測試裝置及其設置方法

專利名稱：測試裝置及其設置方法
技術領域：
本發明涉及一種測試裝置及其設置方法。特定來說，本發明涉及一種測試電氣元件的測試裝置，及設置該測試裝置中所包括的信號輸入-輸出單元的設置方法。另外，本申請與以下日本專利申請有關，其內容并入此處作為參考。
2003年3月19日提交的日本專利申請2003-074898號。
背景技術：
現有的測試裝置指示測試控制單元響應測試項目從磁盤設備中讀出設置條件，并將該些設置條件發送給連接在電氣元件的通道以便執行設置。盡管這種測試裝置重復測試相同類型的電氣元件，但是其每次測試都要從磁盤設備中讀出設置條件，并經由系統總線將該設置條件發送給通道，這樣，測試裝置需要花費大量時間從磁盤設備中讀出數據以及發送數據。
因此，為了減少測試時間，已知一種測試裝置包括一個用于分析來自上述測試控制單元的指令并設置一個通道條件的指令分析單元，例如，在日本專利申請早期(laid-open)公開號1995-218602(專利文獻1)中。該現有技術所揭示的測試裝置在測試之前將磁盤設備的設置條件經由系統總線發送并存儲到指令分析單元中的存儲器中。并且所述測試控制單元經由系統總線將設置條件發送到指令分析單元，以便向通道發送和設置條件。
然而，當設置連接到一個指令分析單元的通道時，專利文獻1中揭示的測試裝置只能將相同的設置條件發送到多個通道，而不能將不同的設置條件發送到這些通道。另外，專利文獻1中揭示的測試裝置不能夠響應測試項目來設置或改變條件數據的數量。
因此，本發明的一個目的是提供一種測試裝置及其設置方法，其能夠克服上述現有技術所具有的缺陷。通過本發明獨立權利要求描述的組合可以達到上述及其它目的。相關權利要求進一步定義了本發明的優點和示例組合。

發明內容
根據本發明的第一方面，一種測試電氣元件的測試裝置包括多個信號輸入-輸出單元，其響應該電氣元件中所包括的多個端子中的每一個輸入和/或輸出測試信號；一個通道選擇存儲器，其存儲多條通道選擇信息，該信息指示每個信號輸入-輸出單元根據設置條件是否應該執行設置通道；一個設置條件存儲器，其根據信號輸入-輸出單元存儲設置條件；以及一個控制構件，當接收到設置指令以設置信號輸入-輸出單元的設置條件時，其根據設置指令檢索并向信號輸入-輸出單元提供存儲在設置條件存儲器中的設置條件和存儲在通道選擇存儲器中的通道選擇信息，其中當至少一個信號輸入-輸出單元被控制構件所提供的通道選擇信息選中時，則根據從控制構件提供的設置條件設置此一信號輸入-輸出單元。
所述設置條件存儲器可以相應的方式存儲信號輸入-輸出單元的設置條件和通道選擇存儲器的地址，且該控制構件可以包括一個設置條件檢索單元，其從設置條件存儲器中檢索通道選擇存儲器的設置條件和地址；一個選擇信息檢索單元，其根據設置條件檢索單元檢索到的通道選擇存儲器的地址從通道選擇存儲器中檢索通道選擇信息；以及一個設置條件提供單元，其向信號輸入-輸出單元提供設置條件檢索單元檢索到的設置條件和選擇信息檢索單元檢索到的通道選擇信息。
設置條件檢索單元可以響應每一條設置數據從設置條件存儲器中檢索包括通道選擇存儲器的多條設置數據和地址的設置條件；選擇信息檢索單元可以根據設置條件檢索單元檢索到的通道來選擇存儲器的地址，從通道選擇存儲器中檢索多條通道選擇信息；并且設置條件提供單元可以向信號輸入-輸出單元提供由設置條件檢索單元檢索到的多條設置數據和由選擇信息檢索單元檢索到的多條通道選擇信息。
設置條件存儲器可以進一步以相應的方式存儲設置條件存儲器的地址和大小，并且設置條件檢索單元可以從設置條件存儲器中檢索到設置條件存儲器的地址和大小，以及與從檢索到的設置條件存儲器的地址檢索到的大小所指示的數量相同的通道選擇存儲器的多條設置數據和地址。
