專利名稱：電子元件測試插置座的移動限位件的制作方法
技術領域：
本發明屬于電子元件測試裝置部件，特別是一種電子元件測試插置座的移動限位件。
如
圖1所示，習知測試插置座20設置于載有測試電路的測試機板10上，電子元件5系裝載于測試插置座20中。
如圖2所示，習知的測試插置座20通常由可固定在測試機板10上的基座202及疊合于基座202上的壓控框架201組成，基座202設有用以安裝測試電子元件5的錫球夾持陣列203。錫球夾持陣列203上包括提供兩交錯設置為固定腳組及移動腳組的陣列夾腳組。壓控框架201對基座202則設有彈性下壓的裝置行程s。
當要將電子元件5架設或插置至測試插置座20的錫球夾持陣列203時，系借由人力或機械臂力，將壓控框架201向基座202方向均勻地彈性下壓兩者間的裝置行程1s，借此移動錫球夾持陣列203上的移動腳組，使移動腳組與固定腳組的各接觸腳間產生預定的裝置間隙，再將電子元件5由壓控框架201的上方安裝至錫球夾持陣列203上預定的位置上，并使電子元件5的引腳或錫球適切地落在相對應的裝置間隙中；之后，再釋放施加于壓控框架201上的外力，使壓控框架201彈性回復至與基座202間原保有裝置行程1s距離的位置，此時，錫球夾持陣列203上的移動腳組的接觸腳即回移并縮小其與固定腳組相對應接觸腳間的間隙，借此，可使電子元件5的各引腳或錫球穩固地限制于各相對應的接觸腳間，達成測試前的測試件安裝作業。
反之，當要由測試裝置座20上卸下電子元件5時，只要在壓控框架201上施加外力，使錫球夾持陣列203的移動腳組與固定腳組間產生預定的位移，即可使電子元件5的引腳或錫球由相對應的接觸腳間釋放，此時，再以人工或機械臂、自壓控框架201的上方移除電子元件5即可。
顯然借由測試裝置座20的介面效果，乃可使不同封裝厚度及與引腳或錫球數的電子元件輕易地配合通用的測試電路試驗。
然而，在習知的測試裝置座20的實際運用中，‘試驗中需避免任何外力觸及壓控框架201’乃為成功試驗必要的條件。如圖3所示，咎此條件形成的原因，乃是在任何外力觸及下，皆可能會使壓控框架201與基座202間裝置行程1s瞬時縮小，亦即使錫球夾持陣列203上的移動腳組2032與固定腳組2031間產生瞬間位移，以致電子元件5由錫球夾持陣列203上彈起并產生些微的偏移，此時，電子元件5即可能由正確的位置轉移至如虛線所示的電子元件5’和錯誤的位置上，且錫球51亦脫離原預定的接觸腳間；而此些許轉移量顯然會對進行的試驗造成負面效果，且通常不會立即為測試人員所察覺，以致產生錯誤的試驗結果而不自知。
同前所述，‘試驗中需避免任何外力觸及壓控框架201’的要求或可在提高試驗進行時的警覺性下達成；惟，會影響至壓控框架201與基座202間相對關系的外力，除可預防的人力碰觸外，尚可能為鄰近機臺震動、相關設備的連帶觸動影響或甚至是地震等無法預期的因素，因此，借由提高警覺性的預防顯然是無法符合百分百的效果，而試驗的非預期誤失乃成為此測試插置座設備潛在的隱憂。
本發明它為插置于測試插置座壓控框架兩相對的隧槽側邊下方與基座之間下壓裕度隧槽內的一體成形成構件，它包括抵靠并限位于下壓裕度隧槽外壓控框架上的限位部、由限位部延伸出的近塞部、與近塞部相對的遠塞部及連接近塞部與遠塞部的連接部；近塞部及遠塞部分別被夾制于壓控框架鄰近及遠離限位部的隧槽側邊下方的下壓裕度隧槽內。
其中連接部上設有至少一鏤空的觀測窗。
遠塞部延伸出運用時伸出下壓裕度隧槽外的突出尾部，并于突出尾部上設有至少一供卡栓插置的限位槽。
限位部寬度大于下壓裕度隧槽的寬度以構成橫向限位結構。
限位部構形為塊狀結構以構成縱向限位結構，以借由其體積直接堵塞形成與壓控框架間的限位。
限位部延伸勾掛于壓控框架的隧槽側邊遠離基座上框面的彈性臂結構以形成縱向限位結構。
彈性臂結構的自由末端下方設有至少一恰好越過上框面以與隧槽側邊的內側框面產生限位關系的限位突緣。
