專利名稱：X射線衍射儀用旋轉樣品臺的制作方法
技術領域：
本實用新型屬X射線衍射儀用配件，尤其涉及X射線衍射儀的樣品架的定位裝置。
背景技術：
X射線衍射物相定性、定量分析過程中，是將樣品置于樣品架上，樣品架插入樣品臺進行測試。就設計人所知，現在X射線衍射儀配置的樣品臺均為固定樣品臺。其缺陷是，測試時樣品固定不動。這樣，對晶粒粗大、微量樣品或含量低的物相測試，衍射強度低、測量周期長、靈敏度降低、誤差大；對擇優取向的樣品，其物相的衍射相對強度與標準物相相對強度相差很大，定性、定量分析困難，甚至導致測試失敗。
發明內容
為了克服現有技術存在的缺陷，本發明的目的是提供一種X射線衍射儀用旋轉樣品臺，在測試時，樣品旋轉，增加樣品的測量面積和晶粒數量，增加晶粒參加衍射的幾率，消除樣品擇優取向的影響，以提高分析精度。
一種X射線衍射儀用旋轉樣品臺，裝在X射線衍射儀的測角儀上，特點是轉盤一側設有定位樣品架機構，另一側設有旋轉軸，旋轉軸由帶軸承的軸座支承與固定在電機支架上的電機相連接；軸座和電機支座固定在滑塊上，滑塊滑裝在燕尾槽中，燕尾槽由定位銷在臺座上定位，并固定在臺座上，臺座固定在測角儀上。
使用時，樣品架附著于轉盤上，以定位銷為圓心，轉動燕尾槽，樣品架可以左右轉動，進行調整；滑塊在燕尾槽中滑動，樣品架可以前后調整。這樣便將樣品架面調至測角儀的最佳位置。電控裝置由定時器控制旋轉時間，由指示燈指示工作狀態。接通電源，啟動按鈕，電機驅動旋轉樣品臺，帶動樣品旋轉。
本裝置結構緊湊、合理，裝卸樣品方便、快捷；樣品在測試過程中轉動，增加了樣品的測量面積和晶粒數量，增加了晶粒參加衍射的幾率，消除了擇優取向的影響，提高了物相的衍射強度、靈敏度，提高了分析精度。
結合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。
1.圖1是X射線衍射儀用旋轉樣品臺結構示意圖。
2、圖2是X射線衍射儀用旋轉樣品臺結構側視圖
具體實施方式
X射線衍射儀用旋轉樣品臺包括永久磁鐵塊10、轉盤8、旋轉軸9、軸座5、電機支座6、電機7、滑塊4、燕尾槽2、及臺座1。轉盤8的一側設有永久磁鐵塊10，以吸聯樣品架。轉盤8另一側設有旋轉軸9，旋轉軸9穿過帶有銅軸瓦的軸座5，與固定在電機支座6上的電機7相連接，軸座5與電機支座6由螺栓固定在滑塊4上。滑塊4與燕尾槽2為滑動配合，滑塊4為長條形體，其上設有螺栓孔，由螺栓定位；燕尾槽2為長條形凹槽，其上設有定位孔和安裝孔，滑塊4可沿燕尾槽2前后移動，位置確定后，由螺栓固定，燕尾槽2以定位銷3為圓心，可在臺座1上左右轉動，并由螺栓固定在臺座1上，臺座1上設有定位銷孔和安裝孔，由螺栓固定在測角儀11上。電機7由包括開關、指示燈、定時器組成的電控裝置控制，接通電源后，樣品臺便帶著樣品架一起轉動。
采用相同的測試參數，分別使用旋轉樣品臺和固定樣品臺，對Si片樣品進行對比測試，測試結果列于表1表1
由表1可見，使用旋轉臺，測量Si片的衍射強度比固定Si片的高出3.05倍。
使用旋轉樣品臺，對Si片進行衍射強度重現性進行測試，統計結果列于表2。
表2
由表2可見，使用旋轉樣品臺測量Si片衍射強度重現性高，滿足物相的定性、定量分析的要求，提高分析靈敏度和精度。
權利要求1.X射線衍射儀用旋轉樣品臺，裝在X射線衍射儀的測角儀上，其特征在于轉盤(8)的一側設置定位樣品架機構，另一側設有旋轉軸(9)，旋轉軸(9由帶軸承的軸座(5)支承，與固定在電機支座(6)上的電機(7)相連接，軸座(5)與電機支座(6)固定在滑塊(4)上，滑塊(4)滑裝在燕尾槽(2)中，燕尾槽(2)由定位銷(3)在臺座(1)上定位，并固定在臺座(1)上。
2.根據權利要求1所述的X射線衍射儀用旋轉樣品臺，其特征在于所述滑塊(4)與燕尾槽(2)為滑動配合，滑塊(4)為長條形體，其上設有螺栓孔，由螺栓定位；燕尾槽(2)為長條形凹槽，其上設有定位孔和安裝孔，由定位銷(3)定位，由螺栓固定在臺座(1)上。
3.根據權利要求1所述的X射線衍射儀用旋轉樣品臺，其特征在于轉盤(8)定位樣品架側設置吸聯樣品架的永久磁鐵塊(10)。
專利摘要X射線衍射儀用旋轉樣品臺，屬X射線衍射儀用配件，尤其涉及X射線衍射儀的樣品架的定位裝置。裝在X射線衍射儀的測角儀上，轉盤一側設有定位樣品架機構，另一側設有旋轉軸，旋轉軸由帶軸承的軸座支承，與固定在電機支架上的電機相連接；軸座和電機支座固定在滑塊上，滑塊滑裝在燕尾槽中，燕尾槽由定位銷在托盤上定位，托盤固定在測角儀上。測試時，樣品隨旋轉樣品臺旋轉，增加了樣品的測量面積和晶粒數量，增加晶粒參加衍射的幾率，提高了分析精度；結構緊湊、合理，使用方便，縮短測試周期。
文檔編號G01N23/20GK2840028SQ200520076390
公開日2006年11月22日 申請日期2005年10月17日 優先權日2005年10月17日
發明者趙明琦, 楊崢, 伏杰 申請人:馬鞍山鋼鐵股份有限公司