通道選擇存儲器可以存儲通道選擇信息，以使響應信號輸入-輸出單元執行設置保持標志“1”，而響應信號輸入-輸出單元不執行設置保持標志“0”，且當選擇信息檢索單元檢索到的通道選擇信息中所保持的標志的邏輯總和為“0”時，設置條件提供單元可以不向信號輸入-輸出單元提供設置條件檢索單元檢索到的條件設置。
測試裝置可以進一步包括多個測試模塊，該些模塊中的每個都包括多個信號輸入-輸出單元、一個通道選擇存儲器、一個設置條件存儲器、一個設置條件檢索單元、一個選擇信息檢索單元以及一個設置條件提供單元，以及一個測試處理器，將設置指令提供給測試模塊以設置信號輸入-輸出單元的設置條件，其中測試模塊中所分別包括的設置條件存儲器可以在同一個地址存儲不同的設置條件，設置條件檢索單元可以根據測試處理器提供的設置指令所包括的設置條件存儲器的地址，分別從設置條件存儲器中檢索不同的設置條件，并且設置條件提供單元可以分別向信號輸入-輸出單元提供設置條件檢索單元檢索到的設置條件。
根據本發明的第二方面，設置包括在測試裝置中的至少一個信號輸入-輸出單元的設置條件的方法，其中該信號輸入-輸出單元響應電氣元件中所包括的多個端子中的每一個輸入和/或輸出測試信號，該方法包括以下步驟從設置條件存儲器中檢索所述信號輸入-輸出單元的設置條件；從通道選擇存儲器中檢索指示每個信號輸入-輸出單元是否應該根據設置條件來執行設置通道選擇信息；向信號輸入-輸出單元提供從設置條件存儲器中檢索到的設置條件以及從所述通道選擇存儲器中檢索的通道選擇信息；以及當信號輸入-輸出單元被上文提供的通道選擇信息選中時，根據提供的設置條件設置至少一個信號輸入-輸出單元。
本發明的摘要不必描述本發明的所有必要特征。本發明還可以是上述特征的子組合。本發明的上述及其他特征和優點結合下面的附圖和實施例會更加顯而易見。


圖1所示為根據本發明實施例的測試裝置100的結構示意圖。
圖2所示為設置條件存儲器118和通道選擇存儲器116數據配置的示意圖。
圖3所示為存儲在通道選擇存儲器116中的選擇位陣列的示意圖。
圖4所示為與測試處理器102所產生的設置條件存儲器118的共用條件記錄區相關的寫指令的數據配置示意圖。
具體實施例方式
將根據較佳實施例來描述本發明，其并非是限制本發明的范圍，而是本發明的示例。本發明實施例中所描述的所有特征及其組合不是本發明的必要要素。
請參閱圖1所示，為根據本發明實施例的測試裝置100的結構示意圖。測試裝置100向電氣元件輸入一個測試信號，并對該電氣元件的質量進行判斷以便測試該電氣元件。為了執行多種類型的測試，所述測試裝置100可以響應每個測試條件改變波形發生器或波形比較器的設置。因此，本發明中的測試裝置100的一個目的是減少測試條件的設置時間。
測試裝置100包括一個測試處理器102，其產生一個用于設置指定設置條件的設置指令；和多個測試模塊104，其根據測試處理器102所生成的設置指令來設置設置條件。測試處理器102經由具有廣播功能的系統總線106向多個測試模塊提供設置指令。所述每個測試模塊104都包括多個信號輸入-輸出單元108，其響應所述電氣元件中所包括的多個端子中的每一個來輸入或輸出測試信號；一個通道選擇存儲器116，其存儲指示每個信號輸入-輸出單元108是否應當根據設置條件執行設置的多條通道選擇信息；一個設置條件存儲器118，其以相應的方式存儲信號輸入-輸出單元108的設置條件和通道選擇存儲器116的邏輯地址；以及一個控制電路120，其根據測試處理器102提供的設置指令檢索并向信號輸入-輸出單元108提供通道選擇信息和設置條件。作為該實施例中控制構件例子的控制電路120，當接收到上述設置指令以設置信號輸入-輸出單元108的設置條件時，根據設置指令檢索存儲在上述設置條件存儲器118中的設置條件和存儲在通道選擇存儲器116中的通道選擇信息，并經由內部總線109將設置條件和通道選擇信息提供給信號輸入-輸出單元108。
