液晶顯示器制程異常測試方法
【專利摘要】一種液晶顯示器制程異常測試方法，包括以下步驟：將從生產線上抽取的液晶顯示器進行編號并通電；將液晶顯示器置于常溫環境中；對液晶顯示器進行溫度濕度沖擊測試，檢測液晶顯示器的耐低溫沖擊性能、耐低溫性能、耐高溫高濕沖擊性能及耐高溫高濕性能，快速暴露因制程異常而導致液晶顯示器出現亮線、暗線、無畫面、畫面異常等現象；對液晶顯示器進行畫面品質檢測，對出現異常的液晶顯示器根據其編號找出對應生產線的制程進行檢修，糾正可能存在的制程異常。本方法可以檢測出可能潛在的需經過長時間使用后才出現的液晶顯示器異常現象，從而找出對應生產線的制程異常缺陷。
【專利說明】
液晶顯示器制程異常測試方法
技術領域
[0001]本發明涉及液晶顯示器技術領域，特別是涉及一種液晶顯示器制程異常測試方法。
【背景技術】
[0002]LCD(Liquid Crystal Display，液晶顯示器)為平面超薄的顯示設備，它由一定數量的彩色或黑白像素組成，放置于光源或者反射面前方。液晶顯示器因為其省電、低輻射、體積小和畫面柔和不傷眼等優點倍受青睞，廣泛應用于數碼相機、手機及電腦等電子產品中。
[0003]由于LCD依靠許許多多零部件組成，同時通過各種電路或者連接器將其組成一個整體，所要進行的工作相對繁雜并需要較高的精度水準，這決定了 LCD的生產需要依靠大量機器來完成，在自動化生產過程中，由于機器本身的原因可能導致生產出來的產品在某些制程上出現偏差，而這些微小的偏差并未能通過機器識別出來。
[0004]在生產制作過程中出現制程異常的LCD在經過長期使用后，經受使用環境變化和電氣效應影響，LCD可能出現亮線、暗線、無畫面、畫面異常等缺陷，導致LCD無法正常工作，而目前常規的性能檢測無法檢測出可能潛在的LCD制程異常缺陷。
【發明內容】
[0005]基于此，有必要提供一種能檢測出可能潛在的LCD制程異常缺陷的液晶顯示器制程異常測試方法。
[0006]—種液晶顯示器制程異常測試方法，包括以下步驟:將從生產線上抽取的液晶顯示器進行編號并通電；將所述液晶顯示器置于常溫環境中；對所述液晶顯示器進行溫度濕度沖擊測試，在短時間內將所述液晶顯示器所處的環境溫度降至第一溫度，保持第一溫度第一時長，然后在所述短時間內將所述液晶顯示器所處的環境溫度和濕度升至第二溫度和第一濕度，保持第二溫度和第一濕度第二時長;所述短時間為0.5小時，所述第一溫度大于或等于零下20攝氏度，且小于或等于10攝氏度，所述第二溫度大于或等于40攝氏度，且小于或等于60攝氏度，所述第一濕度大于或等于70%相對濕度;對所述液晶顯示器進行畫面品質檢測。
[0007]在其中一個實施例中，所述抽取為等時間間隔抽取。
[0008]在其中一個實施例中，所述抽取為每隔I小時抽取，一條生產線上抽取12個作為一批次。
[0009]在其中一個實施例中，所述溫度濕度沖擊測試是將所述液晶顯示器置于恒溫恒濕箱內進行。
[0010]在其中一個實施例中，所述第一溫度為O攝氏度，所述第二溫度為50攝氏度，所述第一濕度為80%相對濕度，所述第一時長為2小時，所述第二時長為20小時。
[0011]在其中一個實施例中，所述液晶顯示器的數量是至少兩個，所述液晶顯示器兩兩之間至少間隔20厘米。
[0012]在其中一個實施例中，將所述液晶顯示器置于常溫環境中的步驟之前包括對所述液晶顯示器進行所述畫面品質檢測的步驟，若畫面品質檢測通過，則進行所述將所述液晶顯示器置于常溫環境中的步驟，否則中止測試。
[0013]在其中一個實施例中，所述畫面品質檢測的檢測環境照度為:200±10勒克司。
[0014]在其中一個實施例中，所述溫度濕度沖擊測試之后，對所述液晶顯示器進行所述畫面品質檢測之前包括在常溫下靜置所述液晶顯示器的步驟。
[0015]在其中一個實施例中，對所述液晶顯示器進行所述畫面品質檢測之后，包括根據出現異常的液晶顯示器的編號攔截相應時間段生產的液晶顯示器，并對所述出現異常的液晶顯示器對應生產線的制程進行檢修的步驟。
[0016]上述液晶顯示器制程異常測試方法，將從生產線上抽取的液晶顯示器進行編號并通電后，對液晶顯示器進行溫度濕度沖擊測試，檢測液晶顯示器的耐低溫沖擊性能、耐低溫性能、耐高溫高濕沖擊性能及耐高溫高濕性能，快速暴露因制程異常而導致液晶顯示器出現亮線、暗線、無畫面、畫面異常等現象，再對液晶顯示器進行畫面品質檢測，對出現異常的液晶顯示器根據其編號便可以找出對應生產線的制程進行檢修，糾正可能存在的制程異常。本方法可以檢測出可能潛在的需經過長時間使用后才出現的液晶顯示器異常現象，從而找出對應生產線的制程異常缺陷。
