專利名稱：一種玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒分選機測試調節機構的制作方法
技術領域：
本發明專利涉及一種玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒分選機測試調節機構。
背景技術：
一直以來對玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒測試分選都采用人工抽測分選分類，玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒尺寸從I. Ommxl. Omm x0. 3mm (長小x寬x厚度)至2. 8. Ommx2. 8mmx0. 3mm (長小x寬x厚度)不等，目前玻璃鈍化工藝二極管裸芯片生產廠家沒法做到對每一粒裸芯粒都進行人工測試。隨著二極管市場的激烈競爭，玻璃鈍化工藝二極管封裝廠家對裸芯粒的良品率質量要求也在不斷的提升，對產品的良品率要求也提高哪個裸芯粒生產廠家生廣的裸芯粒良品率聞，就會占據著市場的主動權以及客戶源。伴隨著聞壓_■極管裸芯粒市場的競爭激烈，裸芯粒的測試變得尤為重要，玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒具有體積小、薄和脆等特性，要求在裸芯粒測試時，裸芯片另一側要與三維托針調節架針尖接觸良好，接 觸應力不宜過大，測試頭觸點與三維彈片調節架彈片觸點接觸良好才能實現準確測試，接觸不好會造成短路，接觸應力過大會造成裸芯粒損傷以及崩粒。
發明內容
鑒于上述現狀，本發明的目的是提供一種玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒分選機測試調節機構，能有效地對裸芯粒實現測試，提高了分選裸芯粒良品率。為實現上述目的，本發明的技術方案是一種玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒分選機測試調節機構，包括托板，及安裝在托板上的遮光罩，該遮光罩位于玻璃鈍化工藝二極管測試頭正下方，在所述托板上還裝有三維托針調節架，三維托針調節架針尖與遮光罩中心重合，還包括有三維彈片調節架固定在托板上，使三維彈片調節架與遮光罩對應在同心圓周上，并位于玻璃鈍化工藝二極管測試頭觸點正下方，在所述三維彈片調節架之間設有防護架，該防護架安裝在托板上，并位于遮光罩的正上方。測試頭吸取裸芯粒，裸芯粒另一側與三維托針調節架針尖接觸，測試頭上的觸點與三維彈片調節架觸點接觸，形成閉合回路，三維托針調節架針尖與三維彈片調節架觸點分別與測試儀器的兩極相連接，完成對測試頭上的裸芯粒測試。在本發明中，所述的三維托針調節架，包括支撐架，在所述支撐架上安裝帶有X向螺母的傳動絲桿，通過傳動絲桿與安裝在在支撐架上的雙燕尾槽滑塊連接，在所述雙燕尾槽滑塊上裝有與雙燕尾槽滑塊呈垂直的帶有Y向螺母的傳動絲桿，通過傳動絲桿與L型雙燕尾槽滑塊，在所述L型雙燕尾槽滑塊上安裝有帶有Z向螺母的傳動絲桿，通過傳動絲桿與燕尾槽滑塊連接，所述燕尾槽滑塊連接T型托架，和安裝在T型托架上的探針安裝架，在所述探針安裝架一端連接有托架探針，位于探針安裝架上還裝有吹風管。在本發明中，所述的三維彈片調節架，包括L型安裝塊，該L型安裝塊上滑動連接有立柱，通過L型安裝塊上設置的螺釘緊固在立柱，所述的立柱安裝有旋轉螺母，在所述L型安裝塊上端的偏心孔上安裝有絕緣連接塊，位于絕緣連接塊上端具有一彈片，該彈片一端設有絕緣片，位于彈片另一端有一觸點。在本發明中，所述遮光罩為T形中空體。
圖I為本發明的示意 圖2為圖I三維托針調節架示意 圖3為圖I三維彈片調節架示意圖。
具體實施方式
下面將結合附圖實施例對本發明作進一步說明。參考圖I,包括托板5,及安裝在托板5上的遮光罩3,該遮光罩3位于玻璃鈍化工藝二極管測試頭A正下方，在所述托板5上還裝有三維托針調節架I，三維托針調節架I針尖與遮光罩3中心重合，還包括有三維彈片調節架2固定在托板5上，與遮光罩3對應在同心圓周上，并位于玻璃鈍化工藝二極管測試頭A觸點正下方，在所述三維彈片調節架2之間設有防護架4，該防護架4安裝在托板5上，并位于遮光罩3的正上方。利用二極管測試頭A吸取裸芯粒，裸芯粒另一側與三維托針調節架I針尖接觸，二極管測試頭A上的觸點與三維彈片調節架2觸點接觸，形成閉合回路，三維托針調節架I針尖與三維彈片調節架2觸點分別與測試儀器(圖中未給出)的兩極相連接，完成對測試頭上的裸芯粒測試。圖2給出了三維托針調節架。所述的三維托針調節架，包括支撐架102，在所述支撐架102上安裝帶有螺母101的傳動絲桿103，通過傳動絲桿103與安裝在在支撐架102上的雙燕尾槽滑塊112連接，通過轉動螺母101控制雙燕尾槽滑塊112作X方向移動。在所述雙燕尾槽滑塊112上裝有與雙燕尾槽滑塊112呈垂直的帶有螺母101-1的傳動絲桿103-1，通過傳動絲桿103-1與L型雙燕尾槽滑塊104，通過轉動螺母101-1控制L型雙燕尾槽滑塊104作Y方向移動。