專利名稱：電子元件外觀檢查機的光源裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種電子元件外觀檢查機的光源裝置，特別涉及一種光源充足的電子元件外觀檢查機的光源裝置。
背景技術：
隨著科技的日新月異及蓬勃發展，電子元件也趨向微小化及精密化，因此，無法再通過肉眼的方式進行檢測，因此，目前業界已發展出一用以檢測電子元件的外形輪廓(是否有瑕疵或毀損)及尺寸(包含長、寬及高，用以定位使用)的電子元件外觀檢查機，現有電子元件外觀檢查機主要是在一平臺上設置有一影像擷取器、一光源及一轉盤，該光源與該影像擷取器相結合，以此提供該影像擷取器一正向光源，而該轉盤可轉動地設于該平臺上且伸設至該光源的前方；現有電子元件外觀檢查機在操作時是將一待測的電子元件置放于該轉盤上，通過該轉盤轉動的方式將該待測電子元件移動至該光源的前方，即可使該影像擷取器擷取到該待測電子元件的外觀影像，然而，現有電子元件外觀檢查機雖可對于電子元件進行影像擷取及檢測，但因僅在該電子元件的前側面提供一正光源的方式，所擷取到的電子元件影像如附件一所示，該電子元件的影像容易因光源死角以及不同景深具有不同亮度的影響，容易使所取得的電子元件影像無法清楚地顯示出其外觀輪廓及相關尺寸，進而無法檢測出電子元件是否有瑕疵以及尺寸是否符合標準，不僅會影響現有電子元件外觀檢查機的檢測效率，且無法準確地檢測出不良尺寸或有瑕疵的電子元件，相對影響電子元件的品質，實有加以改進之處。
實用新型內容因此，本實用新型有鑒于現有電子元件外觀檢查機在檢測與操作的缺失與不足，特經過不斷的試驗與研究，終于發展出一種能改進現有缺失的本實用新型。本實用新型主要在于提供一種電子元件外觀檢查機的光源裝置，其可同時提供待測電子元件兩種不同方向的光源，進而讓該影像擷取器可取得該待測電子元件的清楚影像，以此達到提供一光源充足的電子元件外觀檢查機的光源裝置的目的。基于上述目的，本實用新型的主要技術手段在于提供一種電子元件外觀檢查機的光源裝置，其設置于一電子元件外觀檢查機上且設有一正光源組及一背光源組，其中:該正光源組設置于該電子元件外觀檢查機上且設有一環形框，其中該環形框于前側面環形朝內凹設有一環槽，在該環槽的內表面上設有多個間隔排列的第一正光源；以及該背光源組設置于該電子元件外觀檢查機且呈直線排列地與該正光源組相面對，該背光源組設有一與該電子元件外觀檢查機相結合的基座以及多個設置于該基座上且朝向該正光源組的背光源。進一步，該正光源組設有一結合板，該結合板設置在該環形框異于該背光源組的后側面，該結合板朝向該環形框的前側面上間隔排列設有多個第二正光源。[0010]再進一步，該各正光源為一發光二極管。優選地，該各背光源為一發光二極管。通過上述的技術手段，當電子元件外觀檢查機通過本實用新型的光源裝置進行電子元件的檢測時，可通過位于該環形框上的各第一正光源、該結合板上的各第二正光源以及該基座上各背光源照射于該待測的電子元件的方式，讓該電子元件可同時受到兩種不同方向的光源，進而使該影像擷取器通過該反射鏡取得該待測電子元件的影像時，其所擷取的影像外形輪廓清晰，且不會因景深的關系而有不同亮度的現象，并可顯示該電子元件各部位的結構關系，進而準確檢測出電子元件是否有瑕疵以及尺寸是否符合標準，不僅可大幅提高電子元件外觀檢查機的檢測效率，且可檢測出不良尺寸或有瑕疵的電子元件，有效改善電子元件的品質問題，以此構成一光源充足的電子元件外觀檢查機的光源裝置。
圖1是本實用新型設置于一電子元件外觀檢查機上的立體外觀示意圖。圖2是本實用新型設置于該電子元件外觀檢查機的側視示意圖。圖3是本實用新型設置于該電子元件外觀檢查機的另一側視示意圖。
圖4是本實用新型設置于該電子元件外觀檢查機的剖面側視示意圖。圖5是本實用新型用于檢測電子元件的操作側視示意圖。附件一為現有電子元件外觀檢查機所取得的電子元件影像圖。附件二為使用本實用新型光源裝置的電子元件外觀檢查機所取得的電子元件影像圖。附圖標號說明:10正光源組11環形框111環槽112第一正光源12結合板121第二正光源20背光源組21基座22背光源30電子元件40電子元件外觀檢查機 41平臺42影像擷取組421架體422影像擷取器423反射鏡424支撐架43轉盤
具體實施方式
