液晶模組老化測試系統的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了液晶模組老化測試系統，它的降壓型開關電源分別連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊、液晶模組屏幕主供電電源模塊和液晶模組背光主供電電源模塊，第一撥碼開關連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊；第二撥碼開關連接液晶模組屏幕主供電電源模塊；第三撥碼開關連接液晶模組背光主供電電源模塊；液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊分別連接第一牛角座的第一信號輸入接口和第二牛角座的第一信號輸入接口；液晶模組屏幕主供電電源模塊分別連接第一牛角座的第二信號輸入接口和第二牛角座的第二信號輸入接口；液晶模組背光主供電電源模塊分別連接第一連接座和第二連接座的信號輸入端。本實用新型保證了老化測試效率與測試質量。
【專利說明】液晶模組老化測試系統
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及液晶模組的測試【技術領域】，具體地指一種液晶模組老化測試系統。
【背景技術】
[0002]近年來由于消費者的消費意識提高，對于產品的品質要求也愈益嚴苛，使得液晶顯示器面板的制造業者不僅要在產品設計上下工夫，更要在制造工藝上有所提升才能在如此競爭的市場上一爭長短。對液晶顯示器面板的制造者而言，產品的壽命周期一直是業者所關注的對象，老化測試(burn-1n)提供給制造者一種制造工藝認證及提升產品可靠度的途徑之一。經過老化測試過后的產品，不只可以確保產品的可靠度與壽命周期，更可使出廠的產品不會輕易故障。
[0003]由于液晶顯示器面板很容易在用過一段不確定的時間后就會發生故障，因此老化檢測為了解決這種缺陷而發展出來的一種檢測方法。這種方法可以使可能有缺陷的產品在老化測試的過程中加速老化，并在測試過程中早早就被淘汰。
[0004]目前液晶模組老化大多數采用大型的并且結構復雜的液晶模組檢測系統進行老化測試，該系統如圖1所示，包括AC-DC(交流轉直流)電源模塊、連接座、牛角座、FPGA (Field 一 Programmable Gate Array,現場可編程門陣列)、ARM 處理器、三個 DC-DC 模塊(電源開關模塊)和三個MCU (Micro Control Unit,微控制單元)，這種結構存在以下缺陷:
[0005](I)上述的液晶模組老化測試系統的結構較為復雜(其內部包含MCU、ARM、FPGA等芯片，涉及芯片較多，程序復雜，導致了現有裝置成本較高)，采用多個芯片組以及大型的軟件系統作為支持，此外其裝置體積較大，功耗高，設備壽命短，導致液晶模組老化檢測設備成本較高。
[0006](2)現有的液晶模組老化測試系統由于其內部芯片較多，需加載多個芯片程序才能使用，且需要使用電腦搭配上層軟件使用，操作步驟過于繁瑣，導致用戶體檢不佳。
[0007](3)現有裝置由于內部有FPGA等核心信號處理芯片，故其使用環境受限制，無法在75度或更高的環境下使用。
實用新型內容
[0008]本實用新型的目的就是要提供一種液晶模組老化測試系統，該系統能夠解決液晶模組原有的測試背景下，設備復雜，成本高，穩定性差，使用時對老化環境要求高，以及對操作步驟復雜等問題。
[0009]為實現此目的，本實用新型所設計的液晶模組老化測試系統，其特征在于:它包括降壓型開關電源、液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊、液晶模組屏幕主供電電源模塊、液晶模組背光主供電電源模塊、第一撥碼開關、第二撥碼開關、第三撥碼開關、第一牛角座、第二牛角座、第一連接座和第二連接座，其中，所述降壓型開關電源的供電信號輸出端分別連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊、液晶模組屏幕主供電電源模塊和液晶模組背光主供電電源模塊的信號輸入端，所述第一撥碼開關的控制信號輸出端連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊的控制信號輸入端；
[0010]所述第二撥碼開關的控制信號輸出端連接液晶模組屏幕主供電電源模塊的控制信號輸入端；
[0011]所述第三撥碼開關的控制信號輸出端連接液晶模組背光主供電電源模塊的控制信號輸入端；
[0012]所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊的信號輸出端分別連接第一牛角座的第一信號輸入接口和第二牛角座的第一信號輸入接口；
[0013]所述液晶模組屏幕主供電電源模塊的信號輸出端分別連接第一牛角座的第二信號輸入接口和第二牛角座的第二信號輸入接口；
[0014]所述液晶模組背光主供電電源模塊的信號輸出端分別連接第一連接座和第二連接座的信號輸入端。
