專利名稱：有用波對干擾波功率比測定電路及有用波對干擾波功率比測定方法
技術領域：
本發明涉及信號干擾比(有用波對干擾波功率比)測定電路及信號干擾比測定方法。
背景技術：
以往，作為信號干擾比SIR的測定方法，有(日本)特開平11-237419號公報上記載的方法。在該SIR測定方法中，首先對合成前的每個接收信號求有用波功率及干擾波功率，接著按照合成方法來計算合成后的SIR。由此，能夠用簡單的運算來測定高精度的SIR。
然而，通過本發明人進行的仿真，判明在用上述現有的SIR測定方法測定出的SIR中，包含由于熱噪聲、有用波功率中包含的干擾波分量及干擾波功率中包含的有用波分量等而產生的系統固有誤差(バイアス誤差)。即判明在上述現有的SIR測定方法中，不能測定正確的SIR。
此外，系統固有誤差的大小按照SIR測定中使用的解擴信號數及解擴信號中包含的碼元數等而變化，所以在不考慮這些數目來測定SIR的上述現有的SIR測定方法中有下述問題SIR的測定誤差按照解擴信號數或碼元數等而增大。
發明內容
本發明的目的在于提供一種信號干擾比測定電路及信號干擾比測定方法，能夠校正系統固有誤差來提高信號干擾比的測定精度。
圖1是本發明人進行的測定SIR的平均值的仿真結果的曲線圖。即，圖1是表示正確的信號干擾比和實際測定出的信號干擾比之差(即，系統固有誤差)的信號干擾比特性圖。在計算測定SIR的平均值時，使用幾千個碼元的區間的平均值。
本發明人分析了該仿真結果，判明了以下事實。
(i)在SIR比較低的SIR區域上，由于測定出的有用波功率中包含的干擾波分量的影響，測定SIR的平均值高于正確的SIR。
(ii)在SIR比較高的SIR區域上，由于測定出的干擾波功率中包含的有用波分量的影響，測定SIR的平均值低于正確的SIR。
(iii)由于有用波功率及干擾波功率的測定方法，在SIR的整個區域上存在各SIR測定電路固有的固定的系統固有誤差。
因此，本發明人發現通過根據下式來測定SIR，能夠校正上述(i)～(iii)所示的系統固有誤差。在下式(1)～(4)中，‘SIR’是測定SIR的平均值，‘S’是測定出的有用波功率的平均值，‘I’是測定出的干擾波功率的平均值，‘a’是有用波功率的校正系數，‘b’是干擾波功率的校正系數，‘c’是固定系統固有誤差的校正系數。
首先，本發明人發現通過根據下式(1)來測定SIR，能夠校正上述(i)所示的系統固有誤差。SIR=S-a·II.......(1)]]>即，在上式(1)中，通過從有用波功率的平均值S中減去干擾波功率的平均值I乘以校正系數a所得的值，來除去有用波功率中包含的干擾波分量。
接著，本發明人發現通過根據下式(2)來測定SIR，能夠校正上述(ii)所示的系統固有誤差。SIR=SI-b·S.......(2)]]>即，在上式(2)中，通過從干擾波功率的平均值I中減去有用波功率的平均值S乘以校正系數b所得的值，來除去干擾波功率中包含的有用波分量。
上式(1)和上式(2)的適應區域不同，所以可以歸納為下式(3)SIR=S-a·II-b·S........(3)]]>再者，本發明人發現通過根據下式(4)來測定SIR，能夠校正上述(iii)所示的系統固有誤差。SIR=S-a·II-b·S·c.......(4)]]>即，在上式(4)中，通過將校正了上述(i)及上述(ii)所示的系統固有誤差的SIR乘以校正系數c，來校正SIR的整個區域上包含的固定的系統固有誤差。
這里，如果考慮在CDMA(Code Division Multiple Access，碼分多址)方式的移動通信系統中測定SIR的情況，則校正系數a及校正系數b按照SIR的測定中使用的解擴信號數或解擴信號中包含的碼元數、及接收天線數來決定。此外，在SIR的測定中使用的解擴信號數或解擴信號中包含的碼元數時時刻刻變化的情況下，按照這些變化來自適應地改變校正系數a及校正系數b。
