專利名稱：銀－氯化銀參比電極的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種銀—氯化銀參比電極。
背景技術：
傳統銀—氯化銀參比電極，是在銀金屬絲上覆蓋一層氯化銀，為了使銀絲上的氯化銀鍍層不被濃的氯化鉀溶液所溶解，必須在濃氯化鉀溶液中預先使氯化銀飽和，但由于氯化銀在氯化鉀溶液中的溶解度隨溫度升高而增加，在常溫下氯化銀飽和了的氯化鉀溶液在高溫下就不再飽和了，因此不適用于高溫場合使用。另外，由于氯化銀在氯化鉀溶液中的溶解度是隨著氯化鉀濃度的增加而增加，在濃氯化鉀溶液中，飽和了的氯化銀將隨著氯化鉀濃度的降低而析出，這一現象經常會發生在參比電極的液接界處，結果最終堵塞了液接界。再者若被測溶液中如含有硫離子、碘離子等，液接界中所析出的銀離子一方面會干擾被測溶液，另一方面難溶的銀化合物將沉積在液接界處加重了液接界的堵塞。
發明內容
本實用新型提供一種銀—氯化銀參比電極，它擴大了參比電極的使用溫度范圍，同時能防止電極管液接界處的堵塞，延長了電極的使用壽命。
本實用新型為解決上述技術問題，采用的技術方案如下一種銀—氯化銀參比電極，它的電極管中充盈有參比溶液，電極管的底部設有液接界，電極管的側面設有加液口，電極管中還設有一個下端開口的容量管，容量管中從下至上依次設有電極填充層，氯化銀粉層，銀粉層，電阻極小的金屬絲下端伸入銀粉層中，上端與電極引線相連接。
在本實用新型中，更優的技術方案為電極管的中下部伸入電極外管中，且與電極外管密封配合連接為一體，電極外管中充盈有參比溶液，電極外管底部設有外液接界；所述的金屬絲為鉑金屬絲。
采用上述方案后，參比電極中不存在氯化銀鍍層直接與氯化鉀溶液接觸，因此無論在低溫或高溫情況下均不會被氯化鉀溶液所溶解，因此參比電極不僅適用于低溫也可適用于高溫，使用溫度范圍可擴大到0-110度。同時由于氯化鉀溶液不再需要氯化銀飽和，溶液中不存在銀離子，也就防止了液接界的堵塞和對被測溶液的干擾。另外電極管伸在電極外管中，它們均設有一個液接界和參比溶液腔，采用正、負離子的擴散速度相差不大的中性鹽如硝酸鉀作外鹽橋溶液，減少了被測溶液對電極管中溶液的污染，同時減少了液接界堵塞和離子間的化學反應，提高了測量的精確度，并延長了使用壽命。將此結構形式的參比電極應用到PH電極上制成復合PH電極時發現對PH的精確測量有顯著的作用，特別適用于1、含有與鹽橋溶液成份起化學反應的被測量溶液PH值的測量；2、用于懸浮液、懸濁液、膠體溶液的PH值測量。
圖1為本實用新型的結構示意圖具體實施方式
根據圖1所示，本實用新型銀—氯化銀參比電極，它設有一個電極管1和電極外管2，它們內部充盈有氯化鉀參比溶液，電極管1的側面設有加液口3。電極管1和電極外管2的底部分別設有陶瓷材料制成的液接界4和外液接界5，允許介質的通過。電極管1變細的腰部以磨口與電極外管2密封連接成一個整體，這樣電極管1的液接界4就伸入在電極外管2的參比溶液中。電極管1內設有一個同心的玻璃容量管10。玻璃容量管10下端開口，管中從下至上依次設有電極填充層6，氯化銀粉層7，銀粉層8，壓緊層9。電極填充層6塞住容量管10的下端開口處，并允許介質的通過，壓緊層9使銀粉層8不能任意晃動泄漏。一根鉑金屬絲11下端伸在銀粉層8中，另一端與電極引線相連接，當然它也可以采用其它的電阻極小的金屬絲，如金、銀等。
當然本實用新型并不一定要設有電極外管2，單個電極管1也能獨立使用，且具有溫度使用范圍廣，防止液接界堵塞，測量精確度好，使用壽命長的優點。
權利要求1.一種銀—氯化銀參比電極，它的電極管(1)中充盈有參比溶液，電極管(1)的底部設有液接界(4)，電極管(1)的側面設有加液口(3)，其特征在于電極管(1)中還設有一個下端開口的容量管(10)，容量管(10)中從下至上依次設有電極填充層(6)，氯化銀粉層(7)，銀粉層(8)，電阻極小的金屬絲(11)下端伸入銀粉層(8)中，上端與電極引線相連接。
2.根據權利要求1所述的銀—氯化銀參比電極，其特征在于電極管(1)的中下部伸入電極外管(2)中，且與電極外管(2)密封配合連接為一體，電極外管(2)中充盈有參比溶液，電極外管(2)底部設有外液接界(5)。
3.根據權利要求1所述的銀—氯化銀參比電極，其特征在于所述的金屬絲(11)為鉑金屬絲。
專利摘要本實用新型公開了一種銀—氯化銀參比電極，它的電極管(1)中充盈有參比溶液，電極管(1)的底部設有液接界(4)，電極管(1)的側面設有加液口(3)，電極管(1)中還設有一個下端開口的容量管(10)，容量管(10)中從下至上依次設有電極填充層(6)，氯化銀粉層(7)，銀粉層(8)，電阻極小的金屬絲(11)下端伸入銀粉層(8)中，上端與電極引線相連接。參比電極中不存在氯化銀鍍層，因此無論在低溫或高溫情況下均不會被氯化鉀溶液所溶解，因此擴大了參比電極的使用溫度范圍，且能防止液接界堵塞，測量精確度好，使用壽命長。
文檔編號G01N27/30GK2754094SQ20042005430
公開日2006年1月25日 申請日期2004年12月13日 優先權日2004年12月13日
發明者陳勇, 朱培德 申請人:江蘇江分電分析儀器有限公司