一種電成像刻度井群的制作方法
【技術領域】
[0001 ] 本發明涉及井壁電成像測井技術，尤指一種電成像刻度井群。
【背景技術】
[0002]井壁電成像測井技術是指在井下采用傳感器陣列測量或旋轉掃描測量，沿井眼縱向、周向或徑向大量采集地層信息，傳輸到地面后通過圖像處理技術得到井壁或井周的二維圖像或井眼周圍某一探測深度以內的三維圖像。
[0003]現有的電成像刻度井群至少包括:一口或一口以上用于電成像測井儀器的檢驗與刻度的刻度井；其中，各刻度井的井孔直徑相同。
[0004]其中，刻度井至少包括巖石模塊、設置在巖石模塊下面的鼠洞、設置在巖石模塊中心的儀器過孔。在進行電成像測井儀器的校驗與刻度時，需要在儀器過孔中加入井液。
[0005]現有的聲電成像刻度井群中，在巖石模塊內壁刻有圖像，通過電成像測井儀器對圖像的成像來對電成像測井儀器進行校驗和刻度，然而，由于巖石模塊內壁回流較弱，導致電成像測井儀器對圖像的成像精度較低。
【發明內容】
[0006]為了解決上述問題，本發明提出了一種電成像刻度井群，能夠提高電成像測井儀器對圖像的成像精度。
[0007]為了達到上述目的，本發明提出了一種電成像刻度井群，至少包括:一口或一口以上用于電成像測井儀器的校驗與刻度的刻度井；其中，刻度井至少包括:巖石模塊3，設置在巖石模塊3中間的儀器過孔4 ;在巖石模塊3內壁圖像的后面包含有徑向縫隙。
[0008]優選地，各刻度井的井孔直徑均不相同。
[0009]優選地，還包括巖石組緊固裝置2 ;
[0010]所述巖石模塊3包括一組或一組以上巖石組；每一組巖石組通過一個巖石組緊固裝置2安裝為一體；各巖石組緊固裝置2采用錐形導向結構對接；
[0011]其中，每一組巖石組包括一對或一對以上半環形巖石，每對半環形巖石用金屬扎帶緊固成一圓環。
[0012]優選地，所述巖石組緊固裝置2為耐腐蝕金屬材料。
[0013]優選地，所述半環形巖石為混裝巖石、或砂巖、或灰巖、或花崗巖；
[0014]所述混裝巖石包括砂巖、灰巖和花崗巖。
[0015]優選地，還包括:
[0016]與所述巖石組緊固裝置2的上蓋相連的導向裝置1，與所述巖石組緊固裝置2的底座相連的巖石底座5。
[0017]優選地，還包括:
[0018]設置在所述巖石底座5下面的鼠洞。
[0019]與現有技術相比，本發明包括:一口或一口以上用于電成像測井儀器的校驗與刻度的刻度井；其中，刻度井至少包括:巖石模塊3，設置在巖石模塊3中間的儀器過孔4 ;在巖石模塊3內壁圖像的后面包含有徑向縫隙。本發明通過巖石模塊內壁圖像后面的徑向縫隙來保證測量信號的回流，從而提高了電成像測井儀器對圖像的成像精度。
[0020]進一步地，各刻度井的井孔直徑均不相同，從而實現了對電成像測井儀器在不同井孔直徑中響應的校驗與刻度。
[0021]進一步地，巖石模塊3至少包括一組或一組以上巖石組6，實現了同時進行電成像測井儀器對不同巖性的校驗與刻度。
【附圖說明】
[0022]下面對本發明實施例中的附圖進行說明，實施例中的附圖是用于對本發明的進一步理解，與說明書一起用于解釋本發明，并不構成對本發明保護范圍的限制。
[0023]圖1為本發明電成像刻度井群的結構組成示意圖；
[0024]圖2為本發明巖石組之間采用錐形導向結構對接的示意圖；
[0025]圖中，I為導向裝置，2為巖石組緊固裝置，3為巖石模塊，4為巖石內儀器過孔，5為巖石底座，6為巖石組。
【具體實施方式】
[0026]為了便于本領域技術人員的理解，下面結合附圖對本發明作進一步的描述，并不能用來限制本發明的保護范圍。
[0027]參見圖1，本發明提出了電成像刻度井群，至少包括:
[0028]一口或一口以上用于電成像測井儀器的檢驗與刻度的刻度井。
[0029]其中，刻度井至少包括:巖石模塊3，設置在巖石模塊3中間的儀器過孔4，在巖石模塊3內壁圖像的后面包含有徑向縫隙。
[0030]其中，徑向縫隙可以采用透雕技術來實現，具體實現屬于本領域技術人員的公知常識，并不用于限定本發明的保護范圍，這里不再贅述。
[0031]本發明的電成像刻度井群通過巖石模塊內壁圖像后面的徑向縫隙來保證測量信號的回流，從而提高了電成像測井儀器對圖像的成像精度。
[0032]其中，各刻度井的井孔直徑(即設置在巖石模塊3中心的儀器過孔4的直徑)均不相同，從而實現了對電成像測井儀器在不同井孔直徑中響應的校驗與刻度。刻度井的井孔直徑可以是6到12.25寸。例如，電成像刻度井群可以包括三口刻度井，各刻度井的井孔直徑分別為6英寸、8.5英寸和12.25英寸。其中，井孔直徑為8.5英寸的刻度井適用于水基泥漿電成像和油基泥漿電成像。