圖2是根據上式(4)測定出的SIR的平均值的仿真結果的曲線圖。由該曲線圖判明通過根據上式(4)來測定SIR，能夠在SIR的整個區域上校正系統固有誤差，測定大體正確的SIR。通過上式(4)中與上式(1)相當的部分來進行低SIR區域上的系統固有誤差的校正。而高SIR區域上的系統固有誤差的校正通過上式(4)中與上式(2)相當的部分來進行。圖2所示的仿真結果是固定系統固有誤差校正系數c＝1的情況，所以如果進而將固定系統固有誤差校正系數c設定為適當的值，則能夠在整個區域上使測定SIR的平均值與正確的SIR大體一致。
圖1是測定SIR的平均值的仿真結果的曲線圖。
圖2是根據式(4)測定出的SIR的平均值的仿真結果的曲線圖。
圖3是本發明實施例1的信號干擾比測定電路的結構方框圖。
圖4是本發明實施例2的信號干擾比測定電路的結構方框圖。
圖5是本發明實施例3的信號干擾比測定電路的結構方框圖。
圖6是本發明實施例3的信號干擾比測定電路的另一結構方框圖。
圖7是本發明實施例4的信號干擾比測定電路的結構方框圖。
圖8是本發明實施例5的信號干擾比測定電路的結構方框圖。
圖9是本發明實施例5的信號干擾比測定電路的另一結構方框圖。
圖10是本發明實施例6的信號干擾比測定電路的結構方框圖。
圖11是本發明實施例7的信號干擾比測定電路的結構方框圖。
圖12是本發明實施例8的信號干擾比測定電路的結構方框圖。
具體實施例方式
以下，參照附圖來詳細說明本發明的實施例。
(實施例1)本實施例說明校正低SIR區域的系統固有誤差的情況。圖3是本發明實施例1的信號干擾比測定電路的結構方框圖。
在圖3所示的信號干擾比測定電路中，有用波功率測定部101測定接收信號的有用波分量的功率，計算有用波功率在規定區間上的平均值。干擾波功率測定部102測定接收信號的干擾波分量的功率，計算干擾波功率在規定區間上的平均值。低SIR區域校正部103由乘法器1031和加法器1032構成，校正低SIR區域的系統固有誤差。SIR計算部104計算低SIR區域校正部103求出的值和干擾波功率測定部102算出的值之比。
接著，說明具有上述結構的信號干擾比測定電路的工作。首先，有用波功率測定部101計算有用波功率在規定區間上的平均值，輸出到加法器1032。此外，干擾波功率測定部102計算干擾波功率在規定區間上的平均值，輸出到乘法器1031及SIR計算部104。這里，從有用波功率測定部101輸出的有用波功率的平均值相當于上式(1)的‘S’，而從干擾波功率測定部102輸出的干擾波功率的平均值相當于上式(1)的‘I’。
此外，計算平均值時的規定區間按照SIR的使用目的來適當設定。例如，在SIR被用于移動通信中的發送功率控制等的情況下，設定為幾個碼元到幾十個碼元左右的區間，而在被用來把握移動通信中的線路狀況等的情況下，設定為幾百個碼元到幾千個碼元左右的區間。
乘法器1031將干擾波功率的平均值乘以校正系數a，輸出到加法器1032。該校正系數a相當于上式(1)的‘a’。加法器1032從有用波功率的平均值中減去乘以校正系數a后的干擾波功率的平均值。即，低SIR區域校正部103進行與上式(1)的分子部分相當的運算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的干擾波分量。除去干擾波分量后的有用波功率的平均值被輸出到SIR計算部104。
SIR計算部104將除去干擾波分量后的有用波功率的平均值除以干擾波功率的平均值。由此，從SIR計算部104輸出根據上式(1)測定出的SIR。由此，得到校正了低SIR區域的系統固有誤差的平均SIR。
這樣，根據本實施例，通過乘以了校正系數的干擾波功率來除去有用波功率中包含的干擾波分量，所以能夠在干擾波分量與有用波分量相比相對大的低SIR區域上校正SIR的系統固有誤差。
