一種方片式元件的自動測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種電子元器件的測試設備技術領域，尤其涉及一種方片式元件的自動測試裝置。
【背景技術】
[0002]現有的元件測試機種類很大，且大多能精確完成元器件的測試，但這種元器件一般都是圓柱狀的；這些測試機不適用于方片式的元件檢測，因為方片式元件的體形不規整，在輸送過程中容易產生疊片、跑偏、對位不準的問題，所以方片式的元件一般都由人工檢測。但人工檢測效率太慢，眾所周知，手工操作誤差很大，測試效率差。
【實用新型內容】
[0003]為了克服現有技術中的不足，本實用新型提供一種測試效率高的方片式元件的自動測試裝置。
[0004]為解決上述技術問題，本實用新型是通過以下技術方案實現的:一種方片式元件的自動測試裝置，包括上料機構、送料機構和自動測片機構，所述的送料機構上設有平軌軌道，所述的平軌軌道上設有傳輸皮帶，在傳輸皮帶的兩側還設有擋料塊；在平軌軌道的起始端設有傳感器，傳感器隨時監測進料情況；在平軌軌道的末端設有自動測片機構。
[0005]進一步:在上述方片式元件的自動測試裝置中，所述的自動測片機構包括對稱設在平軌軌道末端且用于夾住待測料的夾料塊，在夾料塊的側邊設有測試針、在夾料塊的上端設有光纖探測頭。所述的平軌軌道上還設有自動檢測元件外觀缺陷的攝影傳感裝置，所述的攝影傳感裝置對稱設置在傳輸皮帶的兩側，這樣全方位掃描元件有無外觀缺陷；所述的平軌軌道上還設有與攝影傳感裝置對應的定位裝置，這樣便于精確攝影。元件外觀，如碰傷、劃花、缺角等不良品，通過攝影機影像記錄，然后通過感應器將元件的外觀信息及時傳到PLC邏輯控制器中，PLC邏輯控制器進行分選合格品與不良品，達到元件外觀嚴格的監控，大大提高產品質量，解決人工檢測問題。
[0006]當方片式元件到達檢測機構時，為防止檢測時，元件出現兩片重疊情況，光纖探測頭的光纖感光度設定為2000 ±200。
[0007]所述的測試針與測試氣缸連接，所述的夾料塊與夾料氣缸連接，有效防止機構動力的相互干擾。所述的送料機構是振盤，該機構有效使元件作隊列排序。所述的上料機構、送料機構和自動測片機構均與PLC邏輯控制器相連；所述的上料機構、送料機構、自動測片機構均由電機帶動，由PLC邏輯控制器統一控制，充分實現整個測試裝置協調動作，實現整個系統的精準的自動檢測功能。
[0008]與現有技術相比，上述方片式元件的自動測試裝置，包括上料機構、送料機構和自動測片機構，所述的送料機構上設有平軌軌道，所述的平軌軌道上設有傳輸皮帶；在平軌軌道的兩側還沒有擋料塊，防止方片式元件在運輸過程中跑偏；在平軌軌道的起始端設有傳感器，在平軌軌道的末端設有自動測片機構；所述的自動測片機構包括對稱設在平軌軌道末端且用于夾住待測料的夾料塊，方便測試針精確定位，夾料塊防止定位不準；在夾料塊的側邊設有測試針、在夾料塊的上端設有光纖探測頭，準確控測夾料塊中有無待測物。振盤均勻的將方片式元件有效的分開，防止重疊。傳感器精確檢測方片式元件有沒有移到傳送帶上。所以本實用新型能自動、高效的檢測方片式元件。本實用新型的自動測試裝置所測元件規格為:長15-36mm,寬6_15mm，厚1.0_3mm，分選速度大于等于100片/分鐘；整個自動測試裝置測試精度控制在±1%。
【附圖說明】
[0009]圖1是本實用新型自動測試裝置實施方式一的結構示意圖；
[0010]圖2是本實用新型自動測試裝置實施方式二的結構示意圖；
[0011]圖3是圖1、2的A部放大圖；
[0012]其中I平軌軌道、2傳輸皮帶、3擋料塊、4夾料塊、5測試針、6光纖探測頭、7測試氣缸、8夾料氣缸、9振盤、10傳感器、11攝影傳感裝置、12定位裝置。
【具體實施方式】
[0013]為了便于本領域技術人員的理解，下面結合附圖對本實用新型作進一步的描述。
[0014]實施方式一:如附圖1、3，一種方片式元件的自動測試裝置，包括上料機構、送料機構和自動測片機構，所述的送料機構上設有平軌軌道1，所述的平軌軌道上設有傳輸皮帶
2;在平軌軌道的起始端設有傳感器10，在平軌軌道的末端設有自動測片機構；在平軌軌道的兩側還沒有擋料塊3 ;所述的自動測片機構包括對稱設在平軌軌道末端且用于夾住待測料的夾料塊4，在夾料塊的側邊設有測試針5、在夾料塊的上端設有光纖探測頭6。所述的測試針與測試氣缸7連接，所述的夾料塊與夾料氣缸8連接。所述的送料機構是振盤9。所述的上料機構、送料機構和自動測片機構均與PLC邏輯控制器相連。所述的上料機構、送料機構、自動測片機構均由電機帶動。
