專利名稱：玻璃基板與ic壓合偏移量檢測(cè)裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于液晶顯示器部件檢測(cè)裝置及方法，特別是一種玻璃基板與IC壓合偏移量檢測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù)：
隨著薄膜電晶體制作技術(shù)快速地進(jìn)步，液晶顯示器由于具務(wù)輕薄、省電、無輻射線等優(yōu)點(diǎn)，因此，大量地應(yīng)用于個(gè)人數(shù)位助理器(PDA)、筆記型電腦、數(shù)位相機(jī)、攝錄影機(jī)、移動(dòng)電話等各式電子產(chǎn)品中。再加上業(yè)界積極投入研發(fā)以采用大型化的生產(chǎn)設(shè)備，使液晶顯示器的品質(zhì)不斷提高，且價(jià)格持續(xù)下降，更使得液晶顯示器的應(yīng)用領(lǐng)域迅速擴(kuò)大。
如圖1所示的典型液晶顯示器面板10在制作過程中，往往會(huì)藉由膜層沉積及微影蝕刻等制程，即在玻璃基板12上制作大量的薄膜電晶體(TFT)、像素電極及彼此縱橫交錯(cuò)的掃描線及資料線圖案，而構(gòu)筑所需的像素陳列(pixelarray)。接著，可在玻璃基板12上制作一個(gè)液晶分子層，再將已制作彩色濾光片(color filter；CF)14覆蓋于玻璃基板12及液晶分子層上方，從而構(gòu)成所需的液晶顯示器面板10。為了提供液晶顯示器面板10上各個(gè)像素元件中薄膜電晶體所需的操作電壓及訊號(hào)，在玻璃基板12的表面周圍會(huì)制作復(fù)數(shù)個(gè)接觸墊(pad)16，并藉以與外界的IC互相導(dǎo)通連接，以達(dá)到將顯示器面板10與軟性電路板電性連接的目的。其中外界的IC通常都是先以COF封裝方式結(jié)合于軟性電路板，再利用設(shè)置于軟性電路板端部的凸塊(bump)與接觸墊16互相壓合。
如圖2所示，顯示器面板 0的接觸墊16系設(shè)置于朝下置放的玻璃基板12表面，軟性電路板的IC所延伸的凸塊(bump)18則位于接觸墊16的下方。
顯示器面板10的接觸墊16與IC的凸塊18在壓合之前，必須先在接觸墊16與凸塊18之間貼附一層含有異向?qū)щ娗?ACF)20的膠帶(tape)。膠帶在經(jīng)熱壓合后將熔化，而異向?qū)щ娗?0則分別可與接觸墊16及凸塊18相互連接，使顯示器面板10與IC之間電性導(dǎo)通以達(dá)到壓合的效果。
然而，在實(shí)際壓合過程中，卻經(jīng)常發(fā)生接觸墊16與凸塊18偏移的現(xiàn)象，從而影響顯示器面板10的品質(zhì)。壓合偏移的原因很多，其包括接觸墊16或凸塊18本身在制作過程中就已經(jīng)發(fā)生的曝光偏移、壓合時(shí)兩者之間自然發(fā)生的偏移及壓合過程中膠帶熔解成流體后導(dǎo)致的偏移。因此，在除了要設(shè)法避免壓合過程中的偏移，尚須在壓合之后進(jìn)行偏移檢測(cè)，以確保顯示器面板10的品質(zhì)。
如圖3所示，習(xí)知的對(duì)玻璃基板12的接觸墊16與IC凸塊18壓合偏移量檢測(cè)方法系利用顯微鏡22對(duì)玻璃基板12進(jìn)行壓合偏移量檢測(cè)。其中，顯微鏡22系設(shè)置于玻璃基板12正上方，其系以正向光源照射于玻璃基板12上，并藉由觀察玻璃基板12上反射光判定壓合偏移量。
如圖2所示，當(dāng)正向光源照射于接觸墊16與凸塊18壓合區(qū)時(shí)，其反射面系為接觸墊16，其表面較為光滑，因此，正向光源照射于此區(qū)后的反射光將以垂直玻璃基板12的方向射出，如光線1-1’。
當(dāng)正向光源照射于偏移區(qū)時(shí)，其反射面主要為凸塊18或異向?qū)щ娗?0，其中凸塊18的表面較為粗糙，而異向?qū)щ娗?0則為曲面，因此，正向光源照射于此區(qū)后的反射光將會(huì)以各種不同的偏斜角度射出，如光線2-2’、3-3’。