(實施例2)本實施例說明校正高SIR區域的系統固有誤差的情況。圖4是本發明實施例2的信號干擾比測定電路的結構方框圖。其中，對圖4中與圖3相同的構成部分附以與圖3相同的標號，省略詳細說明。
在圖4所示的信號干擾比測定電路中，高SIR區域校正部105由乘法器1051和加法器1052構成，校正高SIR區域的系統固有誤差。SIR計算部104計算有用波功率測定部101算出的值和高SIR區域校正部105求出的值之比。
接著，說明具有上述結構的信號干擾比測定電路的工作。首先，有用波功率測定部101計算有用波功率在規定區間上的平均值，輸出到乘法器1051及SIR計算部104。此外，干擾波功率測定部102計算干擾波功率在規定區間上的平均值，輸出到加法器1052。這里，從有用波功率測定部101輸出的有用波功率的平均值相當于上式(2)的‘S’，從干擾波功率測定部102輸出的干擾波功率的平均值相當于上式(2)的‘I’。
乘法器1051將有用波功率的平均值乘以校正系數b，輸出到加法器1052。該校正系數b相當于上式(2)的‘b’。加法器1052從干擾波功率的平均值中減去乘以校正系數b后的有用波功率的平均值。即，高SIR區域校正部105進行與上式(2)的分母部分相當的運算。由此，除去干擾波功率的平均值中包含的有用波分量。除去有用波分量的干擾波功率的平均值被輸出到SIR計算部104。
SIR計算部104將有用波功率的平均值除以除去有用波分量后的干擾波功率的平均值。由此，從SIR計算部104輸出根據上式(2)測定出的SIR。由此，得到校正了高SIR區域的系統固有誤差的平均SIR。
這里，高SIR區域的系統固有誤差除了由濾波器產生的碼間干擾分量的影響以外，還由無線通信裝置間的頻偏或多普勒效應的影響產生，所以也可以按照頻偏量或多普勒頻率的大小來自適應地改變校正系數b。通過這樣按照頻偏量或多普勒頻率的大小來決定校正系數b，能夠高精度地校正大小按照頻偏量或多普勒頻率而變化的高SIR區域的系統固有誤差。
這樣，根據本實施例，通過乘以了校正系數的有用波功率來除去干擾波功率中包含的有用波分量，所以能夠在有用波分量與干擾波分量相比相對大的高SIR區域上校正SIR的系統固有誤差。
(實施例3)本實施例說明校正低SIR區域的系統固有誤差及高SIR區域的系統固有誤差兩者的情況。即，說明組合上述實施例1和上述實施例2的情況。圖5是本發明實施例3的信號干擾比測定電路的結構方框圖。其中，對圖5中與圖3或圖4相同的構成部分附以與圖3或圖4相同的標號，省略詳細說明。
低SIR區域校正部103進行與上式(3)的分子部分相當的運算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的干擾波分量。除去干擾波分量后的有用波功率的平均值被輸出到SIR計算部104及高SIR區域校正部105的乘法器1051。
高SIR區域校正部105進行與上式(3)的分母部分相當的運算。由此，除去了干擾波功率的平均值中包含的有用波分量。這里，高SIR區域校正部105除去的有用波分量已經是低SIR區域校正部103除去了干擾波分量的有用波分量，所以高SIR區域校正部105與上述實施例2相比，能夠進一步高精度地校正高SIR區域的系統固有誤差。除去有用波分量后的干擾波功率的平均值被輸出到SIR計算部104。
SIR計算部104將除去干擾波分量后的有用波功率的平均值除以除去有用波分量后的干擾波功率的平均值。由此，從SIR計算部104輸出根據上式(3)測定出的SIR。由此，得到校正了低SIR區域的系統固有誤差及高SIR區域的系統固有誤差兩者的平均SIR。
在上述結構中，首先校正低SIR區域的系統固有誤差，接著校正高SIR區域的系統固有誤差，但是也可以采用以下所示的結構，首先校正高SIR區域的系統固有誤差，接著校正低SIR區域的系統固有誤差。
