專利名稱：測試高頻電路板的同軸傾斜引腳卡具的制作方法
技術領域：
本發明涉及自動測試高頻或高速數字印制電路板和這些板上安裝的元件，并且更具體地涉及一種用于把來自測試分析儀的測試信號轉發到這些電路板或元件上的阻抗匹配傳送器卡具。
背景技術：
用來檢查印刷電路板的自動測試設備長期涉及使用測試期間在其中安裝電路板的“釘床”測試卡具或轉接器。這種測試卡具包括大量的在彈簧壓力下和被測試電路板(也稱為被測試單元或“UUT”)上的指定測試點電接觸的釘狀彈簧加載測試探針。布局在印制電路板上的任何特定電路大都和其它電路不同，從而對于具體的電路板必須定制出用于和板中的測試點接觸的釘床排列。在設計要測試的電路時，選擇檢查中使用的測試點的圖案并且在測試卡具中配置對應排列的測試探針。這典型地涉及在探針板上鉆出和測試探針的定制排列匹配的孔圖并且接著在探針板上的這些鉆出的孔里安裝測試探針以形成順應的測試接口或探針場。接著把電路板安裝在鋪放在測試探針排列上的卡具中。在測試期間，使彈簧加載的探針和被測度電路板上的測試點彈簧壓力地接觸。然后電測試信號從電路板傳送到測試探針并且接著傳送到卡具的外部，以便和檢測板上各電路中的各測試點之間的連續性或不連續性的高速電子測試分析儀通信。
一類典型的測試卡具是所謂的“網格”類測試卡具，其中通過把測試信號傳送到接收器中按網格圖案排列的接口引腳組上的轉接器引腳與板上圖案隨機的測試點接觸。典型網格卡具包括一個網格狀的順應測試接口或探針場，后者典型地包括按預定圖案形成的等距開口。由于其構成網格的預先規定的開口圖案，這種類型的順應測試接口通常稱為網格或網格基。網格型測試卡具包含帶有大量開關的測試電子電路，這些開關與和網格基開口配合的測試探針連接，從而和電子測試分析儀中的測試電路對應。在網格測試器的一實施例中使用多達四萬個的開關。當在這種測試器上測試裸板時，一個轉換器卡具支持網格基中的網格圖案測試探針和被測板上非網格圖案測試點之間的通信。在一種現有技術的網格卡具中把所謂的“傾斜引腳”用作為轉接器引腳。這些引腳是直的實心引腳并且安裝在作為轉換器卡具的一部分的轉接器板上預先鉆出的對應孔中。這些傾斜引腳可以按各種方向傾斜，以把來自UUT上的隨機、非網格圖案的測試點的各個測試信號傳送到網格基中的網格圖案的測試探針組上。
其它類型的測試卡具包括非“網格型”的測試卡具。這些卡具包含帶有圖案上和標準網格圖案不同的開口的順應測試接口。例如，這些開口可能不等距或不均勻間隔以形成“非網格圖案”。這些卡具使用傾斜引腳，以把來自順應測試接口上的非網格圖案的測試信號轉發到UUT中的非網格圖案上。UUT上的非網格圖案和順應測試接口上的非網格圖案不同。典型地，UUT上的測試點之間的間隔可短于順應測試接口上的對應探針之間的間隔。
近來的方法對用于印制電路板測試器的轉接器卡具采用轉接器引腳保持系統，該測試器在安裝上該轉接器卡具時具有背離底板的測試探針圖案。這種卡具具有多個大致平行并且間隔的轉接器板，這些板具有預先形成的孔圖案用于包含并且支持穿過轉接器卡具的這些板延伸的轉接器引腳，以供在由卡具支持的印制電路板上的測試點和該測試器的底板上的探針之間轉發測試信號中使用。在這些轉接器板之一的表面上方定位一個由彈性材料構成的薄彈性引腳保持板，從而該轉接器卡具攜帶的轉接器引腳穿過該引腳保持板。該彈性引腳保持板本質上在各轉接器引腳周圍施加壓力。當卡具傾斜或者頂面向下時，該壓力把引腳保持在卡具中。該施加在這些引腳上的壓力允許引腳獨立于該卡具的其它引腳以及各轉接器板隨該保持板移動。這實質上在卡具內避免了對引腳的順應軸向移動的阻力或限制。例如在美國5,493,230號專利中說明這種引腳保持板，該專利收錄作為參考文獻。
