一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構的制作方法
【技術領域】
[0001]本發明公開了一種結構，特別是一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構。
【背景技術】
[0002]目前對于液晶屏的測試存在很多不可靠的因素，對液晶屏造成損傷，尤其是裝多邊管針的液晶屏，容易造成接觸不良，埋下隱患。
【發明內容】
[0003]所述的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構包括:基臺平面、I型電極測試支撐架、L型電極測試支撐架、測試電極和液晶屏承載臺，所述的基臺平面在電極測試支撐架和液晶屏承載臺之下，所述的I型電極測試支撐架和L型電極測試支撐架在基臺之上，所述的液晶屏承載臺在基臺之上，所述的測試電極固定在電極測試支撐架上。
[0004]本發明公開的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構，所述的測試電極是固定在測試電極支撐架上，I型電極測試支撐架、L型電極測試支撐架、液晶屏承載臺可在基臺平面滑動。
[0005]本發明公開的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構，所述的測試電極因為具有伸縮性，在測試液晶屏時只是接觸到管針的側面，并且接觸點位置空間大，幾乎可以杜絕對位不良問題，確保充分接觸。
[0006]由于電極測試支撐架可以滑動，可以針對不同的液晶屏進行測試，具有通用性，在提高效率的同時也節約了成本，還確保了產品的品質。
[0007]當液晶屏為不規則多邊形且管針邊數量為多個時，只增加所述的I型電極測試支撐架的數量，L型電極測試支撐架數量不變。所述的測試電極突出于電極測試支撐架。
【附圖說明】
[0008]圖1、本發明公開的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構示意圖。
[0009]附圖標記列表
1、基臺平面2、I型電極測試支撐架 3、L型電極測試支撐架
4、測試電極5、液晶屏承載臺。
【具體實施方式】
[0010]下面結合附圖和【具體實施方式】，進一步闡明本發明，應理解下述【具體實施方式】僅用于說明本發明而不用于限制本發明的范圍，在閱讀了本發明之后，本領域技術人員對發明的各種等價形式的修改均落于本申請所附權利要求所限定的范圍。
[0011]如圖1所示，所述的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構包括:基臺平面、I型電極測試支撐架、L型電極測試支撐架、測試電極和液晶屏承載臺，所述的基臺平面在電極測試支撐架和液晶屏承載臺之下，所述的I型電極測試支撐架和L型電極測試支撐架在基臺之上，所述的液晶屏承載臺在基臺之上，所述的測試電極固定在電極測試支撐架上。
[0012]作為一種優選，I型電極測試支撐架、L型電極測試支撐架、液晶屏承載臺可在基臺平面滑動。作為一種優選，所述的測試電極可以在電極測試支撐架上伸縮。
[0013]本發明公開的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構，所述的測試電極因為具有伸縮性，在測試液晶屏時只是接觸到管針的側面，并且接觸點位置空間大，幾乎可以杜絕對位不良問題，確保充分接觸。
[0014]由于I型電極測試支撐架、L型電極測試支撐架、液晶屏承載臺可在基臺平面滑動，可以針對不同的液晶屏進行測試，具有通用性，在提高效率的同時也節約了成本，還確保了產品的品質。
[0015]當液晶屏為不規則多邊形且管針邊數量為多個時，只增加所述的I型電極測試支撐架的數量，L型電極測試支撐架數量不變。所述的測試電極突出于電極測試支撐架。
【主權項】
1.所述的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構包括:基臺平面、I型電極測試支撐架、L型電極測試支撐架、測試電極和液晶屏承載臺，所述的基臺平面在電極測試支撐架和液晶屏承載臺之下，所述的I型電極測試支撐架和L型電極測試支撐架在基臺之上，所述的液晶屏承載臺在基臺之上，所述的測試電極固定在電極測試支撐架上。
2.根據權利要求1所述的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構，其特征在于型電極測試支撐架、L型電極測試支撐架、液晶屏承載臺可在基臺平面滑動。
3.根據權利要求1所述的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構，其特征在于:所述的測試電極是固定在測試電極支撐加上。
4.根據權利要求1所述的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構，其特征在于:當液晶屏為不規則多邊形且管針邊數量為多個時，只增加所述的I型電極測試支撐架的數量，L型電極測試支撐架數量不變。
5.根據權利要求1所述的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構，其特征在于:所述的測試電極突出于電極測試支撐架。
【專利摘要】本發明公開了一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構，所述的一種測試含多邊管針液晶屏電性能的結構包括：基臺平面、I型電極測試支撐架、L型電極測試支撐架、測試電極和液晶屏承載臺，所述的基臺平面在電極測試支撐架和液晶屏承載臺之下，所述的I型電極測試支撐架和L型電極測試支撐架在基臺之上，所述的液晶屏承載臺在基臺之上，所述的測試電極固定在電極測試支撐架上。本發明解決的技術問題是多邊管針的液晶屏測試問題，提高了效率，并且過程中對液晶屏受力很小，避免對液晶屏的損壞和對管針的損壞，提高了液晶屏管針的可靠性。
【IPC分類】G02F1-13, G01R31-00, G09G3-00
【公開號】CN104793360
【申請號】CN201510141562
【發明人】張靚
【申請人】南京菱亞汽車技術研究院
【公開日】2015年7月22日
【申請日】2015年3月30日