當(dāng)正向光源照射于非壓合區(qū)時(shí)，則因其無反射面，因此，正向光源照射于此區(qū)后將直接穿透玻璃基板12而不會(huì)產(chǎn)生反射光。
當(dāng)檢測(cè)人員在以顯微鏡22觀察正向光源的反射光時(shí)，將只能觀察到壓合區(qū)所反射的垂直反射光，而對(duì)于偏移區(qū)的反射光因其反射的角度過大而無法進(jìn)入可視區(qū)，因此，不容易透過顯微鏡22觀察。同樣在非壓合區(qū)也因沒有反射光的產(chǎn)生而很難察覺。因此，習(xí)知技術(shù)在檢測(cè)時(shí)，不但不容易分辨出接觸墊與凸塊的壓合是否有偏移產(chǎn)生，也無法分辨出壓合偏移量。究其原因主要系因?yàn)榱?xí)知技術(shù)所產(chǎn)生的反射光特征不明顯，因此，對(duì)于壓合偏移量判定較不易且不利于影像處理；此外，由于系以人工檢測(cè)，判定結(jié)果很難保持一致性；且量測(cè)壓合偏移量時(shí)必須花費(fèi)較長(zhǎng)時(shí)間，不符合量產(chǎn)需求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種檢測(cè)簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確、快速、確保檢測(cè)結(jié)果一致性的玻璃基板與IC壓合偏移量檢測(cè)裝置及方法。
本發(fā)明檢測(cè)裝置包括設(shè)置于與IC壓合后玻璃基板上方的光學(xué)鏡頭及以特定入射角度照射于光學(xué)鏡頭下方玻璃基板的側(cè)向光源；光學(xué)鏡頭可視范圍必須覆蓋玻璃基板的反射光；檢測(cè)方法系在玻璃基板接觸墊與IC凸塊壓合后，使設(shè)置于玻璃基板上方側(cè)向光源以特定偏斜角度照射于玻璃基板的壓合區(qū)、偏移區(qū)及非壓合區(qū)；再利用設(shè)置于玻璃基板上方的光學(xué)鏡頭接收側(cè)向光源的反射光。
其中側(cè)向光源系為外側(cè)設(shè)有導(dǎo)光罩且環(huán)繞光學(xué)鏡頭的環(huán)形光源形成。
光學(xué)鏡頭系為電荷耦合元件。
由于本發(fā)明檢測(cè)裝置包括設(shè)置于與IC壓合后玻璃基板上方的光學(xué)鏡頭及以特定入射角度照射于光學(xué)鏡頭下方玻璃基板的側(cè)向光源；光學(xué)鏡頭可視范圍必須覆蓋玻璃基板的反射光；檢測(cè)方法系在玻璃基板接觸墊與IC凸塊壓合后，使設(shè)置于玻璃基板上方側(cè)向光源以特定偏斜角度照射于玻璃基板的壓合區(qū)、偏移區(qū)及非壓合區(qū)；再利用設(shè)置于玻璃基板上方的光學(xué)鏡頭接收側(cè)向光源的反射光。當(dāng)側(cè)向光源照射于玻璃基板接觸墊與IC凸塊壓合區(qū)時(shí)，反射面系為接觸墊，其表面較為光滑，因此，側(cè)向光源以特定偏斜角度照射此區(qū)時(shí)，其反射光的反射角恰好等于入射角，因此，反射光不易進(jìn)入光學(xué)鏡頭的可視范圍；當(dāng)側(cè)向光源照射于偏移區(qū)時(shí)，其反射面為凸塊的粗糙表面或異向?qū)щ娗虻那?，因此，?cè)向光源以特定偏斜角度照射此區(qū)后將產(chǎn)生漫射現(xiàn)象，因此，此區(qū)的反射光將較容易進(jìn)入光學(xué)鏡頭的可視范圍；當(dāng)側(cè)向光源照射于非壓合區(qū)時(shí)，由于此區(qū)并沒有反射面，因此，側(cè)向光源系直接穿透玻璃基板并且不會(huì)產(chǎn)生反射光；以光學(xué)鏡頭檢測(cè)反射光時(shí)，由于壓合區(qū)的反射光偏斜角度過大，因此，不易進(jìn)入光學(xué)鏡頭的可視區(qū)，而非壓合區(qū)則又因無反射光產(chǎn)生，因此，只有在偏移區(qū)的反射光因其為漫射現(xiàn)象而最容易進(jìn)入光學(xué)鏡頭的可視區(qū)。