專利名稱：顯示器的測試系統與方法
技術領域：
本發明是有關于一種顯示器的測試電路，特別是關于一種液晶顯示器的測試系統與方法。
(2)背景技術現有技術中薄膜電晶體液晶顯示器(TFT-LCD)的測試架構主要分為兩種，一種是全部接點測試(full contact)，一種是短路桿測試(shorting bar)。
圖1顯示現有技術中全部接點測試的架構。測試電路包含數條掃描線101及數條資料線102，且該數條掃描線101與該數條資料線102互相垂直交錯。而測試架構包含兩組輸入信號用以測試電路，一組為影像訊號103，另一組為掃描訊號104，且這兩組訊號均通過分別的測試點105及105’來測試電路。其電路工作模式為當掃描訊號104開啟其中之一條掃描線101時，由影像訊號103逐一測試前述掃描線與每條資料線102的點。縱然全部接點測試(fullcontact)可以得到完整的測試資訊，然而卻因面板大小不同時必須定作不同的測試平臺，如此便造成制造成本的提高，再者，測試平臺的最小精度規格的制作，也是全部接點測試(full contact)的一大限制。
圖2顯示現有技術中短路桿測試(shorting bar)的架構。其測試電路相同于前述的測試電路，也包含數條掃描線201及數條資料線202。而測試架構也包含兩組輸入信號，影像訊號203與掃描訊號204，相同地這兩訊號也是通過分別的測試點205及205’來測試電路。不同的是，短路桿測試將固定數量的資料線以制程上的金屬線206及206’予以連接，以改善測試平臺精準度不足的問題，如美國專利US5825196所揭示，即為一種短路桿測試方式，首先將像素中第一子像素連接至第一短路桿，第二子像素連接至第二短路桿及第三子像素連接至第三短路桿，接著只提供訊號給第一短路桿，如此畫面則顯示第一子像素所應顯示的顏色。接著依序提供訊號給第二短路桿以及第三短路桿，如此就可找出缺陷。然而，因為設計上的簡化，導致細微的畫面無法測試，測試數據的完整性受到質疑。再者，測試完成后，需利用激光或其他方法將短路的地方開路，于此不但增加制程上的負擔，更可能帶來無法預期的其它后果。
(3)發明內容有鑒于此，要需提出一種應用于顯示器的測試結構，其不但可以隨著需求得到精確的測試，且能夠解決現有技術上制造規格困難的問題。
本發明的目的在于提供一種顯示器的測試系統，其可通過多工控制電路的設計而達到測試平臺共用的目的。
本發明的另一目的在于提供一種顯示器的測試系統，以實現精確的測試如全部接點測試(full contact)，或是快速的測試如短路桿測試(shortingbar)的目的。
本發明的再一目的在于提供一種顯示器的測試方法，避免使用破壞性的切割動作而造成制程上可靠度的下降。
本發明的目的是這樣實現的一種顯示器的測試系統，包括數條訊號線 一驅動電路，具有數個連接墊(IC pad)，電性連接至數條訊號線；數個測試點，電性連接至該連接墊；以及數個開關，電性連接該數個測試點以及該連接墊其中，測試點的數目少于連接墊的數目。
本發明的目的是這樣實現的一種顯示器的測試方法，包括提供一基板，基板上具有數條訊號線、一驅動電路、數個測試點以及數個開關，其中所述的驅動電路包括數個連接墊，所述的訊號線電性連接至所述的數個連接墊，所述的數個開關電性連接所述的數個連接墊及所述的數個測試點，而且所述的數個測試點的數目少于所述的數個連接墊的數目；輸入一測試訊號至所述的數個測試點；以及輸入一第一訊號至所述的數個開關以使所述的數個測試點和所述的數個連接墊之間形成斷路。
本發明的效果本發明的顯示器的測試系統與方法，提出一種應用于顯示器的測試結構，其不但可以隨著需求得到精確的測試，且能夠解決現有技術上制造規格困難的問題。
為進一步說明本發明的上述目的、結構特點和效果，以下將結合附圖對本發明進行詳細的描述。
(4)
圖1顯示現有技術中液晶顯示器全部接點測試(full contact)架構示意圖；圖2顯示現有技術中液晶顯示器短路桿測試(shorting bar)架構示意圖；圖3顯示本發明顯示器測試系統示意圖；圖4顯示本發明顯示器測試系統的多工器及多工控制電路局部電路示意圖；圖5顯示本發明顯示器測試系統的多工控制電路的另一局部電路示意圖；及圖6顯示本發明顯示器測試系統的另一實施例示意圖。
