半導體器件篩選分類裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種半導體器件篩選分類裝置，特別是涉及一種能夠將不同類型的半導體器件的不良品準確分類到兩個料盒中的去的不良品分類裝置。
【背景技術】
[0002]不良品是指生產制造中不符合相關品質要求的原料、半成品、成品。其中品質要求可以是驗貨的檢驗品質要求、制造過程品質的要求、客戶的品質要求、國家法律法規規定等。目前在大部分的加工生產領域都無法徹底杜絕不良品的產生。現在在生產加工過程中需要將不良品收集起來以便于對不良品進行分析從而通過改進工藝來進一步減少不良品的產生，同時對某一類型的不良品進行收集后還可以通過后續的再加工使其成為良品。目前在半導體器件的加工過程中，通常是將半導體器件通過吸取拾起的方式在不同的工位上進行加工和檢測，在這種加工方式下，如何根據要求對檢測后的半導體器件中的不良品根據要求進行準確分類是一個亟待解決的技術問題。
【發明內容】
[0003]本實用新型所要解決技術問題是，提供一種能夠將不同類型的半導體器件的不良品準確分類到兩個料盒中的去的不良品分類裝置。
[0004]為解決以上技術問題，本實用新型的技術方案是:一種半導體器件篩選分類裝置，其關鍵是:包括第一料盒、第二料盒以及與所述第一料盒連通的第一輸料管、與所述第二料盒連通的第二輸料管，在所述第一輸料管的入口處的一側設置有吹氣口，所述第二輸料管的入口設置在所述第一輸料管的入口處的另一側且正對所述吹氣口。
[0005]作為本實用新型的改進一，在所述第一輸料管上設置有用以感應是否有物料經過的第一感應器。
[0006]作為本實用新型進一步的改進，所述第一感應器為光纖傳感器。
[0007]作為本實用新型更進一步的改進，在所述第二輸料管上設置有用以感應是否有物料經過的第二感應器。
[0008]作為本實用新型再進一步的改進，所述第二感應器也為光纖傳感器。
[0009]作為本實用新型的改進二，還包括容納所述第一料盒的第一料倉，所述第一料倉的頂部與所述第一輸料管連通。
[0010]作為本實用新型進一步的改進，所述第一料倉包括設置在側面的第一料盒出入
□O
[0011]作為本實用新型更進一步的改進，還包括容納所述第二料盒的第二料倉，所述第二料倉的頂部與所述第二輸料管連通。
[0012]作為本實用新型再進一步的改進，所述第二料倉包括設置在側面的第二料盒出入
□O
[0013]優選的，還包括控制器，所述第一感應器以及所述第二感應器均與所述控制器電性連接。
[0014]通過實施本實用新型可取得以下有益效果:
[0015]一種半導體器件篩選分類裝置，包括第一料盒、第二料盒以及與所述第一料盒連通的第一輸料管、與所述第二料盒連通的第二輸料管，在所述第一輸料管的入口處的一側設置有吹氣口，所述第二輸料管的入口設置在所述第一輸料管的入口處的另一側且正對所述吹氣口。當通過吸取拾取方式檢測完畢的半導體器件被判定為不良品且移動到第一輸料管的入口的上方時，依據檢測后的不良類型或者是產品的型號規格為判斷依據，如果是需要進入到第一料盒中的半導體器件，則將檢測后的半導體器件根據需要直接關閉或者減小吸取拾取的氣壓從而使半導體器件落入第一輸料管內從而進入到第一料盒中；如果是需要進入到第二料盒中的半導體器件，則先打開吹氣口使其吹出氣體，然后再關閉或者是減小吸取拾取的氣壓從而使半導體器件在落到吹氣口位置時被吹入到第二輸料管內，從而進入到第二料盒中。這就實現了將不同類型的不良品根據需要準確分類到兩個料盒中。在所述第一輸料管上設置有用以感應是否有物料經過的第一感應器，在所述第二輸料管上設置有用以感應是否有物料經過的第二感應器，在半導體元器件需要進入到不同的料盒中時，相應設置在不同輸料管上的感應器會偵測其是否已經通過輸料管，這進一步保證了分類的準確性。所述第一感應器和第二感應器均為光纖傳感器，光纖感應器能夠更加準確的偵測是否有物料通過了相應的偵測位置，從而進一步保證了分類的準確性。第一料倉用以容納所述第一料盒，所述第一料倉的頂部與所述第一輸料管連通，所述第一料倉包括設置在側面的第一料盒出入口。第二料倉用以容納所述第二料盒，所述第二料倉的頂部與所述第二輸料管連通，所述第二料倉包括設置在側面的第二料盒出入口。通過在料倉中設置料盒，能夠方便在料盒裝滿時將料盒便捷的從料倉的料盒出入口處中抽出，在倒出料盒中的物料后迅速將料盒裝回到料倉中去，這提升了分類時更換料盒的效率。所述第一感應器以及所述第二感應器均與所述控制器電性連接，在物料需要通過輸料管進入到相應的料盒中去時而相應的輸料管上設置的感應器又未感應到有物料通過時，此時感應器會反饋信號給控制器，從而控制停機，在進行人工檢測確認后再開機，這進一步保障了分類的準確性。