在檢測(cè)時(shí)，光學(xué)鏡頭在此處所感應(yīng)到的反射光的亮度明顯較其它區(qū)域強(qiáng)，因此，可透過觀察反射光的亮度范圍判斷玻璃基板與IC壓合偏移量，并將亮度轉(zhuǎn)換成訊號(hào)再進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)的結(jié)果轉(zhuǎn)換成數(shù)值并產(chǎn)生成量化標(biāo)準(zhǔn)，則本發(fā)明不但能以自動(dòng)化方式取代人工檢測(cè)，其檢測(cè)的結(jié)果也將會(huì)較人工檢測(cè)更為準(zhǔn)確，檢測(cè)的品質(zhì)也會(huì)較佳。不僅檢測(cè)簡(jiǎn)單、快速，而且準(zhǔn)確、確保檢測(cè)結(jié)果一致性，從而達(dá)到本發(fā)明的目的。
圖1、為典型的液晶顯示器面板結(jié)構(gòu)示意正視圖。
圖2、為習(xí)知檢測(cè)方法光線反射示意側(cè)視圖。
圖3、為習(xí)知的檢測(cè)方法示意圖。
圖4、為本發(fā)明示意圖。
圖5、為本發(fā)明光線反射示意側(cè)視圖。
具體實(shí)施例方式
如圖4所示，本發(fā)明檢測(cè)裝置包括設(shè)置于與IC壓合后玻璃基板上方的光學(xué)鏡頭及以特定入射角度照射于光學(xué)鏡頭下方玻璃基板的側(cè)向光源。
側(cè)向光源系為外側(cè)設(shè)有導(dǎo)光罩且環(huán)繞光學(xué)鏡頭的環(huán)形光源41形成，即環(huán)形光源藉導(dǎo)光罩導(dǎo)引以構(gòu)成照射于玻璃基板12上的側(cè)向光源。
光學(xué)鏡頭40系為電荷耦合元件(CCD)，其可視范圍必須覆蓋玻璃基板12的反射光。
如圖4、圖5所示，本發(fā)明檢測(cè)方法系在玻璃基板12接觸墊16與IC凸塊18壓合后，以設(shè)置于玻璃基板12上方外側(cè)設(shè)有導(dǎo)光罩且環(huán)繞光學(xué)鏡頭40的環(huán)形光源41形成側(cè)向光源照射于玻璃基板12上；再利用設(shè)置于玻璃基板12上方的光學(xué)鏡頭40接收環(huán)形光源41形成側(cè)向光源的反射光。
光學(xué)鏡頭40系為電荷耦合元件(CCD)，其可視范圍必須覆蓋玻璃基板12的反射光。
檢測(cè)時(shí)，玻璃基板12的反射光必須能夠進(jìn)入光學(xué)鏡頭40的可視范圍，且能夠產(chǎn)生足夠的亮度。
如圖5所示，當(dāng)環(huán)形光源41形成的側(cè)向光源照射于玻璃基板12接觸墊16與IC凸塊18壓合區(qū)1A時(shí)，反射面系為接觸墊16，其表面較為光滑，因此，側(cè)向光源以特定偏斜角度照射此區(qū)時(shí)，其反射光的反射角恰好等于入射角，因此，反射光不易進(jìn)入光學(xué)鏡頭40的可視范圍，如光線5-5’。
當(dāng)環(huán)形光源41形成的側(cè)向光源照射于偏移區(qū)2A時(shí)，其反射面為凸塊18的粗糙表面或異向?qū)щ娗?0的曲面，因此，側(cè)向光源以特定偏斜角度照射此區(qū)后將產(chǎn)生漫射現(xiàn)象，因此，此區(qū)的反射光將較容易進(jìn)入光學(xué)鏡頭40的可視范圍，如光線6-6’及光線7-7’。
當(dāng)環(huán)形光源41形成的側(cè)向光源照射于非壓合區(qū)3A時(shí)，由于此區(qū)并沒有反射面，因此，側(cè)向光源系直接穿透玻璃基板12并且不會(huì)產(chǎn)生反射光，如光線8。