圖6是本發明實施例3的信號干擾比測定電路的另一結構方框圖。其中，對圖6中與圖5相同的構成部分附以與圖5相同的標號，省略詳細說明。
高SIR區域校正部105進行與上式(3)的分母部分相當的運算。由此，除去干擾波功率的平均值中包含的有用波分量。除去有用波分量后的干擾波功率的平均值被輸出到SIR計算部104及低SIR區域校正部103的乘法器1031。
低SIR區域校正部103進行與上式(3)的分子部分相當的運算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的干擾波分量。這里，低SIR區域校正部103除去的干擾波分量已經是高SIR區域校正部105除去了有用波分量的干擾波分量，所以低SIR區域校正部103與上述實施例1相比，能夠進一步高精度地校正低SIR區域的系統固有誤差。除去干擾波分量后的有用波功率的平均值被輸出到SIR計算部104。
SIR計算部104將除去干擾波分量后的有用波功率的平均值除以除去有用波分量后的干擾波功率的平均值。由此，從SIR計算部104輸出根據上式(3)測定出的SIR。由此，得到校正了低SIR區域的系統固有誤差及高SIR區域的系統固有誤差兩者的平均SIR。
這樣，根據本實施例，能夠校正低SIR區域的系統固有誤差及高SIR區域的系統固有誤差兩者。此外，與上述實施例1及上述實施例2相比，能夠進一步高精度地校正系統固有誤差。
(實施例4)本實施例說明校正SIR的整個區域上存在的本電路固有的固定系統固有誤差的情況。圖7是本發明實施例4的信號干擾比測定電路的結構方框圖。其中，對圖7中與圖5相同的構成部分附以與圖5相同的標號，省略詳細說明。
從SIR計算部104輸出根據上式(3)測定出的SIR。即，輸出校正了低SIR區域的系統固有誤差及高SIR區域的系統固有誤差兩者的平均SIR。
固定系統固有誤差校正部106將從SIR計算部104輸出的平均SIR乘以用于校正SIR的整個區域上存在的固定系統固有誤差的校正系數c。由此，從固定系統固有誤差校正部106輸出根據上式(4)測定出的SIR。由此，得到校正了低SIR區域的系統固有誤差、高SIR區域的系統固有誤差、及SIR的整個區域上存在的固定系統固有誤差的平均SIR。
這樣，根據本實施例，能夠校正SIR的整個區域上存在的本電路固有的固定系統固有誤差。
(實施例5)如果考慮在CDMA方式的移動通信系統中測定SIR的情況，則低SIR區域的系統固有誤差的大小及高SIR區域的系統固有誤差的大小按照SIR的測定中使用的解擴信號數或該解擴信號中包含的碼元數、及接收天線數而變化。因此，首先，本實施例說明按照解擴信號數來決定校正系數a及校正系數b的情況。圖8是本發明實施例5的信號干擾比測定電路的結構方框圖。其中，對圖8中與圖7相同的構成部分附以與圖7相同的標號，省略詳細說明。
在圖8所示的信號干擾比測定電路中，有用波功率測定部201測定解擴信號1～M的有用波分量的功率，計算有用波功率在規定區間上的平均值。算出的有用波功率的平均值被輸出到加法器1032。作為有用波功率的平均值的計算方法，可以采用下述等方法對各個解擴信號求有用波功率在規定區間上的平均值后將這些平均值全部相加；或者對各個解擴信號將測定出的有用波功率在規定區間上全部相加后進行平均。
干擾波功率測定部202測定解擴信號1～M的干擾波分量的功率，計算干擾波功率在規定區間上的平均值。算出的干擾波功率的平均值被輸出到乘法器1031及加法器1052。作為干擾波功率的平均值的計算方法，可以采用與上述有用波功率的平均值的計算方法同樣的方法。
低SIR區域校正部103的乘法器1033將校正系數a乘以SIR的測定中使用的解擴信號數。乘以解擴信號數后的校正系數a被輸出到乘法器1031。即，低SIR區域校正部103用乘以解擴信號數后的校正系數a來進行與上式(3)的分子部分相當的運算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的與解擴信號數相應的干擾波分量。
