專利名稱：測試控制箱的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及測試儀器，具體涉及一種可用于測試電子器件和電器產品中的各種參數的Schuh2000測試控制箱。
背景技術：
在現有技術中，需要采用儀器對電子器件或電器產品中的各種參數進行測試，現有的測試方式是針對不同的參數或器件需要采用多種儀器來進行測試，測試周期長，測試效率低。
實用新型內容本實用新型的目的在于，提供一種測試控制箱，采用這種控制箱，可以對電子器件或電器產品中的多種參數進行測試，測試效率高。
本實用新型提供的技術方案如下構造一種測試控制箱，包括箱體，，還包括設置在箱體內的控制主板、在主板的中間依次設有8個卡位，在卡位中分別插裝有譯碼卡、兩塊數據總線控制卡、電源控制卡、雙治具卡、密碼卡和電壓表卡；在所述主板的四個周邊上還設有多個插卡卡座，在卡座中插裝有周邊應用卡。
本實用新型具有如下優點采用本實用新型提供的測試控制箱對電器產品的參數進行測試，用戶可按照需要測量的產品的規格要求，設計出治具，利用對控制箱的周邊卡的控制，實現對治具各開關的切換，然后由GPIB儀器進行測量，將結果送入計算機，再由計算機進行運算、判斷、分析、處理。使用一臺測試控制箱，可完成電器產品中的多種參數的測試需要，測試效率高，測試成本低。
圖1是測試控制箱的外形結構主視圖；圖2是測試控制箱的內部結構示意圖。
具體實施方式
參照圖1、圖2，提供一種測試控制箱，包括箱體12，箱體正面設有提手11設置在箱體內的控制主板10、在主板10的中間依次設有8個卡位，在卡位中分別插裝有譯碼卡1、譯碼卡2、旗標控制卡3、數據總線控制卡4，電源控制卡5、雙治具卡6、密碼卡7和電壓表卡8；在主板10的四個周邊上還設有多個插卡卡座9，在卡座中插裝有周邊應用卡。上述主板10和8種卡的型號和規格，生產廠家均有標準的產品出售，不再進一步提供詳細說明。
主板10是用于協調各主板控制卡、周邊卡及與電腦數據傳輸的線路板。
8塊主板控制卡結構原理卡1、卡2為譯碼卡，負責將計算機傳過來的控制信號轉換成控制旗標(以下簡稱旗標)。在控制箱中，共有53個旗標，這些旗標用于對周邊卡的功能控制，及對數據傳輸的流向控制(由電腦傳送給控制箱還是由控制箱傳送給電腦)，通過計算機對這些旗標的設定來達到控制控制箱的目的。
卡3是旗標控制卡、卡4是數據總線控制卡，是數據傳送的通道，通道內的數據流向由卡1、卡2譯碼后的三個旗標決定。通道的另一個作用是用于信號電平的轉換(計算機信號與控制箱電平不同)。
卡5是電源控制卡，為控制箱提供電源。其電源的通斷由POWER旗標控制。
卡6是雙治具卡。在測試過程中，為節約時間，可用兩個治具進行，一個治具在測試時，另一個治具上可以放置待測產品，不用等待產品測完后才放置產品，以合理分配時間。
該卡有兩個按鍵，具有鎖存功能。計算機可通過讀取該卡的狀態來判斷是否準備就緒，以判斷是否需要執行測試。由兩個旗標清除該卡的狀態。
卡7與卡8分別是密碼卡和電壓表。
在上面所述的53個旗標中，有33個旗標是地址選擇旗標，分別對應著主板卡的卡6、卡7、卡8和周邊卡的30個槽。地址旗標與其它旗標配合以完成對某一卡的控制。
控制箱與計算機由一條25芯線和一片計算機擴展卡(PCI-8255卡)連接。在25芯線中，控制信號占用8芯，數據信息占用16芯，另外一芯是地線。
整個過程就是計算機發送控制信號及數據信號給控制箱，控制箱經譯碼卡譯碼后執行控制命令，并將數據傳送給指定的控制卡或將控制卡返回的數據傳給計算機。
周邊卡設計時將可用的旗標與地址旗標結合以達到對指定卡的控制效果。
由上面硬件可以看出，程序中只需編寫控制各類卡的模塊，每個模塊對應著一個類型的周邊卡，在模塊內記載著詳細的參數，關于這些參數的設定，提供設定界面，由用戶設定.模塊內編寫一個控制函數，根據設定的參數執行對周邊卡的控制。
其中模塊內的控制函數就是由計算機向控制箱發送的控制信號，這些控制信號譯碼成旗標后執行以控制周邊卡。
利用GPIB接口控制儀器用戶按照需要測量的產品的規格要求，設計出治具，利用對控制箱的周邊卡的控制，實現對治具各開關的切換，然后由GPIB儀器進行測量，將結果送入計算機，再由計算機進行運算、判斷、分析、處理。
數據采集在計算機的擴展插槽上，安裝一片GPIB卡，該卡通過GPIB線連接一個或多個GPIB儀器。計算機利用該GPIB卡與GPIB儀器進行通信。
軟件設計中，把對儀器的控制與數據采集各用一模塊，便于控制和用戶操作。
GPIB模塊的設置模塊內，提供地址輸入、命令輸入及其它參數設置界面，由地址決定要控制的儀器，輸入的命令實現需要的功能。
卡1、卡2是解碼卡，卡3是旗標控制卡。卡4是總線控制卡。
現有的周邊控制卡共有四種，Power Relay Card(Relay8)、RelayCard(Relay16)、Multiplexer Card(Mul32)、Power card.