101，201掃描線 102，202資料線103，203影像訊號104，204掃描訊號105，205測試點 206短路桿301多工控制電路 302掃描驅動電路303多工器 304畫面顯示區41多工控制電路 411，413，415，417測試點組412，414，416開關組 4111，4112，4131測試點4121，4122開關 418控制電路419測試模式訊號 42多工器421連接墊組 4211，4212，4213，4214連接墊511，513測試點組512開關組5111，5112，5113，5131測試點5121，5122，5123開關61多工控制電路 611開關組6111，6112，6113，6114開關 612測試點組
6121測試點(5)具體實施方式
接下來是結合附圖，對本發明的顯示器的測試系統與方法的實施方式進行詳細說明。下述說明中并不包括顯示器測試系統的詳細流程以及運作原理。本發明所沿用的現有技術，在此僅作重點式的引用，以助本發明的闡述。而且下述內文中相關的圖示亦并未依據實際比例繪制，其作用僅在表達出本發明的特征。
本發明顯示器的測試系統為在基板上有多數個第一測試點，電性連接至驅動電路，其中驅動電路電性連接至多數條訊號線，而多數個第一測試點分別通過開關連接至第二測試點，且第二測試點數目少于第一測試點。在測試結束之后，輸入一訊號至該開關以關閉測試點以及驅動電路之間的連接。本發明的另一應用為驅動電路包含許多連接墊(IC pad)，利用開關組連接至測試點，其中這些測試點數目少于連接墊(IC pad)數目。
圖3顯示本發明顯示器測試系統之一實施例。本發明驅動電路將影像訊號通過所選擇的測試點連結至畫面顯示區304，一般情況之下，驅動電路可包括多工控制電路301及多工器303，其中測試點的選擇取決于使用者的需求，舉例而言，當使用者需求較高質量的測試時，使用較多的測試點，當使用者考慮成本測試時，使用較少測試點，值得說明的是多工控制電路301在此并不受限，其也可分為多個多工控制電路的組合，而每一多工控制電路至少具有將影像訊號傳送經測試點及開關組的路徑，而最后將分別的影像訊號傳送至多工器303，而多工控制電路301更可提供一完善的介面，用以將驅動訊號及切換訊號分別傳送至掃描驅動電路302及多工器303。掃描驅動電路302整合在玻璃面板的上，并根據多工控制電路301的驅動訊號，提供水平掃描的循序訊號，于此驅動訊號也可獨立輸入至掃描驅動電路302。多工器303根據多工控制電路301的切換訊號，整合垂直方向的訊號，并將影像訊號傳送至畫面顯示區304。畫面顯示區304根據掃描驅動電路302的驅動訊號及多工器303的切換訊號以決定畫面顯示的位置，接著根據多工器303的影像訊號來顯示畫面。在此為了便于說明，畫面顯示區并未呈現像素單元；然而，熟悉該技術的技術人員當可知道一個完整點陣列顯示器(dots matrixdisplay)及其周邊電路的架構，其中于數個訊號線中包含了可顯示不同顏色的訊號線，例如，當測試訊號經測試點傳送至多工器，且通過多工器將測試訊號輸入至一訊號線，在此，訊號線通常分為三組，例第一訊號線是用以顯示紅色訊號、第二訊號線是用以顯示綠色訊號、第三訊號線是用以顯示藍色訊號。
圖4為顯示器測試系統中多工器42及多工控制電路41之一局部電路示意圖。多工器42包含連接墊組421，用以連接至其他系統的接觸窗，連接墊組421包含多數個連接墊，而連接墊的數目及間距(pitch)乃取決于畫面顯示區的大小及解析度，舉例而言，當一個3時的畫面顯示區其解析度為480×320時，則連接墊的數目為480，間距為30微米。為簡化說明，在以下的例子中將僅以連接墊4211及4212作為說明。圖中多工控制電路41的測試點組411，413，415，417并未顯示所有的測試點，而在以下的說明也將僅取測試點4111及4112為例，接著開關組412，414，416也并未顯示所有開關，在以下的說明也僅取開關4121及4122為例。測試點組411與連接墊組421數目相同且分別對應，如測試點4111對應連接墊4211，測試點4112對應連接墊4212。值得說明的是測試點4111及4112的間距可以彈性調整，如在系統可用的范圍內調整一適當間距以供探針卡(probe card)測試，舉例而言，當探針卡的制作難以符合連接墊組421間距30微米時，測試點組411則調整其間距為50微米，如此便符合探針卡的制作規格。更進一步說明，如以探針卡經由測試點組411輸入影像訊號的測試方式，便等同于全部接點測試(fullcontact)方式，也就是說經由此方法不單只可以用純色畫面來檢測像素缺陷，更可以讓面板顯示灰度，互擾(cross talk)或是閃爍(flicker)畫面，以達到檢測面板質量的目的。