每個信號輸入-輸出單元108都包括一個波形發生器110，其產生輸入到上述電氣元件的測試信號；一個波形比較器112，其對響應于輸入測試信號而從電氣元件輸出的信號與一個預期的信號進行比較；以及一個DC測量設備114，其測量施加在電氣元件上的DC電壓或者電氣元件輸出的DC電壓。另外，控制電路120包括一個設置條件檢索單元122，用于從設置條件存儲器118中檢索設置條件；一個選擇信息檢索單元124，用于從通道選擇存儲器116中檢索通道選擇信息；以及一個設置條件提供單元126，用于向信號輸入一輸出單元108提供設置條件檢索單元122檢索到的設置條件和選擇信息檢索單元124檢索到的通道選擇信息。
測試處理器102向測試模塊104提供設置指令，以便設置信號輸入-輸出單元108的設置條件。設置條件檢索單元122從測試處理器102接收包括設置條件存儲器118的邏輯地址的設置指令。當設置條件檢索單元122接收到設置指令時，其根據測試處理器102提供的設置條件存儲器118的邏輯地址從設置條件存儲器118中檢索通道選擇存儲器116的設置條件和邏輯地址。并且選擇信息檢索單元124根據設置條件檢索單元122所檢索到的通道選擇存儲器116的邏輯地址從通道選擇存儲器116中檢索通道選擇信息。設置條件提供單元126向信號輸入-輸出單元108提供設置條件檢索單元122所檢索到的設置條件和選擇信息檢索單元124所檢索到的通道選擇信息。
每個信號輸入-輸出單元108都判斷其是否被設置條件提供單元126所提供的通道選擇信息選中。并且，如果其被通道選擇信息選中，則每個信號輸入-輸出單元108根據設置條件提供單元126所提供的設置條件進行設置。特定來說，設置電源電壓、測試模式、測試環境等。
請參閱圖2所示，為設置條件存儲器118和通道選擇存儲器116的數據配置例子。設置條件存儲器118包括一個條件組分配區{b1，b2，b3，b4…}，其用于確定設置條件的存儲位置；一個共用條件記錄區{b21，b22，b23，b24…}，其用于響應測試模塊104存儲共用設置條件；以及一個唯一的條件記錄區{b41，b42，b43，b44…}，其用于響應測試模塊104存儲不同的設置條件。
設置條件存儲器118相應地在條件組分配區存儲設置條件存儲器118的邏輯地址和數據大小。為每個設置條件準備邏輯地址和數據大小的組合體。特定來說，設置條件存儲器118相應地存儲“條件1-邏輯地址”和“條件1-數據大小”，以及“條件2-邏輯地址”和“條件2-數據大小”。
另外，設置條件存儲器118將“實際地址”和“實際數據”相應存儲在共用條件記錄區。“實際地址”包括通道選擇存儲器116的邏輯地址和指定給信號輸入-輸出單元108中設置位置的設置地址，“實際數據”是指示設置條件的設置數據。例如，指定給信號輸入-輸出單元108中設置位置的設置地址為DC測量設備的識別信息，并且指示設置條件的設置數據是施加的電壓。分別包括在測試模塊104中的多個設置條件存儲器118可以存儲位于與“實際地址”和“實際數據”相同邏輯地址的區域中的共用設置條件。
