專利名稱：邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置與方法
技術領域：
本發明涉及邊際掃瞄測試界面的技術領域，尤其是指一種適用于邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置與方法。
背景技術：
隨著晶片封裝及多層印刷電路板技術的復雜化，傳統以針床的測試方式已難于和印刷電路板上的節點接觸，且由于表面粘著技術的成熟化，使得IC多已直接粘著在電路的表面上，因而造成IC內部訊號直接量測的困難。為解決此一問題，邊際掃瞄(Boundary scan)技術便因應而生，例如JTAG(Joint Test Action Group)的boundary scan，其正式標準名稱為IEEE1149.1，及IEEE1149.4的Digital Test Access Port界面便定義了可用于測試IC的邊際掃瞄測試界面，其主要是以序列掃瞄鏈(Serial scan chain)來進行集成電路內部模組的測試，如圖1所示為JTAG的界面架構，其采用五根訊號腳位(TDI，TDO，TMS，TCK，nTRST)作為掃瞄鏈資料的操作，其中，TDI腳位是作為序列資料輸入、TDO腳位是作為序列資料輸出、TMS腳位是作為模式選擇輸入、TCK腳位是作為時脈訊號輸入、而nTRST腳位則提供系統重置的功能，而如圖所示，JTAG架構包含有一測試存取接口(Test Access Port，TAP)控制器11、一測試資料暫存器12(Test data register)、一指令暫存器13、及一解碼器14等。
在測試資料暫存器12中，一組掃瞄鏈暫存器121(Scan chainregister)是提供作為一掃瞄鏈(Scall chain)，可儲存TDI腳位所輸入的串列資料，一識別碼暫存器122用以儲存特殊的編號，其僅供輸出，一旁通暫存器123是用以將TDI腳位的輸入直接傳遞至TDO腳位以輸出。
該指令暫存器13用以儲存TDI腳位所輸入的序列指令，并由一解碼器14解碼以控制該TAP控制器11的運作。
該TAP控制器11即依TMS腳位的輸入而進行狀態移轉，且依據測試資料暫存器12的資料及解碼器14的解碼結果而運作，圖2顯示出該TAP控制器11的狀態移轉圖，其是在TCK的正緣時取樣TMS的訊號而作狀態移轉，如圖所示，在初始時，TAP控制器11是在Test-LogicReset狀態，之后，其可能進入閑置處理21、資料暫存器處理22、以及指令暫存器處理23等三部分狀態，其中，如TMS輸入為1，Test-LogicReset狀態保持不變，當TMS輸入為0時，狀態移轉為閑置處理21的Run-Test/Idle狀態；于Run-Test/Idle狀態時，如TMS輸入為0，Run-Test/Idle狀態保持不變，當TMS輸入為1時，狀態移轉為資料暫存器處理22的Select-DR-Scan狀態；于Select-DR-Scan狀態時，如TMS輸入為0，則進入Capture-DR狀態，進而進行對于測試資料暫存器12的處理，當TMS輸入為1時，狀態移轉為指令暫存器處理23的Select-IR-Scan狀態；于Select-IR-Scan狀態時，如TMS輸入為0，則進入Capture-IR狀態，進而進行對于指令暫存器13的處理，當TMS輸入為1時，狀態移轉為初始時的Test-Logic Reset狀態。
以上述JTAG的架構，對于控制訊號的傳遞或暫存器的存取，均透過TDI與TDO腳位來讀寫，然而，TDI及TDO的資料讀寫有其循序性，容易為人所偵測。因此無法保護例如機密性的暫存器值。惟在現今處理器的開發中，常會遇到要保護開發工具，不被他人盜用的狀況。故如何在邊際掃瞄測試界面標準中保護機密性的資料的存取，便成為一亟待解決的課題。
發明內容
本發明的主要目的是在提供一種邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置與方法，其無需經由標準的資料輸入輸出腳位即可讀寫資料，而實現在邊際掃瞄測試界面標準中保護機密性資料的存取的目的。
本發明的另一目的是在提供一種邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置與方法，以便能在相容于邊際掃瞄測試界面標準下，可讀寫機密性的資料，而完全不影響邊際掃瞄測試界面所有狀態與資料的路徑。