接著開關組412為控制電路418所控制。開關組412用以連結測試點組411與測試點組413。舉例而言，測試點4111通過開關4121連結至測試點4131，開關4121，在一實施例中可為一NMOS開關元件，在此并不受限，如使用PMOS的開關元件也可。值得說明的是，測試點組411通過開關組412連結至測試點組413并不受限，在一實施例中，測試點4111與4112，分別通過開關4121與4122短路連結到測試點4131。如此結構便造成測試點組413的測試點數目為測試點組411的一半。當然，要測試點組413的測試點數目為測試點組411的三分之一也是可以。請參閱圖5，在此實施例中，測試點組511包含測試點5111，5112及5113，測試點5111、5112及5113分別通過開關組512的開關5121、5122及5123連接至測試點5131，于此結構可知，測試點組513的測試點數目為測試點組511測試點數目的1/3，在此要說明的是，測試點組511與測試點組513是通過開關連結，而測試點組513的數目可取決于客戶的需求，舉例而言，如客戶需要較精確的測試報告以維持產品質量時，可使用較多的測試點組測試(如測試點組511)，或客戶為求降低成本而僅需測試主要功能時，便可使用較少的測試點組測試(如測試點組513)，故測試功能的完整性與測試速度便決定了測試點的數目。依此類推，利用設立一階層架構并以一控制訊號控制也是本發明應用的所在。
再次參閱圖4，測試點組413通過開關組414連接至測試點組415，接著測試點組415通過開關組416連接至測試點組417，因與前述架構相同，僅為較高階層的應用，在此將不在贅述。
測試模式訊號419輸入至控制電路418用以決定使用那一測試點組。在一實施例中，使用測試點組411測試，則控制電路418的多工輸出1、多工輸出2及多工輸出3都不驅動。另一實施例中，使用測試點組413測試，則控制電路418的多工輸出1驅動，而多工輸出2及多工輸出3都不驅動，舉例而言，當開關組412、414、416為NMOS組成的開關時，且測試模式訊號419為一邏輯高電壓，多工輸出1導通(即短路)，多工輸出2及多工輸出3不導通(即斷路)，則由電路結構可知，開關4121與4122短路，測試點4111與測試點4112短路連結于測試點4131。要說明的是，本發明利用測試模式訊號419來決定由何組測試點來測試，而值得說明的是測試模式訊號419不限定于邏輯高電壓，例如當開關訊號為PMOS時，測試模式訊號419即為低電壓。
參閱圖6，圖6為本發明另一實施例，多工器42包含連接墊組421用以連接至其他系統的接觸窗，連接墊組421包含多數個連接墊，在此為了簡化說明，僅以連接墊4211、4212、4213及4214作為說明。圖中多工控制電路61包括開關組611及測試點組612，在此為了便于說明也將僅以開關6111、6112、6113及6114以及測試點6121說明。在一實施例中控制訊號關閉開關組611，舉例而言，開關6111、6112、6113及6114導通，則連接墊4211、4212、4213及4214便藉由開關6111、6112、6113及6114導通，連接至測試點6121，最后將測試訊號輸入至測試點6121。在此需說明的是利用開關組以連接連接墊組與測試點是不受限的，將兩個連接墊或五個連接墊連接至一測試點也可，而要將幾個連接墊連接一起，這是取決于測試者對于產品質量的要求及測試的成本為考慮。而多工器則可以低溫多晶硅(Low TemperaturePoly-Silicon)制程來形成于基板上。
本技術領域中的普通技術人員應當認識到，以上的實施例僅是用來說明本發明，而并非用作為對本發明的限定，只要在本發明的實質精神范圍內，對以上所述實施例的變化、變型都將落在本發明權利要求書的范圍內。
權利要求
1.一種顯示器的測試系統，其特征在于包括一基板；數條訊號線，位于所述的基板上；一驅動電路，具有數個連接墊，分別電性連接至所述的數條訊號線；數個第一測試點，位于所述的基板上，電性連接至所述的數個連接墊；以及數個第一開關，電性連接所述的數個第一測試點以及分別電性連接所述的數個連接墊，其中所述的數個第一測試點的數目少于所述的數個連接墊的數目。
2.如權利要求1所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的數個第一開關為PMOS。
3.如權利要求1所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的數個第一開關為NMOS。
