專利名稱：用于使測試儀與被測器件面接的適配器方法和裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及電子系統。具體地說，本發明涉及電子測試系統。
背景技術：
現代電子系統是精密而復雜的。因此，支持技術例如測試技術的復雜性也不斷增加。曾經包括成百上千個電路的電子系統現在包括以百萬計的電路。因此，使用更復雜精密的電子測試儀測試這些電子系統。
現代電子系統通常用于具有多個模擬的和離散的元件的印刷電路板(PCB)或集成電路中。印刷電路板和集成電路包括以百萬計的器件(例如晶體管、邏輯門等)。因為印刷電路板和集成電路的尺寸相當小，這些器件被用于一個小的區域內。因此，需要使用能夠測試一個小的區域內的數千個器件的極其復雜的電子測試儀。
常規的PCB具有用于完成各種功能的若干層。根據PCB的功能，這些層由不同的材料制成，包括導電材料和絕緣材料。常規的PCB板還包括在器件之間的數千個連接。器件之間的連接通常被稱為軌跡。軌跡作為管道用于在器件之間輸送電流。所述軌跡由導電材料例如銅制成。通路在不同層的軌跡之間傳遞信號。在PCB的頂面和底面形成被稱為焊盤的由導電材料制成的區域。焊盤由軌跡連接，并作為器件的安裝位置和用于測試PCB的接觸點。
常規的電子測試系統一般包括測試儀和固定裝置。固定裝置作為測試儀和被測器件(DUT)或被測單元(UUT)之間的接口。固定裝置主要用于穩定DUT并把測試信號從測試儀送到DUT。測試儀通過固定裝置和DUT面接，并通過固定裝置向DUT的不同點施加電壓與/或電流。在測試期間，測試儀測量軌跡電流或電壓，以便確定器件的信號通路的質量或器件的操作特性。測試儀一般使用軟件進行控制，并使測試處理自動化。
常規的測試系統包括有線固定裝置和無線固定裝置。固定裝置包括一個探針板，用于固定多個探針(例如被稱為探針圖形或探針區)。探針提供從測試儀到DUT的電通路。探針借助于探針板定位在適當位置，探針板位于DUT和測試儀之間。探針在焊盤處與DUT的底面接觸。探針的相對設置的端部被固定，用于和測試儀接觸。
測試儀包括標準的測試儀接觸點圖形。測試儀接觸點提供由測試儀產生的測試信號的電通路。例如，在常規的測試儀中，測試儀接觸點是具有鋸齒狀的頭部釘子。測試儀接觸點和測試儀內的內部電子電路相連。常規的固定裝置例如有線固定裝置和測試儀接觸點接觸。通過被稱為個性插腳的插腳在有線固定裝置和測試儀接觸點之間建立電通路。個性插腳是單端線繞(single-ended wire-wrap)插腳，其被安裝在有線固定裝置中的探針板的底部內。個性插腳和測試儀接觸點實現接觸，并提供一個連接點(例如線繞的尾部)，用于在固定裝置內部實現有線連接。
在有線固定裝置中，個性插腳和測試儀接觸點在固定裝置中被設置在彼此接近的位置。在個性插腳和測試儀接觸點之間用導線連接。導線的一端繞在個性插腳上，而另一端繞在測試儀接觸點上。結果，便在測試儀和DUT之間建立了用于測試的電通路。電通路從測試儀的內部電子電路開始，延伸經過測試儀接觸點，通過個性插腳，并通過導線連接到達探針，所述探針和DUT的底面上的焊盤接觸。
隨著PCB上的器件數量的增加和PCB尺寸的減小，在固定裝置內固定探針和連接導線愈加困難。例如，可能需要把探針固定在具有5000個以上測試位置的DUT上。因此，需要5000根以上的導線被線繞在固定裝置中，以便在測試儀和DUT之間建立電連接。這大量的導線使得在非常小的區域內引起難以置信的擁塞。此外，如果具有故障或者錯連線連接，將非常難于識別具有功能障礙的導線。因此故障診斷成為問題。
