專(zhuān)利名稱：彎曲測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型關(guān)于一種彎曲測(cè)試裝置，特別是關(guān)于一種光盤(pán)片彎曲測(cè)試裝置，通過(guò)彎曲試驗(yàn)來(lái)檢測(cè)光盤(pán)片質(zhì)量的好壞。
背景技術(shù)：
隨著科技的進(jìn)步，光盤(pán)片如CD(Compact Disc)以及DVD(DigitalVersatile Disc)等的光學(xué)資料儲(chǔ)存媒體在市場(chǎng)上的需求量也與日俱增，因此光盤(pán)片品質(zhì)的好壞隨著也為消費(fèi)者購(gòu)買(mǎi)選擇時(shí)的重要的考慮因素。
已知的光盤(pán)片制作過(guò)程，包括母板制造、光盤(pán)片射出成型、電鍍反射層、保護(hù)膠形成以及合格率檢測(cè)等數(shù)個(gè)過(guò)程，就最后的合格率檢測(cè)過(guò)程來(lái)說(shuō)，其檢測(cè)范圍包括有光盤(pán)片是否有金屬刮痕、反射層電鍍是否均勻、保護(hù)膠是否完整黏著于光盤(pán)片上以及外觀是否有刮痕、裂痕、斑點(diǎn)或污點(diǎn)等等，由于光盤(pán)片的品質(zhì)好壞影響光學(xué)讀寫(xiě)設(shè)備讀寫(xiě)入資料的成功率，劣質(zhì)的光盤(pán)片(例如表面具有裂痕、具易脆性質(zhì)的光盤(pán)片等)在資料讀/寫(xiě)時(shí)會(huì)因光學(xué)讀寫(xiě)設(shè)備的高速旋轉(zhuǎn)而造成破片，更甚者，有可能因此而導(dǎo)致光學(xué)讀寫(xiě)設(shè)備的損壞。
造成劣質(zhì)的光盤(pán)片取決于許多因素，例如材質(zhì)選擇不良或人為操作疏失等，而已知對(duì)于檢測(cè)此類(lèi)材質(zhì)差或是具有裂痕的光盤(pán)片的方法，通常于生產(chǎn)制程線上采用隨機(jī)挑選光盤(pán)片利用徒手彎曲或是敲擊光盤(pán)片以進(jìn)行檢測(cè)，而由于非機(jī)械的檢測(cè)裝置，因此多少因?yàn)槿藶榈恼`差(例如每次使用的力道不同)而造成每次檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)不一致。
有鑒于此，如何能夠提供一讓檢測(cè)劣質(zhì)光盤(pán)片的步驟標(biāo)準(zhǔn)化的裝置，實(shí)乃為當(dāng)前光盤(pán)片檢測(cè)的重要課題之一。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于上述課題，本實(shí)用新型的目的為提供一種簡(jiǎn)便、且將檢測(cè)光盤(pán)片的質(zhì)量步驟標(biāo)準(zhǔn)化的彎曲測(cè)試裝置。該裝置可以取代人為的誤差的手工檢測(cè)。
為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)手段如下一種彎曲測(cè)試裝置，其測(cè)試一待測(cè)物，其特征是，包含一基座；一支撐元件，其具有一凸部與一支撐部，該支撐部立設(shè)于該基座上，該凸部連接于該支撐部，該待測(cè)物穿過(guò)該凸部而由該支撐部承接；以及一施力元件，其具有一定位部以及復(fù)數(shù)個(gè)壓掣部，該等壓掣部分別與該定位部的相對(duì)兩側(cè)連設(shè)，該定位部具有一開(kāi)口且該開(kāi)口相對(duì)該凸部而設(shè)，該凸部穿設(shè)過(guò)該開(kāi)口，俾使該等壓掣部觸接該待測(cè)物的一表面且壓掣該待測(cè)物彎曲。
承上所述，本實(shí)用新型的有益效果為該彎曲測(cè)試裝置利用一簡(jiǎn)單的機(jī)械結(jié)構(gòu)來(lái)檢測(cè)一待測(cè)物，其中操作者只需簡(jiǎn)單地將待測(cè)物(例如光盤(pán)片)套接于支撐元件上，利用支撐元件的凸部穿設(shè)過(guò)施力元件的開(kāi)口，將施力元件施壓于待測(cè)物上使其彎曲，通過(guò)彎曲測(cè)試來(lái)檢測(cè)出品質(zhì)不佳的待測(cè)物，同時(shí)由于簡(jiǎn)單的機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得操作者可簡(jiǎn)便地實(shí)施待測(cè)物檢測(cè)步驟，并達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)化待測(cè)物檢測(cè)步驟的目的。