[0015]本實用新型的有益效果:
[0016]1、本實用新型中有兩個牛角和兩個連接座可以接兩個液晶模組同時做老化實驗，提升了批量液晶模組老化測試的效率:解決了目前批量液晶模組測試方法中，搭建測試環境需耗費較多時間與人力，測試環境穩定性差，使用步驟繁瑣等問題。
[0017]2、本實用新型的裝置取消了原有的MCU、ARM、FPGA等芯片，使得結構明顯簡化，顯著降低了老化試驗成本，同時保證了測試效率與測試質量。
[0018]3、本實用新型通過在第一牛角座、第二牛角座、第一連接座和第二連接座輸出端設置轉接線的方式，使得本實用新型能對非標準定義接口的液晶模組進行老化測試，實現更多各類的液晶模組老化測試。
[0019]4、由于本實用新型中取消了原有的MCU、ARM、FPGA等芯片，使得本實用新型的使用環境限制大幅降低，可以在75度或更高的環境下進行相關老化試驗。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0020]圖1為現有液晶模組檢測系統的結構框圖；
[0021]圖2為本實用新型的結構框圖；
[0022]其中，I一降壓型開關電源、2—液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊、3—液晶模組屏幕主供電電源模塊、4 一液晶模組背光主供電電源模塊、5—第一撥碼開關、6—第二撥碼開關、7—第二撥碼開關、8—第一牛角座、9一第二牛角座、10—第一連接座、11一第二連接座、12—轉接線。
【具體實施方式】
[0023]以下結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步的詳細說明:
[0024]如圖1所示液晶模組老化測試系統，它包括降壓型開關電源1、液晶模組通用輸入輸出(GP1, General Purpose Input Output,通用輸入/輸出)端口電源模塊2、液晶模組屏幕主供電電源模塊3、液晶模組背光主供電電源模塊4、第一撥碼開關5、第二撥碼開關6、第三撥碼開關7、第一牛角座8、第二牛角座9、第一連接座10和第二連接座11，其中，所述降壓型開關電源I的供電信號輸出端分別連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2、液晶模組屏幕主供電電源模塊3和液晶模組背光主供電電源模塊4的信號輸入端，所述第一撥碼開關5的控制信號輸出端連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2的控制信號輸入端;
[0025]所述第二撥碼開關6的控制信號輸出端連接液晶模組屏幕主供電電源模塊3的控制信號輸入端；
[0026]所述第三撥碼開關7的控制信號輸出端連接液晶模組背光主供電電源模塊4的控制信號輸入端；
[0027]所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2的信號輸出端分別連接第一牛角座8的第一信號輸入接口和第二牛角座9的第一信號輸入接口 ；
[0028]所述液晶模組屏幕主供電電源模塊3的信號輸出端分別連接第一牛角座8的第二信號輸入接口和第二牛角座9的第二信號輸入接口 ；
[0029]所述液晶模組背光主供電電源模塊4的信號輸出端分別連接第一連接座10和第二連接座11的信號輸入端。
[0030]上述技術方案中，所述第一牛角座8和第二牛角座9均為50Pin牛角座(即有50個管腳)，所述第一連接座10和第二連接座11均為16pin連接座(即有16個管腳)。
[0031]上述技術方案中，所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2的信號輸出端輸出的電壓為3.3V或5V,所述液晶模組屏幕主供電電源模塊3的信號輸出端輸出的電壓為5V或12V,所述液晶模組背光主供電電源模塊4的信號輸出端輸出的電壓為12V或24V。
[0032]上述技術方案中，所述降壓型開關電源I的供電信號輸出端輸出的電壓為24V。
[0033]上述技術方案中，所述第一牛角座8、第二牛角座9、第一連接座10和第二連接座11的輸出端均連接有對應的轉接線12。若待測模組線材接口與裝置接口類型不匹配或者定義不匹配則需使用轉接線12轉接。
[0034]本實用新型工作時:
[0035]所述第一牛角座8的信號輸出端連接第一臺被測液晶模組的主電源接口，第一連接座10的信號輸出端連接第一臺被測液晶模組的背光電源；第二牛角座9的信號輸出端連接第二臺被測液晶模組的主電源接口，第二連接座11的信號輸出端連接第二臺被測液晶模組的背光電源，具體來說牛角座的輸出端連接測液晶模組的WNJ2.54-50P-B接口，連接座的輸出端連接測液晶模組的WD4.2X5.5-12P接口。