此外，高SIR區域校正部105的乘法器1053將校正系數b乘以SIR的測定中使用的解擴信號數。乘以解擴信號數后的校正系數b被輸出到乘法器1051。即，高SIR區域校正部105用乘以解擴信號數后的校正系數b來進行與上式(3)的分母部分相當的運算。由此，除去干擾波功率的平均值中包含的與解擴信號數相應的有用波分量。
校正系數a及校正系數b乘以的解擴信號數在SIR的測定中使用的解擴信號數預定的情況下為固定值，而在SIR的測定中使用的解擴信號數時時刻刻變化的情況下按照該變化來改變。
此外，在SIR的測定中使用的解擴信號數時時刻刻變化的情況下，也可以使用在規定區間上平均過的數目。通過這樣對解擴信號數進行平均，即使在接收的解擴信號數暫時急劇變動的情況下，由于校正系數a及校正系數b不急劇變動，所以能夠防止由于解擴信號數的暫時變動而使SIR變動很大。
這樣，根據本實施例，按照SIR的測定中使用的解擴信號數來決定校正系數a及校正系數b，所以能夠高精度地校正大小按照解擴信號數而變化的系統固有誤差。
在本實施例中，也可以通過采用圖9所示的結構用RAKE合成后的信號來測定SIR。圖9是本發明實施例5的信號干擾比測定電路的另一結構方框圖。其中，對圖9中與圖8相同的構成部分附以與圖8相同的標號，省略詳細說明。
在圖9所示的信號干擾比測定電路中，RAKE合成部301對解擴信號1～M進行RAKE合成并輸出到有用波功率測定部302及干擾波功率測定303。有用波功率測定部302測定RAKE合成后的信號的有用波分量的功率，計算有用波功率在規定區間上的平均值。干擾波功率測定部303測定RAKE合成后的信號的干擾波分量的功率，計算干擾波功率在規定區間上的平均值。
通過使本實施例的信號干擾比測定電路采用圖9所示的結構，在用RAKE合成后的信號來測定SIR的情況下，也能夠高精度地校正大小按照解擴信號數而變化的系統固有誤差。
(實施例6)本實施例說明按照SIR的測定中使用的碼元數來決定校正系數a及校正系數b的情況。圖10是本發明實施例6的信號干擾比測定電路的結構方框圖。其中，對圖10中與圖8相同的構成部分附以與圖8相同的標號，省略詳細說明。
在圖10所示的信號干擾比測定電路中，有用波功率測定部401對每個碼元測定解擴信號的有用波分量的功率，計算有用波功率在規定區間上的平均值。算出的有用波功率的平均值被輸出到加法器1032。作為有用波功率的平均值的計算方法，可以采用下述等方法對各時隙內位于同一處的碼元分別求出多個時隙的平均值后將這些平均值全部相加；或者將多個時隙的對各時隙內位于同一處的碼元分別測定的有用波功率相加后進行平均。
干擾波功率測定部402對每個碼元測定解擴信號的干擾波分量的功率，計算干擾波功率在規定區間上的平均值。算出的干擾波功率的平均值被輸出到乘法器1031及加法器1052。作為干擾波功率的平均值的計算方法，可以采用與上述有用波功率的平均值的計算方法同樣的方法。
低SIR區域校正部103的乘法器1033將校正系數a乘以SIR的測定中使用的碼元數。乘以碼元數后的校正系數a被輸出到乘法器1031。即，低SIR區域校正部103用乘以碼元數后的校正系數a來進行與上式(3)的分子部分相當的運算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的與碼元數相應的干擾波分量。
此外，高SIR區域校正部105的乘法器1053將校正系數b乘以SIR的測定中使用的碼元數。乘以碼元數后的校正系數b被輸出到乘法器1051。即，高SIR區域校正部105用乘以碼元數后的校正系數b來進行與上式(3)的分母部分相當的運算。由此，除去干擾波功率的平均值中包含的與碼元數相應的有用波分量。