圖1為一顯示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測(cè)試裝置的分解示意圖；圖2為一顯示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測(cè)試裝置與待測(cè)物組合的示意圖；
圖3為一顯示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的另一種彎曲測(cè)試裝置的組合示意圖；以及圖4A～4B為一顯示本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測(cè)試裝置的具體實(shí)施示意圖。
圖中符號(hào)說(shuō)明1彎曲測(cè)試裝置11 基座12 支撐元件121 支撐部122 凸部1221 凸部的一端13 施力元件131 定位部1311 開(kāi)口132 壓掣部14 定位元件141 容納部2待測(cè)物21 待測(cè)物的開(kāi)口22 待測(cè)物的表面具體實(shí)施方式
以下將參照相關(guān)附圖，說(shuō)明依本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測(cè)試裝置。
請(qǐng)參照?qǐng)D1所示，依本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測(cè)試裝置1，包含一基座11、一支撐元件12以及一施力元件13，彎曲測(cè)試裝置1用以測(cè)試一待測(cè)物2。其中，待測(cè)物2為一光盤(pán)片。
支撐元件12具有一凸部122與一支撐部121，凸部122的一端1221連接于支撐部121，支撐部121則立設(shè)于基座11上。
施力元件13具有一定位部131以及復(fù)數(shù)個(gè)壓掣部132，該等壓掣部132分別與定位部131的相對(duì)兩側(cè)連設(shè)，定位部131具有一開(kāi)口1311，開(kāi)口1311相對(duì)支撐元件12的凸部122而設(shè)。
如圖2所示，在本實(shí)施例中，于測(cè)試時(shí)，待測(cè)物2以其的一開(kāi)口21穿過(guò)支撐元件12的凸部122而由支撐部121承接，以讓支撐部121支撐此待測(cè)物2。
支撐元件12的凸部122穿設(shè)過(guò)定位部131的開(kāi)口1311，而使施力元件13的該等壓掣部132得以觸接待測(cè)物2的一表面22并壓掣而彎曲待測(cè)物2。
再請(qǐng)參照?qǐng)D3所示，在本實(shí)施例中，依本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例的彎曲測(cè)試裝置1，更包含一定位元件14，其凸設(shè)于施力元件13的定位部131，且定位元件14具有一容納部141，定位部131的開(kāi)口1311與定位元件14的容納部141相連通，而使穿設(shè)過(guò)開(kāi)口1311的凸部122得以容置于容納部141內(nèi)。在本實(shí)施例中，凸部122為一圓柱，定位元件14為一空心圓柱，于此，凸部122與定位元件14能相對(duì)地套接。
為使本實(shí)用新型的內(nèi)容更容易理解，以下將請(qǐng)參照?qǐng)D4A～4B，并舉一實(shí)例，以說(shuō)明利用本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測(cè)試裝置1來(lái)測(cè)試一待測(cè)物2的步驟，其利用簡(jiǎn)單的機(jī)械結(jié)構(gòu)將待測(cè)物2(例如光盤(pán)片)進(jìn)行彎曲測(cè)試，以檢測(cè)出品質(zhì)不佳(例如材質(zhì)差或是具有裂痕)的待測(cè)物2。
如上所述，本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測(cè)試裝置1所測(cè)試的待測(cè)物2為一光盤(pán)片，而在此一提的是，彎曲測(cè)試裝置1亦可針對(duì)其它待測(cè)物進(jìn)行彎曲測(cè)試，例如待測(cè)物2亦可為金屬、塑料或是混凝土的材料試片。
首先，如圖4A所示，先將待測(cè)物2穿過(guò)支撐元件12的凸部122，且由與凸部122連接的支撐部121承接以定位此待測(cè)物2，此時(shí)一部分的待測(cè)物2懸于支撐部121上。
