專利名稱：測試設備的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種測試設備，特別是涉及一種電子裝置的樞軸耐久性測 試的測試設備。
背景技術：
一般而言，電子裝置具備有輕薄短小及方便攜帶的功能已成為現代潮 流的趨勢。為縮小電子裝置的體積，以達到方便攜帶的功效，目前市面上 發展出掀蓋方式來縮小其體積的可攜式電子裝置，例如筆記型電腦及行動 通訊裝置等，掀蓋式的電子裝置于制造后會利用一測試設備來測試其樞軸 的耐久性，藉以提供制造廠商關于電子裝置樞軸的使用壽命及耐久性等相 關資訊，以利廠商改良結構設計，控管產品品質及了解其產品的使用特性。
請參閱圖1所示， 一種現有習知的測試設備1是用以進行電子裝置E 的樞軸耐久性測試。在此，電子裝置E以筆記型電腦為例，電子裝置E具 有一第一本體E1、 一第二本體E2及一樞軸E3。第一本體E1及第二本體E2 是樞接于樞軸E3上，測試設備1具有一底座11、 一框架12以及一控制裝 置14。其中，框架12連結二個夾具13,且框架12樞設于底座11,控制裝 置14與框架12電性連接以控制框架12轉動。
在試電子裝置E的樞軸E3耐久性時，首先，將電子裝置E的第一主體 El固定于測試設備l的底座11上。接著，利用夾具13將電子裝置E的第 二主體E2固定于框架12上。之后，再利用控制裝置14來控制框架12相 對于底座ll轉動，俾使第二本體E2以樞軸E3為中心，相對于第一本體E1 轉動。藉由上述方式，測試設備1不斷地利用框架12相對于底座11轉動 的方式，來帶動電子裝置E的第二本體E2以樞軸E3為中心，相對于第一 本體E1轉動，直到樞軸E3斷裂或損壞為止，藉以得知電子裝置E的樞軸 E3的使用壽命及耐久性。
利用上述方式，僅由框架12帶動電子裝置E的第二本體E2相對于第 一主體E1轉動。然而，在長期使用的情況下，使用者在開啟或閉合電子裝 置E時，亦會施予一正向力N至樞軸E3，造成樞軸E3因長期受力作用而損 壞。
有鑒于此，如何提供一種測試設備能夠正確地模擬實際使用狀態時，電 子裝置因長期受正向力作用而損壞的情形，實為重要課題之一。
由此可見，上述現有的測試設備在結構與使用上，顯然仍存在有不便 與缺陷，而亟待加以進一步改進。為了解決上述存在的問題，相關廠商莫不
費盡心思來"i某求解決之道，但長久以來一直未見適用的設計被發展完成，而
一般產品又沒有適切的結構能夠解決上述問題，此顯然是相關業者急欲解 決的問題。因此如何能創設一種新型的測試設備，實屬當前重要研發課題之 一，亦成為當前業界極需改進的目標。
有鑒于上述現有的測試設備存在的缺陷，本發明人基于從事此類產品 設計制造多年豐富的實務經驗及專業知識，并配合學理的運用，積極加以研 究創新，以期創設一種新型的測試設備，能夠改進一般現有的測試設備,使其 更具有實用性。經過不斷的研究、設計，并經過反復試作樣品及改進后,終于 創設出確具實用 <介值的本發明。
發明內容
本發明的主要目的在于，克服現有的測試設備存在的缺陷，而提供一 種新型的測試設備，所要解決的技術問題是使其能夠正確地模擬實際使用 狀態時電子裝置因長期受正向力作用而損壞的情形，從而更加適于實用。
本發明的目的及解決其技術問題是采用以下技術方案來實現的。依據 本發明提出的一種測試設備，是應用于測試一電子裝置，其特征在于該電 子裝置具有一第一本體、 一第二本體及一樞軸，該第一本體及該第二本體
與該樞軸樞接，該測試設備包含 一底座，是承載并固定該第一本體；一 框架，是樞設于該底座； 一施力機構，是設置于該框架，以固定該第二本 體，并施加一正向力至該樞軸；以及一控制裝置，是與該框架電性連接，控制 該框架轉動，帶動該第二本體以該樞軸相對于該第一本體轉動。
本發明的目的及解決其技術問題還可采用以下技術措施進一步實現。 前述的測試設備，其中所述的施力機構是具有一夾持件，以固定該第 二本體。