因此，研制了更現代化的試圖不需要固定裝置中的導線的固定裝置。這種更新形式的固定裝置通常指的是無線固定裝置。在更新的一種型式中，固定裝置容納著探針，所述探針用于和DUT的底面上的焊盤接合。一個固定裝置PCB板或者無線PCB被設置在固定裝置內，并被置于探針的相對設置的端部。無線PCB包括多個軌跡圖形，用于在無線PCB的頂面和底面上的焊盤之間在PCB內傳遞電信號。在測試儀和無線PCB的底面之間實現接觸。因此，在測試儀和無線PCB之間建立電通路。測試信號通過無線PCB內的各個軌跡圖形被傳遞。此時探針和無線PCB的頂面實現接觸，因而在無線PCB和DUT之間建立電通路。最后，使用無線PCB，從測試儀通過無線PCB到DUT建立電通路。
為了建立好的電通路，固定裝置的元件例如無線PCB必須被精確地定位。在常規的無線固定裝置中，無線PCB由螺絲固定，以便把無線PCB保持在合適的位置，并用于把PCB支撐在板的表面的上方。利用螺絲把無線PCB連接到固定裝置上來穩定無線PCB，這帶來了大量的問題。例如，具有初始固定裝置的設計和裝配問題。
螺絲被這樣設置，使得它們避開探針圖形，并且使軌跡沿無線PCB迂回，以便避開螺絲。此外，螺絲被置入無線PCB中，并以協調的方式緊固，使得在無線PCB內不會出現不平衡的力。不平衡的力可以引起PCB的破裂，使信號通路斷開，或者產生對準不良，因此，采用許多措施，力圖避免所述不平衡的力。例如，按照特定的順序把螺絲置于無線PCB內，并且一次旋入1/4圈。
此外，在無線PCB設置螺絲引入了大量的額外處理。在探針密度高的位置，一般需要螺絲，以便穩定無線PCB。不過，在探針密度高的位置也需要高密度的軌跡。因此，當需要在探針密度高的區域內和周圍設置高密度的軌跡時，便使得設置螺絲非常困難。探針密度對螺絲設置的利益競爭經常引起PCB的成本過高。
如上所述，在無線PCB中的螺絲必須被這樣設置，使得它們不干擾探針圖形。此時在PCB的設計期間軌跡被添加在螺絲位置的周圍作為迂回處理的一部分。螺絲的放置是一種手動操作，并且螺絲的存在極大地妨礙了軌跡的迂回。在固定裝置的初始安裝期間由螺絲引起的手動干預和軌跡迂回困難大大增加了固定裝置的制造成本。
此外，常規的固定裝置的維修和維護是一種大量的手動操作。維修經常需要把螺絲從無線PCB中取出，并把螺絲放回無線PCB中，這是困難而費時的操作。此外，因為這是一種需要大量的人工干預的工作，所以維修可以引起更多的問題，最終引起測試誤差。
改變常規的固定裝置是一種投資非常高的事業。工程變動單(ECO)是對固定裝置的改變，其一般由DUT的設計的改變所驅動。這些ECO通常涉及固定裝置的重新布線，這可能需要改變無線PCB。因此，由于這些改變以及由于這些改變可能引起的錯誤招致額外的處理。螺絲可能再次需要被除去，再次被插入，并且然后被均勻地擰緊，以便在ECO期間平衡無線PCB上的任何力。
此外，因為公司經常需要改變DUT，這使得固定裝置和無線PCB不斷地被手動地改變。長的固定裝置的實施時間，以便適應DUT的改變，使得制造時間延長，延長交貨日期，增加費用等。此外無線PCB必須被合適地對準，以便在這些改變期間正確地導向目標，并實現在探針和無線PCB之間的良好接觸。如果在無線PCB和探針之間未建立良好的接觸，則難于知道是DUT有故障還是在固定裝置中對準不良或者探針接觸不良。
因而，在本領域中需要一種能夠把無線PCB中的螺絲的數量減到最少的方法和裝置。本領域中需要一種容易維修的固定裝置。本領域中需要一種能夠容易地適應改變的固定裝置。本領域中需要一種容易裝配、調試和維護的固定裝置。
發明內容
本發明提供了一種固定裝置組件。所述固定裝置組件包括用于與被測試的器件配合的器件組件，以及測試儀接口組件，其用于在一側與器件組件配合而在相對側與測試儀配合。所述器件組件包括隨著每個被測器件而改變的探針區。所述測試儀接口組件包括和測試儀配合的標準化的探針區。在本發明中，固定裝置的改變可以通過除去或者更換器件組件來實現，而使用同一個測試儀接口組件。
在本發明的一個實施例中，固定裝置包括第一組件，其包括第一探針區，所述第一探針區和器件面接。和所述第一組件配合的第二組件，所述第二組件把第一探針區映射到第二探針區，所述第二探針區和測試儀相連。