為了避免高頻信號的衰減，高頻或者高速數字UUT的測試要求測試源(即提供電信號的測試源)的阻抗和負載(即UUT)的阻抗匹配。此外，UUT和測試分析儀之間的互連阻抗必須和源的阻抗以及負載的阻抗匹配。目前的包含著引腳的轉接器卡具的問題在于，引腳的阻抗可能隨每個引腳變化。這種阻抗變化是由于用來測試一組測試點的二個引腳(即信號引腳和接地引腳)之間的間距上的變化造成的。這種變化是由于這樣的事實造成的，即，UUT上要測試的測試點組之間的間距和順應測試接口上的對應探針之間的間距是不同的。本質上，每組引腳構成一個以空氣為電容器介質的電容器。由于一組引腳的間距可以和另一組引腳的間距不同，從而每組引腳之間的電容并且進行每組引腳之間的阻抗也不同。由此，目前的帶有引腳的轉接器卡具不適用于測試高頻或高速UUT。
目前，典型地利用測試插座測試高頻或高速數字UUT，例如數字電路板、安裝著元件的數字電路板或者單個元件。典型地，在沿插座的整個厚度形成的空腔中安裝短的彈簧探針。UUT的接觸側和從插座一側凸出的彈簧探針的端頭壓接觸。和測試分析儀連接的接觸板和從該插座的相對側凸出的彈簧探針的端頭接觸。該測試分析儀向該接觸板發送高頻測試信號，這些信號從該板經彈簧探針發送到UUT。但是，由于插座中彈簧探針中心之間的間距由彈簧探針的物理尺寸，即彈簧探針直徑，的限制，這種類型的測試方案不能用于測試其接觸點的中心間距相對短的UUT。另外，由于探針之間的間距減小，阻抗匹配可能變成是辦不到的。為了使由于探針之間間距減小阻抗不匹配的影響為最小，必須使探針的長度為最小。確信匹配阻抗測試方案限于測試其接觸點中心間距不小于0.07英寸的UUT。
許多現有技術卡具需要一些機械裝置，例如彈簧加載探針，用于在引腳上施加順應力以確保和UUT上的測試點的恰當接觸。這種卡具的缺點是它們具有容易很快出故障的移動部件。
本發明基于認識到需要一種可用來測試其接觸點中心間距小于0.07英寸的高頻UUT的阻抗匹配互連。此外，本發明基于認識到需要一種這樣的轉接器卡具，即其不含有諸如用來向轉接器卡具中的引腳施加順應力的彈簧探針的機械裝置。
發明內容
本發明涉及一種轉接器卡具或者用于測試高頻或高速數字電路板或者被測試單元(UUT)的互連。本發明由一種轉接器卡具構成，其具有空間上間隔的頂接地支持板和底接地支持板，每塊板帶有穿過其厚度形成的引腳孔。在一實施例中，存在四塊定位在頂板和底板之間的支持板，盡管該數據是可改變的。UUT和頂板的上表面接口。該頂板具有和UUT上的一組測試點對應的引腳孔。該底板和一個順應的接口(或探針場)對接，后者具有一組按網格圖案或非網格圖案排列的彈性加載測試探針。底板上的孔和該彈簧探針圖案對應。該探針圖案典型地和UUT上的該組測試點形成的圖案不同。第二電路板和該測試分析儀以及該順應測試接口連接。
利用同軸引腳提供從測試分析儀到UUT上的測試點的信號路徑，這些測試點的中心可按小于0.07英寸甚至小于0.025英寸的距離相隔。同軸引腳是由單個由屏蔽包圍的信號引腳構成的。該信號引腳通過絕緣材料和該屏蔽隔離。該屏蔽充當地。信號引腳和每個引腳使用的屏蔽之間的間距是相同的。從而，每個同軸引腳具有相同的阻抗。
