一種陣列基板的測試電路及液晶顯示器的制造方法
【專利摘要】本發明提供一種陣列基板的測試電路及液晶顯示器，該陣列基板包括多條柵極線、多條數據線、IC電路及柔性電路板，該測試電路設在陣列基板上，其包括：多個控制開關；控制信號線；多條測試信號線；其中，多條測試信號線從外部輸入數據線的信號，多個控制開關的所述輸出端與多條數據線一一對應連接，不同的測試信號線通過控制開關連接一部分不同區域的所述數據線，以使陣列基板的顯示區域的不同區域可輸入不同的數據線的信號。本發明的一種陣列基板的測試電路解決了現有技術在電路測試時，只能提供單一模式的畫面，因而測試功能不高的問題。
【專利說明】
一種陣列基板的測試電路及液晶顯示器
【技術領域】
[0001]本發明涉及液晶顯示器領域，特別涉及一種陣列基板的測試電路及液晶顯示器。【【背景技術】】
[0002]目前，作為最廣泛使用的平板顯示設備其中之一的液晶顯示器(IXD)包括兩個顯示面板和插入在兩個顯示面板之間的液晶層，其中所述兩個顯示面板具有裝配在其上的場產生電極(諸如像素電極和共電極)C3LCD通過向場產生電極施加電壓而在液晶層內產生電場，因而確定液晶層的液晶分子的排列并控制入射光的極性，由此顯示圖像。
[0003]液晶面板向輕薄化和低功耗等方向發展，是目前市場中的顯示裝置的發展趨勢，隨著高像素密度及低功耗等方面的需求，相應的產品良率會有影響，為提升成盒后的產品良率，一般會在面板上設計測試電路，隨著面板設計的減小，制程難度增加，會有相應的問題待解決，而通過測試電路測試是一種比較快的問題解析方法，目前小尺寸設計的普通測試電路多通過兩個信號線把液晶面板顯示區域內的奇偶像素連接在一起，這能有效的解析相應的問題，然后又因為只能提供比較單一的模式畫面，而不能解析更多的問題，比如不能實現串擾畫面的問題。另外，也不能降低顯示區域內，奇數列像素或偶數列像素在通過電路測試時出現漏電而產生的影響。
【
【發明內容】
】
[0004]本發明的目的在于提供一種陣列基板的測試電路及液晶顯示器，以提高電路測試的功能，解決現有技術中，測試電路只能提供單一模式的畫面，而不能解析更多畫面的問題，以及不能降低顯示區域內奇數列(或偶數列)像素在通過電路測試時出現漏電而產生的影響。
[0005]本發明的技術方案如下:
[0006]—種陣列基板的測試電路，所述陣列基板包括多條柵極線、多條數據線、IC電路及柔性電路板，所述測試電路設在所述陣列基板上，其包括:
[0007]多個控制開關，每個所述控制開關包括控制端、輸入端與輸出端，用于控制多條測試信號線的信號輸入與輸出；
[0008]控制信號線，其與所述多個控制開關的所述控制端均連接，用于輸入高電平信號或低電平信號，以控制所述多個控制開關的開啟；
[0009]多條測試信號線，每條所述測試信號線與一部分所述控制開關的所述輸入端連接，每個所述控制開關的所述輸入端均與一條所述測試信號線連接，用于輸入所述多條數據線的信號；
[0010]其中，所述多條測試信號線從外部輸入所述數據線的信號，所述多個控制開關的所述輸出端與所述多條數據線一一對應連接，不同的所述測試信號線通過所述控制開關連接一部分不同區域的所述數據線，以使所述陣列基板的顯示區域的不同區域可輸入不同的所述數據線的信號。
[0011]優選地，所述多條數據線由多條奇數列數據線與多條偶數列數據線組成，每條所述測試信號線通過所述控制開關連接一部分所述奇數列數據線，或連接一部分所述偶數列數據線，且每條所述數據線均與其中一條所述測試信號線連接。
[0012]優選地，當進行電路測試時，所述奇數列數據線輸入正電位信號，所述偶數列數據線輸入低電位信號。
[0013]優選地，所述測試信號線設有4條，分別為第一測試信號線、第二測試信號線、第三測試信號線與第四測試信號線；所述不同區域包括沿柵極線延伸方向依次劃分的左邊區域、中部區域及右邊區域;所述多條數據線與所述柵極線垂直設置，對應包括左邊區域數據線、中部區域數據線與右邊區域數據線；
[0014]所述第一測試信號線通過所述控制開關連接所述左邊區域數據線與所述右邊區域數據線中的奇數列數據線，所述第二測試信號線通過所述控制開關連接所述左邊區域數據線與所述右邊區域數據線中的偶數列數據線，所述第三測試信號線通過所述控制開關連接所述中部區域數據線中的奇數列數據線，所述第四測試信號線通過所述控制開關連接所述中部區域數據線中的偶數列數據線。
