專利名稱：彩色顯像管電子束配列測試方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種彩色顯像管電子束配列測試方法及裝置，特別涉及一種利用計算機圖像處理技術進行彩色顯像管電子束配列的測試方法及裝置。
背景技術：
現有的彩色顯像管配列測試無論是電子束還是熒光屏黑底配列，都是用顯微鏡手工進行測量的。目前熒光屏黑底配列已經實現了用計算機自動進行測量，但是電子束配列因為隱藏在黑底之下，目前仍需要用顯微鏡并輔以消磁器擾動的方法來測量，費時費力，精度不高，因此亟待進行改進。現有的彩管電子束著屏測試用測試儀是基于光斑亮度的全開全閉進行判定，未實現用計算機進行自動測量，因此未考慮到電子束的形狀畸變，測試精度受到影響。
發明內容
本發明的目是為了提高彩色顯像管電子束配列的測試精度及使測試過程更加簡單方便而提出一種技術解決方案，該技術解決方案使測量精度更加精確，提高了彩色顯像管電子束配列的測量效率和速度，。
本發明的技術解決方案是利用計算機圖像處理技術，將待測彩管的熒光屏上的電子束配列圖像讀入計算機，通過電磁擾動和采樣來識別電子束群組的典型間距，算出電子束配列聚散因子。
本發明的工作原理如下彩色顯像管熒光屏電子束在受磁擾動之前，電子束的斑點隱藏于黑底條之下，當電子束受磁擾動后，外輪廓的斑點顯現于熒光粉條之間，工作時用帶電磁的攝像探頭對彩色顯像管熒光屏進行磁擾動，對經電磁擾動后顯現于熒光粉條之間的電子束斑外輪廓截面的亮度分布進行分析，并對電子束群組典型間距a、b值進行采樣，然后算出電子束配列聚散因子。其特點在于用計算機圖像處理技術對彩色顯像管電子束配列進行測試，包括以下步驟a、將待測彩色顯像管的會聚和著屏在調試臺上調整到正常狀態；b、將裝有電磁擾動器(7)的攝像探頭貼在熒光屏上，并對電子束進行電磁擾動，電子束偏移量的擾動量由輸入電流的大小來控制；c、經過電磁擾動的電子束位于熒光屏黑底中間并在黑底的兩邊可見并面積近似相等時，用攝像探頭將熒光屏上電子束配列圖像讀入計算機；d、計算機將讀入的電子束配列圖像數據用最小二乘法進行擬合，形成完整的電子束圖像并找出電子束中心，分析在無黑底影響時的電子束截面的亮度分布；e、計算機對電子束群組典型間距a、b值進行采樣，并根據采集的a、b值及計算公式 計算出電子束配列的聚散因子；f、計算機(6)完成對計算數據的分析、計算、存儲和顯示。
電子束配列測試方法的測試裝置由彩色顯像管熒光屏、攝像探頭及電子計算機組成；在攝像探頭上安裝有一磁擾動器，以形成對電子束的磁擾動；磁擾動器中的四塊磁芯在擾動器的圓周上均勻對稱設置，相互對稱的兩塊磁芯各用電纜連接并與計算機連接在一起。在計算機內部裝入圖形處理卡，以對攝入的電子束配列圖像進行接收；帶有電磁的攝像探頭與裝入計算機內部的圖形處理卡通過電纜與接口連接。
應用本發明可方便的測出電子束配列值，使測量過程快速高效，同時提高了測量精度，在實踐中表明具有很好的效果。
圖1為彩色顯像管電子束配列測試方法的主要流程圖；圖2為電子束受磁擾動前光點隱藏于黑底條下的圖形；圖3為電子束受磁擾動后外輪廓顯現于黑底條之間的圖形；圖4為圖2A-A截面的亮度分布圖；圖5為電子束著屏測試原理圖；圖6-1為彩色顯像管電子束配列測試裝置圖；圖6-2為磁擾動器與攝像探頭的連接示意圖；圖6-3為磁擾動器的連線。
具體實施例方式
以下結合附圖對本發明作進一步詳細說明。
參照圖1的彩色顯像管電子束配列測試方法的主要流程圖，首先將待測彩色顯像管熒光屏4的會聚和著屏調整到正常狀態；將裝有電磁鐵芯7的攝像探頭5貼在熒光屏4上進行電子束圖像攝取，計算機根據攝取的圖像，計算電子束3偏移量的大小，由計算機自動控制電磁擾動電流量的增大或減小，再進行電磁擾動；當電磁擾動達到一定量時，電子束3位于熒光屏黑底1的中間并在黑底的兩邊熒光粉條2中顯現，此時，攝像探頭5將熒光屏4中顯現的電子束配列圖像讀入計算機6；由計算機將讀入的電子束配列圖像數據用最小二乘法進行圖像擬合，使其成為一個完整的、不受黑底影響的電子束圖像，并找出電子束圖像的中心，然后對該電子束截面的亮度分布進行分析；由計算機6對電子束群組典型間距a、b值進行采樣，并根據a、b值通過計算公式 計算出電子束配列的聚散因子；在計算時，為達到聚散因子為1的標準，而采用 的公式。最后，由計算機7完成對計算數據的分析、計算、存儲和顯示。
