專利名稱：電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及的一種電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構。
背景技術：
治具為一種測試電路板及電子產品的裝置，在現有治具中探針組件設置在治具層板的穿孔中，探針組件的尾部通過焊接等方式與導線的一端固定連接并導通，導線的另一端與牛角連接器的接線柱連接，牛角連接器與測試機連接，探針組件中探針的頭部露出于治具的表面，在測試中與待測電路板或電子產品進行接觸，然后把測得的信號通過導線傳遞給測試機?，F有的探針組件主要有兩種一種是傳統(tǒng)的結構，由大針套、小針套、裝在小針套內的彈簧、探針組成，探針的下部插入并固定于小針套內，帶探針的小針套插于大針套內，大針套的尾部與導線的一端固定連接并導通；另一種由彈簧和探針組成，在彈簧的頂部設有托抵部，托接住探針的尾部，彈簧的尾部與導線的一端固定連接并導通。上述第一種探針組件中小針套與探針的制作越精密成本越高，因此它與導線的這種固定連接導通結構使其探針組件制作復雜，裝配、更換、維修不便。上述第二種探針組件與導線的這種固定連接導通結構不便于裝配及更換、維修，且成本較高的彈簧不能重復使用，利用率低。
發(fā)明內容
本實用新型的目的在于針對以上所述問題，提供一種制作、裝配、維修方便、易于更換探針組件中的部件，而且探針組件可重復使用的治具中探針組件與導線的導通結構。
本實用新型的目的是這樣實現的本實用新型包括探針組件和導線，探針組件設置在治具層板的穿孔中，探針組件中探針的頭部露出于治具的表面，導線的一端設置在治具層板的穿孔中，位于探針組件尾部的正下方，探針組件的尾部與導線通過直接或間接接觸的方式導通。
本實用新型的技術效果在于由于探針組件與導線之間是通過接觸的方式導通，所以便于制作、裝配、更換和維修各部件，且探針組件中與導線固定連接的部件如彈簧可重復使用，提高了利用率，降低了成本。
以下結合附圖和實施例對本實用新型作進一步說明。
圖1是實施例一的結構示意圖。
圖2是實施例一中彈簧的結構圖。
圖3、圖4、圖5是可替代實施例一中彈簧的其它三種彈簧的結構圖。
圖6是實施例一中帶金屬套筒的導線一端的結構圖。
圖7是圖6所示帶金屬套筒的導線一端安裝于治具底座板的穿孔內的結構示意圖。
圖8是實施例二的結構示意圖。
圖9是實施例二中彈簧的結構圖。
圖10是可替代實施例二中彈簧的特殊連體探針的結構圖。
圖11是實施例三的結構示意圖。
圖12是實施例三中探針組件的結構圖。
圖13是導線一端焊接于治具底座板的穿孔內的結構圖。
具體實施方式
如圖1所示，實施例一的治具包括針盤、底座、探針組件、導線7，針盤由針板1和底板4組合而成，針板1包括四層板，每兩層板之間設有間隙并由支柱2支撐，底板4由三層板疊置而成，針板1和底板4由連接柱3及兩端的螺釘連接成一個整體，底座由底座板5和支架6組成，底板4與底座板5之間通過導向柱和導向孔而連接且定位?？梢娭尉咧黧w是由很多層板組合而成的結構，在層板上即在針板1、底板4、底座板5上均設有穿孔，其孔位、孔徑、孔距、孔數由待測電路板11上待測端點的點位及點數決定；實施例一中的探針組件由探針10和彈簧9連接成一個整體，探針10部分置于針板1的穿孔內，其頭部露出于針板1的表面，在測試時與待測電路板11的待測端點相接觸，彈簧9置于底板4的穿孔內，在彈簧9的頂部設套接部，套接部由上面的卡針段92和下面的頂針段91組成，頂針段91的最小處內徑小于探針10尾端的外徑，探針10的下部緊插于彈簧9的卡針段92中，本實施例中彈簧的卡針段92采用圖2所示的彎曲形。實施例一中彈簧還可采用如圖3和圖4所示的結構，即彈簧的的卡針段可為圖3所示的錯位形或圖4所示的圓柱形，在圓柱形的卡針段內可設有彈簧線向內繞成的凸點，用于卡住探針，彈簧的卡針段還可采用由上述幾種形狀相互組合而成的形狀之一。實施例一中的彈簧還可采用圖5所示的結構，即在彈簧的頂部設有一金屬針筒，金屬針筒12的底部塞于彈簧的頂部內，在該金屬針筒的內壁設有凸點121用于卡住探針。
如圖1圖6、圖7所示，導線7的一端焊接有一金屬套筒8，該金屬套筒8卡于底座板5的穿孔內，其頂部與探針組件中彈簧9的尾部相接觸，從而探針組件與導線7通過間接接觸的方式導通。前述金屬套筒8也可采用壓接的方式與導線連接。
如圖8、圖9所示，實施例二與實施例一的不同之處在于實施例二中探針組件由探針13和彈簧14組成，兩者為兩個獨立體，在彈簧14的頂部設有紡錘形的托抵部141，托接住探針13的尾部。實施例二與實施例一相同之處在于實施例二中導線16的一端焊接有一金屬套筒15，該金屬套筒15卡于底座板的穿孔內，其頂部與彈簧16的尾部相接觸，從而實施例二中探針組件與導線16也是通過間接接觸的方式而導通。