[0015]優選地，在電路測試的一幀時間內，所述第一測試信號線與所述第二測試信號線在前三分之一幀時間內，輸入第一灰階的信號，在第二個三分之一幀的時間內，輸入第二灰階的信號，在最后三分之一幀的時間內，輸入所述第一灰階的信號；
[0016]所述第三測試信號線與所述第四測試信號線前三分之一幀時間內，輸入所述第二灰階的信號，在第二個三分之一幀的時間內，輸入所述第一灰階的信號，在最后三分之一幀的時間內，輸入所述第二灰階的信號，且所述第一灰階的絕對值大于所述第二灰階的絕對值，以實現棋盤格的顯示畫面。
[0017]優選地，所述控制信號線與所述柔性電路板連接，所述高電平信號與所述低電平信號由所述柔性電路板輸入所述控制信號線。
[0018]優選地，所述測試信號線分為第一組所述測試信號線和第二組所述測試信號線，將顯示面板的顯示區沿柵極線延伸方向依次劃分為多個不同區域，所述不同區域包括間隔設置的多個奇數列區域和多個偶數列區域；
[0019]所述第一組所述測試信號線與每一所述奇數列區域內的控制開關對應連接，以控制所述奇數列區域輸入相同的數據信號;所述第二組所述測試信號線與每一所述偶數列區域內的控制開關對應連接，以控制所述偶數列區域輸入相同的數據信號。
[0020]優選地，所述第一組所述測試信號線包括第一測試信號線和第二測試信號線，所述第二組所述測試信號線包括第三測試信號線與第四測試信號線；
[0021]所述第一測試信號線通過所述控制開關連接每一所述奇數列區域中的奇數列數據線，所述第二測試信號線通過所述控制開關連接每一所述奇數列區域中的偶數列數據線;所述第三測試信號線通過所述控制開關連接每一所述偶數列區域中的奇數列數據線，所述第四測試信號線通過所述控制開關連接每一所述偶數列區域中的偶數列數據線。
[0022]優選地，每條所述測試信號線的兩端均設有金屬端子，所述金屬端子用于輸入所述數據線的信號，當所述測試電路工作時，所述數據線的信號同時從每條所述測試信號線兩端的所述金屬端子輸入。
[0023]一種液晶顯示器，該液晶顯示器包括上述任一項所述的陣列基板的測試電路。
[0024]本發明的有益效果:
[0025]本發明的一種陣列基板的測試電路，通過在測試電路增加兩條測試信號線，并將其分別連接到顯示區域不同區域的奇數列數據線或者偶數列數據線，以使所述陣列基板的顯示區域的不同區域可輸入不同的所述數據線的信號，進而可以使所述顯示區域的不同區域在電路測試時可顯示不同的畫面，解決了現有技術在電路測試時，只能提供單一模式的畫面，因而測試功能不高的問題。另外，當停止電路測試時，本發明多條測試信號線的設計，也可以降低測試電路漏電的影響。
【【附圖說明】】
[0026]圖1為本發明實施例中的一種陣列基板的測試電路的整體結構示意圖；
[0027]圖2為本發明實施例中的一種陣列基板的測試電路在實現串擾畫面時的一種時序圖；
[0028]圖3為本發明實施例中的一種陣列基板的測試電路在實現棋盤格畫面時的一種時序圖；
[0029]圖4為本發明實施例中的陣列基板上的顯示區域呈現棋盤格畫面的示意圖。
【【具體實施方式】】
[0030]以下各實施例的說明是參考附加的圖式，用以例示本發明可用以實施的特定實施例。本發明所提到的方向用語，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「內」、「外」、「側面」等，僅是參考附加圖式的方向。因此，使用的方向用語是用以說明及理解本發明，而非用以限制本發明。在圖中，結構相似的單元是以相同標號表示。
[0031 ] 實施例一
[0032]請參考圖1，圖1為本施例中的一種陣列基板的測試電路的整體結構示意圖，所述陣列基板包括多條柵極線、多條數據線、IC電路及柔性電路板，所述測試電路設在所述陣列基板上，從圖1可以看到，本發明的一種陣列基板的測試電路包括:
[0033]多個控制開關60，每個所述控制開關60包括控制端、輸入端與輸出端，用于控制多條測試信號線的信號輸入與輸出。從IC集成電路引出多條IC電路引線，這些IC電路引線均與所述多個控制開關60的所述輸出端連接，當停止電路測試時，由這些IC電路引線向陣列基板顯示區的數據線輸入數據線信號。