同軸引腳的端頭磨成一個點，從而各信號引腳超過各自的屏蔽。同軸引腳的一端穿過頂板上的孔，而另一端穿過底板上的孔并且和順應測試接口中的一個預先確定的彈簧加載測試探針接觸，該彈簧加載測試探針對該同軸引腳施加順從力，以確保和UUT上的測試點的可靠接觸。來自測試分析儀的信號通過第二電路板經彈簧加載測試探針并且經同軸引腳傳送到UUT上的測試點。還使用接地引腳，以使UUT上的接地點和順應測試接口中的接地的彈簧加載測試探針連接。
同軸引腳、接地引腳、同軸測試探針、UUT、測試分析儀以及接口電路板的阻抗是匹配的。順應測試接口中的各探針的阻抗是相鄰的信號探針和接地探針之間的間距的函數。阻抗上的匹配允許把這種互連應用于對高頻或高速數字電路板的測試。
在另一實施例中，該轉接器卡具不包含任何彈簧加載探針并且從而不和順應測試接口對接。而UUT和頂板對接。與測試分析儀連接的第二電路板和底板對接。同軸引腳提供第二和第一電路板之間的信號路徑。在測試期間，通過應用真空或者通過機械裝置這二塊電路板彼此相對移動，從而使各同軸引腳扣緊，最好為歐拉扣緊。引腳的扣緊造成它們對二個電路板施加順從力，從而確保引腳和UUT上的測試點之間的以及引腳和第二電路板上的適當點之間的可靠接觸。第二板上的點形成網格式或非網格式圖案。
借助該實施例，利用二件式支桿使頂板和底板隔開。每個二件式支桿包括可和第二構件滑動嚙合的第一構件。一個構件和頂板連接，而另一個構件和底板連接。在扣緊引腳之前，第一構件不跨過二個板之間的整個距離。在第一構件和一個板之間存在間隙。隨著二個電路板彼此相對地移動，各個引腳扣緊。同時，該在第一構件和一個板之間形成的間隙消失。從而，該間隙的初始寬度控制二個電路板彼此相對移動的量，并且由此引腳扣上的量。每個同軸引腳的信號引腳和屏蔽之間的間距保持不變，即使扣緊上同軸引腳時。從而，即使扣緊上，同軸引腳的阻抗保持不變。
通過改變順應測試接口或測試分析儀電路中孔間間距，引腳可以充分傾斜以提供對UUT上的接觸點的互連，這些接觸點中心之間的距離可以小于0.07英寸甚至小于0.025英寸。另外，由于同軸引腳提供阻抗匹配，可把本發明的互連應用于測試高頻UUT。
通過參照下面的詳細說明以及各附圖會更全面地理解本發明這些以及其它方面。
圖1是示意方塊圖，示出測試儀以及依據本發明原理的帶有引腳保持裝置的轉接器卡具的組成部分。
圖2是帶有剛性同軸引腳的轉接器卡具的局部剖面圖。
圖3是同軸引腳的剖面圖。
圖4A是帶著不具有彈簧加載探針的剛性同軸引腳的轉接器卡具的局部剖面圖。
圖4B是圖4A的轉接器卡具在扣上同軸引腳時的局部剖面圖。
圖5A是圖4A的轉接器卡具的正視圖。
圖5B是圖4B中示出的轉接器卡具的正視圖。
本發明的詳細說明參照圖1的示意方塊圖，電路板測試儀包括一個順應測試接口板或探針場(本文中稱為“順應測試接口”)10，后者具有一組在二維圖案上排列的彈簧加載測試探針12。該圖案可以是由一組行列上均勻間隔的測試探針組成的網格式圖案，或者可以是非網格式圖案，即只由均勻間隔的測試探針構成的圖案。測試探針12包括從順應測試接口的表面上凸起的、典型地在探針組上均勻分布的彈簧加載插桿。轉接器卡具或互連14支持要測試的高頻或高速印制電路板16、安裝著元件的電路板、單個元件或者成組的元件(本文稱為“被測試單元”或“UUT”)。轉接器卡具充當被測試板上的一組測試點18和該順應測試接口中的測試探針組12之間的接口。外部電子測試分析儀20通過該轉接器卡具中的測試探針和被測試板中的測試點電氣連接。這些測試探針(它們可以為幾種類型)概括地在22處示出。