前述的測試設備，其中所述的施力機構更具有一螺桿，該螺桿具有一第
一端及一第二端，該第一端連結于該框架，該第二端連結于該夾持件，藉由
該螺桿轉動而改變該夾持件與該框架間的距離。
前述的測試設備，其中所述的施力機構更具有一彈性件，其是設置于
該夾持件與該框架之間。
前述的測試設備，其中所述的彈性件是套設該螺桿。 前述的測試設備，其中所述的彈性件是為一彈簧、 一彈片或一伸縮套。 前述的測試設備，其更包含至少一支撐座，是設置于該底座下，以
調整該底座的高度與角度。
前述的測試設備，其中所述的控制裝置具有一感測元件，其是計數該
第二本體相對于該第一本體轉動的轉動次數。
前述的測試設備，其中所述的感測元件是為一紅外線感測器、 一紫外
線感測器、 一光感測器或一超音波感測器。
前述的測試設備，其中所述的感測元件是為一壓電感測器。 本發明與現有技術相比具有明顯的優點和有益效果。借由上述技術方 案，本發明測試設備至少具有下列優點承上所述，因依據本發明的測試 設備是藉由施力機構施加一平行于第二主體的正向力至樞軸的方式，來模 擬實際使用時開啟與閉合電子裝置的受力狀態。與現有習知技術相較，本 發明能夠正確地模擬實際使用狀態，了解樞軸因長期受正向力作用而損壞 的情形，藉以改良樞軸的結構設計，提高樞軸的可靠度與使用壽命。
綜上所述，本發明是有關于一種測試設備是應用于測試一電子裝置，電 子裝置具有一第一本體、 一第二本體及一樞軸，第一本體及第二本體與樞
軸樞接。測試設備包含一底座、 一框架、 一施力機構以及一控制裝置；底 座是承載并固定第一本體，框架是樞設于底座；施力機構是設置于框架，以 固定第二本體，并施加一正向力至樞軸；控制裝置是與框架電性連接，控 制框架轉動，帶動第二本體以樞軸相對于第一本體轉動。本發明能夠正確 地模擬實際使用狀態，了解樞軸因長期受正向力作用而損壞的情形，藉以 改良樞軸的結構設計，提高樞軸的可靠度與使用壽命。本發明具有上述諸 多優點及實用價值，其不論在設備結構或功能上皆有較大的改進，在技術 上有顯著的進步，并產生了好用及實用的效果，且較現有的測試設備具有 增進的突出功效，從而更加適于實用，并具有產業的廣泛利用價值，誠為 一新穎、進步、實用的新設計。
上述說明僅是本發明技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本發明的 技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本發明的上述和 其他目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，并配合附 圖，詳細說明如下。
圖l是一種現有習知的測試設備的示意圖2A是依據本發明較佳實施例的一種測試設備的示意圖2B是依據本發明較佳實施例的測試設備中施力機構的示意圖；以及
圖3是圖2A的測試設備的作動示意圖。
1、 2:測試設備 11、 21:底座
12、 22:框架 13:夾具
14、 24:控制裝置 23:施力機構
231:夾持件 232:螺桿
2321:第一端 2322:第二端
233:彈性件 25:支撐座
E:電子裝置 El:第一主體
E2:第二主體 E3:樞軸
N:正向力
具體實施例方式
為更進一步闡述本發明為達成預定發明目的所采取的技術手段及功 效，以下結合附圖及較佳實施例，對依據本發明提出的測試設備其具體實施 方式、結構、特征及其功效，詳細說明如后。
以下將參閱相關圖式，說明依據本發明較佳實施例的一種測試設備，其
中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。