由于本發明它為插置于測試插置座壓控框架兩相對的隧槽側邊下方與基座之間下壓裕度隧槽內的一體成形成構件，它包括抵靠并限位于下壓裕度隧槽外壓控框架上的限位部、由限位部延伸出的近塞部、與近塞部相對的遠塞部及連接近塞部與遠塞部的連接部；近塞部及遠塞部分別被夾制于壓控框架鄰近及遠離限位部的隧槽側邊下方的下壓裕度隧槽內。運用時，本發明系插置于基座與壓控框架間的下壓裕度隧槽內，限位部系抵靠在隧槽側邊的外側框面上，以與壓控框架形成抵靠的限位作用；由限位部延伸出的近塞部被夾制于壓控框架鄰近限位部的隧槽側邊下的下壓裕度隧槽中；遠塞部則被夾制于壓控框架遠離限位部的隧槽側邊下方的下壓裕度隧槽中；連接部位于錫球夾持陣列及電子元件的上方；即借由其構形插置于測試插置座上運用時，使測試插置座的基座與壓控框架間的距離維持在固定的裝置行程間距上，以避免錫球夾持陣列中的夾腳受到任何外力的影響，借此可有效穩固測試插置座上電子元件的設置。不僅確實維持裝置行程，而且穩固測試插座上電子元件設置，從而達到本發明的目的。
圖2、為習知的電子元件測試插置座結構示意立體圖。
圖3、為習知的插置電子元件后的電子元件測試插置座結構示意側視圖。
圖4、為本發明實施例一結構示意立體圖。
圖5、為組設本發明實施例一測試插置座結構示意俯視圖。
圖6、為本發明實施例二結構示意立體圖。
圖7、為組設本發明實施例二測試插置座結構示意俯視圖。
圖8、為本發明實施例三結構示意立體圖。
圖9、為組設本發明實施例三測試插置座結構示意剖視圖。
如圖2所示，組設本發明的測試插置座20包括基座202及疊合在基座202上的壓控框架201。
壓控框架201至少包括有兩相對的隧槽側邊2010與2010’，而為形成壓控框架201與基座202間裝置行程s的關系，且故于兩隧槽側邊2010與2010’下方與基座202間的位置上，形成貫通壓控框架201且寬度為1w的下壓裕度隧槽204。
本發明系利用阻塞下壓裕度隧槽204的方式，避免基座202與壓控框架201間的任何位移，借以防止錫球夾持陣列203中固定腳組與移動腳組間的任何可能偏移，確保電子元件于測試插置座20中的定位。
實施例一如圖4所示，本發明電子元件測試插置座的移動限位件6為一體成形構件，其包括限位部61、由限位部61延伸出的近塞部62、與近塞部62相對的遠塞部64及連接近塞部62與遠塞部64的連接部63。
移動限位件6系以共同厚度為1Th的T形板件構成，其限位部61的寬度為1Ls，以近塞部62、連接部63及遠塞部64則具有相同的寬度1Li且小于限位部61的寬度1Ls。
如圖2、圖5所示，本發明電子元件測試插置座的移動限位件6組設運用于測試插置座20中時，其系插置于基座202與壓控框架201間的下壓裕度隧槽204內，限位部61系橫向抵靠在隧槽側邊2010的外側框面2012上，以與壓控框架201形成抵靠的限位作用；而為達此目的，限位部61的寬度1Ls應大于下壓裕度隧槽204的寬度1w以構成橫向限位結構。
如圖2、圖5所示，當本發明電子元件測試插置座的移動限位件6組設運用在基座202與壓控框架201間時，由限位部61延伸出的近塞部62，則被夾制于壓控框架201鄰近限位部61的隧槽側邊2010下的下壓裕度隧槽204中；為達此一目的，近塞部62的寬度1Li應小于下壓裕度隧槽204的寬度1w，而其厚度1Th則應不大于測試插置座20的裝置行程1s。
如圖2、圖5所示，當本發明電子元件測試插置座的移動限位件6插置于基座202與壓控框架201間定位后，其遠塞部64則被夾制于壓控框架201遠離限位部61的隧槽側邊2010’下方的下壓裕度隧槽204中。同樣地，為達此一目的，遠塞部64的寬度1Li應小于下壓裕度隧槽204的寬度1w，而其厚度1Th則應不大于測試插置座20的裝置行程1s。