接著，如圖4B所示，在彎曲測(cè)試進(jìn)行時(shí)，施力元件13的定位部131以其的定位元件14沿支撐元件12的凸部122套接，而使得施力元件13的該等壓掣部132相對(duì)面對(duì)待測(cè)物2的一表面22，施一外力使施力元件13的壓掣部132壓制于待測(cè)物2而使待測(cè)物2受一均勻力道而彎曲呈一角度。
最后，彎曲測(cè)試進(jìn)行后，將施力元件13提起，檢測(cè)施壓的后的待測(cè)物2是否因材質(zhì)太脆或是具有裂痕等因素以致發(fā)生破片現(xiàn)象，因而可將品質(zhì)不佳的待測(cè)物2(例如光盤(pán)片)檢驗(yàn)出而加以處理或報(bào)廢。
綜上所述，本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的彎曲測(cè)試裝置利用一簡(jiǎn)單的機(jī)械結(jié)構(gòu)，對(duì)待測(cè)物施壓后進(jìn)行彎曲測(cè)試，當(dāng)待測(cè)物的材質(zhì)不佳或是具有裂痕，此待測(cè)物將藉由此彎曲試驗(yàn)造成的破片現(xiàn)象而檢驗(yàn)出，更由于此彎曲測(cè)試裝置以簡(jiǎn)單的機(jī)械結(jié)構(gòu)來(lái)達(dá)到測(cè)試的目的，因此可將其應(yīng)用于光盤(pán)片生產(chǎn)線上的合格率檢測(cè)，以提供了一標(biāo)準(zhǔn)且簡(jiǎn)易的檢測(cè)步驟供光盤(pán)片生產(chǎn)制造線上的操作者使用。
以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本實(shí)用新型的精神與范疇，而對(duì)其進(jìn)行的等效修改或變更，均應(yīng)包含于所述的權(quán)利要求范圍中。
權(quán)利要求1.一種彎曲測(cè)試裝置，其測(cè)試一待測(cè)物，其特征是，包含一基座；一支撐元件，其具有一凸部與一支撐部，該支撐部立設(shè)于該基座上，該凸部連接于該支撐部，該待測(cè)物穿過(guò)該凸部而由該支撐部承接；以及一施力元件，其具有一定位部以及復(fù)數(shù)個(gè)壓掣部，該等壓掣部分別與該定位部的相對(duì)兩側(cè)連設(shè)，該定位部具有一開(kāi)口且該開(kāi)口相對(duì)該凸部而設(shè)，該凸部穿設(shè)過(guò)該開(kāi)口，俾使該等壓掣部觸接該待測(cè)物的一表面且壓掣該待測(cè)物彎曲。
2.如權(quán)利要求1所述的彎曲測(cè)試裝置，其特征是，更包含一定位元件，其凸設(shè)于該定位部，且該定位元件具有一容納部，該開(kāi)口與該容納部相連通而容置穿設(shè)過(guò)該開(kāi)口的凸部。
3.如權(quán)利要求1所述的彎曲測(cè)試裝置，其特征是，該凸部為一圓柱。
4.如權(quán)利要求2所述的彎曲測(cè)試裝置，其特征是，該定位元件為一空心圓柱，且該凸部與該定位元件相對(duì)套接。
5.如權(quán)利要求1所述的彎曲測(cè)試裝置，其特征是，該等壓掣部與該定位部的連接處轉(zhuǎn)折呈一角度。
6.如權(quán)利要求5所述的彎曲測(cè)試裝置，其特征是，該角度為一直角。
7.如權(quán)利要求1所述的彎曲測(cè)試裝置，其特征是，該待測(cè)物為一光盤(pán)片。
專(zhuān)利摘要一種彎曲測(cè)試裝置，其測(cè)試一待測(cè)物，且包含一基座、一支撐元件以及一施力元件。該支撐元件具有一凸部與一支撐部，支撐部立設(shè)于基座上，凸部連接于支撐部，待測(cè)物則穿過(guò)凸部而由支撐部承接；施力元件具有一定位部以及復(fù)數(shù)個(gè)壓掣部，壓掣部分別與定位部的相對(duì)兩側(cè)連設(shè)，定位部具有一開(kāi)口，且開(kāi)口相對(duì)凸部而設(shè)，凸部穿設(shè)過(guò)開(kāi)口，以使壓掣部觸接待測(cè)物的一表面進(jìn)而壓掣待測(cè)物以進(jìn)行彎曲測(cè)試。該裝置可簡(jiǎn)便地實(shí)施待測(cè)物檢測(cè)，達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)的目的，并以機(jī)械裝置取代手工檢測(cè)。
文檔編號(hào)G01N3/20GK2736754SQ20042010483
公開(kāi)日2005年10月26日 申請(qǐng)日期2004年9月23日 優(yōu)先權(quán)日2004年9月23日
發(fā)明者潘祥元 申請(qǐng)人:精碟科技股份有限公司