有一照相機及一導光單元，導光單元將測試點區域向上反射之光線自垂 直方向偏轉至水平方向，并且將光線導引至照相機，照相機固定于滑塊上， 并且滑塊與測試探針相分離。
本發明所揭露之光偵測裝置以相距測試點或待測試電路板表面不同距離之 方式排列，并且光偵測裝置排列于不同高度之平面上。這里，距離的設置 要使得不同高度之平面相距足夠遠，即使滑塊及測試探針移動至彼此相距 很近時，各導光單元均排列于另一個之上，而沒有彼此碰撞的危險。 由于導光單元相距測試指之接觸尖端不同高度，于電路板表面上垂直調節 導光單元之視角是可能的，而并不需要一個固定角度的位置。此種方式下 所取得之影像品質較之于以一固定角度定位之攝相機所取得之影像品質提 高很多。
因為導光單元分別相距一測試探針尖及一測試點之不同高度，自測試點至 照相機之光線運行距離之長度通常不同。由于導光單元機照相機必須聚焦 于測試點上，因而需要不同之接目鏡。然而接目鏡是昂貴的，并且要以對 于不同平面中的導光單元的不同焦距之方式來排列接目鏡是相當費時且昂 貴的。
在本發明中，為了補償相距測試點之不同高度，改變導光單元的長度，并 且為了減少導光單元在電路板上的固定高度，因而在光線偏轉為水平方向 后，改變導光單元的光線穿越距離。因此自與電路板相距最近之光偵測裝 置至固定于其上方之光偵測裝置，導光單元變得越來越短。根據本發明， 其表示相同物鏡及相同鏡片配置可以一直使用，并且大幅減少裝置的成本。 由于導光單元可以不同高度及不同平面中配置，在測試過程中，可以在測 試探針相距很近的情況下進行測量。在此種情況下，處于較高位置之導光 單元及光偵側裝置可能被一處于相應較低位置之導光單元及一照相機遮擋。
本發明之方法，適于同時被不同測試指測試但彼此相距很近之電路板測試 點之情況，其中固定于一第一導光單元上方之一個或多個導光單元被遮擋， 用被遮擋的導光單元，使用較低位置的導光單元及較低位置的照相機之影 像以光學地控制及監視此區域中所有測試指。
本發明之裝置由于比較不需要預防碰撞的可能性，因此透過簡單的設計方 式，即具有較佳之成本效益之優點，因此，測量的結果更可靠也更迅速 本發明的裝置透過使用一照相機及一用以光學控制及偵測多個測試指之照 相機影像，因此具有大幅地提高測試速度之優點。。
以上之關于本發明內容之說明及以下之實施方式之說明用以示范與解釋本 發明之精神與原理，并且提供本發明之申請專利范圍更進一步之解釋。
圖1為用于本發明測試機之測試指之側視圖2為圖1中之測試指之俯視圖3為圖1中之測試指之俯視透視圖4為圖1中兩個測試指之示意圖，其彼此相距很近，并且一導光單元位 于另一導光單元之上進行測試；
圖5為圖4中兩個測試指之一進一步位于另一之上之示意圖6為導光單元及一照相機之局部剖視與一光偵測裝置之示意圖7為圖6中之裝置之局部剖視仰視圖8為一具有導光單元及一照相機之較高光偵測裝置之局部剖視側視圖； 圖9為圖8中之裝置之局部剖視仰視圖10為一具有導光單元及一照相機之較高光偵測裝置之又一實施例之局 部剖視仰視圖，此光偵測裝置具有一附屬光單元； 圖11為圖10中之裝置之局部剖視側視圖；以及
圖12為圖IO及第圖11中之裝置之橫截面圖，此橫截面穿過位于附屬光單 元區域中之導光單元。主要元件符號說明
1測試指 2測試針
3探針微晶片 4控制桿5致動裝置
5a致動裝置前側
6固定裝置
7支撐臂
7a長L形腿
7b短L形腿
7c自由端
8 致動臂
8a自由端
9頂軌道
9a自由端
10探針微晶片基座
10a自由端
10b 長L形腿
10c短L形腿
11、 12、 13、 14薄膜鉸鏈
15致動桿
16橫向螺栓
20偵測裝置
21保持裝置
22照相機模組
23導光單元
25前側面
26管體
27導光單元頭
28自由端
29孔
30偏轉元件/鏡片
31物鏡
32箭頭
35加寬部份36開口 /窗口 37管
38腔室
39發光二極體
40內壁
41側內壁
42鏡片
具體實施例方式