測試分析儀20包括電子地詢問UUT的各個測試點18的電子詢問電路以便確定任何二個給定測試點之間的高頻電氣連接特性。UUT上的測試點間檢測出的高頻特性電子上和已存儲的從事先詢問無故障母(主)印制電路板的測試點得到的基準結果比較。如果測試結果和該存儲的基準結構匹配則被測板是好的，但是如果板上的電路中存在問題，通過該測試結果查出該問題從而可把壞板和好板區分開。
電子詢問電路可以由多個具有用于進行電子測試的電子元件和印制電路的印制電路卡構成。測試過程中使用的每個測試探針可以通過一個通往該測試分析儀的對應開關24和測試電子電路連接。在包含著開關的網格式測試儀(即包含著用來接納測試探針的網格圖案孔組的順應測試接口的測試儀)中，可以存在多達4萬個用于測試被測板上的各個測試點的開關。這些開關最好包含在一個或多個電路板中。
轉接器卡具14可包括一串垂直間隔的平行轉接器支持板，它們可包括頂板26，頂板下方短距離處的上板28，靠近該轉接器卡具中間高度處的中板30以及位于該轉接器卡具的底部的底板32。在一優選實施例中，可在中板和底板之間包含一塊附加的下支持板33(圖2)。通過把該卡具保持為一個整體剛性單元的剛性支柱組35把這些轉接器板支承在垂直間隔的平行位置上。該卡具還包括一組標準轉接器引腳，例如示意地在22處示出的穿過轉換器板26、28、30和32的傾斜引腳。為了簡單圖1只示出一些標準傾斜引腳。這些穿過轉接器卡具的底板32的傾斜引腳對準順應測試接口10中的測試探針12的圖案。穿過頂板26的傾斜引腳頂部為非網格式圖案，該圖案排列成和UUT上的測試點18的隨機圖案匹配。這樣，傾斜引腳可以輕微傾斜，從而可以使用各種三維定向，以進行該順應測試接口上的探針圖案和頂板上的非網格式圖案之間的轉換。由于它們是傾斜的，傾斜引腳能和UUT上的其中心間距小于0.07英寸的測試點接觸。通過傾斜引腳而不是把它們保持成彼此平行，可以使各個引腳點彼此大為接近。
這些標準傾斜引腳穿過底板、下板、中板、上板和頂板上的孔。每塊轉接器板上的孔鉆成圖案，該圖案根據周知的過程通過標準計算機操作軟件控制從而使傾斜引腳按各種定向排列以便實現順應測試接口上的探針圖案和UUT上的非網格式圖案之間的轉換。
傾斜引腳還穿過位于底部上方(并且在一優選實施例中位于下板的下方)由一塊薄的彈性材料公用板構成的彈性引腳保持板34。在前面提到的美國5,493,230號專利中說明該引腳保持板。
本發明涉及利用帶有傾斜引腳的轉接器卡具測試高頻或高速數字UUT。申請人發現使用傾斜引腳可以測試觸點中心靠近，即二個觸點中心之間的間距小于0.07英寸甚至小于0.025英寸，的UUT。高頻測試包括頻率等級超過100M赫、測試帶寬超過1G赫的測試。在1-2G赫范圍甚至在4G赫范圍進行測試是常見的。為了避免高頻信號的衰減，源(即測試電路)的阻抗和負載(即UUT)的阻抗匹配。這要求傾斜引腳的阻抗以及彈簧加載探針的阻抗和負載的阻抗匹配。安裝在轉接器卡具中的普通傾斜引腳的阻抗可能隨引腳不同而不同。這是因為在每組用來測試UUT上的一組測試點的引腳中測試信號引腳和相鄰的接地引腳之間間距是不同的。本質上，相鄰的引腳形成一個空氣充當介質的電容器。由于引腳組之間間距是不同的，從而電容并且進而阻抗也是不同的。本發明通過使用帶有圖2中所示的剛性同軸引腳的轉接器卡具克服該問題。