連接部63系用以連接近塞部62及遠塞部64，故當本發明電子元件測試插置座的移動限位件6插置于下壓裕度隧槽204內定位后，連接部63系位于錫球夾持陣列203及電子元件5的上方。在運用過程中，連接部63系穿過鄰近限位部61的隧槽側邊2010下的下壓裕度隧槽204，故其寬度應小于下壓裕度隧槽204的寬度1w，而其厚度1Th則亦應小于測試插置座20的裝置行程1s。
實施例二如圖6所示，本發明電子元件測試插置座的移動限位件6a為一體成形構件，其包括限位部61a、由限位部61a延伸出的近塞部62a、與近塞部62a相對的遠塞部64a、連接近塞部62a與遠塞部64a的連接部63a及由遠塞部64a延伸出的突出尾部65。
移動限位件6a系以共同寬度1Lsa的板件構成，其限位部61a的高度為1H，近塞部62a、連接部63a、遠塞部64a及突出尾部65則具有相同的厚度1Tha且小于限位部61a的高度1H。
連接部63a上設有至少一鏤空的觀測窗66，于運用時，借由觀測窗66檢視位于本發明電子元件測試插置座的移動限位件6a下的電子元件5狀態，并可借以輔助測試插置座20的散熱。
突出尾部65上設有至少一供適當構形卡栓7插置的限位槽67。
如圖2、圖7所示，當本發明電子元件測試插置座的移動限位件6a組設運用于測試插置座20中時，其突出尾部65及其上的限位槽67系延伸至下壓裕度隧槽204之外，以便利操作人員將卡栓7插置于突出尾部65的限位槽67內，以構成遠離限位部61a端與隧槽側邊2010’間的進一步限位關系。
限位部61a構形為塊狀結構縱向限位結構，以借由其體積直接堵塞于下壓裕度隧槽204外，并借此形成本發明電子元件測試插置座的移動限位件6a與壓控框架201間的限位。
如圖2、圖7所示，本發明電子元件測試插置座的移動限位件6a組設運用于測試插置座20中時，其系插置于基座202與壓控框架201間的下壓裕度隧槽204內，限位部61a系抵靠在隧槽側邊2010的外側框面2012上，以與壓控框架201形成縱抵靠的限位作用；而為達此目的，限位部61a的高度1H應大于測試插置座20的裝置行程1s。
如圖2、圖7所示，當本發明電子元件測試插置座的移動限位件6a組設運用在基座202與壓控框架201間時，由限位部61a延伸出的近塞部62a，則被夾制于壓控框架201鄰近限位部61a的隧槽側邊2010下的下壓裕度隧槽204中；為達此一目的，近塞部62a的寬度1Lsa應小于下壓裕度隧槽204的寬度1w，而其厚度1Tha則應不大于測試插置座20的裝置行程1s。
如圖2、圖7所示，當本發明電子元件測試插置座的移動限位件6a插置于基座202與壓控框架201間定位后，其遠塞部64a則被夾制于壓控框架201遠離限位部61a的隧槽側邊2010’下方的下壓裕度隧槽204中。同樣地，為達此一目的，遠塞部64a的寬度1Lsa應小于下壓裕度隧槽204的寬度1w，而其厚度1Tha則應不大于測試插置座20的裝置行程1s。
連接部63a系用以連接近塞部62a及遠塞部64a，故當本發明電子元件測試插置座的移動限位件6a插置于下壓裕度隧槽204內定位后，連接部63a系位于錫球夾持陣列203a及電子元件5的上方。在運用過程中，連接部63a系穿過鄰近限位部61a的隧槽側邊2010下的下壓裕度隧槽204，故其寬度1Lsa應小于下壓裕度隧槽204的寬度1w，而其厚度1Tha則亦應小于測試插置座20的裝置行程1s。
當本發明電子元件測試插置座的移動限位件6a插置于下壓裕度隧槽204內定位后，突出尾部65及其上的限位槽67系延伸至下壓裕度隧槽204之外，在運用過程中，突出尾部65系穿過鄰近及遠離限位部61a的隧槽側邊2010、2010’下的下壓裕度隧槽204，故其寬度1Lsa應小于下壓裕度隧槽204的寬度1w，而其厚度則亦應小于測試插置座20的裝置行程1s。
實施例三如圖8所示，本發明電子元件測試插置座的移動限位件6b為一體成形構件，其包括限位部61b、由限位部61b延伸出的近塞部62b、與近塞部62b相對的遠塞部64b及連接近塞部62ba與遠塞部64b的連接部63b。