為實現上述目的，本發明提供的一種邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，該邊際掃瞄測試界面是依據一預定的狀態移轉圖而運作，該狀態移轉圖根據一輸入而進行狀態移轉，其中，所進行的狀態移轉包括至少一無作用狀態回圈，該裝置包括一狀態偵測器，用以監測該輸入，以當偵測出有一第一預設輸入串時，產生一第一資料的輸出，之后，當偵測出有一第二預設輸入串時，產生一第二資料的輸出，其中，該第一預設輸入串及第二預設輸入串是符合該無作用的狀態回圈的不同輸入串；一移位暫存器，用以儲存該狀態偵測器所輸出的第一及第二資料的組合，該第一及第二資料的組合包括一輸入鍵值；一隱藏暫存器，用以儲存資料；一比較裝置，是將該輸入鍵值與一預設的寫入鍵值相比，以當兩者相符時，將一特定寫入資料載入該隱藏暫存器。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該第一及第二資料的組合更包含有該特定寫入資料的資訊。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其更包括一選擇器，用以選擇將該隱藏暫存器或邊際掃瞄測試界面界面所定義的一特定暫存器的內容輸出。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該比較裝置是將該輸入鍵值與一預設的讀出鍵值相比，以當兩者相符時，控制該選擇器以將該隱藏暫存器的內容輸出。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該比較裝置是將該輸入鍵值與一預設的回復鍵值相比，以當兩者相符時，控制該選擇器以將該特定暫存器的內容輸出。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該輸入鍵值是為該第一及第二資料的組合的奇數位元，該特定寫入資料是為該第一及第二資料的組合的偶數位元。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該邊際掃瞄測試界面為一JTAG界面，該輸入為一TMS輸入。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該邊際掃瞄測試界面為一IEEE1149.1界面，該輸入為一TMS輸入。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該邊際掃瞄測試界面為一IEEE1149.4的Digital Test Access Port界面，該輸入為一TMS輸入。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該狀態移轉圖是初始于一Test-Logic Reset狀態，且在TMS輸入為1時，狀態保持不變，當TMS輸入為0時，狀態移轉為Run-Test/Idle狀態，且在TMS輸入為0，狀態保持不變，當連續三個TMS輸入為1時，狀態移轉為Test-Logic Reset狀態，而形成該至少一無作用狀態回圈。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該第一預設輸入串為‘0111’，該第二預設輸入串為‘1’。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該第一資料為‘1’，該第二資料為‘0’。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該第一預設輸入串為，0 111’，該第二預設輸入串為‘1’，當中 代表至少一個0。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該第一資料為‘1’，該第二資料為‘0’。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該狀態偵測器所輸出的資料是依JTAG所定義的TCK訊號來取樣而存入該移位暫存器中。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其中，該特定暫存器為識別碼暫存器。