同軸引腳23包括一個由接地屏蔽42(圖3)包圍的中央信號引腳40。介質44使信號引腳和屏蔽隔離。從引腳的一端到另一端，信號引腳和屏蔽之間的徑向距離46并且從而該介質的徑向厚度是不變的。從而，同軸引腳具有規定的阻抗。依據本發明，轉接器卡具中包含的同軸引腳實際上具有相同的阻抗。在一實施例中，負載和UUT的阻抗都是50歐姆。從而，在該實施例中，同軸引腳的阻抗也是50歐姆。
同軸引腳的端頭磨成一個點，從而每個信號引腳40超過屏蔽。此外，通過具有端點，借助傾斜同軸引腳的端點相互更靠近，從而能使它們和UUT上的間距小于0.025英寸的點接觸。
當在該轉換器卡具中定位時，同軸引腳屏蔽的一端接在頂板的上表面50上，而另一端終接在底板的下表面52上。頂板和底板是接地板并且利用低損耗接地連接48二者連接到電接地。信號引腳從頂板伸出以和UUT接觸并且從底板伸成以和信號載送彈簧加載探針接觸。彈簧加載探針在引腳上施加順從(compliant force)力以便確保和UUT上的測試點的可靠接觸。
可以使用接地引腳54以和UUT上的接地測試點以及順應測試接口中的接地的彈簧加載探針(也稱為“接地探針”)接觸。接地引腳的阻抗也和源、負載以及同軸引腳的阻抗匹配。信號探針和接地探針的阻抗是順應測試接口中的探針間距的函數。由于同軸引腳的阻抗不受引腳之間的間距的影響，容易設計順應測試接口中的探針的間距以產生所要求的探針阻抗并且接納尺寸合理的彈簧加載探針。
在一優選實施例中，接口電路板58使彈簧加載探針和測試設備對接。在該實施例中，信號引腳23和接口電路板58上的信號點連通。電路板58的阻抗也和負載的阻抗匹配。這樣，接通一條從測試設備經該接口電路板、經一個信號探針、經UUT上的一個測試點、經UUT上的一個接地測試點并且經一個接地引腳到地的電路。備擇地，UUT上的接地測試點可以直接接地到頂板上，從而緩和接地引腳的需要。
在另一實施例中，轉換器卡具包括頂板126和底板132但不使用其它中間板(圖4A)。頂板和UUT16對接而底板和測試分析儀接口電路板158對接。如前一實施例那樣，頂板和底板接地。每個板具有貫穿其整個厚度的孔60。出于簡便在圖4A中把頂板和底板示出具有一個孔60。頂板孔和UUT上的各測試點對齊。底板孔和接口電路板上的各信號點對齊。它們還可以和接口電路板上的接地點對齊。接口電路板上的接地點和UUT上的接地測試點可分別直接和接地的底板或頂板接觸。
同軸傾斜引腳123的一端裝入底板上的孔中并且另一端裝入頂板的孔中，從而提供測試分析儀和UUT之間的必需信號路徑。由于同軸傾斜引腳的端頭和末端最好磨成使中央信號引腳超過屏蔽的錐形，只有信號引腳的尖點和UUT上的測試點以及接口電路板的信號點接觸。屏蔽和頂板以及底板上的孔60的環壁接觸。在UUT上的接地點不接地到頂板上的情況下，還可以采用這種傾斜引腳形狀的接地引腳。