測量電器時，所需儀器較多，現以最簡單的例子，測量兩個電阻阻值，介紹一下這種控制箱的使用方法及處理流程。
現用周邊卡Multiplexer card，這是一片有32個Relay switch的開關，端口原理如下圖所示在這32個端口中，有24個High pin和8個Low pin組成，每一種的pin都有一根引線連接著同類pin的所有Relay，其電路如上圖，將這兩根引線分別連接到萬用表的輸入端上，再將兩個電阻的兩端分別接在Multi32卡的High pin(1腳-24腳)和Low pin(25腳-32腳)上，用戶編程序流程如下1、設定Multi32的High pin的2腳和Low pin25腳閉合以測量R1；2、將萬用表調至電阻檔并測電阻；3、Multi32的High pin的1腳和Low pin的26腳閉合以測量R2；4、將萬用表調至電阻檔并測電阻；假如該Multi32卡插在第一個插槽上，則第一步程序的具體的設置如下圖所示。
第二步萬用表的設定要根據儀器所支持的命令來設定。
第三步與第四步如同第一步與第二步。
Multiplexer卡控制程序模塊如下斷開Relay；//執行函數，根據設定執行結果將Relay閉合 //設定的槽//閉合后延長 用戶的注釋設定該條程序在程序執行時是否有效，如果沒效，則不執行。
//是將該卡打開還是閉合 //控制High pin的開關//控制Low pin的開關上面的執行函數程序流程(僅給出控制部分)1.設定將其Relay閉合的旗標；(如果該旗標為清除狀態，則斷開Relay)程序讓電腦向控制口(8位)發送控制命令，指令經MAIN1譯碼轉換成旗標，由MAIN2、MAIN3控制該旗標，使其保持設定狀態。
2.斷開所有的數據通道；3.設定打開由計算機向控制箱發送數據的通道的旗標.
這一步如同第一步，MAIN2、MAIN3所控制的這個旗標自動打開MAIN4中所需的數據通道(BUS)。
4.將High pin和Low pin的值由電腦通過另外16位數據線傳送到控制箱，這時數據總線(BUS，共16位)上記載著要控制的Relay信息；5.根據設定將周邊的某個槽(SLOT)打開，以將數據線上的控制信息作用到指定的Multiplexer卡上。至此，上面的Relay就會按要求閉合。上面的Multiplexer卡閉合后，進入測值模塊中；計算機執行到測量值這一條程序時，將用戶設定的命令通過GPIB卡(與GPIB儀器連接的計算機擴展卡)送入到萬用表儀器，萬用表儀器接到該命令，自動測量并將結果送給計算機。計算機獲得回傳的數據，根據所設定的條件判斷、分析，將結果送到顯示器上或保存到數據庫中，以備用戶查驗。
權利要求1.一種測試控制箱，包括箱體(12)，其特征在于，還包括設置在所述箱體(12)內的控制主板(10)、在主板的中間依次設有8個卡位，在卡位中分別插裝有譯碼卡(1)、譯碼卡(2)、旗標控制卡(3)、數據總線控制卡(4)，電源控制卡(5)、雙治具卡(6)、密碼卡(7)和電壓表卡(8)；在所述主板的四個周邊上還設有多個插卡卡座，在卡座中插裝有周邊應用卡。
專利摘要本實用新型公開了一種測試控制箱，包括箱體，還包括設置在箱體內的控制主板、在主板的中間依次設有8個卡位，在卡位中分別插裝有譯碼卡、兩塊數據總線控制卡、電源控制卡、雙治具卡、密碼卡和電壓表卡；在所述主板的四個周邊上還設有多個插卡卡座，在卡座中插裝有周邊應用卡。本實用新型具有如下優點采用本實用新型提供的測試控制箱對電器產品的參數進行測試，用戶可按照需要測量的產品的規格要求，設計出治具，利用對控制箱的周邊卡的控制，實現對治具各開關的切換，然后由GPIB儀器進行測量，將結果送入計算機，再由計算機進行運算、判斷、分析、處理。使用一臺測試控制箱，可完成電器產品中的多種參數的測試需要，測試效率高，測試成本低。
文檔編號G01R31/00GK2849663SQ20052006540
公開日2006年12月20日 申請日期2005年10月10日 優先權日2005年10月10日
發明者韓玉林 申請人:東莞中逸電子有限公司