4.如權利要求1所述的顯示器的測試系統，其特征在于還包括數個第二測試點，位于所述的基板上，并分別電性連接所述的數個連接墊以及所述的數個第一開關。
5.如權利要求4所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的數個第二測試點的數目等于所述的數個連接墊的數目。
6.如權利要求4所述的顯示器的測試系統，其特征在于還包括數個第二開關，電性連接所述的數個第二測試點以及所述的數個連接墊。
7.如權利要求6所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的數個第二測試點的數目少于所述的數個連接墊的數目。
8.如權利要求1所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的數條訊號線包括數條第一訊號線、數條第二訊號線以及數條第三訊號線。
9.如權利要求8所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的驅動電路包括一多工器，用以將一測試訊號輸入至所述的數條第一訊號線、所述的數條第二訊號線或是所述的數條第三訊號線。
10.如權利要求8所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的數條第一訊號線是用以輸入紅色顯示訊號。
11.如權利要求8所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的數條第二訊號線是用以輸入綠色顯示訊號。
12.如權利要求8所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的數條第三訊號線是用以輸入藍色顯示訊號。
13.如權利要求9所述的顯示器的測試系統，其特征在于所述的多工器是以低溫多晶硅制程形成于基板上。
14.一種顯示器的測試方法，其特征在于包括提供一基板，基板上具有數條訊號線、一驅動電路、數個測試點以及數個開關，其中所述的驅動電路包括數個連接墊，所述的訊號線電性連接至所述的數個連接墊，所述的數個開關電性連接所述的數個連接墊及所述的數個測試點，而且所述的數個測試點的數目少于所述的數個連接墊的數目；輸入一測試訊號至所述的數個測試點；以及輸入一第一訊號至所述的數個開關以使所述的數個測試點和所述的數個連接墊之間形成斷路。
15.如權利要求14所述的顯示器的測試方法，其特征在于在所述的輸入一測試訊號的步驟前還包括輸入一第二訊號至所述的開關電路，以使所述的數個測試點和該數個連接墊之間形成短路。
16.如權利要求14所述的顯示器的測試方法，其特征在于所述的數條訊號線包括數條第一訊號線、數條第二訊號線以及數條第三訊號線，所述的驅動電路包括一多工器，所述的輸入一測試訊號的步驟包括通過所述的多工器輸入所述的測試訊號至所述的數條第一訊號線通過所述的多工器輸入所述的測試訊號至所述的數條第二訊號線；以及通過所述的多工器輸入所述的測試訊號至所述的數條第三訊號線。
17.如權利要求16所述的顯示器的測試方法，其特征在于所述的數條第一訊號線是用以輸入紅色顯示訊號。
18.如權利要求16所述的顯示器的測試方法，其特征在于所述的數條第二訊號線是用以輸入綠色顯示訊號。
19.如權利要求16所述的顯示器的測試方法，其特征在于所述的數條第三訊號線是用以輸入藍色顯示訊號。
全文摘要
一種顯示器的測試系統與方法，包括一基板；數條訊號線，位于基板上；一驅動電路，具有數個連接墊，分別電性連接至數條訊號線；數個第一測試點，位于基板上，電性連接至數個連接墊；數個第一開關，電性連接數個第一測試點以及分別電性連接數個連接墊，其中數個第一測試點的數目少于數個連接墊的數目。本發明在基板上的驅動電路具有多數個連接墊分別地電性連接至多數條訊號線，且多數個第一開關，介于多數個第一測試點以及多數個連接墊之間，其中多數個第一測試點的數目少于多數個連接墊的數目。本發明提出了一種應用于顯示器的測試結構，其不但可以隨著需求得到精確的測試，且能夠解決現有技術上制造規格困難的問題。
文檔編號G01R31/00GK1667423SQ20051005439
公開日2005年9月14日 申請日期2005年3月8日 優先權日2005年3月8日
發明者陳昶佑, 謝冠云, 尤建盛, 陳宜屏 申請人:友達光電股份有限公司