[0034]在本實施例中，所述控制開關60為薄膜晶體管，所述控制端為柵極端，所述輸入端為源極端，所述輸出端為漏極端。
[0035]控制信號線50，其與所述多個控制開關60的所述控制端均連接，用于輸入高電平信號或低電平信號，以控制所述多個控制開關60的開啟。
[0036]在本實施例中，所述控制信號線50與所述柔性電路板連接，所述高電平信號與所述低電平信號由所述柔性電路板輸入所述控制信號線50。
[0037]多條測試信號線，每條所述測試信號線與一部分所述控制開關60的所述輸入端連接，每個所述控制開關60的所述輸入端均與一條所述測試信號線連接，用于輸入所述多條數據線的信號。
[0038]在本實施例中，所述多條數據線由多條奇數列數據線與多條偶數列數據線組成，每條所述測試信號線通過所述控制開關60連接一部分所述奇數列數據線，或連接一部分所述偶數列數據線，且每條所述數據線均與其中一條所述測試信號線連接。
[0039]在本實施例中，當進行電路測試時，所述奇數列數據線輸入正(負)電位信號，所述偶數列數據線輸入負(正)電位信號。這樣做的好處是，可以避免液晶顯示面板出現閃爍的問題，因為在顯示區域的同一個地方輸入絕對值大小相等的正電壓和負電壓，該地方的顯示亮度是一樣的，如果所有像素都輸入一樣的正電壓或負電壓，顯示區域周邊的地方的亮度就沒有中間部分的亮度高，因為顯示區域中間部分的像素電壓會比周邊的像素電壓高，整個顯示區域不同的區域會出現不同程度的壓差，導致亮度不均勻。
[0040]其中，所述多條測試信號線從外部輸入所述數據線的信號，所述多個控制開關60的所述輸出端與所述多條數據線一一對應連接，不同的所述測試信號線通過所述控制開關60連接一部分不同區域的所述數據線，以使所述陣列基板的顯示區域的不同區域可輸入不同的所述數據線的信號。
[0041 ]在本實施例中，所述測試信號線分為第一組所述測試信號線和第二組所述測試信號線，將顯示面板的顯示區沿柵極線延伸方向依次劃分為多個不同區域，所述不同區域包括間隔設置的多個奇數列區域和多個偶數列區域；
[0042]所述第一組所述測試信號線與每一所述奇數列區域內的控制開關60對應連接，以控制所述奇數列區域輸入相同的數據信號;所述第二組所述測試信號線與每一所述偶數列區域內的控制開關60對應連接，以控制所述偶數列區域輸入相同的數據信號。
[0043]在本實施例中，所述第一組所述測試信號線包括第一測試信號線10和第二測試信號線20，所述第二組所述測試信號線包括第三測試信號線30與第四測試信號線40;
[0044]所述第一測試信號線10通過所述控制開關60連接每一所述奇數列區域中的奇數列數據線，所述第二測試信號線20通過所述控制開關60連接每一所述奇數列區域中的偶數列數據線;所述第三測試信號線30通過所述控制開關60連接每一所述偶數列區域中的奇數列數據線，所述第四測試信號線40通過所述控制開關60連接每一所述偶數列區域中的偶數列數據線。
[0045]在本實施例中，所述測試信號線設有4條，分別為第一測試信號線10、第二測試信號線20、第三測試信號線30與第四測試信號線40;所述不同區域包括沿柵極線延伸方向依次劃分的左邊區域、中部區域及右邊區域;所述多條數據線與所述柵極線垂直設置，對應包括左邊區域數據線、中部區域數據線與右邊區域數據線；
[0046]所述第一測試信號線10通過所述控制開關60連接所述左邊區域數據線與所述右邊區域數據線中的奇數列數據線，所述第二測試信號線20通過所述控制開關60連接所述左邊區域數據線與所述右邊區域數據線中的偶數列數據線，所述第三測試信號線30通過所述控制開關60連接所述中部區域數據線中的奇數列數據線，所述第四測試信號線40通過所述控制開關60連接所述中部區域數據線中的偶數列數據線。
[0047]如圖2所示，圖2為本發明實施例中的一種陣列基板的測試電路在實現串擾畫面時的一種時序圖。在本實施例中，所述第一測試信號線10和所述第二測試信號線20優選只輸入灰階值為127的灰階信號，所述第三測試信號線30與所述第四測試信號線40前三分之一幀時間內，輸入灰階值為127的灰階信號的，在第二個三分之一幀的時間內，輸入灰階值為255的灰階信號，在最后三分之一幀的時間內，輸入灰階值為127的灰階信號，這樣便使測試電路在進行測試時，在顯示區域實現串擾畫面。當然灰階值為127的灰階信號和灰階值為255的灰階信號，是作為優選值的，還可以選擇其它可以讓顯示區域在電路進行測試時，呈現串擾畫面的灰階值。