設置條件存儲器118將“用于校正的實際地址”和“用于校正的實際數據”相應存儲在唯一的條件記錄區。“用于校正的實際地址”包括通道選擇存儲器116的邏輯地址和指定給信號輸入-輸出單元108中設置位置的設置地址，而“用于校正的實際數據”為指示設置條件的設置數據。分別包括在測試模塊104中的多個設置條件存儲器118響應包括在測試模塊104中的信號輸入-輸出單元108的每個特性，在具有與“用于校正的實際地址”和“用于校正的實際數據”相同邏輯地址的區域中存儲不同的設置條件。
設置條件檢索單元122從設置條件存儲器118檢索設置條件存儲器118的邏輯地址和數據大小。例如，其檢索“條件1-邏輯地址”和“條件1-數據大小”。并且設置條件檢索單元122為每個設置數據檢索包括來自設置條件存儲器118的設置數據和通道選擇存儲器116的邏輯地址的設置條件。特定來說，設置條件檢索單元122檢索到的“實際地址”和“實際數據”與從檢索到的設置條件存儲器118的邏輯地址所檢索到的數據大小指示的數量相同。例如，如果“條件1-數據大小”為“4”，則其檢索“實際地址(1-1)”、“實際數據(1-1)”、“實際地址(1-2)”和“實際數據(1-2)”。
然后，選擇信息檢索單元124根據分別包括在設置條件檢索單元122所檢索到的實際地址中的通道選擇存儲器116的邏輯地址，從通道選擇存儲器116中檢索多條通道選擇信息。例如，如果包括在“實際地址(1-1)”中的通道選擇存儲器116的邏輯地址為“a1”，則其檢索作為通道選擇信息的“選擇位陣列1”，并且如果包括在“實際地址(1-2)”中的通道選擇存儲器116的邏輯地址為“a2”，則其檢索作為通道選擇信息的“選擇位陣列2”。
然后，所述設置條件提供單元126向信號輸入-輸出單元108提供設置條件檢索單元122所檢索到的多條設置數據和選擇信息檢索單元124所檢索到的多條通道選擇信息。例如，其向上述信號輸入-輸出單元108提供了“實際地址(1-1)”、“實際數據(1-1)”、“選擇位陣列1”與“實際地址(1-2)”、“實際數據(1-2)”和“選擇位陣列2”。當上述任意一個信號輸入-輸出單元108被“選擇位陣列1”選中時，其根據“實際數據(1-1)”來設置包括在“實際地址(1-1)”中的設置地址所指定的設置位置。
另外，多個設置條件檢索單元122中的每一個可以根據測試處理器102提供的設置指令中所包括的設置條件存儲器118的邏輯地址，分別從多個設置條件存儲器118中檢索作為多個不同設置條件的“用于校正的實際地址”和“用于校正的實際數據”。并且設置條件提供單元126可以向信號輸入-輸出單元108分別提供由每個設置條件檢索單元122所檢索的作為不同設置條件的“用于校正的實際地址”和“用于校正的實際數據”。如上所述，由于設置條件存儲器118可以為每個信號輸入-輸出單元108存儲不同的設置條件，因此應用該存儲器的效率可以得到改善。
請參閱圖3所示，為存儲在通道選擇存儲器116中的選擇位陣列例子。通道選擇存儲器116以相應的方式存儲指示是否應當設置信號輸入-輸出單元108的信息。例如，通道選擇存儲器116存儲通道選擇信息，從而響應信號輸入-輸出單元108執行設置保持標志“1”，而響應信號輸入-輸出單元108不執行設置而保持標志“0”。
設置條件提供單元126計算選擇信息檢索單元124檢索到的通道選擇信息所保持的標記的邏輯總和。并且，如果計算出的邏輯總和為“1”，則設置條件提供單元126向信號輸入-輸出單元108提供設置條件和通道選擇信息。同時，如果計算出的邏輯總和為“0”，則設置條件提供單元126不會向信號輸入-輸出單元108提供設置條件和通道選擇信息。這樣，由于設置條件提供單元126預先舍棄了設置條件，該些設置條件不會被信號輸入-輸出單元108而舍棄，通過內部總線109發送的數據數量可以縮減。