【附圖說明】
[0017]圖1為一實施例中液晶顯示器制程異常測試方法的流程圖。
[0018]圖2為另一實施例中液晶顯示器制程異常測試方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0019]一種液晶顯示器制程異常測試方法，如圖1所示，包括以下步驟:步驟S110:將從生產線上抽取的液晶顯示器進行編號并通電。
[0020]在本實施例中液晶顯示器是從生產線上等時間間隔抽取得到。具體地，可根據液晶顯示器生產的時間先后，在生產線上每隔I個小時抽取I件液晶顯示器，可以將生產線每12小時內生產的產品劃分為同一批次的產品，則每批次產品中抽取12個液晶顯示器作為樣品進行測試。抽樣間隔時間和劃分產品批次的間隔時間并不是唯一的，可根據實際情況進行調整。通過在生產線上等時間間隔抽取液晶顯示器作為樣品，保證能及時發現存在制程異常缺陷的產品，確保測試的有效性。對抽取的樣品進行編號主要包括標明樣品的生產線號和生產時間，能保證樣品的可追溯性，即根據樣品的編號可以找到與樣品同時間段生產的產品及對應的生產線。
[0021]步驟S130:將液晶顯示器置于常溫環境中。
[0022]可將液晶顯示器放置在恒溫恒濕箱內，設置恒溫恒濕箱為25攝氏度、50%相對濕度并保持0.5小時，保證樣品在測試前處于常溫環境中，排除其他環境因素對測試結果的影響。
[0023]步驟S140:對液晶顯示器進行溫度濕度沖擊測試。
[0024]在短時間內將液晶顯示器所處的環境溫度降至第一溫度，保持第一溫度第一時長，然后在短時間內將液晶顯示器所處的環境溫度和濕度升至第二溫度和第一濕度，保持第二溫度和第一濕度第二時長。其中，短時間為0.5小時，在其它實施例中可以更快地進行升溫/降溫，第一溫度是指大于或等于零下20攝氏度，且小于或等于10攝氏度，第二溫度是指大于或等于40攝氏度，且小于或等于60攝氏度，第一濕度是指大于或等于70%相對濕度，第一時長大于或等于I小時，且小于或等于3小時，第二時長大于或等于15小時，且小于或等于25小時。對液晶顯示器進行溫度濕度沖擊測試，檢測液晶顯示器的耐低溫沖擊性能、耐低溫性能、耐高溫高濕沖擊性能及耐高溫高濕性能，加速可能潛在的液晶顯示器制程異常缺陷的暴露。對于溫度、濕度、時間等參數，本領域技術人員可以根據實際需要進行適當的調整改變，本發明并不以此為限。
[0025]具體地，同樣可通過調節恒溫恒濕箱設置測試條件為:在0.5小時內將溫度降低至O攝氏度，保持2小時，然后在0.5小時內將溫度和濕度升至50攝氏度、80%相對濕度，保持20小時，即設置第一溫度為O攝氏度，第二溫度為50攝氏度，第一濕度為80%相對濕度，第一時長為2小時，第二時長為20小時。可以理解，溫度、濕度的選擇以及第一和第二時長都不是唯一的，可以根據液晶顯示器的使用環境進行調整，具體可參考前述的溫度、濕度和第一第二時長的范圍，結合液晶顯示器自身的耐受極端條件的能力來確定。
[0026]步驟S160:對液晶顯示器進行畫面品質檢測。
[0027]畫面品質檢測包含:檢查畫面是否有亮點、暗點、壓力點、斷線、暗線、壓力線、亮線、漏光、Cell/CF刮傷異物、偏光片異物、偏光片刮傷等。檢查經過溫度濕度沖擊測試后液晶顯示器是否出現因制程異常而導致的亮線、暗線、無畫面、畫面異常等現象。本實施例中可設置檢測環境照度為200±10勒克司，使檢測效果更好。
[0028]上述液晶顯示器制程異常測試方法，將從生產線上抽取的IXD進行編號并通電后，對LCD進行溫度濕度沖擊測試，檢測LCD的耐低溫沖擊性能、耐低溫性能、耐高溫高濕沖擊性能及耐高溫高濕性能，快速暴露因制程異常而導致IXD出現亮線、暗線、無畫面、畫面異常等現象，再對LCD進行畫面品質檢測，對出現異常的液晶顯示器根據其編號攔截同時間段生產的LCD，并對出現異常的LCD對應生產線的制程進行檢修，糾正可能存在的制程異常。本方法可以檢測出可能潛在的需經過長時間使用后才出現的LCD異常現象，從而找出對應生產線的制程異常缺陷。
[0029]在其中一個實施例中，是對多條生產線上生產的液晶顯示器進行抽取及測試，且液晶顯示器放置在恒溫恒濕箱內時兩兩之間至少間隔20厘米。保證液晶顯示器之間間隔放置，可降低測試樣品之間的相互影響，確保測試過程的合理性。
[0030]在其中一個實施例中，如圖2所示，步驟S130之前包括步驟SI20:對液晶顯示器進行第一次畫面品質檢測。
