專利名稱：一種衍射光譜測量系統的制作方法
技術領域：
本實用新型一種衍射光譜測量系統屬于光學測量、光學儀器和教學儀器設備等技術領域，具體而言是一種衍射光譜測量儀器。
二背景技術：
用分光計測量光柵衍射光譜，是原理簡明、結構清晰的一種光譜測量方法，但是測量過程中要求平行光管和望遠鏡都與光柵面垂直，需采用各半調節方法，操作過程耗時費力又難以調整到準確的測量狀態，發明專利“垂直型平面鏡及其應用”，專利號為92105476.9、發明專利“背面鍍膜反射光柵”專利號為96102159.4以及發明專利“光柵平面鏡衍射光譜測量系統的應用”將其應用于光柵衍射光譜的實驗教學中，并取得良好的效果，但是，在實際操作過程中仍然發現一些不太方便的地方需要改進。
三
發明內容
本實用新型一種衍射光譜測量系統目的在于在上述三項發明有機結合的基礎上，經過反復的研究和實驗，不斷的摸索，從而提供一種光柵平面鏡在分光計上的衍射光譜測量系統，使得光柵衍射光譜的測量過程更為簡捷有效，并確保調節測量的精確度，尤其是避免了將雙面反射平面鏡2從活動式可折疊水平支架1的底座上取出，就能利用背面鍍膜反射光柵3的光柵面4進行光柵衍射光譜的測量的技術方案。
本實用新型一種衍射光譜測量系統，由活動式可折疊水平支架1雙面反射平面鏡2、背面鍍膜反射光柵3組成；活動式可折疊水平支架1由可折疊的兩個底座組成，兩個底座具有相同的水平基面，并且具有與雙面反射平面鏡2和背面鍍膜反射光柵3厚度吻合的凹槽，將雙面反射平面鏡2和背面鍍膜反射光柵3放置其上，其特征在于具有相同的水平基面的、避免了將雙面反射平面鏡2從活動式可折疊水平支架1的底座上取出并可直接進行光譜測量的兩個的底座成鈍角設置，其角度為120°～180°，對望遠鏡內的輔助光都起到反射作用的雙面反射平面鏡2的兩個面都鍍有半反射膜；背面鍍膜反射光柵3是一種雙面結構的具有雙重功能的光柵，它由刻有高密透射光柵的光柵條紋面4和鍍有起半反射功能的析光膜對望遠鏡內的輔助光起反射作用的半反射面5兩個面組成，半反射面5的析光膜用真空鍍氟化鎂，透射光強度與反射光強度之比為50∶50。
本實用新型一種衍射光譜測量系統的應用，其特征在于具體的操作步驟為(1)將活動式可折疊水平支架1的兩個底座約成鈍角放置于分光計的平臺上，并將雙面反射平面鏡2和背面鍍膜反射光柵3分別放在可折疊水平支架1的兩個底座上，(2)打開分光計望遠鏡內的輔助小燈，將分劃版上的十字叉絲照亮，調節望遠鏡的目鏡，使分劃版位于目鏡的焦平面上，看清楚十字叉絲，(3)轉動分光計平臺，使望遠鏡對準雙面反射平面鏡2的一個反射面，調節分光計望遠鏡和平臺水平度，使望遠鏡的軸線垂直于雙面反射平面鏡2的反射面，雙面反射平面鏡2的反射光線聚焦在分光計的分劃版上成一個十字叉絲像，(4)將分光計平臺轉動180°使望遠鏡對準雙面反射平面鏡2的另一個反射面，同樣調節分光計望遠鏡和平臺水平度，使望遠鏡的軸線垂直于雙面反射平面鏡2的這個反射面，這個反射面，反射光線聚焦在分光計的分劃版上成十字叉絲像，(5)將分光計平臺反復轉動180°采用各半調節方法，使望遠鏡的軸線垂直于平臺的轉軸，并且垂直于雙面反射平面鏡2，(6)轉動分光計平臺，使望遠鏡對準背面鍍膜光柵3半反射面5，調節分光計平臺，使反射面5的反射光線聚焦在分光計的十字叉絲像與十字叉絲對稱，接著利用背面鍍膜反射光柵3的光柵條紋面4進行光柵衍射光譜的測量。
本實用新型一種衍射光譜測量系統的優點在于，在有機結合三項現有技術的基礎上，經過反復的研究和實驗，不斷的摸索終于找出了活動時可折疊水平支架1的兩個底座最佳的設置角度范圍和半反射面5的析光膜用真空鍍氟化鎂的理想方案，從而提供一種光柵平面鏡在分光計上的衍射光譜測量系統，使得光柵衍射光譜的測量過程更為簡捷有效，并確保調節測量的精確度，尤其重要的是避免了將雙面反射鏡2從活動式可折疊水平支架1的底座上取出，就能利用背面鍍膜反射光柵3的光柵條紋面4進行光柵衍射光譜的測量，這樣極大的方便了教學和實驗，提高了效率，節約了時間。
四
圖-1為光柵平面鏡衍射光譜測量系統結構圖，其中1為活動式可折疊水平支架，2為雙面反射平面鏡，3為背面鍍膜反射光柵，其中4為背面鍍膜反射光柵3的光柵條紋面，5為背面鍍膜反射光柵3的半反射面。
圖-2是背面鍍膜反射光柵3的光柵條紋面4。
圖-3是背面鍍膜反射光柵3的半反射面5。