以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特征以及優點，其內容足以使任 何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容并據以實施，且根據本說明書所 揭露之內容、申請專利范圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本 發明相關之目的及優點。
本發明測試指1具有一用作測試探針之測試針2，測試針2固定于一配設 于一探針微晶片3上之控制桿(lever arrangement) 4上。此探針微晶片可 分別由歐洲專利案第1 451 594B1號及美國專利案第2005-001639Al號中 獲知。這些文獻之全部內容可用作參考。依次地，控制桿4固定于一致動 裝置5上，致動裝置5具有一用以固定一滑塊之固定裝置6。 此滑塊為指狀測試機之一部份，例如歐洲專利案第0 468 153Al號中所揭 露。各測試指均具有一滑塊，滑塊可沿一橫桿移動，橫桿跨越于一固定有 待測試電路板之測試陣列上。
控制桿4為一自備全套之控制桿4，其具有一 L形第一支撐臂7、 一致動 臂8、 一頂軌道9以及一探針微晶片基座10。
支撐臂7藉由其長L形腿7a固定于致動裝置5之下側，并且自此處延伸。 短L形腿7b自長L形腿7a向下延伸，而一致動臂8大致沿平行于長L形 腿7a于遠離短L形腿7b之方向上延伸。致動臂8藉由薄膜鉸鏈11連結 至短L形腿7b上。致動臂8大致為三角形，其與支撐臂7之長L形腿7a 相對并且更寬且于短L形腿7b相對處形成自由端8a。致動臂8超出致動 裝置5且越過長L形腿7a向外延伸。具有薄膜鉸鏈12之頂軌道9位于相 對在支撐臂7之自由端7c處之短L形腿7b。頂軌道9平行于長L形腿7a 及致動臂8向外延伸，并且其自由端9a超出致動臂8之自由端8a —些向 外延伸。探針微晶片基座10大致為L形，藉由一薄膜鉸鏈13連接長L形
10腿10b之自由端10a與頂軌道，長L形腿10b平行于支撐臂7之短L形腿 7b。短L形腿10c平行于頂軌道9向致動臂8延伸且藉由一薄膜鉸鏈14 連接至致動臂8上。支撐臂7、致動臂8、頂軌道9及探針微晶片基座10 形成一完備的(self-contained)控制桿4。探針微晶片3配設于探針微晶片 基座10之短L形腿10c之下側。
致動桿15自致動裝置5穿越支撐臂7之長L形腿7a延伸出，致動桿15 藉由一橫向螺栓16而附于致動臂8上。橫向螺栓16在致動臂8之區域內 穿越致動桿15。當致動桿15向致動裝置5運動時，致動臂8圍繞薄膜鉸 鏈ll作軸旋轉，使得探針微晶片基座10圍繞薄膜鉸鏈13及14，與致動 臂8旋轉方向相反而向下運動，使得測試針2可停駐于一電路板位置上。 此連接中，控制桿4或組成此控制桿之臂及軌道符合一定的設計，使得測 試針2之接觸尖端執行一純粹的垂直運動，而不是一水平或橫向運動。總 而言之，當致動桿15被致動裝置5拉緊時，探針微晶片基座10執行一俯 仰運動，此種方式下，測試針2之接觸尖端向下運動。 光偵測裝置20固定于測試指、探針微晶片基座10及頂軌道9之上。 光偵測裝置20具有一配設于致動裝置前側5a上之保持裝置21 。自保持裝 置21開始，偵測裝置20分別沿著平行于頂軌道9及致動臂8之方向延伸。 偵測裝置20于鄰近于保持裝置21處具有一照相機模組22，自照相機模組 22開始，導光單元23沿著平行于頂軌道9之方向延伸至位于測試針2上 面一位置處。
如上所述，偵測裝置20 (如圖6至圖12所示)具有照相機模組22及導光 單元23，照相機模組22為習知之照相機模組22，而導光單元23自照相機 模組22之一前側面25向外延伸。導光單元23為一充分管狀且具有一自照 相機模組22向外延伸之管體26，并且一導光單元頭27安裝于管體26之 自由端。導光單元頭27類似于一管體，其在一自由端28朝向下方具有一 孔29。舉例而言，孔29為正方形或矩形，即面向一測試針2。偏轉鏡片 30配設于導光單元頭27中孔29之上方，偏轉鏡片30將穿過孔29之光線 偏轉為水平光線，并且將光線導引至一物鏡31，物鏡31鄰近于管體26且 固定于導光單元頭27中。