[0031]本實施例中對液晶顯示器進行兩次畫面品質檢測，即除了如前一實施例中的步驟S160外，還包括步驟S120。若步驟120中的第一次畫面品質檢測通過，則進行步驟S130，否則中止測試。增加本步驟是為了在測試前確認液晶顯示器質量，確保后續測試的有效性。
[0032]如圖2所示，步驟S140和步驟S160之間還可包括步驟S150:在常溫下靜置液晶顯示器。
[0033]本步驟中的常溫環境可參考步驟S130中的設置，靜置的時間為至少2小時。常溫下靜置可降低前面步驟中溫度濕度沖擊測試對后續的第二次畫面品質檢測的干擾。
[0034]在步驟S160之后，可以進行步驟S170:根據出現異常的液晶顯示器的編號攔截相應時間段生產的液晶顯示器，并對出現異常的液晶顯示器對應生產線的制程進行檢修。
[0035]即在步驟S160中發現存在制程異常的LCD根據其編號攔截同時間段生產的LCD，并對出現異常的LCD對應生產線的制程進行檢修。確保存在制程異常缺陷的產品在設計生產階段就得到解決，能有效地降低存在制程異常缺陷的LCD出現流入市場的概率，減少后續因為長期使用后可能會出現LCD亮線、暗線、無畫面、畫面異常等不良問題，降低售后維修成本，為客戶提供可靠的產品，提高公司的知名度和信譽度。可以對更改后的產品再次進行步驟SllO?S160的測試。糾正異常制程后的首批次產品應通過上述液晶顯示器制程異常測試方法進行確認，確保異常制程得到整改，提尚廣品的品質。
[0036]以上所述實施例僅表達了本發明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本發明專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本發明構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發明的保護范圍。因此，本發明專利的保護范圍應以所附權利要求為準。
【主權項】
1.一種液晶顯示器制程異常測試方法，其特征在于，包括以下步驟:將從生產線上抽取的液晶顯示器進行編號并通電；將所述液晶顯示器置于常溫環境中；對所述液晶顯示器進行溫度濕度沖擊測試，包括在短時間內將所述液晶顯示器所處的環境溫度降至第一溫度，保持第一溫度第一時長，然后在所述短時間內將所述液晶顯示器所處的環境溫度和濕度升至第二溫度和第一濕度，保持第二溫度和第一濕度第二時長;所述短時間為0.5小時，所述第一溫度大于或等于零下20攝氏度，且小于或等于10攝氏度，所述第二溫度大于或等于40攝氏度，且小于或等于60攝氏度，所述第一濕度大于或等于70%相對濕度;對所述液晶顯示器進行畫面品質檢測。2.根據權利要求1所述的液晶顯示器制程異常測試方法，其特征在于，所述抽取為等時間間隔抽取。3.根據權利要求2所述的液晶顯示器制程異常測試方法，其特征在于，所述抽取為每隔I小時抽取，一條生產線上抽取12個作為一批次。4.根據權利要求1所述的液晶顯示器制程異常測試方法，其特征在于，所述溫度濕度沖擊測試是將所述液晶顯示器置于恒溫恒濕箱內進行。5.根據權利要求1所述的液晶顯示器制程異常測試方法，其特征在于，所述第一溫度為O攝氏度，所述第二溫度為50攝氏度，所述第一濕度為80%相對濕度，所述第一時長為2小時，所述第二時長為20小時。6.根據權利要求1所述的液晶顯示器制程異常測試方法，其特征在于，所述液晶顯示器的數量是至少兩個，所述液晶顯示器兩兩之間至少間隔20厘米。7.根據權利要求1所述的液晶顯示器制程異常測試方法，其特征在于，所述將所述液晶顯示器置于常溫環境中的步驟之前包括對所述液晶顯示器進行所述畫面品質檢測的步驟，若檢測通過，則進行所述將所述液晶顯示器置于常溫環境中的步驟，否則中止測試。8.根據權利要求1所述的液晶顯示器區塊缺陷測試方法，其特征在于，所述畫面品質檢測的檢測環境照度為:200 土 10勒克司。9.根據權利要求1所述的液晶顯示器制程異常測試方法，其特征在于，所述溫度濕度沖擊測試之后，對所述液晶顯示器進行所述畫面品質檢測之前包括在常溫下靜置所述液晶顯示器的步驟。10.根據權利要求1所述的液晶顯示器制程異常測試方法，其特征在于，對所述液晶顯示器進行所述畫面品質檢測之后，包括根據出現異常的液晶顯示器的編號攔截相應時間段生產的液晶顯示器，并對所述出現異常的液晶顯示器對應生產線的制程進行檢修的步驟。
【文檔編號】G02F1/13GK105954894SQ201610420308
【公開日】2016年9月21日
【申請日】2016年6月15日
【發明人】熊勇軍
【申請人】蘇州眾顯電子科技有限公司