專利名稱：精密振鏡校正系統的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種精密振鏡校正系統。
背景技術：
在激光加工技術中，一般是利用振鏡控制光路來加工各種復雜的圖形和字符；由于存在環境溫濕度干擾、電機丟步等原因，振鏡在使用一定時間后會產生偏差，從而導致在加工過程中振鏡掃描的區域與區域之間的拼接處形成了偏差，產品加工失敗，此時就要對振鏡進行誤差補償以減小這種偏差。傳統技術是在校正板上打矩陣標靶后，再結合輔助測量設備(如二次元等)進行測量，由人工計算出理論與實際的偏差，再通過補償計算軟件生成校正文件，這樣不僅費時，還需要專門的測量人員以及昂貴的輔助測量設備；針對高強度的加工作業，高精度振鏡平均每隔兩天就要做一次校正，傳統技術執行起來難免費時費力。現有的技術一般為利·用激光在標靶上打出矩陣，在利用CCD單個圖形依次抓取，整個激光打矩陣標靶耗時I分鐘，但是CXD抓取整個標靶卻需要40分鐘，整體耗時嚴重。中國專利CN101513693公開了一種振鏡校正系統及其校正方法；振鏡校正系統包括振鏡校正板，由振鏡掃描模塊控制激光在所述振鏡校正板上形成矩陣標靶；CCD圖像采集裝置，用于對所述振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集；以及圖像處理模塊，用于對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理后輸出振鏡補償文件對振鏡進行校正。本實用新型提出了一種振鏡校正系統及校正方法，以解決現有的振鏡校正系統費時費力成本高的問題。
發明內容本實用新型所要解決的技術問題是現有的振鏡校正系統費時費力成本高的問題，本實用新型提供一種精密振鏡校正系統及其校正方法，該校正系統簡單穩定，振鏡校正方法快速便捷。為解決上述技術問題，本實用新型采用的技術方案如下一種振鏡校正系統，包括振鏡校正板、振鏡掃描模塊、CCD圖像采集裝置和圖像處理模塊；振鏡掃描模塊控制激光在所述振鏡校正板上形成矩陣標靶；CCD圖像采集裝置對所述振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集，圖像處理模塊對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理后，輸出振鏡補償文件對振鏡進行校正。上述技術方案中，采用CXD校正時，在振鏡校正板上切割一個圓孔，將CXD移至小圓位置，移動機臺使得CXD捕捉到圓心位置，計算CXD Offset值，并輸入到控制系統，完成CCD校正。振鏡掃描模塊控制激光在振鏡校正板上形成矩陣標靶，CCD圖像采集裝置對矩陣標靶進行圖像采集。圖像處理模塊同步對上述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理，處理后生成振鏡補償文件對振鏡進行校正。對振鏡進行校正方法為將振鏡要校正的區域分成若干個小區域，激光打標靶下一個區域的同時，CCD即可拍照采集標靶上一個區域的位置圖片，計算機同時對比理論標靶位置與采集的圖片標靶位置，從而計算補償，當打靶完成的同時，生成振鏡校正文件。采用上述振鏡校正系統進行振鏡校正的方法步驟如下I、CXD校正在振鏡校正板上切割一小圓(例如半徑O. 5mm的圓)，將CXD移至小圓位置，移動機臺使得CXD捕捉到圓心位置，計算CXD Offset值并輸入到控制系統，至此，C⑶校正完成。2、振鏡掃描模塊控制激光在振鏡校正板上形成矩陣標靶的同時，CCD圖像采集裝 置對矩陣標靶進行圖像采集；而且圖像處理模塊能同步對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理，處理后生成振鏡補償文件對振鏡進行校正。本實用新型的優點在于I、提供的振鏡校正系統采用機器自帶的CXD圖像采集裝置對振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集，無需借助輔助設備即可方便快捷地實現對振鏡的校正。2、三種工作(激光打靶，CXD圖像采集，圖像處理)同步進行，大大節約了振鏡校正的時間，實現了真正意義上的快速校正。本實用新型提出的振鏡校正系統及校正方法，解決了現有的振鏡校正系統費時費力成本高的問題，校正系統簡單穩定，振鏡校正快速便捷，取得了較好的技術效果。