利用支桿70(圖5A)頂板126和底板132連接。每個支桿最好包括和第二構件74滑動嚙合的第一構件72。一個構件和頂板連接而另一個構件和底板連接。當安裝傾斜引腳時，第一構件不跨過二個板之間的整個距離。在第一構件和一個板之間存在間隙76。接著彼此相對地移動UUT和接口電路板，從而使同軸引腳扣緊。這可以通過利用機械部件80推UUT和接口電路板中的一個或二者來實現。替代地，可以通過在UUT和接口電路板之間引入使二者相對移動的真空來予以實現。可以通過真空裝置82引入真空。利用機械部件或者真空裝置使板彼此相對地移動在技術上是周知的。隨著板彼此相對地移動，各傾斜引腳在歐拉扣緊下扣緊(圖4B)。當對細長桿，即引腳，以Pcr施加負載時出現歐拉扣緊，Pcr等于4π2EI/l2，其中E是同軸引腳的彈性模量，I是轉動慣量而l是引腳的自由長度64。
當UUT和接口電路板彼此相對移動時，每個支桿的二個構件也彼此相對滑動從而閉合間隙76。一旦該間隙閉合(圖5B)，UUT和接口電路板彼此不能進一步相對移動。從而，可以設計間隙寬度以把引腳的扣緊限制在所需水平上。
一旦扣緊，同軸引腳對UUT上的測試點以及接口電路板上的適當點施加順從力。因此，不需要用于在引腳上施加順從力以便確保引腳和UUT上的測試點之間的可靠接觸的彈簧加載探針。
在歐拉扣緊期間每個同軸引腳之間的中央信號引腳和屏蔽之間的間距保持不變。這樣，盡管扣緊可能改變引腳之間的間距，但同軸引腳的阻抗保持不變。因此，采用同軸引腳能把本發明的互連應用于在高頻下測試UUT。
該實施例的一個優點是不必在測試電路中使用彈簧加載探針。結果是，還可以減小為了在順應測試接口上使這些探針具有適當空間以便使它們的阻抗和UUT的阻抗匹配所需的時間和成本。如前一實施例那樣，也需要接口電路板的阻抗和UUT的阻抗匹配。此外，如果使用接地引腳，接地引腳的阻抗也應和UUT的阻抗匹配。
在一替代實施例中，頂板可以和一個不是UUT的第一電路板(未示出)對接。在這種實施例中，UUT和該第一電路板連接或以其它方式對接。類似地，底板可和第二電路板(未示出)對接。在這種情況下，該第二電路板和該接口電路板158會彼此連接或者按其它方式對接。
權利要求
1.一種用于使要在高頻下測試的一塊電路板和提供高頻測試信號的測試分析儀設備相連接的轉接器卡具，該卡具包括一塊用于和被測試的電路板連接的頂板；一塊用于和用來提供高頻測試信號源的測試分析儀設備連接的底板；以及多個由該頂板以及該底板支持的同軸測試引腳，每個測試引腳包括一個實心的中央引腳，其中每個中央引腳具有延伸到該頂板上的第一端以及延伸到該底板上的第二端以提供從該測試分析儀設備到該電路板上的測試點的測試信號路徑，所述同軸測試引腳實質上具有相同的阻抗以促進足以在高頻下實現對該電路板有效測試的阻抗匹配。
2.根據權利要求1所述的卡具，其中每個同軸引腳還包括一層同軸環繞中央引腳的屏蔽，通過不導電材料隔離屏蔽和中央引腳，其中在引腳的每個端頭處中央引腳超出屏蔽。
3.根據權利要求2所述的卡具，其中頂板和底板是接地的，其中頂板和底板具有貫穿它們的厚度的孔，其中每個同軸引腳的屏蔽和頂板上的孔的環壁接觸并和底板上的孔的環壁接觸，并且其中每個同軸引腳的中央引腳伸出到頂板的上表面之上并伸出到底板的下表面之下。
4.根據權利要求3所述的卡具，其中每個同軸引腳的屏蔽不伸出到頂板的上表面之上和底板的下表面之下。
5.根據權利要求3所述的卡具，還包括多個接地引腳，每個接地引腳具有穿過頂板上的孔用于和被測試電路板上的測試點接觸的第一端以及穿過底板上的孔的第二端。