在本發明的第二實施例中，固定裝置包括含有第一探針區的探針板，所述探針板容納著第一探針區中的許多探針。一個框架被設置在所述探針板的下方，并用于保持所述探針板的對準。一個負載板位于框架的下方，其中所述許多探針通過負載板延伸。一個接口板被設置在負載板的下方，并和所述許多探針接觸。一個支撐板被設置在所述接口板的下方，所述支撐板對所述探針板、框架、負載板和接口板提供支撐。
在本發明的第三實施例中，固定裝置包括具有第二探針區的探針板，所述探針板容納著第二探針區中的許多探針。一個框架被設置在所述探針板的下方，并用于保持所述探針板的對準。一個負載板包括第二探針區。所述負載板被設置在框架的下方，并且所述探針通過負載板延伸。一個接口板被設置在負載板的下方，并和所述許多探針接觸。
在本發明的第四實施例中，固定裝置包括一個具有頂側和底側的框架。一個探針板包括第二探針區，所述探針板相對于框架的頂側設置，所述探針板容納著第二探針區中的許多探針。一個負載板相對于所述框架的底側設置。所述許多探針通過所述負載板延伸。一個接口板相對于框架的底側設置。所述接口板和通過負載板延伸的許多探針接觸。
在本發明的第五實施例中，固定裝置包括具有第一探針區的第一探針板。所述第一探針板容納著第一探針區中的第一組探針。一個第一框架被設置在第一探針板的下方，并用于保持第一探針板的對準。一個第一負載板被設置在所述第一框架的下方。所述第一組探針通過第一探針板延伸。第一接口板包括頂側和底側，所述第一接口板被設置在第一負載板的下方，并和所述第一接口板的頂側上的一組探針接觸。一個支撐板被設置在第一接口板的下方，所述支撐板對第一探針板、第一框架、第一負載板以及第一接口板提供支撐。
一個第二探針板被設置在支撐板的下方，所述第二探針板包括第二探針區。所述第二探針板容納著第二探針區中的第二組探針。所述第二組探針通過所述支撐板向上延伸，并和第一支撐板的底側上的第一接口板實現接觸。一個第二框架被設置在第二探針板的下方，并用于保持所述第二探針板的對準。一個第二負載板包括第二探針區。所述第二負載板被設置在第二框架的下方。所述第二組探針通過第二負載板延伸。一個第二接口板位于第二負載板的下方，并和所述第二組探針實現接觸。
圖1是按照本發明的教導實施的固定裝置組件的分解的三維視圖；圖2是一種器件組件的分解的三維示意圖；圖3是測試儀接口組件的分解的三維示意圖。
具體實施例方式
雖然這里參照特定應用的實施例說明本發明，但是應當理解，本發明不限于此。本領域普通技術人員將會認識到，根據本發明的教導，在本發明的范圍內和本發明具有大的實用性的其它技術領域內，本發明可以具有許多另外的改型、應用和實施例。
圖1是按照本發明的教導實施的固定裝置組件的分解的三維視圖。圖1所示的固定裝置組件包括器件組件102，測試儀接口組件100。在本發明中，測試儀接口組件100用于和測試儀面接，并使測試儀標準化。器件組件102是一種用于特定的DUT的特定的接口。器件組件102包括具有探針區(例如探針圖形)的探針板，所述探針區被設計用于和特定的DUT配合。測試儀組件100包括探針板，其具有被設計用于和測試儀配合的標準的探針圖形。
器件組件102被構成用于和特定的DUT配合。器件組件102包括許多探針，它們形成被稱為探針區或探針圖形的圖形。在器件組件102中的探針區被設計用于面接DUT。器件組件102被設計用于和測試儀接口組件100配合或互鎖。測試儀接口組件100具有標準化的探針區，其被設計用于和標準的測試儀配合。因此，在測試儀中的電接點接觸測試儀接口組件100，因而在測試儀和測試儀接口組件100之間建立電通路。然后，測試儀接口組件100和器件組件102互鎖。器件組件102被這樣設計，使得在測試儀接口組件100和DUT之間通過器件組件102可以建立電通路。