為實現上述目的，本發明提供的一種邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，該邊際掃瞄測試界面是依據一預定的狀態移轉圖而運作，該狀態移轉圖根據一輸入而進行狀態移轉，其中，所進行的狀態移轉包括至少一無作用狀態回圈，該方法包括(A)監測該輸入，以當偵測出有一第一預設輸入串時，產生一第一資料的輸出，而當偵測出有一第二預設輸入串時，產生一第二資料的輸出，其中，該第一預設輸入串是符合該無作用的狀態回圈的一輸入串，該第二預設輸入串是不同于該第一預設輸入串且符合該無作用的狀態回圈的輸入串；(B)暫存該輸出的第一、第二資料的組合，其中，該第一及第二資料的組合包括一輸入鍵值；(C)比較該輸入鍵值與一預設的寫入鍵值，以當兩者相符時，將一特定寫入資料載入一隱藏暫存器。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其中，該第一及第二資料的組合更包含有該特定寫入資料的資訊。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，更包括一步驟(D)以將該輸入鍵值與一預設的讀出鍵值相比，當兩者相符時，將該隱藏暫存器的內容經由邊際掃瞄測試界面所定義的一特定暫存器的輸出路徑而輸出。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，更包括一步驟(E)以將該輸入鍵值與一預設的回復鍵值相比，當兩者相符時，使得邊際掃瞄測試界面所定義的特定暫存器的輸出路徑仍輸出該特定暫存器的內容。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其中，于步驟(B)中，該輸入鍵值是為該第一及第二資料的組合的奇數位元，該特定寫入資料是為該第一及第二資料的組合的偶數位元。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其中，該邊際掃瞄測試界面為一JTAG界面，該輸入為一TMS輸入。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其中，該邊際掃瞄測試界面為一符合IEEE1149.1界面，該輸入為一TMS輸入。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其中，該邊際掃瞄測試界面為一IEEE1149.4的Digital Test Access Port界面，該輸入為一TMS輸入。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其中，該狀態移轉圖是初始于一Test-LogicReset狀態，且在TMS輸入為1時狀態保持不變，當TMS輸入為0時，狀態移轉為Run-Test/Idle狀態，且在TMS輸入為0，狀態保持不變，當連續兩個TMS輸入為1時，狀態移轉為Test-Logic Reset狀態，而形成該至少一無作用狀態回圈。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其中，于步驟(A)中，該第一預設輸入串為‘0111’，該第一資料為‘1’，該第二預設輸入串為‘1’，該第二資料為‘0’。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其中，于步驟(A)中，該第一預設輸入串為‘0 111’，該第一資料為‘1’，當中 代表至少一個0，該第二預設輸入串為‘1’，該第二資料為‘0’。
所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其中，該特定暫存器為識別碼暫存器。
由以上的說明可知，本發明通過由使用邊際掃瞄測試界面的狀態移轉圖中無作用的狀態回圈來傳輸隱含訊號，無需經由標準的資料輸入輸出腳位即可輸入訊號，可實現在邊際掃瞄測試界面標準中保護機密性控制訊號的傳輸的目的，且完全不影響邊際掃瞄測試界面所有狀態與資料的路徑，而完全相容于邊際掃瞄測試界面標準。
圖1是為公知JTAG界面的架構圖圖2是為JTAG界面的TAP控制器的狀態移轉圖；圖3是依據本發明的邊際掃瞄測試界面的架構圖；圖4是顯示TAP控制器的狀態移轉圖中的無作用的狀態回圈；圖5是為依據本發明的邊際掃瞄測試界面的機密資料偵測及存取控制器的電路圖；圖6是為狀態偵測器的運作流程圖。
具體實施例方式
為能讓貴審查委員能更了解本發明的技術內容，特舉一較佳具體有關本發明的邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置與方法，請先參照圖3所示的架構圖，其包含有一TAP控制器31、一測試資料暫存器32、一指令暫存器33、一解碼器34、一機密資料偵測及存取控制器35、一隱藏暫存器37、及一選擇器38，其中，本發明的邊際掃瞄測試界面可為JTAG、IEEE1149.1、IEEE1149.4或其他相似的界面，于本實施例中，邊際掃瞄測試界面是為一JTAG界面，故該等TAP控制器31、測試資料暫存器32、指令暫存器33、及解碼器34是依JTAG的標準而運作，其采用序列資料輸入(TDI)、序列資料輸出(TDO)、模式選擇輸入(TMS)、時脈訊號輸入(TCK)、系統重置(nTRST)等五根訊號腳位來作為掃瞄鏈資料的操作，前述選擇器38是用以選擇將隱藏暫存器37或測試資料暫存器32中的識別碼暫存器321的內容輸出的，而前述機密資料偵測及存取控制器35是可依據TMS輸入而實現機密資料的讀寫。
