專利名稱：微粒分析的定位標記制作方法
技術領域：
本發明屬于借助于測定材料的物理、化學或同位素性質來測試或分析材料領域，具體涉及一種微粒分析的定位標記制作方法。
背景技術：
在環境樣品分析中，微粒的元素和同位素組成分析是其重要手段之一。分析過程一般分為兩步進行，一是，利用掃描電鏡尋找和定位感興趣微粒，如含鈾或含钚微粒；二是，在二次離子質譜儀中對感興趣微粒進行再定位之后，對其進行同位素組成分析。在定位和再定位之間，定位標記在兩臺儀器中起著橋梁作用，所以，定位標記的建立在微粒定位中起著關鍵作用。
現有的微粒分析定位標記制作方法，主要采用蒸發鍍膜法，該制作方法的步驟是，首先用激光加工或其它方式制作一個大的模具，用普通膠水將定位網柵粘貼在大模具上，然后將大模具扣在直徑1英寸的石墨樣品墊上，放入蒸發鍍膜儀里蒸鍍銅或金，蒸鍍完畢后將大模具和定位網柵取下，在石墨樣品墊上就留下了一層薄而均勻的膜。這層膜中含有定位網柵上的字母、阿拉伯數字和附近的“十”等圖案，這些字母、阿拉伯數字及附近的“十”圖案均可以作為微粒分析的定位標記。
這種方法制作的微粒分析定位標記厚度薄而均勻，有助于保證感興趣微粒的定位精度，但鍍膜的微粒定位標記耐二次離子質譜儀離子束轟擊能力差，在二次離子質譜儀中對感興趣微粒進行再定位時會發生標記不清，無法再定位，且這種方法需要用到鍍膜儀，實際使用不便，制作成本也增高。
技術方案本發明的目的是提供一種微粒分析的定位標記制作方法，此方法既保證了微粒的定位精度，又使得微粒定位標記耐二次離子質譜儀離子束轟擊能力增強，不影響再定位的讀數，且操作簡單，成本低。
一種微粒分析的定位標記制作方法，該制作方法是把涂有導電銀膠的定位網柵1沿倒扣在石墨樣品墊3上的定位模具4的內徑粘貼在石墨樣品墊3上，再用擠壓模具2固定定位網柵1。
用此方法制作出的定位標記好處在于，放有樣品的石墨樣品墊經過二次離子質譜儀離子束的轟擊后，定位標記仍然清晰，因為定位網柵的密實度遠大于用蒸發鍍膜法鍍的膜，所以不影響再定位的讀數。這種方法不用蒸發鍍膜儀，成本降低，操作簡單。
圖1實施例1所用模具示意圖1為定位網柵，2為擠壓模具，3為石墨樣品墊，4為定位模具。
具體實施例方式
下面將結合具體實施例，對本發明的技術方案作進一步闡述。
實施例1首先將定位模具4倒扣在石墨樣品墊3上，使得石墨樣品墊3和定位模具4的下內徑相吻合，用鑷子夾住定位網柵1，將導電銀膠均勻涂抹在定位網柵1的邊沿，以不堵住網柵孔為準，再將涂好膠的定位網柵1粘貼在石墨樣品墊3上，粘貼的位置盡量靠近定位模具4上內徑的邊沿，粘貼好后再用擠壓模具2輕壓定位網柵1，定位網柵1就牢固的粘貼在石墨樣品墊3上。該方法用的定位網柵1是銅網柵。
這樣微粒分析的定位標記制作完畢。在石墨樣品墊3上銅網柵的字母、阿拉伯數字及附近的“十”圖案就可以用作掃描電鏡和二次離子質譜儀微粒分析的定位標記，對感興趣微粒的尋找、定位和再定位。
操作中所用到的定位模具4形狀是底部有一個與石墨樣品墊3相吻合的凹圈，凹圈上部的內徑為上內徑，凹圈下部的內徑為下內徑，它的尺寸為上內徑 18.5mm下內徑 26mm外徑32mm上高0.8mm下高1.2mm擠壓模具2的尺寸為內徑10.5mm外徑18.4mm高 20mm石墨樣品墊3直徑是25.4mm實施例2
方法同實施例1，不同的是操作中所用到的定位模具4形狀是一個圓環，圓環外徑小于石墨樣品墊3的直徑，圓環內徑與擠壓模具2外徑相吻合，圓環的尺寸外徑是24mm，內徑是18.5mm，且用鎳網柵代替銅網柵。鎳網柵的直徑也是25.4mm。
實施例3方法同實施例1，不同的是操作中所用到的定位模具4形狀是一個帶有邊沿的圓環，圓環外徑大于石墨樣品墊3的直徑，圓環內徑與擠壓模具2外徑相吻合，圓環的尺寸外徑是26mm，內徑是18.5mm。
權利要求
1.一種微粒分析的定位標記制作方法，其特征在于所述的制作方法是把涂有導電銀膠的定位網柵(1)沿倒扣在石墨樣品墊(3)上的定位模具(4)的內徑粘貼在石墨樣品墊(3)上，再用擠壓模具(2)固定定位網柵(1)。
2.根據權利要求1所述的定位標記制作方法，其特征在于所說的定位網柵(1)是銅網柵或鎳網柵。
3.根據權利要求1所述的定位標記制作方法，其特征在于所用的定位模具(4)可以是一個圓環，圓環的外徑小于石墨樣品墊(3)的直徑。
4.根據權利要求1所述的定位標記制作方法，其特征在于所用的定位模具(4)還可以是一個帶有邊沿的圓環，圓環的內徑小于石墨樣品墊(3)的直徑。
5.根據權利要求1所述的定位標記制作方法，其特征在于所用的定位模具(4)還可以是底部有一與石墨樣品墊(3)相吻合的凹圈，凹圈下部的下內徑大于石墨樣品墊(3)的直徑，凹圈上部的上內徑小于石墨樣品墊(3)的直徑，凹圈下部的高度小于石墨樣品墊(3)的厚度。
6.根據權利要求1所述的定位標記制作方法，其特征在于，所述的擠壓模具(2)呈環狀，環的內外徑之差不小于定位網柵(1)的直徑。
全文摘要
本發明涉及一種微粒分析的定位標記制作方法，該制作方法是把涂有導電銀膠的定位網柵(1)沿倒扣在石墨樣品墊(3)上的定位模具(4)的內徑粘貼在石墨樣品墊(3)上，再用擠壓模具(2)固定定位網柵(1)。用此方法制作出的定位標記好處在于，放有樣品的石墨樣品墊(3)經過二次離子質譜儀離子束的轟擊后，定位標記仍然清晰，不影響再定位的讀數，且該方法不用蒸發鍍膜儀，成本降低，操作簡單。
文檔編號G01N15/00GK1877295SQ20061009907
公開日2006年12月13日 申請日期2006年7月18日 優先權日2006年7月18日
發明者劉國榮, 李井懷, 李靜, 趙永剛, 李安利, 王林博, 郭士倫 申請人:中國原子能科學研究院