校正系數a及校正系數b乘以的碼元數在SIR的測定中使用的碼元數預定的情況下為固定值，而在SIR的測定中使用的碼元數變化的情況下按照該變化來改變。
這樣，根據本實施例，按照SIR的測定中使用的碼元數來決定校正系數a及校正系數b，所以能夠高精度地校正大小按照碼元數而變化的系統固有誤差。
(實施例7)本實施例說明按照接收天線數來決定校正系數a及校正系數b的情況。圖11是本發明實施例7的信號干擾比測定電路的結構方框圖。其中，對圖11中與圖8相同的構成部分附以與圖8相同的標號，省略詳細說明。
在圖11所示的信號干擾比測定電路中，有用波功率測定部501測定天線1～N接收到的信號的有用波分量的功率，計算有用波功率在規定區間上的平均值。算出的有用波功率的平均值被輸出到加法器1032。作為有用波功率的平均值的計算方法，可以采用下述等方法對每個天線求出有用波功率在規定區間上的平均值后將這些平均值全部相加；或者將對每個天線測定出的有用波功率在規定區間上全部相加后進行平均。
干擾波功率測定部502測定天線1～N接收到的信號的干擾波分量的功率，計算干擾波功率在規定區間上的平均值。算出的干擾波功率的平均值被輸出到乘法器1031及加法器1052。作為干擾波功率的平均值的計算方法，可以采用與上述有用波功率的平均值的計算方法同樣的方法。
低SIR區域校正部103的乘法器1033將校正系數a乘以接收天線數。乘以接收天線數后的校正系數a被輸出到乘法器1031。即，低SIR區域校正部103用乘以接收天線數后的校正系數a來進行與上式(3)的分子部分相當的運算。由此，除去有用波功率的平均值中包含的與接收天線數相應的干擾波分量。
此外，高SIR區域校正部105的乘法器1053將校正系數b乘以接收天線數。乘以接收天線數后的校正系數b被輸出到乘法器1051。即，高SIR區域校正部105用乘以接收天線數后的校正系數b來進行與上式(3)的分母部分相當的運算。由此，除去干擾波功率的平均值中包含的與接收天線數相應的有用波分量。
這樣，根據本實施例，按照接收天線數來決定校正系數a及校正系數b，所以能夠高精度地校正大小按照接收天線數而變化的系統固有誤差。
(實施例8)本實施例說明下述情況根據在長區間(幾百個碼元到幾千個碼元左右的區間)上平均過的系統固有誤差校正前的SIR和在長區間上平均過的系統固有誤差校正后的SIR來計算高精度的系統固有誤差，用該系統固有誤差來校正在短區間(幾個碼元到幾十個碼元左右的區間)上平均過的SIR的系統固有誤差。
移動通信中的發送功率控制等中使用的SIR通常使用幾個碼元到幾十個碼元左右的短區間上的平均值。但是，在短區間上平均過的有用波功率及在短區間上平均過的干擾波功率的方差大，所以上式(1)中的分子的減法結果及上式(2)中的分母的減法結果有時為負。因此，在上述實施例1～7的系統固有誤差校正方法中，校正系統固有誤差后的平均SIR有時為負值，有時發生不能計算SIR的情況。因此，在本實施例中，根據在幾百個碼元到幾千個碼元左右的長區間上平均過的方差小的SIR來計算高精度的系統固有誤差，用該系統固有誤差來校正在幾個碼元到幾十個碼元左右的短區間上平均過的SIR的系統固有誤差。
圖12是本發明實施例8的信號干擾比測定電路的結構方框圖。其中，對圖12中與圖7相同的構成部分附以與圖7相同的標號，省略詳細說明。
在圖12所示的信號干擾比測定電路中，短區間有用波功率測定部601測定接收信號的有用波分量的功率，計算有用波功率在短區間(幾個碼元到幾十個碼元左右的區間)上的平均值。算出的有用波功率在短區間上的平均值被輸出到SIR計算部603及長區間平均部604。
短區間干擾波功率測定部602測定接收信號的干擾波分量的功率，計算干擾波功率在短區間上的平均值。算出的干擾波功率在短區間上的平均值被輸出到SIR計算部603及長區間平均部605。