再請參照圖2所示，由JTAG標準所定義的狀態移轉圖可知，在JTAG界面不動作時，TMS腳位輸入是持續為1(亦即，有一連串的‘1’的輸入、)，使其保持在Test-Logic Reset狀態，當欲作動JTAG界面時，才將TMS輸入改變為0以進行狀態移轉，然而，為避免在一連串的1中誤產生一個0而錯誤地作動JTAG，因此，在TMS腳位輸入為0而移轉至Run-Test/Idle狀態后，如TMS腳位輸入仍持續為1，則狀態將經由Select-DR-Scan狀態、Select-IR-Scan狀態、而移轉回初始的Test-Logic-Reset狀態，實質上僅執行了一個無作用的狀態回圈，而不會進入任何實際動作的狀態，因而避免誤動作的產生。
圖4繪示出前述無作用的狀態回圈，在符合此無作用的狀態回圈的TMS輸入，均不會在JTAG界面產生任何實際的動作，因此，本發明是通過由定義至少二個符合此無作用的狀態回圈的TMS輸入串，以分別作為兩種不同資料A及B的輸入，于本實施例中，A為二進制的0，B為二進制的1，且如圖所示，本發明是較佳地定義TMS輸入串‘0111’為輸入資料B(＝1)，及定義隨后的TMS輸入串‘1’為輸入資料A(＝0)。除此之外，由于Run-Testdata/Idle狀態在輸入0時均不改其狀態，因此，亦可定義TMS輸入串‘0 111’為輸入資料B，其中 代表至少一個0。
再請參照圖5所示前述機密資料偵測及存取控制器35的電路圖，其包括一狀態偵測器51、一移位暫存器52、及一比較裝置50，比較裝置50中包括三個比較器53、54及55，該狀態偵測器51的運作流程圖如圖6所示，其輸入TCK、TMS及由TAP控制器31產生的JTAG狀態，以在判定該TAP控制器31的狀態為初始的Test-Logic Reset狀態時，開始監測TMS輸入，而當偵測出有一TMS輸入串‘0111’時，在其資料輸出端511產生一資料B(＝1)的輸出(步驟S601)，之后，當偵測出有一TMS輸入串‘1’時，在其資料輸出端511產生一資料A(＝0)的輸出(步驟S602)，而此資料輸出端511所輸出的資料則依TCK來取樣而存入該移位暫存器52中。因此，通過由在TMS腳位輸入適當的字串的組合，便可在狀態偵測器51的資料輸出端511產生所要輸入的資料組合，此資料組合是暫存于該移位暫存器52中。
前述暫存于該移位暫存器52中的資料組合的一部份是作為輸入鍵值，而另一部分則可作為寫入資料，于本實施例中，該資料組合的奇數位元是作為輸入鍵值，而資料組合的偶數位元是作為寫入資料，而比較器53、54及55是將該輸入鍵值分別與寫入鍵值、讀出鍵值及回復鍵值比較，當輸入鍵值與寫入鍵值相同時，比較器53輸出一寫入控制訊號，當輸入鍵值與讀出鍵值相同時，比較器54輸出一讀出控制訊號，當輸入鍵值與回復鍵值相同時，比較器55輸出一回復控制訊號。
并請參照圖3所示，前述作用的寫入控制訊號將會設定(SET)該隱藏暫存器37而將前述寫入資料予以載入，因此，如欲隱密地寫入一筆資料時，可通過由在TMS腳位輸入適當的字串的組合，以在狀態偵測器51的資料輸出端511產生該筆資料及相等于寫入鍵值的輸入鍵值，因此產生寫入控制訊號而將該筆資料寫入隱藏暫存器37中。
前述作用的讀出控制訊號是用以控制選擇器38將隱藏暫存器37的內容輸出，而前述作用的回復控制訊號是用以控制選擇器38將識別碼暫存器321的內容輸出，因此，如欲讀出該隱藏暫存器37的內容時，可通過由在TMS腳位輸入適當的字串的組合，以在狀態偵測器51的資料輸出端511產生相等于讀出鍵值的輸入鍵值，因此產生讀出控制訊號而控制選擇器38將隱藏暫存器37的內容經由JTAG界面所定義的識別碼暫存器的輸出路徑而輸出；而如不再讀取該隱藏暫存器37的內容時，則通過由在TMS腳位輸入適當的字串的組合，以在狀態偵測器51的資料輸出端511產生相等于回復鍵值的輸入鍵值，因此產生回復控制訊號而控制選擇器38將識別碼暫存器321的內容輸出，亦即，使得JTAG界面所定義的識別碼暫存器的輸出路徑仍輸出識別碼暫存器的內容，因此回復原本JTAG界面的狀態。
上述實施例僅是為了方便說明而舉例而已，本發明所主張的權利范圍自應以專利范圍為準，而非僅限于上述實施例。
權利要求