【附圖說明】
[0016]下面結合說明書附圖對本實用新型做進一步詳細的描述，其中:
[0017]圖1是本實用新型的結構圖。
【具體實施方式】
[0018]如圖1所示，半導體器件篩選分類裝置，包括第一料盒11、第二料盒21以及與所述第一料盒11連通的第一輸料管12、與所述第二料盒21連通的第二輸料管22，在所述第一輸料管12的入口處的一側設置有吹氣口 31，所述第二輸料管22的入口設置在所述第一輸料管12的入口處的另一側且正對所述吹氣口 31。在所述第一輸料管12上設置有用以感應是否有物料經過的第一感應器，在所述第二輸料管22上設置有用以感應是否有物料經過的第二感應器。所述第一感應器和所述第二感應器均為光纖傳感器。所述不良品分類裝置還包括用以容納所述第一料盒11的第一料倉13、用以容納所述第二料盒21的第二料倉23以及控制器。所述第一料倉13的頂部與所述第一輸料管12連通，所述第一料倉11包括設置在側面的第一料盒出入口。所述第二料倉23的頂部與所述第二輸料管22連通，所述第二料倉23包括設置在側面的第二料盒出入口。所述第一感應器以及所述第二感應器均與所述控制器電性連接。
[0019]必須指出，上述實施例只是對本實用新型做出的一些非限定性舉例說明。但本領域的技術人員會理解，在沒有偏離本實用新型的宗旨和范圍下，可以對本實用新型做出修改、替換和變更，這些修改、替換和變更仍屬本實用新型的保護范圍。
【主權項】
1.一種半導體器件篩選分類裝置，其特征是:包括第一料盒(11)、第二料盒(21)以及與所述第一料盒(11)連通的第一輸料管(12)、與所述第二料盒(21)連通的第二輸料管(22)，在所述第一輸料管(12)的入口處的一側設置有吹氣口(31 )，所述第二輸料管(22)的入口設置在所述第一輸料管(12)的入口處的另一側且正對所述吹氣口(31)。2.根據權利要求1所述的半導體器件篩選分類裝置，其特征是:在所述第一輸料管(12)上設置有用以感應是否有物料經過的第一感應器。3.根據權利要求2所述的半導體器件篩選分類裝置，其特征是:所述第一感應器為光纖傳感器。4.根據權利要求3所述的半導體器件篩選分類裝置，其特征是:在所述第二輸料管(22)上設置有用以感應是否有物料經過的第二感應器。5.根據權利要求4所述的半導體器件篩選分類裝置，其特征是:所述第二感應器也為光纖傳感器。6.根據權利要求1至5中任何一項所述的半導體器件篩選分類裝置，其特征是:還包括容納所述第一料盒(11)的第一料倉(13)，所述第一料倉(13)的頂部與所述第一輸料管(12)連通。7.根據權利要求6所述的半導體器件篩選分類裝置，其特征是:所述第一料倉(11)包括設置在側面的第一料盒出入口。8.根據權利要求7所述的半導體器件篩選分類裝置，其特征是:還包括容納所述第二料盒(21)的第二料倉(23)，所述第二料倉(23)的頂部與所述第二輸料管(22)連通。9.根據權利要求8所述的半導體器件篩選分類裝置，其特征是:所述第二料倉(23)包括設置在側面的第二料盒出入口。10.根據權利要求9所述的半導體器件篩選分類裝置，其特征是:還包括控制器，所述第一感應器以及所述第二感應器均與所述控制器電性連接。
【專利摘要】一種半導體器件篩選分類裝置，包括第一料盒、第二料盒以及與所述第一料盒連通的第一輸料管、與所述第二料盒連通的第二輸料管，在所述第一輸料管的入口處的一側設置有吹氣口，所述第二輸料管的入口設置在所述第一輸料管的入口處的另一側且正對所述吹氣口。在所述第一輸料管上設置有用以感應是否有物料經過的第一感應器，在所述第二輸料管上設置有用以感應是否有物料經過的第二感應器。所述第一感應器和所述第二感應器均為光纖傳感器。設置的第一料倉用以容納所述第一料盒，所述第一料倉的頂部與所述第一輸料管連通。這種結構的不良品分類裝置能夠根據要求將不同類型的不良品準確分類到兩個不同的料盒中。
【IPC分類】B07C5/36
【公開號】CN204638592
【申請號】CN201520259090
【發明人】龍超祥, 黎前軍
【申請人】深圳市復德科技有限公司
【公開日】2015年9月16日
【申請日】2015年4月27日