移動限位件6b系以共同寬度1Lsb的板件構成，其限位部61b的高度為1H，近塞部62b、連接部63b及遠塞部64b具有相同的厚度1Thb且小于限位部61b的高度1H。
限位部61b水平延伸出回扣的彈性臂結構611，且于彈性臂結構611的自由末端下方設有至少一限位突緣6111。
連接部6 3b上設有至少一鏤空的觀測窗66b，于運用時，借由觀測窗66b檢視位于本發明電子元件測試插置座的移動限位件6b下的電子元件5狀態，并可借以輔助測試插置座20的散熱。
如圖2、圖9所示，當本發明電子元件測試插置座的移動限位件6b組設運用于測試插置座20中時，彈性臂結構611系可勾掛于壓控框架201的隧槽側邊2010遠離基座202的上框面2011上，藉此，可提供移動限位件6b于壓控框架201上較佳的固定效果，且當彈性臂結構611勾掛于隧槽側邊2010的上框面2011時，其自由末端限位突緣6111恰好越過上框面2011，并借此與隧槽側邊2010的內側框面2013產生限位關系，運用時，當彈性臂結構611的限位突緣6111于滑過上框面2011并恰好達到其與內側框面2013限位的定位時，因其幾何構形與彈性的關系，會產生一“喀搭”聲響，有效輔助操作人員確認其定位關系。
本發明電子元件測試插置座的移動限位件6(6a、6b)因應測試電子元件5厚度的不同，其厚度亦可隨之作略為的調整或是增加額外的卡塞片。
綜上所述，本發明所借由其構形維持基座與壓控框架間的距離在固定的裝置行程上，可有效于測試插置座上形成穩固的限位關系，確保電子元件于測試插置座上的設置。
權利要求
1.一種電子元件測試插置座的移動限位件，其特征在于它為插置于測試插置座壓控框架兩相對的隧槽側邊下方與基座之間下壓裕度隧槽內的一體成形成構件，它包括抵靠并限位于下壓裕度隧槽外壓控框架上的限位部、由限位部延伸出的近塞部、與近塞部相對的遠塞部及連接近塞部與遠塞部的連接部；近塞部及遠塞部分別被夾制于壓控框架鄰近及遠離限位部的隧槽側邊下方的下壓裕度隧槽內。
2.根據權利要求1所述的電子元件測試插置座的移動限位件，其特征在于所述的連接部上設有至少一鏤空的觀測窗。
3.根據權利要求1所述的電子元件測試插置座的移動限位件，其特征在于所述的遠塞部延伸出運用時伸出下壓裕度隧槽外的突出尾部，并于突出尾部上設有至少一供卡栓插置的限位槽。
4.根據權利要求1、2或3所述的電子元件測試插置座的移動限位件，其特征在于所述的限位部寬度大于下壓裕度隧槽的寬度以構成橫向限位結構。
5.根據權利要求1、2或3所述的電子元件測試插置座的移動限位件，其特征在于所述的限位部構形為塊狀結構以構成縱向限位結構，以借由其體積直接堵塞形成與壓控框架間的限位。
6.根據權利要求1、2或3所述的電子元件測試插置座的移動限位件，其特征在于所述的限位部延伸勾掛于壓控框架的隧槽側邊遠離基座上框面的彈性臂結構以形成縱向限位結構。
7.根據權利要求6所述的電子元件測試插置座的移動限位件，其特征在于所述的彈性臂結構的自由末端下方設有至少一恰好越過上框面以與隧槽側邊的內側框面產生限位關系的限位突緣。
全文摘要
一種電子元件測試插置座的移動限位件。為提供一種確實維持裝置行程、穩固測試插座上電子元件設置的電子元件測試裝置部件，提出本發明，它為插置于測試插置座壓控框架兩相對的隧槽側邊下方與基座之間下壓裕度隧槽內的一體成形成構件，它包括抵靠并限位于下壓裕度隧槽外壓控框架上的限位部、由限位部延伸出的近塞部、與近塞部相對的遠塞部及連接近塞部與遠塞部的連接部；近塞部及遠塞部分別被夾制于壓控框架鄰近及遠離限位部的隧槽側邊下方的下壓裕度隧槽內。
文檔編號G01R31/00GK1479106SQ0314599
公開日2004年3月3日 申請日期2003年7月18日 優先權日2003年7月18日
發明者王德弘 申請人:威盛電子股份有限公司