專利名稱：集成電路一次可程序化內存的程序化方法
技術領域：
本發明涉及一種集成電路，特別涉及其中的一次可程序化內存(OTPMemory)的程序化方法。
背景技術：
目前，公知的測量用集成電路結構包括模數轉換器(ADC)、微處理器(MCU)和系統內存等。而MCU則包含有隨機存儲器(RAM)、中央計算單元(CPU)、程序化接口等。
集成電路在應用于測量裝置時，將壓力、重量等傳感器(sensor)與待測信號接觸，傳感器將待測信號的物理量轉換成電信號(電壓量或是電流量)，該電信號被集成電路的模數轉換器轉換成數字信號，被MCU計算、處理或是進一步轉換，并顯示在外接的顯示器上。然而促使MCU計算、處理或是進一步轉換的根源，就是來自于系統內存內所儲存的指令集，指令的總和及順序便成為程序。
但是，上述應用中，很多包含有ADC的集成電路在能夠正確顯示測量值之前，都必須經過校正手續，如此ADC及MCU方可正確無誤地將該待測信號的物理量轉換成相對應的數字結果顯示出來。在電子測量裝置之校正程序中，使用具有標準物理量之標準量測物，傳感器接觸標準量測物后發出一標準量測訊號，經轉換成數字訊號后成為標準參數并儲存于內存之中，當微處理器執行一般量測程序時，從內存中取出校正用的標準參數，并根據量測訊號計算實際量測值。因此，經過校正之后，會產生相對應的校正系數，這些校正系數需要被儲存下來，同時必須能夠被MCU讀取，如此，MCU方可正確地運行計算或轉換的功能并呈現精確的數值。因此，大多數電子組件都需要外接的電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)以提供儲存這些校正參數的能力。
然而，若要將校正系數儲存放于EEPROM中，尚需另外的燒錄器，方可將系數燒錄進入EEPROM中儲存。燒錄完成后，再將該EEPROM取出燒錄器并且連接于最終系統產品電子測量裝置上，才算完成校正手續。
一般而言，以外部存儲器儲存標準參數時，微處理器經由程序化接口將標準參數存放于外部存儲器中。使用一個專門存放標準參數的外部存儲器，會使得集成電路的制造成本較高，再者，集成電路必須使用較為復雜的架構，如增加串行接口，才能夠將標準參數存放到外部存儲器。另一方面，集成電路的微處理器使用的指令集，必須儲存于一系統內存中，由微處理器直接讀取指令并加以執行。通常系統內存的容量在儲存指令集之后，會有很大的空白區域，在正常操作模式下，這些空白區域都不會被使用到而被浪費。
發明內容本發明的目的就是為了解決以上技術問題，提供一種校正程序簡化、應用成本降低、可自我程序化的集成電路一次可程序化內存的程序化方法。
為實現上述目的，本發明提出一種集成電路一次可程序化內存的程序化方法，至少包含步驟經由第一程序化接口寫入指令集至該一次可程序化內存；運行該指令集中的自我程序化指令，經由第二程序化接口寫入該集成電路之校正參數至該一次可程序化內存。
上述之程序化方法，其中寫入該指令集至該一次可程序化內存系由外部設備經由該第一程序化接口寫入至該一次可程序化內存。其中該校正參數的寫入系由集成電路之微處理器經由該第二程序化接口，將該校正參數寫入至該一次可程序化內存，該第二程序化接口系內建于該微處理器之中。其中該第一程序化接口與該第二程序化接口經由一多工器耦接至該一次可程序化內存，以該多工器切換該第一程序化接口與該第二程序化接口至該可一次可程序化內存的連接。其中該微處理器寫入該校正參數至該一次可程序化內存所需的時間長度，系根據該一次可程序化內存的規格而定。其中該微處理器寫入該校正參數至該一次可程序化內存所需的時間長度，被記錄于該指令集之中。
一種集成電路一次可程序化內存的程序化方法，至少包含寫入一指令集至該集成電路的一次可程序化內存；該集成電路之微處理器執行該指令集的程序化程序；該微處理器根據該程序化程序之寫入指令，寫入校正參數至該一次可程序化內存。