[0036]降壓型開關電源I將外部220V交流電源轉換為24V直流電源，降壓型開關電源I分別將24V直流電源供應給液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2、液晶模組屏幕主供電電源模塊3和液晶模組背光主供電電源模塊4，基于所需要測試的液晶模組的型號，通過第一撥碼開關5控制液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2輸出3.3V或者5V的電壓；同時，通過第二撥碼開關6控制液晶模組屏幕主供電電源模塊3輸出5V或12V的電壓；同時，通過第三撥碼開關7控制液晶模組背光主供電電源模塊4輸出12V或者24V的電壓；
[0037]通電老化測試開始，液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2通過第一牛角座8和第二牛角座9分別向第一臺被測液晶模組的主電源接口和第二臺被測液晶模組的主電源接口提供液晶模組通用輸入輸出端口的參考電壓；
[0038]液晶模組屏幕主供電電源模塊3通過第一牛角座8和第二牛角座9分別向第一臺被測液晶模組的主電源接口和第二臺被測液晶模組的主電源接口提供液晶模組屏幕主供電信號(提供使能電壓)；
[0039]液晶模組背光主供電電源模塊4通過第一連接座10和第二連接座11分別向第一臺被測液晶模組的主電源接口和第二臺被測液晶模組的背光電源接口提供液晶模組背光供電信號；
[0040]這樣使兩臺被測液晶模組可以穩定的運行其自帶的BIST (內建自測信號，Built-1n Self Test)畫面,進行老化測試。
[0041]通過一定的測試時間后，觀察測試的現象，記錄下測試的結果，完成液晶模組測試。
[0042]上述技術方案中，液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊2通過第一撥碼開關5切換輸出連接點來實現輸出電壓選擇；液晶模組屏幕主供電電源模塊3通過第二撥碼開關6切換反饋分壓電阻來實現輸出電壓選擇。液晶模組背光主供電電源模塊4通過第三撥碼開關7切換輸出電路(直連輸出或降壓輸出)。
[0043]本說明書未作詳細描述的內容屬于本領域專業技術人員公知的現有技術。
【權利要求】
1.一種液晶模組老化測試系統，其特征在于:它包括降壓型開關電源(I)、液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)、液晶模組屏幕主供電電源模塊(3)、液晶模組背光主供電電源模塊(4)、第一撥碼開關(5)、第二撥碼開關(6)、第三撥碼開關(7)、第一牛角座(8)、第二牛角座(9)、第一連接座(10)和第二連接座(11)，其中，所述降壓型開關電源(I)的供電信號輸出端分別連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)、液晶模組屏幕主供電電源模塊⑶和液晶模組背光主供電電源模塊⑷的信號輸入端，所述第一撥碼開關(5)的控制信號輸出端連接液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)的控制信號輸入端； 所述第二撥碼開關(6)的控制信號輸出端連接液晶模組屏幕主供電電源模塊(3)的控制信號輸入端； 所述第三撥碼開關(7)的控制信號輸出端連接液晶模組背光主供電電源模塊(4)的控制信號輸入端； 所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)的信號輸出端分別連接第一牛角座(8)的第一信號輸入接口和第二牛角座(9)的第一信號輸入接口 ； 所述液晶模組屏幕主供電電源模塊(3)的信號輸出端分別連接第一牛角座(8)的第二信號輸入接口和第二牛角座(9)的第二信號輸入接口 ； 所述液晶模組背光主供電電源模塊(4)的信號輸出端分別連接第一連接座(10)和第二連接座(11)的信號輸入端。
2.根據權利要求1所述的液晶模組老化測試系統，其特征在于:所述第一牛角座(8)和第二牛角座(9)均為50Pin牛角座，所述第一連接座(10)和第二連接座(11)均為16pin連接座。
3.根據權利要求1所述的液晶模組老化測試系統，其特征在于:所述液晶模組通用輸入輸出端口電源模塊(2)的信號輸出端輸出的電壓為3.3V或5V，所述液晶模組屏幕主供電電源模塊(3)的信號輸出端輸出的電壓為5V或12V,所述液晶模組背光主供電電源模塊(4)的信號輸出端輸出的電壓為12V或24V。
4.根據權利要求1或3所述的液晶模組老化測試系統，其特征在于:所述降壓型開關電源(I)的供電信號輸出端輸出的電壓為24V。
5.根據權利要求1或2或3所述的液晶模組老化測試系統，其特征在于:所述第一牛角座(8)、第二牛角座(9)、第一連接座(10)和第二連接座(11)的輸出端均連接有對應的轉接線(12)。
【文檔編號】G02F1/13GK204086738SQ201420566052
【公開日】2015年1月7日 申請日期:2014年9月28日 優先權日:2014年9月28日
【發明者】彭騫, 袁帥, 徐夢銀, 肖家波, 胡磊, 陳凱, 沈亞非 申請人:武漢精測電子技術股份有限公司