探針板包括標準的探針區，探針板被包括在測試儀接口組件100中。探針板容納著許多探針，它們通過測試儀接口組件100提供源自測試儀的電通路。如上所述，器件組件102也可以包括具有DUT特定探針圖形的探針板。測試儀接口組件100和器件組件102的互鎖提供電通路。測試儀接口組件100中的探針通過無線PCB板和器件組件102中的探針接觸。結果，在測試儀接口組件100中的探針和在器件組件102中的探針之間建立電通路。
器件組件102和測試儀接口組件100共同工作，把一個標準化的探針區映射為DUT特定探針區。在測試儀接口組件100中的探針被設置成標準的(例如和測試裝置匹配的探針區)探針區。在測試儀接口組件100中的探針向上延伸，和位于器件組件102中的無線PCB的底面接觸。在器件組件102中的探針和無線PCB的頂面接觸，從而形成測試信號的電通路。在器件組件102中的探針被設置在一個探針區中，所述探針區映射到DUT，并被設置和DUT接觸。結果，器件組件102再次把和測試儀相關的標準的探針區映射到和DUT相關的DUT特定的探針區。此外，在測試儀和DUT之間建立電通路。
固定裝置組件的尺寸大約是30英寸長，20英寸寬。當處于互鎖位置時，固定裝置組件的高度大約是3-4英寸。不過，應當理解，這些尺寸可以改變，并且所述改變仍然落在本發明的范圍內。
圖2是器件組件的分解的三維示意圖。圖2的器件組件相應于圖1的器件組件102。器件組件包括下面規定的幾個接口。
探針板用標號214表示。探針板214支撐來自安裝在器件組件中的探針的載荷。探針板214上鉆有呈和DUT匹配的圖形的孔。探針(例如雙端探針)被設置在這些孔中，并形成一個探針區。雙端探針包括接合(即接觸)DUT的第一端，以及接合位于器件組件中的無線PCB的相對設置的一端。一旦探針被置于孔中，探針便形成一個專門被設計用于和DUT實現接觸的探針圖形(例如探針區)。
結構框架用標號210表示。結構框架210提供結構支撐和器件組件的對準。在本發明的一個實施例中，探針板214被固定在結構框架210上。在結構框架210中，提供有開口212，使得探針能夠通過結構框架210向下延伸，并和位于結構框架210下方的接口實現接觸。結構框架210由結實的、重量輕的材料例如鋁制成。
結構框架210是在探針板214和器件組件的下部分之間的一個結構上的橋部。結構框架210還使探針板214穩定，并幫助使探針板214相對于器件組件的其它部分被固定。最后，結構框架210用于定位和連接的所述器件組件中的所有載流元件的作用，并使所述載流元件和其各自的接觸點相連。
負載板用標號208表示。負載板208為DUT專用的。負載板208鉆有間隙孔(clearance hole)，使得探針能夠清除負載板208，并且垂直地通過負載板208延伸。結果，負載板208包括和探針板214相同的探針圖形。負載板208由合成材料制成。負載板208還保護在器件組件中使用的雙端探針的底端。最后，負載板208支撐著由下述的測試儀接口組件產生的器件組件中的負載力。
在本發明的一個實施例中，可能只有3000個向下推的探針位于器件組件中，在測試儀中具有6900個或更多的向上推的探針。因此，在器件組件中可能具有大的不均衡。負載板208則平衡并支撐所述受力下的不均衡。
接口板例如無線PCB用標號206表示。在無線PCB206的頂面上與被映射到特定的DUT的探針實現接觸。在無線PCB206的底面上和被映射到測試儀的探針實現接觸。結果，無線PCB作為一個接口，用于利用DUT特定探針區重新映射測試儀的標準的探針區。無線PCB206的尺寸被這樣選擇，使得其處于大多數PCB制造者的尺寸限制標準之內。限制無線PCB206的尺寸能夠減少元件的最終制造成本。在本實施例中，無線PCB206的尺寸是221/2×161/2。不過，應當理解，這些尺寸可以改變，而不脫離本發明的范圍和構思。
