專利名稱：集成電路的預燒控制裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種用以控制集成電路質量的裝置，特別是一種在集成電路出貨前控制集成電路質量的集成電路的預燒控制裝置，其為一種利用分散式的控制方式達到快速預燒的裝置。
集成電路(IC)在出貨前的質量管理控制階段，需經過一段預燒(burn in)工序，該預燒工序是利用高溫、高壓或高濕度等方式將出廠后可靠性(reliability)不佳的產品預先檢測出來，且予以淘汰，以免除將來不必要的回收成本。圖1是現有集成電路的預燒控制裝置，該裝置是利用一個由中央控制(centralized control)的測試樣本產生器11將共用的測試樣本送至一個預燒爐12內的數個測試板13，這種現有裝置存在如下缺點1、距離該測試樣本產生器11較遠的測試板，其接收到測試樣本的時間將大于距離測試樣本產生器11較近的測試板的接收時間，也就是說，各測試板接收到測試樣本的時間將不一致；2、由于所有的測試板均連接至測試樣本產生器11，而造成測試樣本產生器11面對很重的輸出負載，也就是說，測試樣本產生器11輸出測試樣本的速度將因此而受到限制。
3、測試樣本產生器11亦可能利用數個電纜線而連接至數個測試板13，但這樣的結果將造成電纜線過多，而難以管理。
本發明的目的在與提供一種測試樣本的輸出速度快的集成電路的預燒控制裝置。
為達到上述目的，本發明采取如下技術措施本發明的集成電路的預燒控制裝置為一種分散式預燒控制裝置，主要是將測試樣本產生器分散地設置在各測試板內，而各個測試板的測試樣本產生器可獨立地動作，因此，各個測試板的測試樣本的輸出速度可以加快，且可提高抗雜信的能力；相對地，其單位時間的測試量便可以提高。此外，本發明的裝置具有模組化的功能，即任一測試板毀損并不會影響其它測試板的動作；且維護工作非常方便，任一個測試板毀損時，僅須插拔該毀損的測試板。而各測試板可依其插入預燒爐的位置決定其裝置的編號，不須再加入復雜的人工設定。
本發明采取如下具體結構本發明的集成電路的預燒控制裝置，包括數個單元測試板；還包括一個區域分配板；各單元測試板包括一個測試樣本產生器及一個待測試模組；測試樣本產生器用于產生測試樣本至該待測試模組以決定待測試模組內含的數個待測的集成電路是否有效；區域分配板用于控制至少一個單元測試板中的測試樣本產生器的動作，并接收該單元測試板的測試結果。
其中，還包括一用于分析所述區域分配板接收的所述單元測試板測試結果的電腦。
其中，所述數個單元測試板彼此以串列的方式連接，所述區域分配板輸出一個用于顯示由那個單元測試板接受區域分配板控制的標記至串列的第一個單元測試板，串列的第一個單元測試板在接收到該標記時則進行比較，比較該標記是否為零；若答案是肯定的，則接受區域分配板傳來的控制信號的指示若答案是否定的，則將該標記減一，并傳至該串列的下一個單元測試板；依此類推，數個單元測試板中將至少有一個會收到內含值為零的標記。
其中，所述單元測試板還包括一驅動電路，所述測試樣本產生器設在驅動電路中，所述待測試模組與軀動電路相連接。
其中，所述驅動電路還包括一個電壓轉換裝置及一個信號加強裝置；
電壓轉換裝置分別連接所述待測試模組、測試樣本產生器及所述信號加強裝置；信號加強裝置連接至待測試模組和測試樣本產生器，用于加強單元測試板的信號輸入，并拾取待測試模組的輸出信號。
該分散式預燒控制裝置包括復數個單元測試板及一區域分配板。該復數個單元測試板位于該預燒爐內，且該復數個單元測試板均各包括一測試樣本產生器，該測試樣本產生器可產生測試樣本供該單元測試板決定其待測試模組內含的復數個集成電路是否有效。該區域分西己板用于潼未』該單元沮1試板中的測試樣本產生器的動作，并接收該單元測試板的測試結果。
結合附圖及實施例對本發明的結構特征詳細說明如下
圖1現有的預燒控制裝置的連接示意圖；圖2本發明集成電路的預燒控制裝置的一實施例的電路框圖；圖3本發明集成電路的預燒控制裝置的另一實施例的電路框圖；圖4本發明圖2所示實施例中單元測試板的電路框圖。
如圖2所示，其為本發明集成電路的預燒控制裝置的一實施例的電路框圖；其中，一個電腦14(本實施例中采用個人電腦)連接一個區域分配板(ZONE board)22，區域分配板22連接至一個預燒爐12內的數個單元測試板24；該電腦14用于分析數個單元測試板24的狀態或測試結果，如分析單元測試板24內含的數個集成電路放置的位置或方向是否正確。此操作稱為預燒監視(monitor burnin)。區域分配板22用于初始(initiate)及控制該數個單元測試板24的操作，并將該數個單元測試板24的狀態或測試結果傳輸至該個人電腦14。區域分配板22因僅負責很單純的操作，因此，其輸出延遲很小，而不會影響整個預燒控制裝置的工作速率。