6.根據權利要求3所述的卡具，還包括一個提供底板和測試設備之間的接口的順應測試接口板，該順應測試接口板包括多個孔，其中每個孔和底板上的一個孔對應；以及每個順應接口板孔中的一個彈簧加載探針，用于對穿過對應孔伸到底板下表面之下的中央引腳施加力以使該同軸引腳和被測試電路板上的測試點可靠接觸。
7.根據權利要求6所述的卡具，還包括多個接地引腳，每個接地引腳具有穿過頂板上的孔用于和被測試電路板上的測試點接觸的第一端以及穿過底板上的孔并和一個彈簧加載探針接觸的第二端。
8.根據權利要求7所述的卡具，其中布置和一個中央引腳接觸的彈簧加載探針與相鄰的和一個接地引腳接觸的彈簧加載探針之間的間距，以產生通過每個所述探針的和同軸引腳的阻抗匹配的阻抗。
9.根據權利要求8所述的卡具，其中把同軸引腳的阻抗選擇成和被測試電路板的阻抗以及測試設備的阻抗匹配。
10.根據權利要求6所述的卡具，還包括一塊和底順應測試接口板的下表面連接的測試設備電路板，該測試設備電路板具有和測試設備的阻抗匹配的阻抗，并且該電路板具有和彈簧加載探針接觸的觸點以便提供測試設備和探針之間的電氣路徑。
11.根據權利要求1所述的卡具，其中每個同軸引腳的阻抗約為50歐姆。
12.根據權利要求1所述的卡具，還包括一塊用于和測試設備連接的下電路板，該下電路板和底板的下表面對接并且具有用來提供對同軸引腳的電氣路徑的接觸點，其中扣緊各引腳以對下電路板上的接觸點以及被測試電路板上的測試點施加力。
13.根據權利要求12所述的卡具，其中同軸引腳被歐拉扣緊。
14.根據權利要求12所述的卡具，還包括用于相對于底板支持頂板的支桿，每條支桿包括和板之一連接的第一構件；以及和另一個板連接的第二構件，第二構件滑動地和第一構件嚙合，從而能使頂板相對于底板移動。
15.根據權利要求14所述的卡具，其中這些支桿限制一塊板向另一塊板的移動。
16.根據權利要求12所述的卡具，其中每個同軸引腳由一個帶有同軸的屏蔽的中央引腳構成，通過不導電材料該屏蔽和該中央引腳隔離，其中在該中央引腳的每端該中央引腳超出該屏蔽并且其中中央引腳穿過底板以和下電路板上的接觸點接觸。
17.一種電路板測試系統，包括包括多個測試點的第一電路板；用于和測試信號提供設備對接的第二電路板，該第二電路板包括多個信號點；一個轉接器卡具包括一個上表面和該第一電路板連接的頂板，該頂板包括多個孔，每個孔和該第一電路板上的一個測試點連通，一個下表面和該第二電路板連接的底板，該底板位于該頂板的下方并和該頂板間隔，該底板包括多個孔，其中每個孔和該第二電路板上的一個信號點連通，以及多個同軸引腳，每個引腳具有一個同軸地帶有大致圓柱型的屏蔽套的中央引腳，通過不導電材料屏蔽套和中央引腳隔離，其中在每個同軸引腳的每個端頭處中央引腳超過屏蔽套，其中每個中央引腳的第一端穿過頂板上的一個孔并且每個中央引腳的第二端穿過底板上的一個孔，其中每個同軸引腳的外屏蔽套和頂板以及底板接觸；以及使一個電路板相對另一個電路板移動的裝置，以使同軸引腳扣緊并且產生使每個中央引腳端頭和第一電路板上的一個測試點和第二電路板上的一個信號點可靠接觸的力從而提供從該信號點到該測試點的信號路徑。
18.根據權利要求17所述的系統，其中各引腳承受歐拉扣緊。
19.根據權利要求18所述的系統，其中該裝置包括使一塊電路板相對另一塊電路板移動的真空生成裝置。
20.根據權利要求18所述的系統，其中該裝置包括使一塊電路板向另一塊電路板移動的機械裝置。