請參閱圖2A所示，本發明較佳實施例的一種測試設備2包含一底座21、 一框架22、 一施力機構23以及一控制裝置24。測試設備2是應用于測試 一電子裝置E,電子裝置E具有一第一本體El、 一第二本體E2及一樞軸E3, 第一本體El及第二本體E2與樞軸E3樞接。電子裝置E是可為一筆記型電 腦或一行動通訊裝置，但不限于手機；在本實施例中，電子裝置E是以筆 記型電腦為例。此外，具有二個本體并藉由樞軸樞接，而可開啟與閉合的 電子裝置，本發明的測試設備均可應用以模擬實際使用時開啟與閉合的受 力狀態。
底座21是承載并固定第一本體El,底座21下更可設置至少一支撐座 25,以因應不同的電子裝置E的尺寸與厚度，以機械或手動方式調整底座 21的高度與角度；在本實施例中，是配置四個支撐座25鄰近于底座21的 四個角落。框架22樞設于底座21，使框架22能夠以樞接處為轉動中心，相 對于底座21轉動，藉由框架22轉動而帶動第二本體E2轉動。
施力機構23設置于框架22上，以固定第二本體E2，俾便于框架22轉 動時帶動第二本體E2 —并轉動。此外，施力機構23施加一正向力N至第 二本體E2，第二本體E2受到正向力N作用會傳遞至樞軸E3，故可模擬樞 軸E3長期受正向力N作用而損壞的情形。控制裝置24與框架22電性連接， 用以控制框架22相對于底座21轉動，而帶動第二本體E2以樞軸E3為轉 動中心，相對于第一本體E1轉動。控制裝置24是具有一感測元件(圖未顯 示)，其是計數第二本體E2相對于第一本體El轉動的轉動次數，感測元件 是可為一紅外線感測器UR sensor )、 一紫外線感測器(UV sensor )、 一 光感測器或一超音波感測器，或可為一壓電感測器。
請參閱圖2B所示，施力機構23具有一夾持件231及一螺桿232;夾持 件231是用以固定第二本體E2，螺桿232具有一第一端2321及一第二端 2322，第一端2321連結于框架22,第二端2322連結于夾持件231，且藉 由螺桿232轉動來改變夾持件231與框架22間的距離。舉例來說，當夾持件231與螺桿232的第二端2322固定時，藉由螺桿232的笫一端2321相 對于框架22轉動，使螺桿232朝向或遠離框架22位移，使得夾持件231 與框架22間的距離縮短或加長；或者，當螺桿232的第一端2321與框架 22固定時，藉由螺桿232的第二端2322與夾持件231相對轉動，使夾持件 231在螺桿232上位移，調整夾持件231與框架22間的距離縮短或加長。 換言之，經由夾持件231與螺桿232、或螺桿232與框架22間的相對轉動， 來調整(縮短或加長)夾持件231與框架22間的距離，以調控施力機構23 施予第二主體E2的正向力N的大小。
施力機構23更具有一彈性件233,其是設置于夾持件231與框架22之 間；例如，彈性件233可套設螺桿232或與螺桿232平行設置于夾持件231 與框架22之間。在此，當夾持件231與框架22間的距離固定時，則可藉 由彈性件233的變化例如壓縮量來調控正向力N的大小，以提供符合實際 使用狀態的正向力N，達到正確^^莫擬的功效。此外，亦可藉由夾持件231與 框架22間的距離變化，來調整彈性件233所提供的正向力N的大小。再者， 彈性件233可為一彈簧、 一彈片或一伸縮套等，但并不以此為限，任何具
有彈性功能的元件皆為本實施例的范疇。
以下將舉例說明本發明較佳實施例的測試設備2的作動過程。
請參閱圖3所示，首先，將電子裝置E放置在底座21上，并將第一本
體E1固定于底座21上。接著，再調整施力機構23的夾持件231夾持第二
本體E2的端部，并調控施加在第二本體E2的正向力N。最后，啟動控制裝
置24，并控制其作動速度，使框架22相對于底座21轉動，因而帶動第二
本體B2以樞軸E3為中心，相對于第一本體E1轉動。框架22在轉動的過
程中，施力機構23的螺桿232及彈性件233會施加一正向力N于第二本體
E2，再傳遞作用至樞軸E3。利用上述方式，反復地模擬使用狀態時樞軸E3
長期受正向力N作用的耐久性測試，直至樞軸E3損壞或斷裂為止。其中，在