實施例二中的彈簧還可用圖10所示的特殊連體探針替代，該特殊連體探針由特殊探針17、金屬針套18和彈簧19組合成一個整體，彈簧19位于金屬針套18底部，特殊探針17的下部位于金屬針套18內，特殊探針17的頂部設有凹部171，可托接住探針的底部。
如圖11、圖12所示，實施例三與實施例一的不同之處在于實施例三中的探針組件是由探針20、彈簧21和金屬針套22組成，彈簧21置于金屬針套22內，探針20的下部插于金屬針套22內并由金屬針套22內壁上設的凸環(huán)221卡住而不脫落。實施例三的治具中所有探針組件的金屬針套采用相同的長度。當該探針組件置于治具的層板中后，金屬針套22的尾部與焊接在導線24一端的金屬套筒23的頂部接觸，從而該探針組件與導線24通過間接接觸的方式導通。
上述三個實施例中探針組件與導線均是通過間接接觸的方式導通，探針組件與導線還可采用直接接觸的方式導通，如圖13所示，導線25的一端直接焊接于治具層板26的穿孔中，該焊接點與探針組件的尾部直接接觸。圖13所示的結構可替代圖7所示的結構。
總之，本實用新型的發(fā)明點主要在于探針組件與導線通過接觸的方式導通。
權利要求1.一種電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構，包括探針組件和導線，探針組件設置在治具層板的穿孔中，探針組件中探針的頭部露出于治具的表面，其特征在于所述導線的一端設置在治具層板的穿孔中，位于探針組件尾部的正下方，探針組件的尾部與導線通過直接或間接接觸的方式而導通。
2.根據權利要求1所述的電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構，其特征在于所述導線的一端焊接于治具層板的穿孔中，該焊接點與探針組件的尾部直接接觸而導通。
3.根據權利要求1所述的電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構，其特征在于所述導線的一端固定連接一金屬套筒，金屬套筒卡設于治具層板的穿孔中，其頂部與探針組件的尾部直接接觸，探針組件的尾部與導線的一端通過間接接觸的方式而導通。
4.根據權利要求1或2或3所述的電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構，其特征在于所述探針組件由彈簧和探針組成，在彈簧的頂部設有托抵部，托接住探針的尾部，彈簧的尾部為探針組件的尾部。
5.根據權利要求1或2或3所述的電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構，其特征在于所述探針組件由彈簧和探針組成，在彈簧的頂部設套接部，套接部由上面的卡針段和下面的頂針段組成，頂針段的最小處內徑小于探針尾端的外徑，探針的下部緊插于卡針段中，彈簧的尾部為探針組件的尾部。
6.根據權利要求5所述的電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構，其特征在于所述卡針段為彎曲形、錯位形、圓柱形之一或它們相互組合而成的形狀之一。
7.根據權利要求1或2或3所述的電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構，其特征在于所述探針組件由彈簧、金屬針筒、探針組成，金屬針筒的底部塞于彈簧的頂部內，在該金屬針筒內壁設有凸點，探針的底部緊插于該金屬針筒內，彈簧的尾部為探針組件的尾部。
8.根據權利要求1或2或3所述的電子及測試業(yè)治具中探針組件與導線的導通結構，其特征在于所述探針組件由金屬針套、彈簧和探針組成，彈簧置于金屬針套內，探針的下部插于金屬針套內，在金屬針套內壁上設有用于卡住探針的凸環(huán)，金屬針套的尾部即為探針組件的尾部，在同一治具中所有探針組件中金屬針套采用相同的長度。
專利摘要本實用新型為一種治具中探針組件與導線的連接導電結構，包括探針組件和導線，探針組件設置在治具層板的穿孔中，探針組件中探針的頭部露出于治具的表面，導線的一端設置在治具層板的穿孔中，位于探針組件尾部的正下方，探針組件的尾部與導線通過直接或間接接觸的方式導通。本實用新型便于更換和維修各部件，且探針組件中與導線固定連接的部件如彈簧可重復使用，提高了利用率，降低了成本。
文檔編號G01R1/073GK2660540SQ200320117918
公開日2004年12月1日 申請日期2003年11月7日 優(yōu)先權日2003年11月7日
發(fā)明者王云階 申請人:王云階