圖I為振鏡校正系統示意圖。圖2為振鏡系統校正的方法流程示意圖。圖3為激光打靶、(XD采集、圖像處理同步進行示意圖。圖I中，I為CXD圖像采集裝置；2為振鏡掃描模塊；3為振鏡校正板。下面通過具體實施例對本實用新型作進一步的闡述，但不僅限于本實施例。
具體實施例實施例I一種振鏡校正系統，包括振鏡校正板、振鏡掃描模塊、CXD圖像采集裝置和圖像處理模塊；振鏡掃描模塊控制激光在所述振鏡校正板上形成矩陣標靶；CCD圖像采集裝置對所述振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集，圖像處理模塊對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理后，輸出振鏡補償文件對振鏡進行校正。實施例2一種振鏡校正系統，如附圖I所示，包括振鏡校正板(干凈平整的紙張即可)，由振鏡掃描模塊控制激光在所述振鏡校正板上形成矩陣標靶；CCD圖像采集裝置，用于對所述振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集；圖像處理模塊，用于對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理后，輸出振鏡補償文件對振鏡進行校正。實施例3一種振鏡校正系統，如附圖I所示，包括振鏡校正板(干凈平整的紙張即可)，由振鏡掃描模塊控制激光在所述振鏡校正板上形成矩陣標靶；CCD圖像采集裝置，用于對所述振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集；圖像處理模塊，用于對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理后，輸出振鏡補償文件對振鏡進行校正。采用上述振鏡校正系統進行振鏡校正的方法，如附圖2所示，步驟如下CXD校正在振鏡校正板上切割一小圓(例如半徑O. 5mm的圓)，將CXD移至小圓位置，移動機臺使得CXD捕捉到圓心位置，計算CXD Offset值并輸入到控制系統，至此，CXD校正完成。振鏡掃描模塊控制激光在振鏡校正板上形成矩陣標靶的同時，CXD圖像采集裝置對矩陣標靶進行圖像采集；而且圖像處理模塊能同步對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理，處理后生成振鏡補償文件對振鏡進行校正。對振鏡進行校正實現辦法如附圖3所示，將振鏡要校正的區域分成若干個小區域，光打標靶區域2的同時，CCD即可拍照采集標靶區域I的位置圖片，計算機同時能夠對比理論標靶位置與采集的圖片標靶位置，從而計算補償。所以當打靶完成的同時，振鏡校正文件即可生成。 本實用新型解決了現有的振鏡校正系統費時費力成本高的問題，正系統簡單穩定，振鏡校正快速便捷。
權利要求1.一種精密振鏡校正系統,其特征在于,包括振鏡校正板、振鏡掃描模塊、(XD圖像米集裝置和圖像處理模塊；振鏡掃描模塊控制激光在所述振鏡校正板上形成矩陣標靶；CCD圖像采集裝置對所述振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集，圖像處理模塊對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理后，輸出振鏡補償文件對振鏡進行校正。
專利摘要本實用新型涉及一種精密振鏡校正系統，主要解決現有技術中振鏡校正系統費時、費力、成本高的問題，本實用新型采用一種精密振鏡校正系統，包括振鏡校正板，由振鏡掃描模塊控制激光在所述振鏡校正板上形成矩陣標靶；CCD圖像采集裝置，用于對所述振鏡校正板上的矩陣標靶進行圖像采集；圖像處理模塊，用于對所述CCD圖像采集裝置采集的矩陣標靶進行處理后，輸出振鏡補償文件對振鏡進行校正的技術方案，較好的解決了該問題，可用于激光加工行業中。
文檔編號B23K26/42GK202607093SQ201220023319
公開日2012年12月19日 申請日期2012年1月19日 優先權日2012年1月19日
發明者魏志凌, 寧軍, 蔡猛 申請人:昆山思拓機器有限公司