[0048]如圖3所示，圖3為本實施例中的一種陣列基板的測試電路在實現棋盤格畫面時的一種時序圖，在本實施例中，在電路測試的一幀時間內，所述第一測試信號線10與所述第二測試信號線20在前三分之一幀時間內，輸入第一灰階的信號，在第二個三分之一幀的時間內，輸入第二灰階的信號，在最后三分之一幀的時間內，輸入所述第一灰階的信號；
[0049]所述第三測試信號線30與所述第四測試信號線40前三分之一幀時間內，輸入所述第二灰階的信號，在第二個三分之一幀的時間內，輸入所述第一灰階的信號，在最后三分之一幀的時間內，輸入所述第二灰階的信號，且所述第一灰階的絕對值大于所述第二灰階的絕對值，以實現棋盤格的顯示畫面。
[0050]請參考圖4，圖4為本發明實施例中的陣列基板上的顯示區域呈現棋盤格畫面的示意圖。從圖中可以看到，顯示區域內每個像素區域內的畫面與其相鄰像素的畫面均不同，亮度差別較大。其中亮度比較大的為亮畫面90，亮度比較暗的畫面為暗畫面80。
[0051 ]在本實施中，所述第一灰階的絕對值大小優選為255，所述第二灰階的絕對值大小優選為127。
[0052]在本實施例中，每條所述測試信號線的兩端均設有金屬端子，所述金屬端子用于輸入所述數據線的信號，當所述測試電路工作時，所述數據線的信號同時從每條所述測試信號線兩端的所述金屬端子輸入。
[0053]本發明的一種陣列基板的測試電路，通過在測試電路上增加兩條測試信號線，并將其分別連接到顯示區域不同區域的奇數列數據線或者偶數列數據線，以使所述陣列基板的顯示區域的不同區域可輸入不同的所述數據線的信號，進而可以使所述顯示區域的不同區域在電路測試時可顯示不同的畫面，解決了現有技術在電路測試時，只能提供單一模式的畫面，因而測試功能不高的問題。另外，當停止電路測試時，本發明多條測試信號線的設計，也可以降低測試電路漏電的影響。
[0054]本發明還提供了一種液晶顯示器，其包括一陣列基板，所述陣列基板包括多條柵極線、多條數據線、IC電路及柔性電路板，所述測試電路設在所述陣列基板上。所述測試電路如前所述，在此不再重復。
[0055]在本實施例中，所述多條數據線由多條奇數列數據線與多條偶數列數據線組成，每條所述測試信號線通過所述控制開關60連接一部分所述奇數列數據線，或連接一部分所述偶數列數據線，且每條所述數據線均與其中一條所述測試信號線連接，當進行電路測試時，所述奇數列數據線輸入正電位信號，所述偶數列數據線輸入低電位信號。
[0056]可以理解的是，在其他實施例中，當進行電路測試時，所述奇數列數據線也可以輸入負電位信號，而所述偶數列數據線對應輸入正電位信號。
[0057]本發明的一種液晶顯示器，通過在其測試電路上增加兩條測試信號線，并將其分別連接到顯示區域不同區域的奇數列數據線或者偶數列數據線，以使所述陣列基板的顯示區域的不同區域可輸入不同的所述數據線的信號，進而可以使所述顯示區域的不同區域在電路測試時可顯示不同的畫面，解決了現有技術在電路測試時，只能提供單一模式的畫面，因而測試功能不高的問題。另外，當停止電路測試時，本發明多條測試信號線的設計，也可以降低測試電路漏電的影響。
[0058]綜上所述，雖然本發明已以優選實施例揭露如上，但上述優選實施例并非用以限制本發明，本領域的普通技術人員，在不脫離本發明的精神和范圍內，均可作各種更動與潤飾，因此本發明的保護范圍以權利要求界定的范圍為準。
【主權項】