SIR計算部603計算短區間有用波功率測定部601求出的值和短區間干擾波功率測定部602求出的值之比。由此，算出系統固有誤差校正前的短區間平均SIR。系統固有誤差校正前的短區間平均SIR被輸出到系統固有誤差除去部608。
長區間平均部604進一步在長區間(幾百個碼元到幾千個碼元左右的區間)上對短區間有用波功率測定部601求出的值進行平均。算出的有用波功率在長區間上的平均值被輸出到SIR計算部606及加法器1032。
長區間平均部605進一步在長區間上對短區間干擾波功率測定部602求出的值進行平均。算出的干擾波功率在長區間上的平均值被輸出到SIR計算部606、乘法器1031及加法器1052。
SIR計算部606計算長區間平均部604求出的值和長區間平均部605求出的值之比。由此，算出系統固有誤差校正前的長區間平均SIR。系統固有誤差校正前的長區間平均SIR被輸出到系統固有誤差計算部607。
低SIR區域校正部103除去有用波功率在長區間上的平均值中包含的干擾波分量。此外，高SIR區域校正部105除去干擾波功率在長區間上的平均值中包含的有用波分量。
SIR計算部104計算校正了低SIR區域上的系統固有誤差及高SIR區域上的系統固有誤差的長區間平均SIR。然后，固定系統固有誤差校正部106校正SIR的整個區域上存在的固定系統固有誤差。由此，從固定系統固有誤差校正部106輸出校正了所有系統固有誤差的長區間平均SIR。
系統固有誤差計算部607通過計算從固定系統固有誤差校正部106輸出的系統固有誤差校正后的長區間平均SIR和從SIR計算部606輸出的系統固有誤差校正前的長區間平均SIR之差，來計算高精度的系統固有誤差。
系統固有誤差除去部608通過從校正系統固有誤差前的短區間平均SIR中減去系統固有誤差計算部607算出的系統固有誤差來校正短區間平均SIR的系統固有誤差。
在上述說明中，作為一例，設短區間為幾個碼元到幾十個碼元的區間、設長區間為幾百個碼元到幾千個碼元的區間進行了說明，但是不限于該例，只要短區間是比長區間短的區間就能夠同樣實施。
這樣，根據本實施例，根據在長區間上平均過的系統固有誤差校正前的SIR和在長區間上平均過的系統固有誤差校正后的SIR來計算高精度的系統固有誤差，用該系統固有誤差來校正在短區間上平均過的SIR的系統固有誤差，所以能夠提高在短區間上進行平均的SIR的測定精度。
上述實施例1～8也可以適當組合來實施。
此外，可以將上述實施例1～8的信號干擾比測定電路搭載在移動通信系統中使用的基站裝置、或與該基站裝置進行無線通信的通信終端裝置上。在搭載的情況下，能夠提高基站裝置或通信終端裝置根據信號干擾比進行的控制(例如，發送功率控制)的精度。
如上所述，根據本發明，能夠校正系統固有誤差來提高信號干擾比的測定精度。
本申請基于2000年11月9日申請的(日本)特愿2000-341648。其內容全部包含于此。
產業上的可利用性本發明適用于移動通信系統、特別是CDMA方式的移動通信系統中使用的基站裝置、或與該基站裝置進行無線通信的通信終端裝置。
權利要求
1.一種信號干擾比(有用波對干擾波功率比)測定電路，具備第一測定器，測定接收信號的有用波功率；第二測定器，測定上述接收信號的干擾波功率；信號干擾比計算器，計算信號干擾比；以及校正器，用校正系數來校正上述信號干擾比中包含的系統固有誤差。
2.如權利要求1所述的信號干擾比測定電路，其中，校正系數根據表示正確的信號干擾比和實際測定出的信號干擾比之差的預先求出的信號干擾比特性圖來決定。
3.如權利要求1所述的信號干擾比測定電路，其中，校正器通過從第一測定器測定出的有用波功率中減去根據預先求出的信號干擾比特性圖而決定的第一校正系數乘第二測定器測定出的干擾波功率所得的值以除去上述有用波功率中包含的干擾波分量，來校正信號干擾比計算器算出的信號干擾比的值高于正確的信號干擾比的區域上的系統固有誤差。