以下配合附圖及本實用新型的優選實施例，進一步闡述本實用新型為達成預定實用新型目的所采取的技術手段。請參閱如圖1至4所示，本實用新型的電子元件外觀檢查機的光源裝置設置于一電子元件外觀檢查機40上，其中該電子元件外觀檢查機40在一平臺41上設置有一影像擷取組42及一轉盤43，該影像擷取組42設有一與該平臺41相結合的架體421、一與該架體421相結合的影像擷取器422及一與該架體421相結合且位于該影像擷取器422下方處的反射鏡423，該架體421在其中段處橫向延伸設有一支撐架424，而該轉盤43可轉動地設于該平臺41上且伸設于該支撐架424中；本實用新型電子元件外觀檢查機的光源裝置設置于該影像擷取組42上且設有一正光源組10及一背光源組20，其中:該正光源組10設置于該架體421的支撐架424上且位于該轉盤43及該反射鏡423之間，該正光源組10設有一環形框11及一結合板12，其中該環形框11可移動調整地設于該支撐架424上而位于該反射鏡423及該轉盤43之間，該環形框11在朝向該轉盤43的前側面環形朝內凹設有一環槽111，在該環槽111的內表面上設有多個間隔排列的第一正光源112，而該結合板12設置于該支撐架424上而位于該反射鏡423及該環形框11之間，該結合板12朝向該環形框11的前側面上間隔排列設有多個第二正光源121，優選地，各正光源 112，121 可為一發光二極管(Light-Emitting Diode ；LED);以及該背光源組20設置于該支撐架424上且位于該轉盤43的上方處，使該背光源組20呈直線排列地與該正光源組10相面對，該背光源組20設有一與該支撐架424相結合的基座21以及多個設置于該基座21上且朝向該正光源組10的背光源22，優選地，各背光源22可為一發光二極管(LED)。當電子元件外觀檢查機40通過本實用新型的光源裝置進行電子元件30的檢測時，請配合參看如圖5所示，將一待測的電子元件30置放于該轉盤43上，隨著該轉盤43相對該平臺41轉動的方式，該待測的電子元件30會移動至該支撐架424中而位于該正光源組10及該背光源組20之間，此時，通過位于該環形框11上的各第一正光源112、該結合板12上的各第二正光源121以及該基座21上各背光源22照射于該待測的電子元件30上，讓該電子元件30可同時受到兩種不同方向的光源，進而使該影像擷取器422通過該反射鏡423取得該待測電子元件30的影像時，其所擷取到的影像可如附件二所示，該擷取到的電子元件30影像其外形輪廓清晰，且不會因景深的關系而有不同亮度的現象，并可顯示該電子元件各部位的結構關系，進而準確檢測出電子元件30是否有瑕疵以及尺寸是否符合標準，不僅可大幅提高電子元件外觀檢查機40的檢測效率，且可檢測出不良尺寸或有瑕疵的電子元件30，有效改善電子元件的品質問題，以此構成一光源充足的電子元件外觀檢查機40的光源裝置。再者，通過本實用新型的光源裝置，可讓使用者根據需要或電子元件30結構特征的不同，可同時開啟該正光源組10及該背光源組20進行使用，也可單獨開啟該正光源組10或該背光源組20進行使用，以此提高本實用新型光源裝置的實用性。以上所述僅是本實用新型的優選實施例而已，并非對本實用新型做任何形式上的限制，雖然本實用新型已以優選實施例披露如上，然而并非用以限定本實用新型，任何本領域的技術人員，在不脫離本實用新型技術方案的范圍內，應當可以利用上述揭示的技術內容作出些許改變或修飾為等同變化的等效實施例，但凡是未脫離本實用新型技術方案的內容，依據本實用新型的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本實用新型技術方案的范圍內。
權利要求1.一種電子元件外觀檢查機的光源裝置，設置于一電子元件外觀檢查機上且其特征在于設有一正光源組及一背光源組，其中: 該正光源組設置于該電子元件外觀檢查機上且設有一環形框，其中該環形框于前側面環形朝內凹設有一環槽，在該環槽的內表面上設有多個間隔排列的第一正光源；以及 該背光源組設置于該電子元件外觀檢查機且呈直線排列地與該正光源組相面對，該背光源組設有一與該電子元件外觀檢查機相結合的基座以及多個設置于該基座上且朝向該正光源組的背光源。
2.根據權利要求1所述的電子元件外觀檢查機的光源裝置，其特征在于，該正光源組設有一結合板，該結合板設置在該環形框異于該背光源組的后側面，該結合板朝向該環形框的前側面上間隔排列設有多個第二正光源。
3.根據權利要求1或2所述的電子元件外觀檢查機的光源裝置，其特征在于，該各正光源為一發光二極管。
4.根據權利要求3所述的電子元件外觀檢查機的光源裝置，其特征在于，該各背光源為一發光二極管。
5.根據權利要求1所述的電子元件外觀檢查機的光源裝置，其特征在于，該各背光源為一發光二極管。
專利摘要本實用新型關于一種電子元件外觀檢查機的光源裝置，其設置于一電子元件外觀檢查機上且設有一正光源組及一背光源組，該正光源組設置于該電子元件外觀檢查機上且設有一環形框，其中該環形框在其前側面環形朝內凹設有一環槽，在該環槽的內表面上設有多個間隔排列的第一正光源，該背光源組設置于該電子元件外觀檢查機且呈直線排列地與該正光源組相面對，該背光源組設有一與該電子元件外觀檢查機相結合的基座以及多個設置于該基座上且朝向該正光源組的背光源，以此提供一光源充足的電子元件外觀檢查機的光源裝置。
文檔編號F21Y101/02GK203036417SQ201320025628
公開日2013年7月3日 申請日期2013年1月17日 優先權日2013年1月17日
發明者廖連亨 申請人:廖連亨