無線PCB提供一種容易進行改變的機構。例如，在固定裝置組件中通過跨過無線PCB的表面焊接導線可以進行改變。此外，無線PCB能夠幫助進行針對DUT的設計改變。當進行所述改變時，操作者可以在無線PCB上焊接正確的圖形。同時，操作者可以把無線PCB的設計數據交回給制造者，并使制造者根據新的圖形研制PCB。當制造者制造新的PCB時，操作者可以通過臨時焊接的PCB繼續試驗，直到新的PCB能夠使用為止。
PCB支撐板用標號200表示。其由結實的材料例如鋁制成。因為PCB支撐板200直接和無線PCB206相鄰，PCB支撐板200必須是不導電的，因此具有硬的陽極化的鍍層。結構框架210和PCB支撐板200夾著無線PCB206和負載板208，并保持無線PCB206相對于固定裝置的其它部分的相對位置。
PCB支撐板200包括整體的格柵圖形202。另外，結構橋部204為柵格圖形202提供支撐。測試儀接口組件的探針從下面向上延伸，并通過格柵圖形202。探針和位于無線PCB206的底面上的焊盤接觸。維持無線PCB206的相對位置使得來自上方的通過負載板208延伸的探針能夠和無線PCB206的頂面上的焊盤實現接觸，并使得來自下方的通過格柵圖形202延伸的探針和無線PCB206的底面上的焊盤實現接觸。當器件組件被測試者固定并對器件組件施加力時(例如向下拉動就位)時，PCB支撐板200還保持器件組件中的機械對準。
當固定裝置拆離測試儀器時，PCB支撐板200還對無線PCB206提供結構支撐。當固定裝置在測試條件下時，具有數千個向上推的探針和在組件內的數百/數千個向下推的探針。因此，在器件組件內部產生力。當器件組件從測試儀上拆下時，則除去向上推的力，因此，在器件組件中具有不平衡的力。當器件組件被從測試儀上拆下時，PCB支撐板200和負載板208通過承擔由所述不平衡引入的負載力支撐著PCB。
在本發明的一個實施例中，無線PCB206被封裝在負載板208和PCB支撐板200之間。這是由當前的設計提供的一個改進，因為作為重要元件的PCB得到保護而免于劣化、破壞或外部影響。外部影響可以包括污物和灰塵的污染、來自被刺穿的物體的沖擊破壞，以及來自環境公害的腐蝕破壞。
為了和探針建立正確的接觸，并保持和探針對準，無線PCB應當維持和固定裝置的其它部分的相對位置。因此，無線PCB206必須保持在適當位置。無線PCB206由結構框架210、負載板208和PCB支撐板200保持在適當位置。這通過把無線PCB206夾在負載板208和PCB支撐板200之間來實現。此外，結構框架210，負載板208和PCB支撐板200支撐器件組件中的力。結果，無線PCB206便能夠利用來自器件組件的其它接口的支撐來支撐負載力。
器件組件中的接口以結構框架210為基準被定位。容納著許多探針的探針板214通過4個或更多的壓配合到結構框架210中的定位銷相對于結構框架210被定位。定位銷從結構框架210的頂面朝向探針板214凸出并伸入所述探針板。結構框架210還為負載板208、PCB支撐板200和無線PCB206提供類似的參考定位銷。定位銷幫助無線PCB206相對于組件中的其它接口被定位。定位銷朝向測試儀向下凸出，并裝配在負載板208、PCB支撐板200和無線PCB206的緊配合孔中。依據無線PCB206和PCB支撐板200的位置的定位銷向下凸出，并通過負載板208中的松配合孔。
在本發明的方法和裝置中，使用定位銷來精確地使探針板214、負載板208和無線PCB206彼此相對地定位。結構框架210為器件組件中的所有接口以及其它元件提供基準點，并且當在測試期間被向下推和測試儀接口組件配合時，其自身通過類似的裝置相對于測試儀接口組件被定位。
