專利名稱：一種顯示9％Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑及其應用的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種腐蝕劑，具體地，涉及一種顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑及其應用。
背景技術：
金屬晶粒的尺寸對其在室溫及高溫下的機械性能有決定性的影響。在金相組織分析中，晶粒尺寸的評定十分重要。超臨界機組的高溫承壓部件(包括主蒸汽管道、再熱熱段管道和高溫聯箱等)主要采用9% Cr鋼制造。而在對9% Cr鋼進行金相檢測時，現用腐蝕劑往往只能腐蝕出組織，而晶界基本看不到，嚴重影響晶粒度的評級。這種現象在混晶和大晶粒的試樣中更為突出，給材料檢測分析工作帶來了許多不便。因此需要尋找不同熱處理狀態下顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑。
發明內容
本發明的目的是提供一種腐蝕劑，該腐蝕劑能用于顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界， 該9% Cr鋼經本發明的腐蝕劑腐蝕后，晶界清晰，組織不明顯。為實現以上目的，本發明提供了一種顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑，該腐蝕劑由 H2O :60-80ml ；重量百分比為 36% 的 HCl :4_8ml ；FeCl3 :2_4g ；苦味酸0. 2-0. 5g ； 十二烷基磺酸鈉1. 0-2. Og完全混合而成。上述的顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑，其中，所述的9% Cr鋼的合金成分按重量百分數計，含 C:0. 08 0. 12 ；Si:0. 2 0. 5 ；Mn:0. 3 0. 6 ；P: ( 0. 020 ；S: ( 0. 010 ； Cr 8. 00 9· 50 ；Mo 0. 85 1. 05 ；V 0. 18 0. 25 ；Ν:0· 030 0· 070 ；Ni ^ 0. 40 ；Al ^ 0. 02 ；Nb 0. 06 0. 10 ；Fe:余量。本發明還提供了一種上述的顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑的用途，其中， 該腐蝕劑用于腐蝕9% Cr鋼，使其中的混晶和大晶粒晶界清晰可見。上述的顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑的應用，其中，該腐蝕劑的使用方法為將9%Cr鋼加工成待腐蝕試樣，拋光后，室溫，用腐蝕劑擦蝕金屬表面1(Γ30秒。本發明中H2O為溶劑，苦味酸、HCl和FeCl3為氧化劑；十二烷基磺酸鈉是一種表面活性劑。本發明的腐蝕劑對晶界腐蝕強烈，而對基體組織的腐蝕可完全被抑制。本發明提供的腐蝕劑作為9% Cr鋼晶界專用試劑可以清晰地顯示試樣的大晶粒、 大小混晶晶粒和小晶粒的原奧氏體晶界，100倍下容易進行晶粒度評級，效果良好。
圖1為待腐蝕試樣采用實施例1的腐蝕劑擦蝕后，通過金相顯微鏡(X 100)觀察的晶界形貌。圖2為待腐蝕試樣采用常規腐蝕劑維氏試劑擦蝕后，通過金相顯微鏡(X 100)觀察的晶界形貌。
圖3為待腐蝕試樣采用實施例1的腐蝕劑擦蝕后，通過金相顯微鏡(X 200)觀察的晶界形貌。圖4為待腐蝕試樣采用常規腐蝕劑維氏試劑擦蝕后，通過金相顯微鏡(X 200)觀察的晶界形貌。圖5為待腐蝕試樣采用實施例2的腐蝕劑擦蝕后，通過金相顯微鏡(X 100)觀察的晶界形貌。圖6為待腐蝕試樣采用實施例3的腐蝕劑擦蝕后，通過金相顯微鏡(X 100)觀察的晶界形貌。
具體實施例方式以下結合附圖和實施例詳細說明本發明的具體實施方式
。本發明的實施例中試驗用9% Cr鋼合金成分如表1所示。表1 :試驗用9% Cr鋼成分(wt%)
權利要求
1.一種顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑，其特征在于，該腐蝕劑由H20:60-80ml; 重量百分比為36%的HCl :4-8ml ；FeCl3 :2_4g ；苦味酸0. 2-0. 5g ；十二烷基磺酸鈉: 1.0-2. Og完全混合而成。
2.如權利要求1所述的顯示9%Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑，其特征在于，所述的9% Cr鋼的合金成分按重量百分數計，含C:0. 08 0. 12 ；Si:0. 2 0. 5 ； Mn :0. 3 0. 6 ；P: ( 0. 020 ； S: ( 0. 010 ；Cr 8. 00 9· 50 ；Mo 0. 85 1. 05 ；V 0. 18 0. 25 ；Ν:0· 030 0· 070 ；Ni 彡 0. 40 ； Al ( 0. 02 ；Nb 0. 06 0. 10 ；Fe:余量。
3.—種顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑的應用，其特征在于，該腐蝕劑用于腐蝕 9% Cr鋼，使其中的混晶和大晶粒晶界清晰可見。
4.一種顯示9% Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑的應用，其特征在于，該腐蝕劑的使用方法為將9%Cr鋼加工成待腐蝕試樣，拋光后，室溫，用腐蝕劑擦蝕金屬表面1(Γ30秒。
全文摘要
本發明公開了一種顯示9％Cr鋼原奧氏體晶界的腐蝕劑及其應用，該腐蝕劑由H2O60-80ml；重量百分比為36%的HCl4-8ml；FeCl32-4g；苦味酸0.2-0.5g；十二烷基磺酸鈉1.0-2.0g完全混合而成。本發明提供的腐蝕劑作為9％Cr鋼晶界專用試劑可以清晰地顯示試樣的大晶粒、大小混晶晶粒和小晶粒的原奧氏體晶界，100倍下容易進行晶粒度評級，效果良好。
文檔編號C23F1/28GK102517586SQ20111043884
公開日2012年6月27日 申請日期2011年12月26日 優先權日2011年12月26日
發明者盧小莉, 張波, 李寶虎, 李強 申請人:上海鍋爐廠有限公司