4.如權利要求3所述的信號干擾比測定電路，其中，校正器用第一校正系數與除去有用波分量后的干擾波功率相乘。
5.如權利要求3所述的信號干擾比測定電路，其中，第一校正系數按照信號干擾比的測定中使用的接收信號數來決定。
6.如權利要求3所述的信號干擾比測定電路，其中，第一校正系數按照信號干擾比的測定中使用的碼元數來決定。
7.如權利要求3所述的信號干擾比測定電路，其中，第一校正系數按照接收天線數來決定。
8.如權利要求1所述的信號干擾比測定電路，其中，校正器通過從第二測定器測定出的干擾波功率中減去根據預先求出的信號干擾比特性圖而決定的第二校正系數乘第一測定器測定出的有用波功率所得的值以除去上述干擾波功率中包含的有用波分量，來校正信號干擾比計算器算出的信號干擾比的值低于正確的信號干擾比的區域上的系統固有誤差。
9.如權利要求8所述的信號干擾比測定電路，其中，校正器將除去干擾波分量后的有用波功率與第二校正系數相乘。
10.如權利要求8所述的信號干擾比測定電路，其中，第二校正系數按照信號干擾比的測定中使用的接收信號數來決定。
11.如權利要求8所述的信號干擾比測定電路，其中，第二校正系數按照信號干擾比的測定中使用的碼元數來決定。
12.如權利要求8所述的信號干擾比測定電路，其中，第二校正系數按照接收天線數來決定。
13.如權利要求8所述的信號干擾比測定電路，其中，第二校正系數按照多普勒頻率的大小來決定。
14.如權利要求8所述的信號干擾比測定電路，其中，第二校正系數按照無線通信裝置間的頻偏量來決定。
15.如權利要求1所述的信號干擾比測定電路，其中，校正器通過將信號干擾比計算器算出的信號干擾比乘以第三校正系數來校正本電路固有的系統固有誤差。
16.如權利要求1所述的信號干擾比測定電路，還具備第三測定器，測定在第一區間中平均過的第一信號干擾比；第四測定器，測定在比上述第一區間短的第二區間上平均過的第二信號干擾比；系統固有誤差計算器，根據上述第一信號干擾比、和由校正器校正了系統固有誤差的第一信號干擾比，來計算在上述第一區間上平均過的系統固有誤差；以及除去器，用在上述第一區間上平均過的系統固有誤差，來除去上述第二信號干擾比中包含的系統固有誤差。
17.一種搭載信號干擾比測定電路的基站裝置，其中，上述信號干擾比測定電路具備第一測定器，測定接收信號的有用波功率；第二測定器，測定上述接收信號的干擾波功率；信號干擾比計算器，計算信號干擾比；以及校正器，用校正系數來校正上述信號干擾比中包含的系統固有誤差。
18.一種搭載信號干擾比測定電路的通信終端裝置，其中，上述信號干擾比測定電路具備第一測定器，測定接收信號的有用波功率；第二測定器，測定上述接收信號的干擾波功率；信號干擾比計算器，計算信號干擾比；以及校正器，用校正系數來校正上述信號干擾比中包含的系統固有誤差。
19.一種信號干擾比測定方法，具備第一測定步驟，測定接收信號的有用波功率；第二測定步驟，測定上述接收信號的干擾波功率；計算步驟，計算信號干擾比；以及校正步驟，用校正系數來校正上述信號干擾比中包含的系統固有誤差。
20.如權利要求19所述的信號干擾比測定方法，其中，校正系數根據表示正確的信號干擾比和實際測定出的信號干擾比之差的預先求出的信號干擾比特性圖來決定。
全文摘要
通過從有用波功率中減去根據預先求出的SIR特性圖而決定的第一校正系數乘干擾波功率所得的值以除去有用波功率中包含的干擾波分量，來校正低SIR區域上的系統固有誤差(bias error)。此外，從干擾波功率中減去根據預先決定的SIR特性圖而決定的第二校正系數乘有用波功率所得的值以除去干擾波功率中包含的有用波功率，來校正高SIR區域上的系統固有誤差。
文檔編號G01R29/00GK1394401SQ01803511
公開日2003年1月29日 申請日期2001年11月9日 優先權日2000年11月9日
發明者伊大知仁 申請人:松下電器產業株式會社