專利名稱：探棒同步化校正模塊以及探棒同步化校正方法
技術領域：
本發明是有關于一種校正模塊與方法，且特別是有關于一種探棒同步化校正模塊與方法。
背景技術：
目前大多以主動式探棒來量測高頻電路中的高頻信號，并通過一探針而將主動式探棒耦接至待量測的信號輸出端，以使信號經由主動式探棒而傳遞至一示波器，進而使示波器顯示此高頻信號的波形。
在量測信號的過程中，如欲進行信號之間的時序比較，則需將兩支探棒分別耦接至兩個待量測的信號輸出端，以于示波器上分別顯示出兩個信號波形。然而，若用以量測信號的兩支探棒異步傳遞信號，則會造成量測誤差，導致示波器所顯示的波形時序失真。
發明內容本發明的目的在于提供一種探棒同步化校正模塊及探棒同步化校正方法，以在多個探棒之間進行同步化校正，進而降低信號量測的時序誤差。
本發明提出一種探棒同步化校正模塊，其適于對多個探棒進行同步化校正。此探棒同步化校正模塊主要由示波器及校正治具所構成，其中示波器用以耦接至各個探棒的一端，以接收并顯示各個探棒所量測到的信號波形，而校正治具具有一信號接腳以及多個探棒接腳，且這些探棒接腳的長度相同，而這些探棒接腳則用以分別耦接至這些探棒的另一端。
在本發明的實施例中，上述的校正治具的探棒接腳例如是與信號接腳一體成型。而且，在一實施例中，校正治具的相鄰的探棒接腳之間的夾角例如是與信號接腳及其相鄰的探棒接腳之間的夾角相同，此夾角例如是120度。換言之，此校正治具例如是具有兩支探棒接腳與一支信號接腳。
在本發明的實施例中，上述的校正治具的材質可以是高密度金屬材質，其例如是銅、鎳、銀或鋁。
本發明提出一種探棒同步化校正方法，其用以校正多個探棒間的同步化。此方法先提供上述的探棒同步化校正模塊，接著通過此校正治具的信號接腳而輸入信號，再將這些探棒分別耦接于示波器與校正治具的探棒接腳之間。此時，信號則經由這些探棒接腳而傳遞至這些探棒，進而在示波器上顯示各探棒所量測到的信號波形。之后，依據這些信號波形而通過示波器調整這些探棒至少其中之一的延遲時間，以使各探棒同步化。
在本發明的實施例中，在將這些探棒分別耦接至這些探棒接腳之前，更包括分別校正這些探棒，以提高這些探棒的量測準確度。
在本發明的實施例中，通過校正治具的信號接腳而輸入信號的方法包括將校正治具的信號接腳耦接至一信號輸出端，而在一實施例中，此信號輸出端例如是一高頻信號輸出端。
相較于現有技術，本發明將單一信號同步傳遞至多個探棒，因此量測者可依據示波器所顯示的信號波形來調整這些探棒的延遲時間，而使這些探棒同步化，進而提高探棒的量測準確度。
圖1為本發明探棒同步化校正模塊的示意圖。
圖2為本發明探棒同步化校正方法的步驟流程圖。
具體實施方式圖1為本發明探棒同步化校正模塊的示意圖。請參照圖1，探棒同步化校正模塊100用以對多個探棒102進行同步化校正，而探棒同步化校正模塊100主要由示波器110與校正治具120所構成。其中，示波器110用以接收各個探棒102所量測到的信號，并依據這些信號而顯示出信號波形。
請繼續參照圖1，校正治具120具有一信號接腳122以及多個探棒接腳124，而待校正的探棒102即是耦接至示波器110與這些探棒接腳124之間。特別的是，這些探棒接腳124例如是與信號接腳122一體成型，以避免信號在校正治具120內傳遞時，因阻抗不匹配而產生信號反射等問題。在一實施例中，校正治具120的材質例如是高密度的金屬材料，以便于傳遞高頻信號。舉例來說，校正治具120例如是由銅、鎳、銀或鋁等高頻寬的金屬材料所構成。
這些探棒接腳124的長度均相同，且其例如是1公分，信號接腳122的長度則例如是2.5公分。而且，兩相鄰的探棒接腳124之間所夾的角度θ1例如是與信號接腳122及其相鄰的探棒接腳124所夾的角度θ2相同。因此，當校正治具120的信號接腳122由一信號輸出端(其例如是電路板130上的某一電子元件132)接收到信號之后，這些探棒接腳124分別將信號同步傳遞至其所耦接的探棒102。換言之，每個探棒102同時接收到校正治具120所傳遞的信號。
在量測過程中，一般使用兩支探棒102來進行量測，因此本實施例僅以使用兩支探棒102進行量測的情況為例作說明。也就是說，校正治具120例如是具有兩支探棒接腳124，且這兩支探棒接腳124之間的夾角θ1例如是120度，而每一支探棒接腳124與信號接腳122之間的夾角θ2也等于120度。然而，本發明并不限定校正治具120的探棒接腳124的數量，可自行依據欲同時校正的探棒數量來決定探棒接腳124的數量，并依據探棒接腳124的數量來調整夾角θ1與夾角θ2。
由上述可知，當這些探棒102同步傳遞信號時，示波器110顯示多個同步的信號波形。反之，當這些探棒102未同步傳遞信號時，則示波器110所顯示的這些信號波形之間具有一時序差。此時，可通過示波器110來調整各個探棒102傳遞信號的時序，以使各個探棒102同步傳遞信號。以下將舉實施例說明本發明探棒同步化校正方法，但其并非用以限定本發明。