在所述L型雙燕尾槽滑塊104上安裝有帶有螺母101-2的傳動絲桿103-2，通過傳動絲桿103-2與燕尾槽滑塊105連接，通過轉動螺母101-2控制燕尾槽滑塊105作Z方向移動。本實施例的燕尾槽滑塊105通過螺絲111連接T型托架106，和安裝在T型托架106上的探針安裝架107，該T型托架106與探針安裝架107通過螺釘110固定連接，在所述探針安裝架107 —端連接有托架探針108，位于探針安裝架107上還裝有吹風管109，吹風管109與探針安裝架107通過螺紋連接。本實施例通過設置的三個旋轉螺母101、101-1、101-2，可實現托架探針108的X、Y、Z三方向細微調節。圖3給出了三維彈片調節架。所述的三維彈片調節架，包括L型安裝塊204，該L型安裝塊204上滑動連接有立柱201，通過L型安裝塊204上設置的螺釘203緊固在立柱201，所述的立柱201通過螺紋連接旋轉螺母202，在所述L型安裝塊204上端的偏心孔上安裝有絕緣連接塊205，通過螺釘連接，位于絕緣連接塊205上端具有一彈片208，該彈片208一端設有絕緣片206，通過螺釘207緊固在絕緣連接塊205上，位于彈片208另一端有一觸點209，通過鉚接與彈片208連接。調節時，通過正、反旋轉旋轉螺母202，實現觸點209的Z向上下調節，當松開安裝塊204與絕緣連接塊205之間的螺釘可實現絕緣連接塊205的U形軸方向旋轉，同時通過旋轉帶有偏心孔的安裝快204，可實現絕緣連接塊205的X方向調節。
權利要求
1.一種玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒分選機測試調節機構，其特征是托板(5)，及安裝在托板(5)上的遮光罩(3),該遮光罩(3)位于玻璃鈍化工藝二極管測試頭A正下方,在所述托板(5)上還裝有三維托針調節架(I)，三維托針調節架(I)針尖與遮光罩(3)中心重合，還包括有三維彈片調節架(2)固定在托板(5)上，使三維彈片調節架(2)與遮光罩(3)對應在同心圓周上，并位于玻璃鈍化工藝二極管測試頭A觸點正下方，在所述三維彈片調節架(2)之間設有防護架(4)，該防護架(4)安裝在托板(5)上，并位于遮光罩(3)的正上方。
2.根據權利要求I所述的玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒分選機測試調節機構，其特征是其中三維托針調節架(I)，包括支撐架(102)，在所述支撐架(102)上安裝帶有X向螺母(101)的傳動絲桿(103)，通過傳動絲桿(103)與安裝在在支撐架(102)上的雙燕尾槽滑塊(112)連接，在所述雙燕尾槽滑塊(112)上裝有與雙燕尾槽滑塊(112)呈垂直的帶有Y向螺母(101-1)的傳動絲桿(103-1)，通過傳動絲桿(103-1)與L型雙燕尾槽滑塊(104)，在所述L型雙燕尾槽滑塊(104)上安裝有帶有Z向螺母(101-2)的傳動絲桿(103-2)，通過傳動絲桿(103-2)與燕尾槽滑塊(105)連接，所述燕尾槽滑塊(105)連接T型托架(106)，和安裝在T型托架(106)上的探針安裝架(107)，在所述探針安裝架(107) —端連接有托架探針(108)，位于探針安裝架(107)上還裝有吹風管(109)。
3.根據權利要求I所述的玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒分選機測試調節機構，其特征是其中三維彈片調節架(2)，包括L型安裝塊(204)，該L型安裝塊(204)上滑動連接有立柱(201)，通過L型安裝塊(204)上設置的螺釘(203)緊固在立柱(201)，所述的立柱(201)安裝有旋轉螺母(202)，在所述L型安裝塊(204)上端的偏心孔上安裝有絕緣連接塊(205)，位于絕緣連接塊(205)上端具有一彈片(208)，該彈片(208) —端設有絕緣片(206)，位于彈片(208)另一端有一觸點(209)。
4.根據權利要求I所述的的玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒分選機測試調節機構，其特 征是所述的遮光罩(3)為T形中空體。
全文摘要
本發明公開了一種玻璃鈍化工藝二極管裸芯粒分選機測試調節機構，包括托板，及安裝在托板上的遮光罩，該遮光罩位于玻璃鈍化工藝二極管測試頭正下方，在所述托板上還裝有三維托針調節架，三維托針調節架針尖與遮光罩中心重合，還包括有三維彈片調節架固定在托板上，使三維彈片調節架與遮光罩對應在同心圓周上，并位于玻璃鈍化工藝二極管測試頭觸點正下方，在所述三維彈片調節架之間設有防護架，該防護架安裝在托板上，并位于遮光罩的正上方。測試頭吸取裸芯粒，裸芯粒另一側與三維托針調節架針尖接觸，該觸點與三維彈片調節架上托臂觸點接觸形成閉合回路，三維托針調節架針尖與三維彈片調節架觸點與測試儀器兩極連接，完成測試頭上的裸芯粒測試。
文檔編號B07C5/00GK102806206SQ20121029279
公開日2012年12月5日 申請日期2012年8月17日 優先權日2012年8月17日
發明者楊剛, 李臣友, 于國輝, 李艷霞, 劉烽, 于梅霞, 孟憲圓, 宋濤 申請人:秦皇島視聽機械研究所