專利名稱：壓頭物鏡塔臺旋轉(zhuǎn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及顯微硬度計，尤指壓頭物鏡塔臺旋轉(zhuǎn)裝置。
目前顯微硬度計的壓頭物鏡塔臺旋轉(zhuǎn)裝置，其塔臺開有等分三個孔，分別裝有兩個物鏡和一個壓頭，其旋轉(zhuǎn)的角度，只能相鄰兩孔間驅(qū)動旋轉(zhuǎn)，第三孔則需驅(qū)動二次，不能一次到位。
本實(shí)用新型的目的在于提供一種塔臺開有等分五個孔，分別裝有四個物鏡和一個壓頭的壓頭物鏡塔臺旋轉(zhuǎn)裝置，本裝置不僅具有硬度計的功能，還具有金相顯微鏡的功能。
為達(dá)上述目的，本實(shí)用新型的壓頭物鏡塔臺旋轉(zhuǎn)裝置，包括壓頭、物鏡、塔臺、電機(jī)、主板、定位器和定位板，其特點(diǎn)是一塔臺的前端外側(cè)加工成大齒輪，其下部用滾動軸承和軸與主板連接，使塔臺旋轉(zhuǎn)舒適、靈活，一電機(jī)螺接在主板上，電機(jī)的輸出軸前端裝有小齒輪，并與塔臺外側(cè)的大齒輪嚙合，驅(qū)動電機(jī)可使塔臺旋轉(zhuǎn)，塔臺開有等分五個孔，分別裝有四個物鏡和一個壓頭，其中二個物鏡和一個壓頭可作為硬度計使用，另外二個物鏡可作為金屬材料金相組織的分析，在塔臺上還裝有等分五塊定位板，用螺釘與塔臺螺接固定，一定位器用螺釘與主板螺接，調(diào)正定位器的位置，可保證各孔定位在一個設(shè)定位置上，定位器和定位板的重復(fù)精度高。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是
1，增加了二物鏡，擴(kuò)大了使用范圍，使儀器不僅具有硬度計的功能，還具有金屬材料金相組織的分析功能。
2，操作方便，各孔一次操作，一次到位。
以下結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)、技術(shù)特征作進(jìn)一步說明。
附圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)剖視圖。
附圖2為本實(shí)用新型的俯視圖。
附圖中標(biāo)號說明1—壓頭；2—塔臺； 3—軸；4—主板；5—電機(jī)； 6—小齒輪；7—物鏡； 71—50x物鏡； 72—10x物鏡；73-40x物鏡； 74—100x物鏡；8—定位器；9—定位板。
實(shí)施例首先請參閱圖1、圖2，本實(shí)用新型的壓頭物鏡塔臺旋轉(zhuǎn)裝置，包括壓頭1、物鏡7、塔臺2、電機(jī)5、主板4、定位器8和定位板9，其特點(diǎn)是一塔臺2的前端外側(cè)加工成大齒輪，其下部用滾動軸承和軸3與主板4連接，使塔臺2旋轉(zhuǎn)舒適、靈活，一電機(jī)5螺接在主板4上，電機(jī)5的輸出軸前端裝有小齒輪6，并與塔臺2外側(cè)的大齒輪嚙合，驅(qū)動電機(jī)5可使塔臺2旋轉(zhuǎn)，塔臺2開有等分五個孔，分別裝有5x物鏡71、10x物鏡72、40x物鏡73、100x物鏡74和一個壓頭1，五個孔的等分精度為±5’，其中10x物鏡72和40x物鏡及一個壓頭1，可作為硬度計使用，5x物鏡71和100x物鏡74，可作為金屬材料金相組織的分析，使儀器既可作顯微硬度計使用，又可作金相顯微鏡使用，擴(kuò)大了使用范圍，在塔臺2上還裝有等分五塊定位板9，其精度為±5’，用螺釘與塔臺2螺接固定，一定位器8用螺釘與主板4螺接，調(diào)整定位器8的位置，可保證各孔定位在一個設(shè)定位置上，定位器8和定位板9的重復(fù)定位精度可達(dá)到±1’。
另外，在操作面板上設(shè)有四個5x、10x、40x、100x的按鍵，在使用時，只要按操作面板上相應(yīng)的鍵，驅(qū)動電機(jī)5，使塔臺2旋轉(zhuǎn)，相應(yīng)的物鏡即可一次操作，一次到位，操作方便。
權(quán)利要求1一種顯微硬度計的壓頭物鏡塔臺旋轉(zhuǎn)裝置，包括壓頭、物鏡、塔臺、電機(jī)、主板、定位器和定位板，其特征在于塔臺的前端外側(cè)加工成大齒輪，并與電機(jī)的小齒輪嚙合，其下部用滾動軸承和軸與主板連接，塔臺開有等分五個孔，分別裝有四個物鏡和一個壓頭，還裝有等分五塊定位板與安裝在主板上的定位器匹配定位。
專利摘要本實(shí)用新型一種顯微硬度計的壓頭物鏡塔臺旋轉(zhuǎn)裝置,包括壓頭、物鏡、塔臺、電機(jī)、主板、定位器和定位板,其特點(diǎn)是:塔臺前端外側(cè)加工成大齒輪,并與電機(jī)的小齒輪嚙合,其下部用滾動軸承和軸與主板連接,塔臺設(shè)有等分五個孔,分別裝有四個物鏡和一個壓頭,其中二個物鏡可作為顯微硬度計使用,另二個物鏡可作為金屬材料金相顯微鏡使用,使儀器擴(kuò)大了使用范圍,塔臺還裝有等分五塊定位板與安裝在主板上的定位器匹配定位。
文檔編號G01N3/48GK2472219SQ01238719
公開日2002年1月16日 申請日期2001年4月5日 優(yōu)先權(quán)日2001年4月5日
發(fā)明者徐永良 申請人:上海恒一電子測試設(shè)備有限公司