1.一種邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，該邊際掃瞄測試界面是依據一預定的狀態移轉圖而運作，該狀態移轉圖根據一輸入而進行狀態移轉，其中，所進行的狀態移轉包括至少一無作用狀態回圈，該裝置包括一狀態偵測器，用以監測該輸入，以當偵測出有一第一預設輸入串時，產生一第一資料的輸出，之后，當偵測出有一第二預設輸入串時，產生一第二資料的輸出，其中，該第一預設輸入串及第二預設輸入串是符合該無作用的狀態回圈的不同輸入串；一移位暫存器，用以儲存該狀態偵測器所輸出的第一及第二資料的組合，該第一及第二資料的組合包括一輸入鍵值；一隱藏暫存器，用以儲存資料；一比較裝置，是將該輸入鍵值與一預設的寫入鍵值相比，以當兩者相符時，將一特定寫入資料載入該隱藏暫存器。
2.根據權利要求1所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該第一及第二資料的組合更包含有該特定寫入資料的資訊。
3.根據權利要求2所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其更包括一選擇器，用以選擇將該隱藏暫存器或邊際掃瞄測試界面界面所定義的一特定暫存器的內容輸出。
4.根據權利要求3所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該比較裝置是將該輸入鍵值與一預設的讀出鍵值相比，以當兩者相符時，控制該選擇器以將該隱藏暫存器的內容輸出。
5.根據權利要求4所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該比較裝置是將該輸入鍵值與一預設的回復鍵值相比，以當兩者相符時，控制該選擇器以將該特定暫存器的內容輸出。
6.根據權利要求2所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該輸入鍵值是為該第一及第二資料的組合的奇數位元，該特定寫入資料是為該第一及第二資料的組合的偶數位元。
7.根據權利要求2所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該邊際掃瞄測試界面為一JTAG界面，該輸入為一TMS輸入。
8.根據權利要求2所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該邊際掃瞄測試界面為一IEEE1149.1界面，該輸入為一TMS輸入。
9.根據權利要求2所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該邊際掃瞄測試界面為一IEEE1149.4的Digital TestAccess Port界面，該輸入為一TMS輸入。
10.根據權利要求7所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該狀態移轉圖是初始于一Test-Logic Reset狀態，且在TMS輸入為1時，狀態保持不變，當TMS輸入為0時，狀態移轉為Run-Test/Idle狀態，且在TMS輸入為0，狀態保持不變，當連續三個TMS輸入為l時，狀態移轉為Test-Logic Reset狀態，而形成該至少一無作用狀態回圈。
11.根據權利要求10所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該第一預設輸入串為‘0111’，該第二預設輸入串為‘1’。
12.根據權利要求11所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該第一資料為‘1’，該第二資料為‘0’。
13.根據權利要求10所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該第一預設輸入串為， ，該第二預設輸入串為‘1’，當中 代表至少一個0。
14.根據權利要求13所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該第一資料為‘1’，該第二資料為‘0’。
15.根據權利要求7所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該狀態偵測器所輸出的資料是依JTAG所定義的TCK訊號來取樣而存入該移位暫存器中。
16.根據權利要求2所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置，其特征在于，其中該特定暫存器為識別碼暫存器。
