一種數控機床用磁尺的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及一種數控機床零部件，具體涉及數控機床用磁尺。
【背景技術】
[0002]數控機床是一種裝有程序控制系統的自動化機床，該控制系統能夠邏輯地處理具有控制編碼或其他符號指令規定的程序，并將其譯碼，用代碼化的數字表示，通過信息載體輸入數控裝置。經運算處理由數控裝置發出各種控制信號，控制機床的動作，按圖紙要求的形狀和尺寸，自動地將零件加工出來。數控機床較好地解決了復雜、精密、小批量、多品種的零件加工問題，是一種柔性的、高效能的自動化機床。數控機床上用于位置檢測裝置的部件是磁尺，現有的磁尺結構設計存在缺陷，檢測結果不準確，存在誤差較大。
【發明內容】
[0003]本發明要解決的問題是提供一種結構設計合理、適于位置檢測的數控機床用磁尺。
[0004]為了解決上述問題，本發明提供了一種數控機床用磁尺，包括尺座，所述尺座上設有凹槽，所述凹槽內設有磁尺，所述磁尺為柱狀磁尺，所述凹槽的直徑與磁尺的直徑相等，所述磁尺包括非導磁層和磁性薄膜層，所述磁性薄膜層包覆于非導磁層上。
[0005]作為本發明的進一步改進，所述凹槽為金屬材質的凹槽，所述凹槽的高度與磁尺的高度相同。所述凹槽上設有限位凸臺，所述限位凸臺對稱設置。所述凹槽或磁尺的長度為500_。所述非導磁層為銅材質層，所述磁性薄膜層為鐵鈷合金材質層。所述凹槽為低碳鋼材質的凹槽，用于屏蔽信號。
[0006]本發明與現有技術相比，結構設計合理，適于位置檢測裝置的檢測用，檢測結果穩定精確，且成本低廉適于大規模工業化生產。
【附圖說明】
[0007]圖1為本發明的數控機床用磁尺的結構示意圖。
[0008]圖2為本發明的數控機床用磁尺的磁尺截面示意圖。
[0009]圖中:1-尺座，2-凹槽，3-磁尺，4-非導磁層，5-磁性薄膜層，6-限位凸臺。
【具體實施方式】
[0010]下面結合附圖和實施例對本發明做進一步的解釋說明。
[0011]如圖1和圖2所示，一種數控機床用磁尺，包括尺座1，尺座I上設有凹槽2，凹槽2內設有磁尺3，磁尺3為柱狀磁尺，凹槽2的直徑與磁尺3的直徑相等，磁尺3包括非導磁層4和磁性薄膜層5，磁性薄膜層5包覆于非導磁層4上。凹槽2為金屬材質的凹槽，凹槽2的高度與磁尺3的高度相同。凹槽2上設有限位凸臺6，限位凸臺6對稱設置。凹槽2或磁尺3的長度為500mm。非導磁層4為銅材質層，磁性薄膜層5為鐵鈷合金材質層。
【主權項】
1.一種數控機床用磁尺，其特征在于:包括尺座(1)，所述尺座(I)上設有凹槽(2)，所述凹槽(2 )內設有磁尺(3 )，所述磁尺(3 )為柱狀磁尺，所述凹槽(2 )的直徑與磁尺(3 )的直徑相等，所述磁尺(3)包括非導磁層(4)和磁性薄膜層(5)，所述磁性薄膜層(5)包覆于非導磁層(4)上。2.根據權利要求1所述的數控機床用磁尺，其特征在于:所述凹槽(2)為金屬材質的凹槽，所述凹槽(2)的高度與磁尺(3)的高度相同。3.根據權利要求1所述的數控機床用磁尺，其特征在于:所述凹槽(2)上設有限位凸臺(6)，所述限位凸臺(6)對稱設置。4.根據權利要求1所述的數控機床用磁尺，其特征在于:所述凹槽(2)或磁尺(3)的長度為500mm。5.根據權利要求1所述的數控機床用磁尺，其特征在于:所述非導磁層(4)為銅材質層，所述磁性薄膜層(5)為鐵鈷合金材質層。
【專利摘要】本發明公開了一種數控機床用磁尺，包括尺座（1），所述尺座（1）上設有凹槽（2），所述凹槽（2）內設有磁尺（3），所述磁尺（3）為柱狀磁尺，所述凹槽（2）的直徑與磁尺（3）的直徑相等，所述磁尺（3）為非導磁層（4）和磁性薄膜層（5），所述磁性薄膜層（5）包覆于非導磁層（4）上。本發明具有結構設計合理、適于位置檢測的優點。
【IPC分類】B23Q17/22
【公開號】CN105710725
【申請號】CN201410716080
【發明人】紀篩小
【申請人】紀篩小