21.根據權利要求18所述的系統，其中該第一電路板是要被該系統測試的電路板。
22.根據權利要求18所述的系統，其中該第一電路板、該第二電路板以及各引腳具有區配的阻抗。
23.根據權利要求22所述的系統，其中同軸引腳的阻抗為50歐姆。
24.一種用于使要在高頻下測試的一塊電路板和一個提供高頻測試信號的測試分析儀相連接的轉接器卡具，該卡具包括一塊用于和要被測試的電路板連接的頂板；一塊用于和用來提供高頻測試信號源的測試分析儀設備連接的底板；以及多個測試引腳，每個引腳包括一個內實心部分，所述引腳內部按第一預定圖案和該頂板對接并且按第二預定圖案和該底板對接以便提供從該測試分析儀到該電路板上的測試點的測試信號路徑，其中該第一預定圖案和該第二預定圖案不同，并且其中每個測試引腳上實質上具有相同的阻抗以促進在高頻下有效測試該電路板的阻抗匹配。
25.根據權利要求24所述的卡具，其中至少一些測試引腳是同軸測試引腳。
26.一種電路板測試系統，包括一個要被測試的電子單元，其具有形成第一圖案的第一接觸點陣列；一個具有第二接觸點陣列的信號提供電路板，該第二接觸點陣列和該第一接觸點陣列相對應，該第二接觸點陣列形成和該第一圖案不同的第二圖案；以及多個同軸引腳，每個引腳具有一個從該電路板的一個接觸點延伸到該單元上的一個對應接觸點的實心內構件。
27.根據權利要求26所述的系統，其中同軸引腳承受歐拉扣緊。
28.根據權利要求26所述的系統，其中該電路板通過該第二接觸點陣列提供高頻信號，這些信號的頻率不低于100兆赫。
29.一種電路板測試系統，包括一個要被測試的高頻電子單元，其具有用于傳送頻率不低于100兆赫的高頻信號的接觸點組，其中第一接觸點的中心離第二接觸點的中心的距離小于0.07英寸；一個用于提供高頻測試信號的電路板，該電路板具有用于傳送這些高頻信號的接觸點組；第一接觸引腳，其第一端和該第一接觸點連接而第二端和該電路板上的一個接觸點連接；以及第二接觸引腳，其第一端和該第二接觸點連接而第二端和該電路板上的一個接觸點連接。
30.根據權利要求29所述的系統，其中該電子單元第一和第二接觸點中心之間的距離不大于0.025英寸。
31.根據權利要求30所述的系統，其中這些引腳是同軸引腳。
32.根據權利要求29所述的系統，其中該單元和引腳阻抗匹配。
33.根據權利要求29所述的系統，其中信號的頻率不低于1吉赫。
34.根據權利要求29所述的系統，其中接觸引腳承受歐拉扣緊。
全文摘要
一種用于測試高頻和高速數字電路板的轉接器卡具。該卡具具有引腳支持頂板(29)和底板(32)以及插入到該卡具中的用來提供從測試分析儀到被測試電路板(16)的信號路徑的同軸、阻抗固定的測試引腳組(23)。被測試板和該頂板的上表面連接。各同軸引腳的阻抗和被測試板的阻抗以及測試分析儀的阻抗匹配。施加在同軸引腳上的力確保引腳和被測試電路板上的測試點的接觸。該力是通過安裝在該底板下面的順應測試接口(10)上的彈簧加載探針(12)施加的。也可以通過被測試電路板和與該底板或該測試分析儀連接的第二電路板之間的相對運動使引腳承受歐拉扣緊施加該力。
文檔編號G01R1/06GK1559008SQ01823783
公開日2004年12月29日 申請日期2001年10月10日 優先權日2001年10月10日
發明者查爾斯·J·約翰斯頓, 查爾斯 J 約翰斯頓 申請人:特拉華資本形成公司