測試過程中，控制裝置24的感測元件(例如紅外線感測器)會計數第二本
體E2相對于第一本體El轉動的轉動次數，得知樞軸E3的使用壽命及耐久性。
綜上所述，因依據本發明的測試設備是藉由施力機構施加一平行于第 二主體的正向力至樞軸的方式，模擬實際使用時開啟與閉合電子裝置的受 力狀態。與現有習知技術相較，本發明能夠正確地模擬實際使用狀態，了 解樞軸因長期受正向力作用而損壞的情形，藉以改良樞軸的結構設計，提
高樞軸的可靠度與使用壽命。
以上所述，僅是本發明的較佳實施例而已，并非對本發明作任何形式 上的限制，雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然而并非用以限定本發 明，任何熟悉本專業的技術人員，在不脫離本發明技術方案范圍內，當可利
用上述揭示的技術內容作出些許更動或修飾為等同變化的等效實施例，但 凡是未脫離本發明技術方案的內容，依據本發明的技術實質對以上實施例 所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發明技術方案的范圍 內。
權利要求
1、一種測試設備，是應用于測試一電子裝置，其特征在于該電子裝置具有一第一本體、一第二本體及一樞軸，該第一本體及該第二本體與該樞軸樞接，該測試設備包含一底座，是承載并固定該第一本體；一框架，是樞設于該底座；一施力機構，是設置于該框架，以固定該第二本體，并施加一正向力至該樞軸；以及一控制裝置，是與該框架電性連接，控制該框架轉動，帶動該第二本體以該樞軸相對于該第一本體轉動。
2、 根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于其中所述的施力機構 是具有一夾持件，以固定該第二本體。
3、 根據權利要求2所述的測試設備，其特征在于其中所述的施力機構 更具有一螺桿，該螺桿具有一第一端及一第二端，該第一端連結于該框架，該 第二端連結于該夾持件，藉由該螺桿轉動而改變該夾持件與該框架間的距 離。
4、 根據權利要求3所述的測試設備，其特征在于其中所述的施力機構 更具有一彈性件，其是設置于該夾持件與該框架之間。
5、 根據權利要求4所述的測試設備，其特征在于其中所述的彈性件是 套設該螺桿。
6、 根據權利要求4所述的測試設備，其特征在于其中所述的彈性件是 為一彈簧、 一彈片或一伸縮套。
7、 根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于其更包含至少一支 撐座，是設置于該底座下，以調整該底座的高度與角度。
8、 根據權利要求1所述的測試設備，其特征在于其中所述的控制裝置 具有一感測元件，其是計數該第二本體相對于該第一本體轉動的轉動次數。
9、 根據權利要求8所述的測試設備，其特征在于其中所述的感測元件 是為一紅外線感測器、 一紫外線感測器、 一光感測器或一超音波感測器。
10、 根據權利要求8所述的測試設備，其特征在于其中所述的感測元 件是為一壓電感測器。
全文摘要
本發明是有關于一種測試設備是應用于測試一電子裝置，電子裝置具有一第一本體、一第二本體及一樞軸，第一本體及第二本體與樞軸樞接。測試設備包含一底座、一框架、一施力機構以及一控制裝置；底座是承載并固定第一本體，框架是樞設于底座；施力機構是設置于框架，以固定第二本體，并施加一正向力至樞軸；控制裝置是與框架電性連接，控制框架轉動，帶動第二本體以樞軸相對于第一本體轉動。本發明能夠正確地模擬實際使用狀態，了解樞軸因長期受正向力作用而損壞的情形，藉以改良樞軸的結構設計，提高樞軸的可靠度與使用壽命。
文檔編號G01M99/00GK101201297SQ20061016782
公開日2008年6月18日 申請日期2006年12月14日 優先權日2006年12月14日
發明者戴寶華, 陳彥志 申請人:英業達股份有限公司