上述之程序化方法，其中該寫入指令之寫入持續時間系根據該一次可程序化內存的規格而定。其中該指令集系由外部設備經由集成電路的一程序化接口寫入至該一次可程序化內存。其中該校正參數之寫入系經由集成電路內微處理器之程序化接口，寫入該校正參數至該一次可程序化內存。其中該微處理器系根據該寫入指令，決定對該一次可程序化內存的寫入時間。
一種集成電路一次可程序化內存的程序化方法，至少包含從該一次可程序化內存讀取一自我程序化指令；將該一次可程序化內存轉為自我程序化模式；執行該程序化指令，在寫入時間內寫入該集成電路之校正參數至該一次可程序化內存。
上述之程序化方法，其中系由該集成電路之一微處理器寫入該校正參數至該一次可程序化內存。其中該寫入時間系根據該一次可程序化內存的規格而定。其中該寫入時間系記錄于該自我程序化指令之中。其中將該一次可程序化內存轉為該自我程序化模式之后，與寫入該校正參數至該一次可程序化內存之間，具有一時間延遲，使得集成電路內部電壓在提高后趨于穩定，再開始數據寫入動作。其中結束該自我程序化模式之前，設定一段時間延遲，使得集成電路的電壓趨于穩定。
由于采用了以上的方案，至少帶來了如下的有益效果由于采用了本發明的方法，系統內存能夠以兩種寫入模式，分別寫入指令集或標準參數，使集成電路的內部結構簡化；且標準參數寫入于系統內存內，充分利用了系統內存的有效空間；使集成電路廠商無需針對不同應用提前寫入各種校正參數；集成電路廠商可以藉以提高生產效率，降低生產成本。
對于應用廠商而言，應用本發明的集成電路時，其校正程序簡化，也可以藉以提高生產效率，降低生產成本。
由于集成電路可利用本發明方法進行自我程序化，具有自我燒錄校正參數的功能，可在最終系統產品制造完成后，直接進行自我校正。由于直接利用集成電路固有的系統內存儲存校正參數，無需測量電路的應用廠商在生產最終系統產品前先利用外接存儲器寫入校正參數，本發明的測量電路在應用時，不需要額外的外接EEPROM等存儲組件，節省最終系統產品的組件，降低最終的電子測量裝置的成本。
圖1是應用本發明實施例的集成電路的架構示意圖。
圖2是應用本發明實施例的程序化流程圖。
符號說明100-集成電路，101-微處理器，103-程序化接口，105-周期產生器，107-串行程序化接口，109-多工器，111-系統內存具體實施方式下面通過具體的實施例并結合附圖對本發明作進一步詳細的描述。
請參照第1圖，根據本發明之具體實施例，說明集成電路100的架構圖。集成電路100包括微處理器101、周期產生器105、串行程序化接口107、多工器109與系統內存111，其中微處理器101包括一程序化接口103。微處理器101經由程序化接口103與多工器109連接系統內存111，串行程序化接口107經由多工器109連接系統內存111，而且微處理器101更連接一周期產生器105，在微處理器101必須依照周期產生器105所產生之頻率周期來執行指令。系統內存111采用一次可程序化(OTP)內存，如EPROM等。
集成電路100在執行各種功能時，系由微處理器101從系統內存111取出所需之指令，然后加以執行，而集成電路100以標準物理量執行校正程序后，所得之校正參數系存放于系統內存111之中，當微處理器101執行量測程序時，從系統內存111取出校正參數，根據校正參數及傳感器所傳來的量測訊號，計算出此量測訊號所代表的實際物理量。因此，系統內存111同時具有微處理器所需的指令集與校正參數，但是，儲存指令集與校正參數至系統內存是使用不同的方式。