自測試針2之區域照射出之光線穿過孔29照射 至偏轉鏡片30上，并且被偏轉鏡片30偏轉為水平方向且被導引至物鏡31 上，然后光線聚焦至照相機模組22之一感光層或感光面積上。照相機模組 22通常包含有一具有光偵測表面及一附屬物鏡之光學感測器(CCD元件)。 測試針尖之影像藉由物鏡31形成于光學感測器上，并且照相機模組22之附屬物鏡應用于此處。光線之路徑分別由圖8及圖1中之箭頭32表示。由 此可見，在偏轉鏡片30之支援下，位于待掃描電路板上方之照相機模組 22之視野方向與電路板表面成一直角，并且與可具有一電路板之測試陣列 成一直角。
這里使用了兩個測試探針(如圖4所示)，由于偵測裝置20之第一測試探 針(如圖4左側所示)位于鄰近測試探針2的第一平面區域中，而第二測 試探針(如圖4右側所示)的偵測裝置20固定于一較高平面中，因而兩個 偵測裝置20具有足夠的分隔距離，因此彼此不會發生碰撞。 因為要將自一電路板表面(圖未示)至一照相機模組22之光偵測表面(圖 未示)之光線路徑保持為同樣長度，對相距測試針2之探針尖端距離較近 之偵測裝置20 (如圖6及圖7所示)而言，相距測試針2之探針尖端較大 距離之偵測裝置20 (如圖8及圖9所示)設計為具有一導光單元頭27。導 光單元頭27致使偏轉鏡片30或者光線之偏轉點更靠近于物鏡31。透過此 種方式，對一指狀測試機之所有測試指而言，自測試針2之尖端至光偵測 表面之光線路徑保持固定。
為了補償導光單元頭27之變短，當然需要偵測裝置20于測試針2之方向 上進一步靠近于致動裝置5。偵測裝置20及其偏轉鏡片30與各自相關測 試針2之尖端垂直排列。
在偵測裝置20的優點中(如圖10至圖12所示)，導光單元頭27具有一鄰 近于孔29且平行于孔29兩側之加寬部份35，加寬部份35具有向下面對 一電路板之開口或窗口36。腔室38固定于開口或窗口36中或其后面。管 37之兩側保持有物鏡且界定了孔29。各腔室38均具有一個或多個發光二 極體39。發光二極體39固定于例如一內壁40上，內壁40固定于鄰近于 管37之側壁上。鏡片42固定于腔室38之相對側內壁41上或前面，鏡片 42具有粗糙或無光澤表面。同時，鏡片42之定位應符合發光二極體39發 射之光線可向下導向至一電路板上之要求，因而可由于粗糙或無光澤表面 而獲得一漫射光。自電路板表面反射之光線穿過孔29，然后被偏轉鏡片30 反射且穿過物鏡31被導向至照相機模組22之合適層或合適區域。這種改 變是有利的，由于光線自一鄰近于光線路徑點之處發出并漫射，使得裝置 評估及測試之可靠性得以大幅提高。
在上述實施例中， 一鏡片30用作光偏轉元件。在本發明之范圍內，亦可利
用一棱鏡或一彎曲光纖束以替代鏡片30來偏轉光線。
在指狀測試機中，每個橫桿通常具有兩個或多個測試指(舉例而言，請參閱世界專利案第03/096037A1號)。一指定測試指與同一橫桿上之鄰近測試 指或與一鄰近橫桿上之測試指發生碰撞是可能的。舉例而言，假如一橫桿 具有恰好兩個測試指的話，如果偵測裝置20以四個不同高度排列，其中一 橫桿上之兩個測試指為不同高度，而另一鄰近橫桿之兩個測試指依次為更 不相同之高度，那么任何測試指間的碰撞可以可靠地避免。別的橫桿上之 偵測裝置可再次與其余橫桿之偵測裝置以同一高度排列，只要不與鄰近橫 桿上之偵測裝置以同一高度排列。因此，對一橫桿上有兩個測試指之電路 板測試點而言，即使指狀測試機在一側具有復數個測試指，例如分布于五 個橫桿上之十個測試指，四個高度就足夠了。亦即，具有雙倍于各橫桿測 試指之高度數目就足夠了。
本發明之方法適用于測試針2測試一電路板(圖未示)上之彼此相鄰近測 試點之情況，并且較高偵測裝置20 (如「第4圖」右側所示)之導光單元 23被較低偵測裝置20 (如「第4圖」左側所示)之導光單元23所遮擋之 情況。此外，控制系統配置成如果發現較低偵測裝置20之影像被遮擋，較 高偵測裝置20之測試指1也被用以控制較高偵測裝置20。 如果使用多于兩個的測試探針且多于兩個的偵測裝置及導光單元被遮擋 時，控制操作繼續，直到所有被遮擋的偵測裝置在各自控制的特殊情況下 使用最低偵測裝置之影像為止。