17.一種邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，該邊際掃瞄測試界面是依據一預定的狀態移轉圖而運作，該狀態移轉圖根據一輸入而進行狀態移轉，其中，所進行的狀態移轉包括至少一無作用狀態回圈，該方法包括(A)監測該輸入，以當偵測出有一第一預設輸入串時，產生一第一資料的輸出，而當偵測出有一第二預設輸入串時，產生一第二資料的輸出，其中，該第一預設輸入串是符合該無作用的狀態回圈的一輸入串，該第二預設輸入串是不同于該第一預設輸入串且符合該無作用的狀態回圈的輸入串；(B)暫存該輸出的第一、第二資料的組合，其中，該第一及第二資料的組合包括一輸入鍵值；(C)比較該輸入鍵值與一預設的寫入鍵值，以當兩者相符時，將一特定寫入資料載入一隱藏暫存器。
18.根據權利要求17所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，其中該第一及第二資料的組合更包含有該特定寫入資料的資訊。
19.根據權利要求18所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，更包括一步驟(D)以將該輸入鍵值與一預設的讀出鍵值相比，當兩者相符時，將該隱藏暫存器的內容經由邊際掃瞄測試界面所定義的一特定暫存器的輸出路徑而輸出。
20.根據權利要求19所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，更包括一步驟(E)以將該輸入鍵值與一預設的回復鍵值相比，當兩者相符時，使得邊際掃瞄測試界面所定義的特定暫存器的輸出路徑仍輸出該特定暫存器的內容。
21.根據權利要求18所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，其中于步驟(B)中，該輸入鍵值是為該第一及第二資料的組合的奇數位元，該特定寫入資料是為該第一及第二資料的組合的偶數位元。
22.根據權利要求18所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，其中該邊際掃瞄測試界面為一JTAG界面，該輸入為一TMS輸入。
23.根據權利要求18所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，其中，該邊際掃瞄測試界面為一符合IEEE1149.1界面，該輸入為一TMS輸入。
24.根據權利要求18所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，其中該邊際掃瞄測試界面為一IEEE1149.4的Digital TestAccess Port界面，該輸入為一TMS輸入。
25.根據權利要求22所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，其中該狀態移轉圖是初始于一Test-LogicReset狀態，且在TMS輸入為1時狀態保持不變，當TMS輸入為0時，狀態移轉為Run-Test/Idle狀態，且在TMS輸入為0，狀態保持不變，當連續兩個TMS輸入為1時，狀態移轉為Test-Logic Reset狀態，而形成該至少一無作用狀態回圈。
26.根據權利要求25所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，其中于步驟(A)中，該第一預設輸入串為‘0111’，該第一資料為‘1’，該第二預設輸入串為‘1’，該第二資料為‘0’。
27.根據權利要求25所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，其中于步驟(A)中，該第一預設輸入串為 ，該第一資料為‘1’，當中 代表至少一個0，該第二預設輸入串為‘1’，該第二資料為‘0’。
28.根據權利要求19所述邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的方法，其特征在于，其中該特定暫存器為識別碼暫存器。
全文摘要
本發明是有關于一種邊際掃瞄測試界面中存取隱藏資料的裝置與方法，其是在邊際掃瞄測試界面中定義一無作用狀態回圈，且在邊際掃瞄測試界面的狀態為初始之時，監測邊際掃瞄測試界面的狀態移轉圖的一輸入，以當偵測出有一第一預設輸入串時，產生一符合該無作用的狀態回圈的一輸入串的第一資料的輸出，而當偵測出有一第二預設輸入串時，產生一第二資料的輸出，前述輸出的第一及第二資料的組合包括一輸入鍵值，當該輸入鍵值與一預設的寫入鍵值相符時，將一特定寫入資料載入一隱藏暫存器。
文檔編號G01R31/28GK1654971SQ200410004830
公開日2005年8月17日 申請日期2004年2月9日 優先權日2004年2月9日
發明者梁伯嵩 申請人:凌陽科技股份有限公司