參照圖2，電子束3在受磁擾動前，電子束3的光點外輪廓隱藏于黑底條1之下。
參照圖3，電子束3受磁擾動后，電子束3的光點外輪廓顯現于黑底條1之間；其中a為蘭、紅電子束間距，b為電子束群組間距。
圖4為圖2A-A截面的電子束亮度分布圖，橫坐標是截面距離，豎坐標是亮度，在A--A截面上去經計算機進行圖像處理去除黑底的影響后，可對a、b值進行采樣，通過對a、b值的計算可得出電子束配列聚散因子。
圖5為電子束著屏測試用原理圖。當僅考慮單個電子束和黑底的相對位置時，配以左右等值的電磁擾動，可作為電子束著屏測試用。圖5a為一般狀態下電子束與黑底的相對位置，當加以向左的電磁擾動時，產生向左位移s，如圖5b，測量得A值；當加以向右的等強度電磁擾動時，產生向右同等位移s，如圖5c，測量得B值，用圖形處理方法測得A、B值，這時著屏誤差為(A-B)/2。
當設置選項后，還可作為黑底配列測試裝置用。
圖6-1為彩色顯像管電子束配列測試裝置圖，本發明的彩色顯像管電子束配列裝置由彩色顯像管熒光屏4、帶電磁的攝像探頭5及電子計算機6組成。
圖6-2表示在攝像探頭5上安裝有一組磁擾動器7，以形成對電子束的磁擾動；在計算機6的內部裝入圖形處理卡8，以對攝入的電子束配列圖像進行處理；帶有磁擾動器7的攝像探頭5與裝入計算機6內部的圖形處理卡8通過電纜9連接。
圖6-3表示磁擾動器7的連線方式。磁擾動器7中的四塊磁芯10在擾動器7的圓周上均勻對稱設置，相互對稱的兩塊磁芯10各用電纜9連接并與計算機6連接在一起。
本發明提高了彩管電子束配列的測試精度，使測量精度更加精確。同時使測試過程更加簡單方便，提高了彩管電子束配列的測量效率和速度。
權利要求
1.一種彩色顯像管電子束配列測試方法，將待測彩色顯像管熒光屏(5))的會聚和著屏調整到正常狀態；其特征在于用計算機圖像處理技術對彩色顯像管電子束配列進行測試，包括以下步驟a、將裝有電磁擾動器(7)的攝像探頭(5)貼在熒光屏(4)上，并對電子束(3)進行電磁擾動；b、經過電磁擾動的電子束(3)位于熒光屏黑底(1)中間并在黑底(1)的兩邊可見并面積近似相等時，用攝像探頭(5)將熒光屏上電子束(3)配列圖像讀入計算機(6)；c、計算機(6))將讀入的電子束配列圖像數據進行擬合，形成完整的電子束圖像并找出電子束中心，分析在無黑底影響時的電子束截面的亮度分布；d、計算機(6)對電子束群組典型間距a、b值進行采樣，并根據a、b值計算出電子束配列的聚散因子；e、計算機(6)完成對計算數據的分析、計算、存儲和顯示。
2.根據權利要求1所述的電子束配列測試方法，其特征在于所述的電子束偏移量的擾動量由輸入電流的大小來控制；
3.根據權利要求1所述的電子束配列測試方法，其特征在于所述的電子束配列圖的完整擬合是用最小二乘法來完成的。
4.根據權利要求1所述的電子束配列測試方法，其特征在于電子束配列的聚散因子是根據計算公式 進行計算的。
5.用于權利要求1所述的電子束配列測試方法的測試裝置，由彩色顯像管熒光屏(4)、攝像探頭(5)及電子計算機(6)組成；其特征在于在攝像探頭(5)上安裝有一磁擾動器(7)，在計算機內部裝入圖形處理卡(8)，帶有電磁的攝像探頭(5)與裝入計算機(6)內部的圖形處理卡(8)通過電纜(9)與計算機接口連接。
6.根據權利要求5所述的電子束配列測試方法的測試裝置，其特征在于所述的磁擾動器(7)的中的四塊磁芯(10)在擾動器的圓周上均勻對稱設置，相互對稱的兩塊磁芯各用電纜(9)連接并與計算機(6)連接在一起。
全文摘要
本發明涉及一種利用計算機圖像處理技術進行彩色顯像管電子束配列的測試方法及裝置，即將待測彩管熒光屏上4的電子束配列圖像讀入計算機6，通過電磁擾動和采樣來識別電子束群組的典型間距，算出電子束配列聚散因子。其工作原理如下彩色顯像管熒光屏4的電子束受磁擾動后，外輪廓的斑點顯現于熒光粉條之間，用帶電磁7的攝像探頭5將電子束外輪廓斑點顯現于熒光粉條之間的圖像攝入計算機6，對其截面的亮度分布進行分析，并對電子束群組典型間距a、b值進行計算，然后算出電子束配列聚散因子。應用本發明可方便的測試出電子束配列值，使測量過程快速高效，同時提高了測量精度，在實踐中具有很好的效果。
文檔編號H01J9/42GK1529337SQ0313462
公開日2004年9月15日 申請日期2003年9月27日 優先權日2003年9月27日
發明者李勇軍, 費民權, 魯小平, 趙軍 申請人:彩虹彩色顯像管總廠