圖2為本發明的探棒同步化校正方法的步驟流程圖。請參照圖2，在進行探棒的同步化校正之前，可以先分別對各個探棒進行校正，如步驟S200所述。舉例來說，在步驟S200中例如是對各個探棒的頻寬進行校正，以使其與欲量測的信號的頻寬相符。
在對各個探棒校正完畢之后，即可開始探棒之間的同步化校正。請繼續參照圖2，首先提供一探棒同步化校正模塊，如步驟S202所述。其中，步驟S202所提供的探棒同步化校正模塊例如是圖1所示的探棒同步化校正模塊100。
請同時參照圖1及圖2，接著進行步驟S204，通過校正治具120的信號接腳122而輸入信號，并將欲進行同步化校正的探棒102分別耦接至示波器110與校正治具120的探棒接腳124之間，而使探棒102與探棒接腳124一對一地耦接。其中，輸入信號的方法例如是將校正治具120的信號接腳122耦接至一信號輸出端，且其例如是耦接至一高頻信號輸出端。此時，信號經由探棒接腳124而傳遞至各個探棒102，再經由探棒102傳遞至示波器110，進而在示波器110上顯示各個探棒102所量測到的信號波形。在步驟S204中還可以將示波器110的時間區間開到最大，以方便觀察各個探棒102所量測到的信號波形。
承上所述，當示波器110所顯示的信號波形不同步時，則進行步驟S206，以通過示波器110調整某支探棒102的延遲時間，進而使這些探棒102能夠同步傳遞信號。較詳細地來說，步驟S206例如是增加信號傳遞速度較快的探棒的延遲時間，或是減少信號傳遞速度較慢的探棒的延遲時間。此外，若示波器110所顯示的信號波形為同步的信號波形時，則結束此同步化校正。
綜上所述，由于本發明將單一信號同步傳遞至多個探棒，因此量測者可依據示波器所顯示的信號波形來判斷這些探棒是否同步傳遞信號。當這些探棒并未同步傳遞信號時，則可通過調整這些探棒的延遲時間，而使這些探棒同步化。由此可知，使用本發明的探棒同步化校正模塊可精準地對探棒進行同步化校正，以提高探棒的量測準確度，進而降低量測誤差。
而且，本發明可應用在各種探棒的同步化校正過程中，特別是應用在用來量測高頻信號的主動式探棒的同步化校正，以使主動式探棒可準確地量測到各個高頻信號，以便于操作者比較這些高頻信號的時序。
此外，本發明的校正治具亦具有制作簡單、成本低、攜帶方便、拆裝容易且適于校正各種探棒的優點。
權利要求
1.一種探棒同步化校正模塊，適于校正多個探棒間的同步化，該探棒同步化校正模塊包括一示波器，適于耦接至各該探棒的一端，以接收并顯示各該探棒所量測到的信號波形；以及一校正治具，具有一信號接腳以及多個探棒接腳，其中這些探棒接腳的長度相同，且這些探棒接腳適于分別耦接至這些探棒的另一端。
2.根據權利要求1所述的探棒同步化校正模塊，其特征在于該校正治具的該信號接腳與這些探棒接腳一體成型。
3.根據權利要求1所述的探棒同步化校正模塊，其特征在于該校正治具的相鄰的這些探棒接腳之間夾一角度，且該信號接腳及其相鄰的這些探棒接腳之間所夾的角度等于該角度。
4.根據權利要求3所述的探棒同步化校正模塊，其特征在于該角度為120度。
5.根據權利要求1所述的探棒同步化校正模塊，其特征在于該校正治具的材質為一高密度金屬材料。
6.根據權利要求5所述的探棒同步化校正模塊，其特征在于該高密度金屬材料包括銅、鎳、銀或鋁。
7.一種探棒同步化校正方法，適于校正多個探棒間的同步化，該探棒同步化校正方法包括提供一探棒同步化校正模塊，該探棒同步化校正模塊包括一示波器以及一校正治具，該校正治具具有一信號接腳以及多個探棒接腳，且各該探棒接腳的長度相同；通過該校正治具的信號接腳而輸入一信號，并將這些探棒分別耦接至該示波器與這些探棒接腳其中的一間，該信號則經由這些探棒接腳而傳遞至這些探棒，而在該示波器上顯示各該探棒所量測到的一信號波形；以及依據這些信號波形而通過該示波器調整這些探棒至少其中之一的延遲時間，以使各該探棒同步化。
8.根據權利要求7所述的探棒同步化校正方法，其特征在于在將這些探棒分別耦接至這些探棒接腳之前，更包括分別校正這些探棒。
9.根據權利要求7所述的探棒同步化校正方法，其特征在于通過該信號接腳而輸入該信號的方法包括將該校正治具的該信號接腳耦接至一信號輸出端。
10.根據權利要求9所述的探棒同步化校正方法，其特征在于該信號輸出端包括一高頻信號輸出端。
全文摘要
一種探棒同步化校正模塊及方法，此探棒同步化校正模塊適于校正多個探棒的同步化，且其主要由示波器及校正治具所構成。其中，示波器用以顯示各個探棒所量測到的信號波形，而校正治具具有一信號接腳以及多個探棒接腳，且這些探棒接腳的長度相同。在此，欲進行校正的探棒則分別耦接于示波器與這些探棒接腳之間。由于探棒接腳的長度相同，因此經由信號接腳所輸入的信號同步傳遞至探棒，所以當示波器上所顯示的信號波形不同步時，即通過示波器來調整探棒的延遲時間，以使各個探棒同步化，進而提高探棒的量測準確度。
文檔編號G01R1/067GK1916642SQ20051003661
公開日2007年2月21日 申請日期2005年8月19日 優先權日2005年8月19日
發明者吳明斌 申請人:佛山市順德區順達電腦廠有限公司, 神達電腦股份有限公司