五具體實施方式
實施方式1活動式可折疊的兩個底座以活動方式組成120°的水平支架，其凹槽的厚度為2mm，雙面反射平面鏡2和背面鍍膜反射光柵3的厚度都為2mm與凹槽的厚度相一致；雙面反射平面鏡2的兩個面都鍍有半反射膜，背面鍍膜反射光柵3它由光柵條紋面4和半反射面5兩個面組成，光柵條紋面4采用全息干涉法刻有100條/mm的透射光柵條紋，半反射面5鍍有起半反射功能的析光膜，析光膜采用真空鍍氟化鎂，半反射面5的透射光強度與反射光強度之比為50∶50。
使用的具體的操作步驟為(1)將活動式可折疊水平支架1的兩個底座以活動方式組成120°’放置于分光計的平臺上，并將雙面反射平面鏡2和背面鍍膜反射光柵3分別放在可折疊水平支架1的兩個底座上，(2)打開分光計望遠鏡內的輔助小燈，將分劃版上的十字叉絲照亮，調節望遠鏡的目鏡，將分劃版位于目鏡的焦平面上，看清楚十字叉絲，(3)轉動分光計平臺，使望遠鏡對準雙面反射平面鏡2的一個反射面，調節分光計望遠鏡和平臺水平度，使望遠鏡的軸線垂直于雙面反射平面鏡2的反射面，雙面反射平面鏡2的反射光線聚焦在分光計的分劃板上成一個十字叉絲像，(4)將分光計平臺轉動180°使望遠鏡對準雙面反射平面鏡2的另一個反射面，同樣調節分光計望遠鏡和平臺水平度，使望遠鏡的軸線垂直于雙面反射平面鏡2的這個反射面，這個反射面反射光線聚焦在分光計的分劃板上成另一個十字叉絲像，(5)將分光計平臺反復轉動180°采用各半調節方法，使望遠鏡的軸線垂直于平臺的轉軸，并且垂直于雙面反射平面鏡2，(6)轉動分光計平臺，使望遠鏡對準背面鍍膜反射光柵3半反射面5，調節分光計平臺，使半反射面5的反射光線聚焦使半反射面5的反射光線聚焦在分光計的分劃板上的十字叉絲像與十字叉絲對稱，接著利用背面鍍膜反射光柵3的光柵條紋面4進行光柵衍射光譜的測量。
實施方式2活動式可折疊的兩個底座以活動方式組成130°水平支架A，其他具體操作步驟同實施方式1。
實施方式3活動式可折疊的兩個底座以活動方式組成140°水平支架A，其他具體操作步驟同實施方式1。
實施方式4活動式可折疊的兩個底座以活動方式組成150°水平支架A，其他具體操作步驟同實施方式1。
實施方式5活動式可折疊的兩個底座以活動方式組成160°水平支架A，其他具體操作步驟同實施方式1。
實施方式6活動式可折疊的兩個底座以活動方式組成170°水平支架A，其他具體操作步驟同實施方式1。
實施方式7活動式可折疊的兩個底座以活動方式組成180°水平支架A，其他具體操作步驟同實施方式1。
權利要求1.一種衍射光譜測量系統，由活動式可折疊水平支架(1)雙面反射平面鏡(2)、背面鍍膜反射光柵(3)組成；活動式可折疊水平支架(1)由可折疊的兩個底座組成，兩個底座具有相同的水平基面，并且具有與雙面反射平面鏡(2)和背面鍍膜反射光柵(3)厚度吻合的凹槽，將雙面反射平面鏡(2)和背面鍍膜反射光柵(3)放置其上，其特征在于具有相同的水平基面的、避免了將雙面反射平面鏡(2)從活動式可折疊水平支架(1)的底座上取出并可直接進行光譜測量的兩個的底座成鈍角設置，其角度為120°～180°，對望遠鏡內的輔助光都起到反射作用的雙面反射平面鏡(2)的兩個面都鍍有半反射膜；背面鍍膜反射光柵(3)是一種雙面結構的具有雙重功能的光柵，它由刻有高密透射光柵的光柵條紋面(4)和鍍有起半反射功能的析光膜對望遠鏡內的輔助光起反射作用的半反射面II兩個面組成，半反射面(5)的析光膜用真空鍍氟化鎂，透射光強度與反射光強度之比為50∶50。
專利摘要一種光柵平面鏡衍射光譜測量系統，屬于光學測量、光學儀器等技術領域，其特征在于活動式可折疊水平支架1具有相同水平基面兩個底座組成；雙面反射平面鏡2兩個面都鍍有半反射膜；背面鍍膜反射光柵3由刻有高密透射光柵的光柵條紋面4和鍍有起半反射功能的析光膜對望遠鏡內的輔助光起反射作用的半反射5兩個面組成；本實用新型用光柵平面鏡衍射光譜測量系統，代替分光計光柵衍射光譜測量過程中的用于光路調節的平面鏡和用于光譜測量的光柵，使得光路調節和光譜測量的兩個步驟同時完成，并可直接進行光譜測量，同時確保光柵衍射光譜測量的精度。
文檔編號G01J3/28GK201016805SQ20062012801
公開日2008年2月6日 申請日期2006年10月27日 優先權日2006年10月27日
發明者捷 李 申請人:捷 李