一種包裝缺陷檢測系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明屬于過程控制領域，尤其是涉及一種包裝缺陷檢測系統。
【背景技術】
[0002]目前，產品生產過程中設備的自動化程度很高，但是對于產品包裝的檢測主要通過人工目測來判斷包裝是否完整，長時間觀察容易造成視覺疲勞，影響檢測效率和準確性，嚴重影響了產品合格率，不合格品出廠會降低用戶滿意度，削弱品牌價值降低公司信譽，因此對包裝缺陷進行檢測并剔除不合格品有著重要的意義。
【發明內容】
[0003]有鑒于此，本發明旨在提出一種包裝缺陷檢測系統，以檢測出包裝存在缺陷的產品，并將其剔除。
[0004]為達到上述目的，本發明的技術方案是這樣實現的:
[0005]—種包裝缺陷檢測系統，包括中央處理器、X光掃描系統、線性陳列探測器、缺陷產品剔除裝置、圖像處理系統、圖像采集系統和LED光源，所述線性陳列探測器通過廣電傳感器連接中央處理器，所述圖像采集系統通過圖像處理系統連接中央處理器，所述中央處理器分別連接缺陷產品剔除裝置、X光掃描系統和計數器。
[0006]進一步的，所述圖像處理系統包括依次相連的背景分離模塊、濾波降噪模塊和變換檢測模塊。
[0007]進一步的，所述圖像采集系統連接LED光源。
[0008]相對于現有技術，本發明所述的一種包裝缺陷檢測系統具有以下優勢:
[0009]本發明所述的一種包裝缺陷檢測系統能夠通過圖像檢測包裝外觀是否存在缺陷；通過X光檢測包裝結構是否存在缺陷和是否漏裝、少裝產品，通過缺陷產品剔除裝置將存在問題的產品剔除，并統計數量。
【附圖說明】
[0010]構成本發明的一部分的附圖用來提供對本發明的進一步理解，本發明的示意性實施例及其說明用于解釋本發明，并不構成對本發明的不當限定。在附圖中:
[0011 ]圖1為本發明實施例所述的原理框圖。
【具體實施方式】
[0012]需要說明的是，在不沖突的情況下，本發明中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。
[0013]在本發明的描述中，需要理解的是，術語“中心”、“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”、“內”、“外”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本發明的限制。此外，術語“第一”、“第二”等僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或者隱含指明所指示的技術特征的數量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隱含地包括一個或者更多個該特征。在本發明創造的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上。
[0014]在本發明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接;可以是機械連接，也可以是電連接;可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通。對于本領域的普通技術人員而言，可以通過具體情況理解上述術語在本發明中的具體含義。
[0015]下面將參考附圖并結合實施例來詳細說明本發明。
[0016]一種包裝缺陷檢測系統，包括中央處理器、X光掃描系統、線性陳列探測器、缺陷產品剔除裝置、圖像處理系統、圖像采集系統和LED光源，所述線性陳列探測器通過廣電傳感器連接中央處理器，所述圖像采集系統通過圖像處理系統連接中央處理器，所述中央處理器分別連接缺陷產品剔除裝置、X光掃描系統和計數器。所述圖像處理系統包括依次相連的背景分離模塊、濾波降噪模塊和變換檢測模塊。所述圖像采集系統連接LED光源。
[0017]本發明所述的一種包裝缺陷檢測系統通過圖像采集系統拍攝包裝圖像，經過信號處理和算法比較判斷是否存在包裝缺陷，通過X光掃描系統進一步判斷包裝結構和產品是否存在缺陷，將存在缺陷的產品通過缺陷產品剔除裝置剔除，當連續出現存在缺陷產品是報警提示。
[0018]以上所述僅為本發明的較佳實施例而已，并不用以限制本發明，凡在本發明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發明的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種包裝缺陷檢測系統，其特征在于:包括中央處理器、X光掃描系統、線性陳列探測器、缺陷產品剔除裝置、圖像處理系統、圖像采集系統和LED光源，所述線性陳列探測器通過廣電傳感器連接中央處理器，所述圖像采集系統通過圖像處理系統連接中央處理器，所述中央處理器分別連接缺陷產品剔除裝置、X光掃描系統和計數器。2.根據權利要求1所述的一種包裝缺陷檢測系統，其特征在于:所述圖像處理系統包括依次相連的背景分離模塊、濾波降噪模塊和變換檢測模塊。3.根據權利要求2所述的一種包裝缺陷檢測系統，其特征在于:所述圖像采集系統連接LED光源。
【專利摘要】本發明供了一種包裝缺陷檢測系統，包括中央處理器、X光掃描系統、線性陳列探測器、缺陷產品剔除裝置、圖像處理系統、圖像采集系統和LED光源，所述線性陳列探測器通過廣電傳感器連接中央處理器，所述圖像采集系統通過圖像處理系統連接中央處理器，所述中央處理器分別連接缺陷產品剔除裝置、X光掃描系統和計數器。本發明所述的一種包裝缺陷檢測系統能夠通過圖像檢測包裝外觀是否存在缺陷；通過X光檢測包裝結構是否存在缺陷和是否漏裝、少裝產品，通過缺陷產品剔除裝置將存在問題的產品剔除，并統計數量。
【IPC分類】B65B57/00, G01N21/88
【公開號】CN105501559
【申請號】CN201511035261
【發明人】李偉
【申請人】天津天佑潤德新材料科技有限公司
【公開日】2016年4月20日
【申請日】2015年12月31日