本發明指狀測試機具有能與電路板成直角之視角方向掃描待測試電路板表 面之優點。此特點之結果，與垂直方向成一角度的視角方向掃描電路板相 較，電路板表面之記錄影像失真程度得以大幅減少。這樣就簡化了記錄影 像之分析。以此種方式設計之偵測裝置一方面允許與電路板測試點相接觸 之測試針位置的控制，另一方面可保留的整個電路板之記錄影像，用以進 一步分析，舉例而言，可以用以與待測試電路板電腦輔助設計資料之合成 影像相比較。請參閱德國專利案第102006 005 800.3號。 本發明提出了世界專利案第03/096037Al號中之方法及裝置之發展，此專 利之全部內容可用作參考。
本發明指狀測試機可以以一種簡單且具有成本效益之方式使用多個測試探 針用以對未設置零件的印刷電路板進行測試，而具有無需改變各目鏡之焦 距之優點。
本方法可以使用多個感測器及多個測試指，具有即使在遮擋之情況下可以 進行迅速測試之優點，同時盡管受到遮擋，所有測試指均可使用。 雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其并非用以限定本發明。在離本發明之精神和范圍內，所為之更動與潤飾，均屬本發明之專利保護范 圍。關于本發明所界定之保護范圍請參考所附之申請專利范圍。
權利要求
1. 一種指狀測試機，用以測試未設置零件的印刷電路板，該指狀測試機使用至少兩個測試指(1)，各測試指具有一測試探針(2)，其中各測試探針(2)之上配設有一偵測裝置(20)，用以光學地偵測該至少一測試探針(2)之接觸尖端之位置，其中具有兩個或多個該測試指(1)之該偵測裝置(20)排列于垂直間隔之不同平面中，以使位于該測試探針(2)上之該偵測裝置(20)之至少一些區域可被定位于其他區域之上，取垂直排列但并不發生接觸。
2. 如權利要求1所述之指狀測試機，其中各該偵測裝置具有一導光單元 (23)，該導光單元具有一偏轉元件(30)，其用以將自待測試電路板表面之光線偏轉至一偵測表面，對不同偵測裝置而言，其中該待測試電路板表 面至各該偵測表面之距離是固定的。
3. 如權利要求2所述之指狀測試機，其中該各偵測裝置(20)具有一照相 機模組(22)，該照相機模組具有一偵測表面，各該導光單元(23)具有一 孔(29)，用作測試探針(2)區域中自該電路板表面之反射光線之入口， 在該偏轉元件(30)偏轉的光線路徑上配設有一物鏡(31)，用以將光線聚 焦于照相機之一光偵測表面上，其中，與該電路板上之導光單元(23)之 高度無關，自該電路板至該偏轉元件(30)及自該偏轉元件(30)至該偵 測表面之光線路徑保持為固定，并且相應于一較高高度，為了補償該較高 高度，該導光單元(23)與/或自該偏轉元件(30)至該偵測表面之距離 變得較短。
4. 如權利要求2或3所述之指狀測試機，其中該偏轉元件為一鏡片、棱鏡 或導光塊。
5. 如權利要求1至4任意一項所述之指狀測試機，其中于該偵測裝置(20) 上配設有至少一發光裝置(39)，該發光裝置向一待測試電路板發射漫射光 線，并且照亮該待測試電路板上與該測試探針(2)相接觸之區域。
6. 如權利要求5所述之指狀測試機，其中該偵測裝置(20)具有一帶有孔 (29)之外殼，該孔用作自該待測試電路板表面發射之光線之入口，并且該發光裝置配置于鄰近該孔(29)處。
7. 如權利要求5或6所述之指狀測試機，其中該發光裝置具有一于側面發 射光線之光源及一鏡片(42 ),該鏡片用以向 一待測試電路板表面偏轉光線， 該鏡片具有一無光澤或粗糙表面。
8. 如權利要求5至7任意一項所述之指狀測試機，其中該發光裝置具有一 或多個發光二極體(39)作為光源。