請參閱圖4所示，為測試處理器102所產生的關于設置條件存儲器118的共用條件記錄區的寫指令的數據配置。在開始測試電氣元件之前，測試處理器102響應測試模塊104的一個設置條件存儲器118生成一個寫指令，并將存儲在磁盤設備(例如硬盤)中的設置條件寫入每個測試模塊104中所包括的設置條件存儲器118的共用條件記錄區。
測試處理器102，如圖4(a)所示，經由設置條件檢索單元122向設置條件存儲器118提供寫指令，其中寫指令包括一地址區，其用于保持測試模塊104的物理地址和設置條件存儲器118的邏輯地址；以及一資料區，其用于保持包括通道選擇存儲器116的邏輯地址和信號輸入-輸出單元108中設置位置的實際地址。另外，測試處理器102，如圖4(b)所示，經由設置條件檢索單元122向設置條件存儲器118提供寫指令，其中寫指令包括用于保持測試模塊104物理地址和設置條件存儲器118邏輯地址的地址區，以及用于保持實際數據(其作為指示設置條件的設置數據)的數據區。設置條件存儲器118在圖4(a)所示地址區指定的測試模塊104之設置條件存儲器118的邏輯地址區域保持“實際地址”，其包括通道選擇存儲器116的邏輯地址和信號輸入-輸出單元108中設置位置的設置地址。另外，設置條件存儲器118在圖4(b)所示地址區指定的測試模塊104之設置條件存儲器118的邏輯地址區保持“實際數據”，其為指示設置條件的設置數據。
如上所述，由于所述設置條件預先存儲在分別包括在測試模塊104中的設置條件存儲器118中，所以可以減少測試處理器102產生寫指令的時間消耗以及設置條件的寫入在系統總線106中的傳送時間。因此，以縮短整個測試時間可。
另外，雖然是從設置條件存儲器118向信號輸入-輸出單元108提供設置條件以設置信號輸入-輸出單元108，但是測試處理器102可以執行其他的存取，例如對測試結果的分析。因此，可以改善所述并行測試程序，并且可以縮短整個測試時間。
從上文的描述可易于了解，根據本發明可以縮短測試時間并且可以為每個通道設置不同的設置條件。
權利要求
1.一種測試電氣元件的測試裝置，其包括多個信號輸入-輸出單元，其響應所述電氣元件中所包括的多個端子中的每一個來輸入和/或輸出測試信號；一個通道選擇存儲器，其存儲指示每個所述信號輸入-輸出單元是否應當根據設置條件執行設置的多條頻道選擇信息；一個設置條件存儲器，其存儲關于所述信號輸入-輸出單元的所述設置條件；以及一個控制構件，當接收到所述設置指令以設置所述信號輸入-輸出單元的設置指令時，其根據設置指令檢索并向所述信號輸入-輸出單元提供存儲在所述設置條件存儲器中的設置條件和存儲在所述通道選擇存儲器中的通道選擇信息，其中當至少一個所述信號輸入-輸出單元被所述控制構件提供的通道選擇信息選中時，則根據從所述控制構件提供的所述設置條件設置所述信號輸入-輸出單元中所述的一個。
2.根據權利要求1所述的測試裝置，其中所述設置條件存儲器以相應的方式存儲所述信號輸入-輸出單元的所述設置條件和所述通道選擇存儲器的地址，且所述控制構件包括一個設置條件檢索單元，其從所述設置條件存儲器檢索所述設置條件以及所述通道選擇存儲器的所述地址；一個選擇信息檢索單元，其根據所述設置條件檢索單元所檢索的所述通道選擇存儲器的所述地址，從所述通道選擇存儲器中檢索所述通道選擇信息；以及一個設置條件提供單元，其向所述信號輸入-輸出單元提供所述設置條件檢索單元檢索到的所述設置條件和所述選擇信息檢索單元檢索到的所述通道選擇信息。
