專利名稱：高精度電子天平的內校砝碼校正的方法
技術領域：
本發明涉及一種高精度電子天平的內校砝碼校正的方法，屬衡器領域。
背景技術：
由于高精度電子天平的相對精度很高，均在百萬分之一以上，當受到環境溫度變化，天平自身通電后發熱的溫度變化，元器件的老化，空氣壓力的變化，水平位置的變化等多種因素的影響，都會使稱重結果不正確，因此，在很多高精度電子天平中都裝有內部校正砝碼，當當受到溫度等外部環境影響時。即時用內部校正砝碼對天平進行重新校正，修改校正系數，使天平恢復正確的稱重結果，這對高精度電子天平的稱重是非常必要的。而高精度電子天平的內校砝碼的生產有較高的要求，它對砝碼材料密度、磁化率、砝碼表面光潔度均有很高的要求外，對砝碼實際質量的準確性有較高的要求，如天平的實際分度值為0.1mg，則內部校正砝碼的實際質量誤差就應小于0.05mg，這樣的要求給砝碼生產過程中的調整帶來困難，同時由于經常使用帶來的磨損及氧化等造成砝碼質量變化，產生校正偏差，這對內部校正砝碼進行修正相當困難，目前尚沒有行之有效的內部校正砝碼的校正方法。
發明內容
本發明的目的是提供一種可降低內內校砝碼質量準確性要求，并能對已磨損、氧化造成琺碼質量變化的內校砝碼可方便地修正的高精度電子天平的內校砝碼校正的方法。
本發明的技術方案是用一個檢測程序和改變通常求校正系數的算法來實現的，其方法步驟如下1、通過本天平的稱重系統稱出內校砝碼的重量值P1，并存入微機；2、在上述同一天平上稱出一只名義值和上述內校砝碼相同的標準砝碼的重量P2，并存入微機；3、在微機內算出差值D，D＝P2-P1作為內校砝碼的修正量；
4、根據公式 求得校正系數K，存入微機。
本方法簡單方便，可使生產內校碼過程中對內校碼質量的準確性要求降低，降低生產成本，并能對已磨損、氧化造成琺碼質量變化的內校砝碼可方便地修正。
圖1為本方法程序流程圖。
具體實施例方式
本實施根據流程圖作一說明，例有一臺稱量為200克量程，實際分度值為0.0001克的電子天平。內校砝碼的名義值為200克。首先啟動程序，通過本天平的稱重系統稱出內校砝碼重量值P1為200.0010克，存入微機內存，然后用一只200克，誤差小于0.05毫克的標準砝碼，亦在本天平的稱重系統稱出其重量P2為200.0020克，在微機得到其差值D為D＝P2-P1，為200.0020-200.0010＝.0010克即為內校砝碼的修正量，根據公式 =0.999990]]>以此K值和稱量數據相乘，則得到精確的數字顯示。
其稱量過程為稱重傳感器的模擬信號經A/D轉換成數字信號輸入到微機中，在微機內進行如零點、線性化等處理得到的數據與已在微機內存放的校正系數K相乘后由顯示器顯示所稱地物重。
權利要求
1.一種高精度電子天平的內校砝碼校正的方法，其方法步驟為(1)通過本天平的稱重系統稱出內校砝碼的重量值P1，并存入微機；(2)在上述同一天平上稱出一只名義值和上述內校砝碼相同的標準砝碼的重量P2，并存入微機；(3)在微機內算出差值D，D＝P2-P1作為內校砝碼的修正量；(4)根據公式 求得校正系數K，存入微機。
全文摘要
本發明涉及一種高精度電子天平的內校砝碼校正的方法，其步驟為通過本天平稱出內校砝碼的重量值P1，并存入微機；在上述同一天平上稱出一只名義值和上述內校砝碼相同的標準砝碼的重量P2，并存入微機；在微機內算出差值D，D＝P2－P1作為內校砝碼的修正量；校正時引入D，使求得正確的校正系數K，存入微機。本方法簡單方便，可使生產內校碼過程中對內校碼質量的準確性要求降低，降低生產成本，并能對已磨損、氧化造成琺碼質量變化的內校砝碼可方便地修正。
文檔編號G01G23/01GK1472513SQ02136279
公開日2004年2月4日 申請日期2002年7月29日 優先權日2002年7月29日
發明者田莉君, 劉健, 虞慧, 蔣好鋒 申請人:上海民橋精密科學儀器有限公司