9. 如權利要求2至8任意一項所述之指狀測試機，其中該導光單元(23) 自該照相機模組(22)之前側面(25)向外延伸，該導光單元(23)為一 管狀且具有一自該照相機模組(22)向外延伸之一第一管體(26)， 一導光 單元頭(27)配設于該管體(26)之一自由端，該導光單元頭也為一管體， 并且其中安裝有一偏轉元件(30)及一物鏡(31)。
10. 如前述任意一項權利要求所述之指狀測試機，其中該測試探針(20)安 裝于一控制桿(4)上，其中該控制桿藉由一探針微晶片(3)固定至一致 動裝置(5)上。
11. 如權利要求10所述之指狀測試機，其中該控制桿(4)為一完備之控制 桿，其具有一大致上為L形之第一支撐臂(7)、 一致動臂(8)、 一頂軌道(9) 及一探針微晶片基座(10)，以形成一大致上為矩形之控制桿(4)， 該支撐臂(7)及該致動臂(8)間、該支撐臂(7)及該頂軌道(9)間、 該致動臂(8)及該探針微晶片基座(10)間、或該頂軌道(9)及該探針 微晶片基座(10)間用一鉸鏈連結(11、 12、 13、 14)。
12. 如權利要求11所述之指狀測試機，其中該控制桿(4)大致為伸長形 狀且為矩形，其中一致動桿(15)穿過該L形支撐臂(7)之一長L形腿(7a)連結至一致動臂(8)上，該致動臂配設于該支撐臂(7)之該長L 形腿(7a)之下側，此種方式下，當該致動桿(15)及該致動臂(8)上升 之時，該致動臂(8)圍繞該薄膜鉸鏈(11)旋轉，使得該探針微晶片基座(10) 可在相反方向上圍繞該薄膜鉸鏈(13、 14)向下旋轉，以使該測試 探針(2)可駐留于一電路板上。
13. 如權利要求1至12任意一項所述之指狀測試機，其中該光偵測裝置(20) 于與一測試陣列成直角視角之方向上排列，以偵測一待測試之未設置零件 的印刷電路板。
14. 如權利要求1至13任意一項所述之指狀測試機，其中該指狀測試機具 有復數個橫桿，該橫桿上安裝有可運動之測試指，其中該測試指(1)之該 偵測裝置(20)排列于垂直分隔的不同平面中，其數目雙倍于每橫桿測試 指之數目。
15. —種使用一指狀測試機測試電路板之方法，其具有兩個或多個測試指(1)，各該測試指具有一用于與電路板測試點連續接觸 之測試探針(2)，其中該測試探針(2)可藉由一運動裝置沿一待測試之電 路板之表面運動，其中具有一光偵測裝置(20)用以光偵測測試指(1)之 該測試探針(2)之接觸尖端之位置，其中該測試指(1)之多個該偵測裝 置(20)排列于相距該電路板表面不同平面或不同高度處，并且如果該測 試探針(2)在該偵測裝置(20)垂直覆蓋范圍內的定位過程中，至少一距 離該待測試電路板較遠之一第一偵測裝置(20)被一距離該電路板較近之 一第二偵測裝置(20)遮擋，然后使用該第二偵測裝置(20)所決定之該 光學數據以用于用該第一偵測裝置(20)定位該測試指(1)之該測試探針 (2)。
16. 如權利要求15所述之方法，其中自一電路板表面至各偵測裝置(20) 偵測表面之光線路徑保持于同樣長度，而與該偵測裝置(20)相距該電路 板上之高度無關，由于一源自于電路板之光線被一鏡片(30)偏轉且導引 至一物鏡(31)上，為了補償相距該電路板較高之一偵測表面之高度，透 過減少該鏡片(30)及該物鏡(31)間之距離，距離減量與透過該電路板 至該鏡片(30)增加之距離而導致之光線路徑增量相當。
17. 如權利要求15或16所述之方法，其中使用根據權利要求1至14任意 一項之指狀測試機。
全文摘要
本發明涉及一種使用至少兩個測試指(1)以測試未設置零件的印刷電路板之指狀測試機，各測試指具有一測試探針(2)，其中各測試探針(2)上方具有一偵測裝置(20)，偵測裝置用以光學偵測的方式偵測至少一測試探針(2)之尖端位置。具有兩個或多個測試指(1)之偵測裝置(20)排列于具有間隔之不同的垂直平面中，使得位于測試指(1)上方之偵測裝置(20)之至少一些區域位于另一個之上，并且垂直排列但不發生接觸。
文檔編號G01R1/067GK101479610SQ200680045368
公開日2009年7月8日 申請日期2006年11月15日 優先權日2006年2月10日
發明者維克特·羅曼諾夫 申請人:Atg路德邁股份有限公司