[0015]工作時，方片式元件由振盤9出來進入平軌軌道I的傳輸皮帶2上，期間方片式元件經過用于監測進料情況的傳感器2，當沒有方片式元件經過傳感器2時，裝置則起保護作用，自動停機。經過傳感器2的方片式元件進入由電機帶動的傳輸皮帶2，在擋料塊3的輔助下，到達自動測片機構，自動測片機構的夾料氣缸8帶動夾料塊夾住方片式元件(待測物)進行精確定位測試，所述自動測片機構包括光纖探測頭6，光纖探測頭6檢測到方片式元件到達后，由測試氣缸7帶動的測試針5，進行測試并反饋信息到PLC控制系統中，測試完畢后，夾料氣缸8打開，方片式元件落到預定的料盒中測試完成，等待進行下一步的工序。
[0016]實施方式二:如附圖2、3，在實施方式一的基礎上，所述的平軌軌道上還設有自動檢測元件外觀缺陷的攝影傳感裝置和與攝影傳感裝置11對應的定位裝置12，這樣便于精確攝影，所述的攝影傳感裝置對稱設置在傳輸皮帶2的兩側，便于攝影傳感裝置全方位掃描方片元件的外觀。元件外觀，如碰傷、劃花、缺角等不良品，通過攝影機影像記錄，然后通過感應器將元件的外觀信息及時傳到PLC邏輯控制器中，PLC邏輯控制器進行分選合格品與不良品，達到元件外觀嚴格的監控，大大提高產品質量，解決人工檢測問題。
[0017]工作時，方片式元件由振盤9出來進入平軌軌道I的傳輸皮帶2上，期間方片式元件經過用于監測進料情況的傳感器2，當沒有方片式元件經過傳感器2時，裝置則起保護作用，自動停機。經過傳感器2的方片式元件進入由電機帶動的傳輸皮帶2，在擋料塊3的輔助下，穿過攝影傳感裝置和與攝影傳感裝置11對應的定位裝置12，到達自動測片機構，自動測片機構的夾料氣缸8帶動夾料塊夾住方片式元件(待測物)進行精確定位測試，所述自動測片機構包括光纖探測頭6，光纖探測頭6檢測到方片式元件到達后，由測試氣缸7帶動的測試針5，進行測試并反饋信息到PLC控制系統中，測試完畢后，夾料氣缸8打開，方片式元件落到預定的料盒中測試完成，等待進行下一步的工序。
[0018]上述實施例中提到的內容為本實用新型較佳的實施方式，并非是對本實用新型的限定，在不脫離本實用新型構思的前提下，任何顯而易見的替換均在本實用新型的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種方片式元件的自動測試裝置，包括上料機構、送料機構和自動測片機構，其特征在于: 所述的送料機構上設有平軌軌道(I)，所述的平軌軌道上設有傳輸皮帶(2)，在傳輸皮帶的兩側設有擋料塊(3)； 在平軌軌道的起始端設有傳感器(10)，在平軌軌道的末端設有自動測片機構。2.根據權利要求1所述的方片式元件的自動測試裝置，其特征在于:所述的自動測片機構包括對稱設在平軌軌道末端且用于夾住待測料的夾料塊(4)，在夾料塊的側邊設有測試針(5)、在夾料塊的上端設有光纖探測頭(6)。3.根據權利要求2所述的方片式元件的自動測試裝置，其特征在于:所述的平軌軌道上還設有自動檢測元件外觀缺陷的攝影傳感裝置(11)。4.根據權利要求3所述的方片式元件的自動測試裝置，其特征在于:所述的攝影傳感裝置對稱設置在傳輸皮帶的兩側。5.根據權利要求4所述的方片式元件的自動測試裝置，其特征在于:所述的平軌軌道上還設有與攝影傳感裝置對應的定位裝置(12)。6.根據權利要求5所述的方片式元件的自動測試裝置，其特征在于:所述光纖探測頭的光纖感光度設定為2000 ±200。7.根據權利要求6所述的方片式元件的自動測試裝置，其特征在于:所述的測試針與測試氣缸(7)連接，所述的夾料塊與夾料氣缸(8)連接。8.根據權利要求7所述的方片式元件的自動測試裝置，其特征在于:所述的送料機構是振盤(9)。9.根據權利要求1-8中任一項所述的方片式元件的自動測試裝置，其特征在于:所述的上料機構、送料機構和自動測片機構均與PLC邏輯控制器相連。10.根據權利要求9所述的方片式元件的自動測試裝置，其特征在于:所述的上料機構、送料機構、自動測片機構均由電機帶動。
【專利摘要】本實用新型屬于電子元器件的測試設備技術領域，尤其涉及一種方片式元件的自動測試裝置，它包括上料機構、送料機構和自動測片機構，所述的送料機構上設有平軌軌道，所述的平軌軌道上設有傳輸皮帶；在傳輸皮帶的兩側還設有擋料塊；在平軌軌道的起始端設有傳感器，在平軌軌道的末端設有自動測片機構；所述的自動測片機構包括對稱設在平軌軌道末端且用于夾住待測料的夾料塊，在夾料塊的側邊設有測試針、在夾料塊的上端設有光纖探測頭。本實用新型的自動測試裝置能自動、高效的檢測方片式元件。
【IPC分類】G01N21/88, B65G15/56, B65G47/22
【公開號】CN204872490
【申請號】CN201520465717
【發明人】孔祥堅, 梁鎮杰
【申請人】肇慶市眾一自動化設備有限公司
【公開日】2015年12月16日
【申請日】2015年6月30日