請再參閱第1圖，微處理器101的功能運行都是根據指令集中的指令，在運行集成電路100的所有功能之前，必須先將指令集存入系統內存111之中，然后微處理器101根據所選擇之功能來取用指令集中的指令并加以執行。指令集系由外部輸入至集成電路100，外部設備經由串行程序化接口107與多工器109輸入指令集至系統內存111。由于微處理器101在集成電路100尚未正常運作之前無法被操作，因此，指令集系從串行程序化接口107輸入至系統內存111。在完成指令集的儲存之后，開始進行集成電路100的校正程序，在微處理器101從傳感器(圖中未顯示)接收到標準物理量之標準量測訊號后，計算出校正參數，經由程序化接口103與多工器109儲存至系統內存111之中，而微處理器101執行指令的動作系根據周期產生器105所產生之頻率周期。
根據本發明之具體實施例，寫入指令集與校正參數至系統內存111，系分別經由串行程序化接口107與程序化接口103至多工器109，再經由多工器109至系統內存111，而寫入程序是先寫入指令集至系統內存111，微處理器101使用指令集之程序化指令，將校正參數經由程序化接口103寫入系統內存111之中。
根據本發明之具體實施例，系統內存111有兩種程序化方法，先由外部設備經由串行程序化接口107輸入指令集，然后使用指令集中的程序化指令，寫入校正參數至系統內存111。換言之，系先使用外部設備來程序化系統內存111，然后使用已儲存之指令集中的程序化指令，由微處理器101執行程序化指令，對系統內存111作自我程序化動作。
根據本發明之具體實施例，微處理器101在執行一般指令時，系經由程序化接口103連接至系統內存111，讀取流程為微處理器101經由程序化接口103送出讀取地址、頻率周期至系統內存111，然后系統內存111直接送回指令集或校正參數至微處理器101。
請參閱第2圖，系根據本發明之具體實施例說明集成電路的自我程序化流程圖。步驟201，微處理器101開始執行程序；步驟203，微處理器101從系統內存111讀取指令；步驟205，微處理器101判斷所讀之指令是否為自我程序化指令，若是則執行步驟207，若否則執行步驟217，直接執行指令內容，并在執行指令之后回到步驟203；步驟207，系統內存111轉為程序化模式，開始寫入校正參數的動作；步驟209，微處理器101在執行程序化指令時，根據周期產生器105的頻率周期執行程序化指令，而且鎖定頻率周期的上升沿，因系統內存的寫入電壓高于一般的操作電壓，微處理器101必須設定一段時間的時間延遲，使得集成電路101內部的電壓在提高后趨于穩定，再開始數據寫入動作；步驟211，在固定時間內程序化系統內存111，寫入校正參數至系統內存111之中，此固定的寫入時間系根據系統內存111的規格而定，系統內存111具有固定的寫入時間時，微處理器101根據頻率周期來執行程序化指令，微處理器101根據寫入時間計算出需要多少個頻率周期，來控制校正參數的寫入時間。根據本發明之具體實施例，系統內存111系為可抹除程序化只讀存儲器(EPROM)，或者，系統內存111為其他一次可程序化內存(One Time Programmable Memory；OTP memory)，其寫入時間系有關于內存的規格，當集成電路100使用不同規格之可擦除可編程只讀存儲器或其他一次可程序化內存時，所需的寫入時間會隨之更改，此時僅需更改指令集之程序化指令的寫入時間參數，即可達到更改寫入時間長度的目的。
請繼續參閱第2圖，在完成步驟211之后，執行步驟213，微處理器鎖定頻率周期之下降沿設定時間延遲，由于系統內存111之寫入電壓高于一般操作電壓，在結束程序化指令之前，必須設定一段時間延遲，使得集成電路100的電壓趨于穩定，然后執行步驟215，切換系統內存111的操作模式回到讀取模式，在回到讀取模式之后，回到步驟203，微處理器203根據系統需求重新讀取指令。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和范圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護范圍當視申請專利權利要求范圍所界定者為準。
權利要求