1.一種陣列基板的測試電路，所述陣列基板包括多條柵極線、多條數據線、IC電路及柔性電路板，其特征在于，所述測試電路設在所述陣列基板上，其包括: 多個控制開關，每個所述控制開關包括控制端、輸入端與輸出端，用于控制多條測試信號線的信號輸入與輸出； 控制信號線，其與所述多個控制開關的所述控制端均連接，用于輸入高電平信號或低電平信號，以控制所述多個控制開關的開啟； 多條測試信號線，每條所述測試信號線與一部分所述控制開關的所述輸入端連接，每個所述控制開關的所述輸入端均與一條所述測試信號線連接，用于輸入所述多條數據線的信號； 其中，所述多條測試信號線從外部輸入所述數據線的信號，所述多個控制開關的所述輸出端與所述多條數據線一一對應連接，不同的所述測試信號線通過所述控制開關連接一部分不同區域的所述數據線，以使所述陣列基板的顯示區域的不同區域可輸入不同的所述數據線的信號。2.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述多條數據線由多條奇數列數據線與多條偶數列數據線組成，每條所述測試信號線通過所述控制開關連接一部分所述奇數列數據線，或連接一部分所述偶數列數據線，且每條所述數據線均與其中一條所述測試信號線連接。3.根據權利要求2所述的測試電路，其特征在于，當進行電路測試時，所述奇數列數據線輸入正電位信號，所述偶數列數據線輸入低電位信號。4.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述測試信號線設有4條，分別為第一測試信號線、第二測試信號線、第三測試信號線與第四測試信號線;所述不同區域包括沿柵極線延伸方向依次劃分的左邊區域、中部區域及右邊區域;所述多條數據線與所述柵極線垂直設置，對應包括左邊區域數據線、中部區域數據線與右邊區域數據線； 所述第一測試信號線通過所述控制開關連接所述左邊區域數據線與所述右邊區域數據線中的奇數列數據線，所述第二測試信號線通過所述控制開關連接所述左邊區域數據線與所述右邊區域數據線中的偶數列數據線，所述第三測試信號線通過所述控制開關連接所述中部區域數據線中的奇數列數據線，所述第四測試信號線通過所述控制開關連接所述中部區域數據線中的偶數列數據線。5.根據權利要求4所述的測試電路，其特征在于，在電路測試的一幀時間內，所述第一測試信號線與所述第二測試信號線在前三分之一幀時間內，輸入第一灰階的信號，在第二個三分之一幀的時間內，輸入第二灰階的信號，在最后三分之一幀的時間內，輸入所述第一灰階的信號； 所述第三測試信號線與所述第四測試信號線前三分之一幀時間內，輸入所述第二灰階的信號，在第二個三分之一幀的時間內，輸入所述第一灰階的信號，在最后三分之一幀的時間內，輸入所述第二灰階的信號，且所述第一灰階的絕對值大于所述第二灰階的絕對值，以實現棋盤格的顯示畫面。6.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述控制信號線與所述柔性電路板連接，所述高電平信號與所述低電平信號由所述柔性電路板輸入所述控制信號線。7.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，所述測試信號線分為第一組所述測試信號線和第二組所述測試信號線，將顯示面板的顯示區沿柵極線延伸方向依次劃分為多個不同區域，所述不同區域包括間隔設置的多個奇數列區域和多個偶數列區域； 所述第一組所述測試信號線與每一所述奇數列區域內的控制開關對應連接，以控制所述奇數列區域輸入相同的數據信號;所述第二組所述測試信號線與每一所述偶數列區域內的控制開關對應連接，以控制所述偶數列區域輸入相同的數據信號。8.根據權利要求7所述的測試電路，其特征在于，所述第一組所述測試信號線包括第一測試信號線和第二測試信號線，所述第二組所述測試信號線包括第三測試信號線與第四測試信號線； 所述第一測試信號線通過所述控制開關連接每一所述奇數列區域中的奇數列數據線，所述第二測試信號線通過所述控制開關連接每一所述奇數列區域中的偶數列數據線;所述第三測試信號線通過所述控制開關連接每一所述偶數列區域中的奇數列數據線，所述第四測試信號線通過所述控制開關連接每一所述偶數列區域中的偶數列數據線。9.根據權利要求1所述的測試電路，其特征在于，每條所述測試信號線的兩端均設有金屬端子，所述金屬端子用于輸入所述數據線的信號，當所述測試電路工作時，所述數據線的信號同時從每條所述測試信號線兩端的所述金屬端子輸入。10.—種液晶顯示器，其特征在于，該液晶顯示器包括如權利要求1-9任一項所述的陣列基板的測試電路。
【文檔編號】G09G3/00GK106066560SQ201610679316
【公開日】2016年11月2日
【申請日】2016年8月17日
【發明人】馬亮
【申請人】武漢華星光電技術有限公司