如圖3所示，其為本發明集成電路的預燒控制裝置的另一實施例的電路框圖；其中，數個單元測試板24彼此以串列(daisy chain)的方式相連。區域分配板22在輸出一個控制信號至數個單元測試板24時，同時送出一個標記(token)至該串列的第一個單元測試板24；該標記用于顯示由那一個單元測試板24接收該控制信號，并接受該區域分配板22的控制。該串列的第一個單元測試板24在接收到該標記時，則比較該標記是否為零。若答案是肯定的，則接受該區域分配板22傳來的控制信號的指示。若答案是否定的，則將該標記減一，并傳至該串列的下一個單元測試板24，依此類推。該數個單元測試板24中將僅有一個會收到內含值為零的標記，而該單元測試板24亦即為該區域分配板22所控制。此種串列的連接方式有個好處，即任一個單元測試板24可經由插放在該串列的任一位置而被自動檢測出其在該串列的編號，若該串列是依據數個單元測試板24在預燒爐12的位置而循序排序，則亦可自動檢測出任一單元測試板24在預燒爐12內的編號。
如圖4所示，其為本發明圖2所示實施例中單元測試板的電路框圖，其中，單元測試板24包括一個待測試模組32及一個驅動電路33；待測試模組32包括數個待測的集成電路(圖未示出)，置于高溫下，且有數個連接頭可連接至驅動電路33，驅動電路33位于常溫下，且用于產生測試樣本。驅動電路33包括一個電壓轉換裝置34、一個測試樣本產生器35及一個信號加強裝置36。電壓轉換裝置34可提供單元測試板24不同需求的電壓。測試樣本產生器35用于產生數組測試樣本，并經由信號加強裝置36以加強測試樣本的驅動能力。信號加強裝置36并可拾取待測試模組32的輸出信號，并通過區域分配板22，送至電腦14作信號處理。因為單元測試板24都有獨立的測試樣本產生器35，所以，單元測試板24可依不同的需求執行不同的測試樣本。因測試樣本產生器35均以分散式的方式存在于單元測試板24內，因此，不會因數個單元測試板24累積的負載過大而降低預燒控制裝置測試樣本的產生速度。
與現有技術相比，本發明具有如下效果本發明的集成電路預燒控制裝置具備模組化的功能，因此，在維護和檢錯能力上均較為方便。此外，本發明的預燒控制裝置具有良好的隔離(isolation)效果，例如其中一個單元測試板24損壞了，并不會影響其它單元測試板24的運作，而且，單元測試板24僅與區域分配板22溝通，因此不需連接復雜的電纜線，也因此降低了由電纜線產生的延遲問題。本發明亦可設計為兼具集中式預燒控制及分散式預燒控制功能的結構，使用者可依系統需要而切換使用廣域模式(global mode)，即集中式的預燒控制的功能，或區域模式(localmode)，即分散式的預燒控制的功能。
上述內容是利用實施例說明本發明的技術特征，并非用于限制本發明的保護范圍，即使有人在本發明構思的基礎上稍作變動，仍應屬于本發明的保護范圍內。
權利要求
1.一種集成電路的預燒控制裝置，包括數個單元測試板；其特征在于，還包括一個區域分配板；各單元測試板包括一個測試樣本產生器及一個待測試模組；測試樣本產生器用于產生測試樣本至該待測試模組以決定待測試模組內含的數個待測的集成電路是否有效；區域分配板用于控制至少一個單元測試板中的測試樣本產生器的動作，并接收該單元測試板的測試結果。
2.根據權利要求1所述的預燒控制裝置，其特征在于，還包括一用于分析所述區域分配板接收的所述單元測試板測試結果的電腦。
3.根據權利要求1所述的預燒控制裝置，其特征在于，所述數個單元測試板彼此以串列的方式連接，所述區域分配板輸出一個用于顯示由那個單元測試板接受區域分配板控制的標記至串列的第一個單元測試板，串列的第一個單元測試板在接收到該標記時則進行比較，比較該標記是否為零；若答案是肯定的，則接受區域分配板傳來的控制信號的指示若答案是否定的，則將該標記減一，并傳至該串列的下一個單元測試板；依此類推，數個單元測試板中將至少有一個會收到內含值為零的標記。
4.根據權利要求1或2或3所述的預燒控制裝置，其特征在于，所述單元測試板還包括一驅動電路，所述測試樣本產生器設在驅動電路中，所述待測試模組與軀動電路相連接。
5.根據權利要求4所述的預燒控制裝置，其特征在于，所述驅動電路還包括一個電壓轉換裝置及一個信號加強裝置；電壓轉換裝置分別連接所述待測試模組、測試樣本產生器及所述信號加強裝置；信號加強裝置連接至待測試模組和測試樣本產生器，用于加強單元測試板的信號輸入，并拾取待測試模組的輸出信號。
全文摘要
一種集成電路的預燒控制裝置,包括:數個單元測試板及一區域分配板;各單元測試板包括一測試樣本產生器及一待測試模組;測試樣本產生器用于產生測試樣本至待測試模組以決定待測試模組內含的數個待測的集成電路是否有效;區域分配板用于控制至少一單元測試板中的測試樣本產生器的動作,并接收單元測試板的測試結果。本預燒控制裝置中的各個測試板的測試樣本產生器可獨立動作,各測試板的測試樣本的產生速度快,抗雜信能力高。
文檔編號G01R31/26GK1351372SQ0013376
公開日2002年5月29日 申請日期2000年10月31日 優先權日2000年10月31日
發明者林殿方, 梁文山 申請人:京元電子股份有限公司