3.根據權利要求2所述的測試裝置，其中所述設置條件檢索單元響應所述每條設置數據從所述設置條件存儲器中檢索所述設置條件，該設置條件包括所述通道選擇存儲器的多條設置數據和所述地址，所述選擇信息檢索單元根據所述設置條件檢索單元檢索到的所述通道選擇存儲器的所述地址，從所述通道選擇存儲器中檢索多條所述通道選擇信息；且所述設置條件提供單元向所述信號輸入-輸出單元提供由所述設置條件檢索單元檢索到的所述多條設置數據以及由所述選擇信息檢索單元檢索到的所述多條通道選擇信息。
4.根據權利要求3所述的測試裝置，其中所述設置條件存儲器進一步以相應的方式存儲所述設置條件存儲器的地址和大小，并且所述設置條件檢索單元從所述設置條件存儲器中檢索所述設置條件存儲器的所述地址和大小，以及與從所述檢索到的所述設置條件存儲器的地址檢索到的大小所指示的數量相同的所述通道選擇存儲器的所述多條設置數據和所述地址。
5.根據權利要求2所述的測試裝置，其中所述通道選擇存儲器存儲所述通道選擇信息，使其響應所述信號輸入-輸出單元執行設置而保持標記“1”，而響應所述信號輸入-輸出單元不執行設置保持標記“0”，并且當所述選擇信息檢索單元檢索到的所述通道選擇信息中所保持的所述標記的邏輯總和為“0”時，所述設置條件提供單元不向所述信號輸入-輸出單元提供所述設置條件檢索單元所檢索到的所述條件設置。
6.根據權利要求2所述的測試裝置，其進一步包括多個測試模塊，每個測試模塊包括所述多個信號輸入-輸出單元；所述通道選擇存儲器；所述設置條件存儲器；所述設置條件檢索單元；所述選擇信息檢索單元；和所述設置條件提供單元，以及一個測試處理器，其向所述測試模塊提供所述設置指令，以設置所述信號輸入-輸出單元的所述設置條件，其中分別包括在所述測試模塊中的所述設置條件存儲器在具有相同地址的區域存儲不同的設置條件，所述設置條件檢索單元根據從所述測試處理器提供的所述設置指令所包括的所述設置條件存儲器的所述地址分別從所述設置條件存儲器中檢索所述不同設置條件，且所述設置條件提供單元向所述信號輸入-輸出單元分別提供由所述設置條件檢索單元檢索到的設置條件。
7.一種設置包括在測試裝置中的至少一個信號輸入-輸出單元的設置條件的方法，其中該信號輸入-輸出單元響應電氣元件中所包括的多個端子中的每一個輸入和/或輸出測試信號，該方法包括以下步驟從設置條件存儲器中檢索所述信號輸入-輸出單元的設置條件；從通道選擇存儲器中檢索通道選擇信息，其指示每個所述信號輸入-輸出單元是否應當根據所述設置條件執行設置；向所述信號輸入-輸出單元提供從所述設置條件存儲器中檢索到的設置條件以及從所述通道選擇存儲器中檢索到的通道選擇信息；以及當所述信號輸入-輸出單元被提供的通道選擇信息選中時，根據所述提供的設置條件設置至少一個信號輸入-輸出單元。
全文摘要
一種測試電氣元件的測試裝置，包括多個信號輸入－輸出單元，其響應該電氣元件中所包括的多個端子的每一個來輸入和/或輸出測試信號；一個通道選擇存儲器，其存儲指示每個信號輸入－輸出單元是否應當根據設置條件執行設置的多條通道選擇信息；一個設置條件存儲器，其存儲關于信號輸入－輸出單元的設置條件；以及一個控制構件；當接收到設置指令以設置信號輸入－輸出單元的設置條件時；其根據設置指令檢索并向信號輸入－輸出單元提供存儲在設置條件存儲器中的設置條件以及存儲在通道選擇存儲器中的通道選擇信息，其中當至少一個信號輸入－輸出單元被從控制構件提供的通道選擇信息選中時，則根據從控制構件提供的設置條件設置此一信號輸入－輸出單元。
文檔編號G01R31/28GK1761885SQ20048000721
公開日2006年4月19日 申請日期2004年3月16日 優先權日2003年3月19日
發明者矢口剛史 申請人:愛德萬測試株式會社