專利名稱：空調器用復位芯片的測試方法
技術領域：
本發明是一種用于空調或制冷工程領域的測試方法，應用該測試方法可針對復位芯片的可靠復位進行測試和評價。
背景技術：
在目前空調和制冷工程管路設計過程中，通常在其主控板上設置有一復位芯片。應用該復位芯片，可以保證控制系統可靠的復位，不發生死機現象。
復位芯片能否可靠復位，將直接影響到空調使用質量，但是關于復位芯片可靠復位的測試方法，在本專利申請前未有在先公開。
發明內容
本發明所述空調器用復位芯片的測試方法，其目的在于解決上述現有問題而利用外接穩定電壓給復位芯片持續供電，根據復位芯片自動復位時電壓跌落的特性，通過示波器對電壓跌落參數的監測，來測試復位芯片能否進行可靠地復位操作。
為實現上述發明目的，所述空調器用復位芯片的測試方法，是將被測試的復位芯片連接一穩定電源，同時將復位芯片的復位管腳外接一示波器；當被測試的復位芯片通電工作后，其系統電壓必將跌落，此時被測試的復位芯片自行復位。利用復位芯片的這一特性，通過連接復位芯片的復位管腳的示波器可將電壓跌落顯示并記錄下來，從而測試出復位芯片能否進行可靠地復位。
如上述測試方法的方案，被測試復位芯片一旦自動復位，則其系統電壓必然有一跌落；也就是說，其系統電壓一旦跌落，則說明其能夠進行自動復位；電壓跌落的時間和波形，可通過示波器進行顯示，因而上述復位芯片的測試方法簡單易行，該測試方法簡單易行，而且示波器的測試結果較為直觀。
為實現系統地掌握被測試的復位芯片的復位性能，進而對其做出相應的質量評價，本發明進一步的改進方案是，應用一單片機系統，利用MCU的大電流I/O口向被測試的復位芯片持續地供電，并且該I/O口電壓持續地模擬成5V；當被測試的復位芯片上電運行一段時間，5V電源出現一次跌落，則被測試的復位芯片復位；復位后，系統電源的電壓再次穩定至5V，則被測試的復位芯片再次復位，如此循環；在上述持續供電過程中，系統電源的復位電壓波形通過連接復位管腳的示波器完整地顯示并記錄下來。
如上內容，所述空調器用復位芯片的測試方法的優點是1、針對復位芯片自動復位時電壓跌落的特性，實現一種可控制、可顯示的測試方法，對于能否進行可靠地復位的測試簡單易行；2、給復位芯片提供一持續的電源，可很清楚地了解復位芯片的復位特性，從而大大提高后續產品運行的可靠性。
圖1是所述測試方法的操作示意圖。
圖2是對復位芯片持續供電后的復位電壓波形示意圖。
具體實施例方式
實施例1，如圖1所示，所述空調器用復位芯片的測試方法，是將被測試的復位芯片連接一穩定電源，同時將復位芯片的復位管腳外接一示波器。
應用一單片機系統，利用MCU的大電流I/O口向被測試的復位芯片持續地供電，并且該I/O口電壓持續地模擬成5V；當被測試的復位芯片上電運行一段時間，5V電源出現一次跌落，則被測試的復位芯片復位；復位后，系統電源的電壓再次穩定至5V，則被測試的復位芯片再次復位，如此循環；在上述持續供電過程中，系統電源的復位電壓波形通過連接復位管腳的示波器完整地顯示并記錄下來。
權利要求
1.一種空調器用復位芯片的測試方法，其特征在于將被測試的復位芯片連接一穩定電源，同時將復位芯片的復位管腳外接一示波器；當被測試的復位芯片通電工作后，其系統電壓必將跌落，此時被測試的復位芯片自行復位；通過連接復位芯片的復位管腳的示波器可將電壓跌落顯示并記錄下來，從而測試出復位芯片能否進行可靠地復位。
2.根據權利要求1所述的空調器用復位芯片的測試方法，其特征在于應用一單片機系統，利用MCU的大電流I/O口向被測試的復位芯片持續地供電，并且該I/O口電壓持續地模擬成5V；當被測試的復位芯片上電運行一段時間，5V電源出現一次跌落，則被測試的復位芯片復位；復位后，系統電源的電壓再次穩定至5V，則被測試的復位芯片再次復位，如此循環；在上述持續供電過程中，系統電源的復位電壓波形通過連接復位管腳的示波器完整地顯示并記錄下來。
全文摘要
本發明所述空調器用復位芯片的測試方法，利用外接穩定電壓給復位芯片持續供電，根據復位芯片自動復位時電壓跌落的特性，通過示波器對電壓跌落參數的監測，來測試復位芯片能否進行可靠地復位操作。所述的測試方法是將被測試的復位芯片連接一穩定電源，同時將復位芯片的復位管腳外接一示波器；當被測試的復位芯片通電工作后，其系統電壓必將跌落，此時被測試的復位芯片自行復位。利用復位芯片的這一特性，通過連接復位芯片的復位管腳的示波器可將電壓跌落顯示并記錄下來，從而測試出復位芯片能否進行可靠地復位。
文檔編號G01M99/00GK1987495SQ20051013113
公開日2007年6月27日 申請日期2005年12月20日 優先權日2005年12月20日
發明者王欣 申請人:海信集團有限公司, 青島海信空調有限公司