此時(shí)，若以光學(xué)鏡頭40，如CCD檢測(cè)反射光時(shí)，由于壓合區(qū)1A的反射光偏斜角度過大，因此，不易進(jìn)入光學(xué)鏡頭40的可視區(qū)，而非壓合區(qū)3A則又因無反射光產(chǎn)生，因此，只有在偏移區(qū)2A的反射光因其為漫射現(xiàn)象而最容易進(jìn)入光學(xué)鏡頭40的可視區(qū)。在檢測(cè)時(shí)，光學(xué)鏡頭40在此處所感應(yīng)到的反射光的亮度明顯較其它區(qū)域強(qiáng)，因此，可透過觀察反射光的亮度范圍判斷玻璃基板12與IC壓合偏移量，此外，若以CCD將亮度轉(zhuǎn)換成訊號(hào)再進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)的結(jié)果轉(zhuǎn)換成數(shù)值并產(chǎn)生成量化標(biāo)準(zhǔn)，則本發(fā)明不但能以自動(dòng)化方式取代人工檢測(cè)，其檢測(cè)的結(jié)果也將會(huì)較人工檢測(cè)更為準(zhǔn)確，檢測(cè)的品質(zhì)也會(huì)較佳。
權(quán)利要求
1.一種玻璃基板與IC壓合偏移量檢測(cè)裝置，其特征在于它包括設(shè)置于與IC壓合后玻璃基板上方的光學(xué)鏡頭及以特定入射角度照射于光學(xué)鏡頭下方玻璃基板的側(cè)向光源；光學(xué)鏡頭可視范圍必須覆蓋玻璃基板的反射光。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的玻璃基板與IC壓合偏移量檢測(cè)裝置，其特征在于所述的側(cè)向光源系為外側(cè)設(shè)有導(dǎo)光罩且環(huán)繞光學(xué)鏡頭的環(huán)形光源形成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的玻璃基板與IC壓合偏移量檢測(cè)裝置，其特征在于所述的光學(xué)鏡頭系為電荷耦合元件。
4.一種玻璃基板與IC壓合偏移量檢測(cè)方法，其特征在于它系在玻璃基板接觸墊與IC凸塊壓合后，使設(shè)置于玻璃基板上方側(cè)向光源以特定偏斜角度照射于玻璃基板的壓合區(qū)、偏移區(qū)及非壓合區(qū)；再利用設(shè)置于玻璃基板上方的光學(xué)鏡頭接收側(cè)向光源的反射光。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的玻璃基板與IC壓合偏移量檢測(cè)方法，其特征在于所述的側(cè)向光源系為外側(cè)設(shè)有導(dǎo)光罩且環(huán)繞光學(xué)鏡頭的環(huán)形光源形成。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的玻璃基板與IC壓合偏移量檢測(cè)方法，其特征在于所述的光學(xué)鏡頭系為電荷耦合元件。
全文摘要
一種玻璃基板與IC壓合偏移量檢測(cè)裝置及方法。為提供一種檢測(cè)簡(jiǎn)單、快速、準(zhǔn)確、確保檢測(cè)結(jié)果一致性的液晶顯示器部件檢測(cè)裝置及方法，提出本發(fā)明，檢測(cè)裝置包括設(shè)置于與IC壓合后玻璃基板上方的光學(xué)鏡頭及以特定入射角度照射于光學(xué)鏡頭下方玻璃基板的側(cè)向光源；光學(xué)鏡頭可視范圍必須覆蓋玻璃基板的反射光；檢測(cè)方法系在玻璃基板接觸墊與IC凸塊壓合后，使設(shè)置于玻璃基板上方側(cè)向光源以特定偏斜角度照射于玻璃基板的壓合區(qū)、偏移區(qū)及非壓合區(qū)；再利用設(shè)置于玻璃基板上方的光學(xué)鏡頭接收側(cè)向光源的反射光。
文檔編號(hào)G01B11/04GK1517673SQ03100659
公開日2004年8月4日 申請(qǐng)日期2003年1月17日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月17日
發(fā)明者陳長(zhǎng)佑, 劉象強(qiáng), 魏崇圣, 黃良印, 邱創(chuàng)文 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司, 均豪精密工業(yè)股份有限公司