圖3表示圖1所示的測試儀接口組件100的三維分解圖。安全裙邊用標號318表示。在安全裙邊318中提供有開口320，用于幫助在測試儀接口組件和器件組件之間實現接觸。安全裙邊318是一個人的因素安全裝置，其幫助避免對操作者造成損傷。當測試者把測試儀接口組件推到其位置上時，具有大的向下的力。當固定裝置組件未被向下推時，安全裙邊蓋住在測試儀接口組件和DUT組件之間的任何間隙。結果，便減少了當固定裝置被向下推時可能給操作者造成的損傷。安全裙邊318由結實的材料例如鋁或塑料制成。
探針保護板用標號312表示。探針保護板312是一個薄的導電接口，其提供測試儀頂部(即測試頭)的靜電放電保護。操作者如果接觸探針保護板312，則靜電電荷被所述探針保護板312消散掉。結果，操作者便不會把電荷(例如，電擊)傳遞到測試頭上。在探針保護板312上具有孔的圖形314。所述孔的圖形314使得在探針區中的探針能夠向上通過孔的圖形314延伸，并和固定裝置器件實現接觸。橫桿部件316幫助對探針保護板312提供穩定性。
接口探針板用標號310表示。接口探針板310鉆有標準的探針區，用于支撐雙端探針。被標準化的探針區被設計成使測試儀接口組件能夠和測試儀配合。接口探針板310由合成材料例如纖維玻璃和環氧樹脂制成。
接口框架用標號304表示。接口框架是一種結構框架，其支撐著測試儀接口組件。在本實施例中，接口框架304是一個5部分的框架，包括兩個端部元件，兩個側部元件，和一個橋接元件308。在框架的中心，具有由橋接元件308隔開的兩個開口306。所述兩個開口使框架能夠和組件的其它部分對準，并且使由探針板310保持的探針能夠通過接口框架304延伸，并和兩件的接口PCB300實現接觸。接口框架304用作測試儀接口組件的結構和對準部件，其把測試儀接口組件中的所有元件保持相互相對對準。接口框架304承載著上方的接口探針板310和下方的測試儀接口組件的其它元件之間的負載。接口框架304會保護容納在測試儀接口組件中的兩件的接口PCB300。
在測試儀接口組件中的接口和元件的位置相對于接口框架304被確定。含有許多探針的接口探針板310通過4個或多個壓配合到接口框架304中的定位銷相對接口框架304定位。定位銷從接口框架304的頂面朝向接口探針板310中的緊配合孔突出，并伸入所述孔中。接口框架304還對兩件的接口負載板302和兩件的接口PCB300提供類似的參考定位銷。結果，定位銷使兩件的接口PCB300能夠相對于固定裝置接口組件中的其它接口被正確地定位。
在本發明的方法和裝置中，接口探針板310、兩件的負載板302和兩件的PCB300被精確地彼此相對地定位。定位銷向下朝向測試儀突出并裝配在提供在兩件的負載板302以及兩件的PCB300中的緊配合孔中。此外，兩件的PCB300被用螺絲或者用機械方式固定在兩件的負載板302上。接口框架304為測試儀接口組件中的所有接口和其它元件提供基準點，并在測試期間當其和測試儀配合時，其自身通過類似的裝置被固定在測試儀上。
兩件的接口負載板用標號302表示。兩件的接口負載板302彼此互為相同的鏡像復制品。兩件的接口負載板302被鉆有間隙孔，使得被保持在接口探針板310中的雙端探針的底端可以通過鉆的間隙孔向下延伸。雙端探針被安裝在接口探針板310中，通過接口框架304中的開口并通過兩件的負載板302中的間隙孔延伸。在接口負載板302中的間隙孔足夠大，使得探針不接觸負載板中的孔。兩件的負載板302由合成材料制成。最后，在測試儀接口組件中的兩件的PCB300被固定在兩件的負載板302上。
兩件的負載板302用于支撐加載的力。例如，如果測試儀接口組件要從測試頭上拆下，則沒有從下向上推的測試儀接口探針，但是仍然有從上向下推的雙端探針的整個探針區。兩件的負載板302支撐著探針區中的從上向下推的探針的負載。