1.一種集成電路一次可程序化內存的程序化方法，至少包含步驟經由第一程序化接口寫入指令集至該一次可程序化內存；運行該指令集中的自我程序化指令，經由第二程序化接口寫入該集成電路之校正參數至該一次可程序化內存。
2.如權利要求1所述之程序化方法，其特征是其中寫入該指令集至該一次可程序化內存系由外部設備經由該第一程序化接口寫入至該一次可程序化內存。
3.如權利要求1所述之程序化方法，其特征是其中該校正參數的寫入系由集成電路之微處理器經由該第二程序化接口，將該校正參數寫入至該一次可程序化內存，該第二程序化接口系內建于該微處理器之中。
4.如權利要求1所述之程序化方法，其特征是其中該第一程序化接口與該第二程序化接口經由一多工器耦接至該一次可程序化內存，以該多工器切換該第一程序化接口與該第二程序化接口至該可一次可程序化內存的連接。
5.如權利要求1所述之程序化方法，其特征是其中該微處理器寫入該校正參數至該一次可程序化內存所需的時間長度，系根據該一次可程序化內存的規格而定。
6.如權利要求1所述之程序化方法，其特征是其中該微處理器寫入該校正參數至該一次可程序化內存所需的時間長度，被記錄于該指令集之中。
7.一種集成電路一次可程序化內存的程序化方法，至少包含寫入一指令集至該集成電路的一次可程序化內存；該集成電路之微處理器執行該指令集的程序化程序；該微處理器根據該程序化程序之寫入指令，寫入校正參數至該一次可程序化內存。
8.如權利要求7所述之程序化方法，其特征是其中該寫入指令之寫入持續時間系根據該一次可程序化內存的規格而定。
9.如權利要求7所述之程序化方法，其特征是其中該指令集系由外部設備經由集成電路的一程序化接口寫入至該一次可程序化內存。
10.如權利要求7所述之程序化方法，其特征是其中該校正參數之寫入系經由集成電路內微處理器之程序化接口，寫入該校正參數至該一次可程序化內存。
11.如權利要求7所述之程序化方法，其特征是其中該微處理器系根據該寫入指令，決定對該一次可程序化內存的寫入時間。
12.一種集成電路一次可程序化內存的程序化方法，至少包含從該一次可程序化內存讀取一自我程序化指令；將該一次可程序化內存轉為自我程序化模式；執行該程序化指令，在寫入時間內寫入該集成電路之校正參數至該一次可程序化內存。
13.如權利要求12所述之程序化方法，其特征是其中系由該集成電路之一微處理器寫入該校正參數至該一次可程序化內存。
14.如權利要求12所述之程序化方法，其特征是其中該寫入時間系根據該一次可程序化內存的規格而定。
15.如權利要求12所述之程序化方法，其特征是其中該寫入時間系記錄于該自我程序化指令之中。
16.如權利要求12所述之程序化方法，其特征是其中將該一次可程序化內存轉為該自我程序化模式之后，與寫入該校正參數至該一次可程序化內存之間，具有一時間延遲，使得集成電路內部電壓在提高后趨于穩定，再開始數據寫入動作。
17.如權利要求12所述之程序化方法，其特征是其中結束該自我程序化模式之前，設定一段時間延遲，使得集成電路的電壓趨于穩定。
全文摘要
本發明公開了集成電路一次可程序化內存的程序化方法，系統內存能夠以兩種寫入模式，分別寫入指令集或標準參數，使集成電路的內部結構簡化；且標準參數寫入于系統內存內，充分利用了系統內存的有效空間；使集成電路廠商無需針對不同應用提前寫入各種校正參數；集成電路廠商可以藉以提高生產效率，降低生產成本。本發明的測量電路不需要額外外接存儲組件，節省最終系統產品的組件，降低最終的電子測量裝置的成本。由于本發明提供的測量電路具有自我燒錄校正參數的功能，可在最終系統產品制造完成后，直接進行自我校正，使其校正程序簡化，對于應用廠商或集成電路廠商均可以藉以降低生產成本。
文檔編號G01D3/02GK1885278SQ20061006160
公開日2006年12月27日 申請日期2006年7月7日 優先權日2006年7月7日
發明者趙伯寅, 林祥民, 袁國元 申請人:富享微電子(深圳)有限公司