[0033]其中，巖石模塊3至少包括一組或一組以上巖石組6。圖1中以四組巖石組6為例給出了刻度井的示意圖。當巖石模塊3包括兩組或兩組以上不同巖性的巖石組6時，能夠同時進行電成像測井儀器對不同巖性的檢驗與刻度。
[0034]其中，各巖石組之間可以采用錐形導向結構對接。
[0035]其中，每一組巖石組包括一對或一對以上半環形巖石，每對半環形巖石用金屬扎帶緊固成一圓環。
[0036]刻度井還包括巖石組緊固裝置2，每一組巖石組通過一個巖石組緊固裝置2安裝為一體，各巖石組緊固裝置2采用錐形導向結構對接。圖2為巖石組之間采用錐形導向結構對接的示意圖。如圖2所示，上一巖石組緊固裝置2的底座帶有內凹的錐形，下一巖石組緊固裝置2的上蓋帶有外凸的錐形，這樣，上一巖石組緊固裝置2的底座就能夠套在下一巖石組緊固裝置2的上蓋上，從而實現錐形導向結構的對接。
[0037]將各組巖石組安裝為一體，保證巖石內孔同心，同時便于將巖石組安裝到井下。
[0038]其中，巖石組緊固裝置2為耐腐蝕金屬材料。
[0039]其中，巖石組可以任意組合，具體組合方式不做限制。比如每對半環形巖石可以采取不同巖性的兩個半環形巖石，也可以采用巖性相同的兩個半環形巖石等。
[0040]其中，半環形巖石可以是混裝巖石、或砂巖、或灰巖、或花崗巖等等。
[0041]其中，混裝巖石可以包括砂巖、灰巖、花崗巖等等。
[0042]其中，刻度井還包括與巖石組緊固裝置2的上蓋相連的導向裝置1，與巖石組緊固裝置2的底座相連的巖石底座5。
[0043]其中，巖石組緊固裝置2的上蓋和導向裝置I之間的連接，巖石組緊固裝置2的底座和巖石底座5之間的連接可以是現有的各種連接方式，具體的連接方式并不用于限定本發明的保護范圍，這里不再贅述。
[0044]其中，為了保證電成像測井儀器的測量段長度，還可以在巖石底座5下面設置用于存放儀器非測量段的鼠洞，具體實現屬于本領域技術人員的公知常識，并不用于限定本發明的保護范圍，這里不再贅述。
[0045]其中，進行測量時，可以將刻度井安裝在井體中，井體設計為承重防滲結構，防止地下水深入井孔或者井液滲入入到地下水。
[0046]需要說明的是，以上所述的實施例僅是為了便于本領域的技術人員理解而已，并不用于限制本發明的保護范圍，在不脫離本發明的發明構思的前提下，本領域技術人員對本發明所做出的任何顯而易見的替換和改進等均在本發明的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種電成像刻度井群，至少包括:一口或一口以上用于電成像測井儀器的校驗與刻度的刻度井；其中，刻度井至少包括:巖石模塊(3)，設置在巖石模塊(3)中間的儀器過孔(4);其特征在于，在巖石模塊(3)內壁圖像的后面包含有徑向縫隙。
2.根據權利要求1所述的電成像刻度井群，其特征在于，各刻度井的井孔直徑均不相同。
3.根據權利要求1所述的電成像刻度井群，其特征在于，還包括巖石組緊固裝置(2); 所述巖石模塊(3)包括一組或一組以上巖石組；每一組巖石組通過一個巖石組緊固裝置(2)安裝為一體；各巖石組緊固裝置(2)采用錐形導向結構對接； 其中，每一組巖石組包括一對或一對以上半環形巖石，每對半環形巖石用金屬扎帶緊固成一圓環。
4.根據權利要求3所述的電成像刻度井群，其特征在于，所述巖石組緊固裝置(2)為耐腐蝕金屬材料。
5.根據權利要求3所述的電成像刻度井群，其特征在于，所述半環形巖石為混裝巖石、或砂巖、或灰巖、或花崗巖； 所述混裝巖石包括砂巖、灰巖和花崗巖。
6.根據權利要求3所述的電成像刻度井群，其特征在于，還包括: 與所述巖石組緊固裝置(2)的上蓋相連的導向裝置(I)，與所述巖石組緊固裝置(2)的底座相連的巖石底座(5)。
7.根據權利要求6所述的電成像刻度井群，其特征在于，還包括: 設置在所述巖石底座(5)下面的鼠洞。
【專利摘要】本發明公開了一種電成像刻度井群，至少包括：一口或一口以上用于電成像測井儀器的校驗與刻度的刻度井；其中，刻度井至少包括：巖石模塊(3)，設置在巖石模塊(3)中間的儀器過孔(4)；在巖石模塊(3)內壁圖像的后面包含有徑向縫隙。本發明通過巖石模塊內壁圖像后面的徑向縫隙來保證測量信號的回流，從而提高了電成像測井儀器對圖像的成像精度。
【IPC分類】E21B49-00
【公開號】CN104763415
【申請號】CN201510105370
【發明人】張志剛, 盧濤, 侯洪為, 李興年
【申請人】中國海洋石油總公司, 中海油田服務股份有限公司
【公開日】2015年7月8日
【申請日】2015年3月10日