兩件的PCB用標號300表示。兩件的PCB300彼此互為鏡像復制品。兩件的接口相對于測試儀被標準化。兩件的PCB300作為一個接口，其把標準的測試儀接口探針區映射到相對于在上方的器件組件中的無線PCB206的多功能的可用區。兩件的PCB300對于信號的完整性和信號的保真度被優化，使得操作者或終端用戶可以維持相同的測試質量，而不管是否使用所述組件。兩件的PCB300由合成材料制成，具有銅層和軌跡。
因此，本發明結合特定應用的特定實施例進行了說明。具有本領域的普通技術并可獲知本發明教導的人員將會認識到，在本發明的構思內，可以具有許多其它的改進、應用和實施例。
因此，應認識到，所附的權利要求覆蓋了本發明構思內的任何以及全部的應用、改進和實施例。
權利要求
1.一種固定裝置，其特征在于，具有第一組件(102)，其包括第一探針區，所述第一探針區和一個器件面接；以及和所述第一組件(102)配合的第二組件(100)，所述第二組件把第一探針區映射到第二探針區，所述第二探針區和測試儀面接。
2.一種組件，其特征在于，具有包括頂側和底側的框架(304)，包括探針區的探針板(310)，所述探針板相對于框架(304)的頂側設置，探針板(310)容納著探針區中的許多探針，相對于所述框架(304)的底側設置的負載板(302)，其中所述許多探針延伸通過負載板(302)，以及相對于所述框架(304)的底側設置的接口板(300)，所述接口板(300)與延伸通過所述負載板(302)的許多探針接觸。
3.一種固定裝置，包括具有第一探針區的第一探針板(214)，所述第一探針板容納著第一探針區中的第一組探針；第一框架(210)，其被設置在所述第一探針板(214)的下方，并用于保持所述第一探針板(214)的對準；第一負載板(208)，其位于所述第一框架(210)的下方，其中所述第一組探針延伸通過所述第一負載板(208)；具有頂側和底側的第一接口板(206)，其被設置在所述第一負載板(208)的下方，并與第一接口板(206)的頂側上的所述第一組探針接觸；一個支撐板(200)，其被設置在所述第一接口板(206)的下方，所述支撐板(200)為所述第一探針板(214)、第一框架(210)、第一負載板(208)和第一接口板(206)提供支撐；第二探針板(310)，其被設置在所述支撐板(200)的下方，所述第二支撐板(310)包括第二探針區，所述第二探針板容納著第二探針區中的第二組探針，所述第二組探針通過所述支撐板(200)向上延伸，并與第一接口板(206)在第一接口板(206)的底側實現接觸，第二框架(304)，其被設置在所述第二探針板(310)的下方，并用于保持所述第二探針板(310)的對準，第二負載板(302)，其包括第二探針區，所述第二負載板(302)被設置在第二框架(304)的下方，其中所述第二組探針通過所述第二負載板(302)延伸，以及第二接口板(300)，其被設置在所述第二負載板(302)的下方，并和所述第二組探針接觸。
全文摘要
本發明提供一種固定裝置組件(100，102)，其包括用于與被測試器件配合的器件組件(102)，以及測試儀接口組件(100)，其在一側上與器件組件配合，在第二側上與測試儀配合。所述器件組件包括專用于一種被測器件的探針區，其可以被改變以便適應于不同的器件，而不改變測試儀接口組件。測試儀接口組件包括一個用于對準和結構支撐的框架(304)，該述框架在一側與探針板(310)面接，在另一側與負載板(302)面接。探針板將一組探針保持在合適位置，而負載板提供許多孔，用于使探針通過負載板向下延伸。印刷電路板(300)被設置在負載板的下方，并和探針的端部接觸。整個測試儀接口組件被設置在電子測試儀的頂上，并利用器件組件的探針區映射測試儀的接點。
文檔編號G01R1/073GK1447125SQ0215489
公開日2003年10月8日 申請日期2002年12月3日 優先權日2002年3月21日
發明者J·E·布滋科維斯基, D·L·達默, J·L·斯塔默, B·W·托達森 申請人:安捷倫科技有限公司