陣列基板、顯示面板及顯示裝置制造方法
【專利摘要】本發明提供一種陣列基板、顯示面板及顯示裝置，屬于顯示【技術領域】，其可解決現有的陣列基板由于數據線和修復線之間產生ESD將數據線和修復線短接拉低數據線電壓的問題。本發明的陣列基板，其包括多條信號線，以及在陣列基板周邊區域與信號線交叉且絕緣設置的至少一條修復線和冗余修復線，且所述冗余修復線與所述修復線絕緣設置；其中，所述冗余修復線包括至少一個冗余修復部，每個所述冗余修復部的電阻小于每條所述修復線的電阻。
【專利說明】
陣列基板、顯示面板及顯示裝置
【技術領域】
[0001]本發明屬于顯示【技術領域】，具體涉及一種陣列基板、顯示面板及顯示裝置。
【背景技術】
[0002]在薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,簡稱TFT-1XD)制造過程中，小尺寸產品在液晶盒檢測(Cell Test)過程中通常采用短路條(Shorting Bar)檢測方式。如圖1所示，陣列基板上形成有公共電極線4和分別于紅色子像素、綠色子像素、藍色子像素對應的三條短路條(即，紅色數據信號短路條1、綠色數據信號短路條2、藍色數據信號短路條3);其中，每條短路條連接與其對應的子像素(紅色子像素、綠色子像素、藍色子像素)所連接的數據線5、6、7。通過分別給短路條施加電壓，可以檢測與短路條連接的數據線是是否存在破損。
[0003]為了避免數據線破損而導致顯示面板報廢，故在陣列基板的周邊區域上還形成有與數據線交叉設置的修復線8，但是在數據線上施加有數據電壓時，很容易在修復線8與數據線交叉的位置(圖1中的9代表發生ESD的位置)產生靜電釋放(Electro-Staticdischarge,簡稱ESD)，從而導致數據線被擊穿與修復線8短路，進而導致數據線上的數據電壓被拉低(數據線上的電壓通常為正，而修復線8電壓為零，即無電壓)。然而在通過短路條檢測方式檢測顯示面板上的數據線時，此時與修復線8短路的數據線同時還是與其他數據線連接的，故修復線8將這些數據線上的電壓拉低較少部分，也就是說與修復線8短路的數據線相對于為短路的數據線被拉低的電壓差異很小，從而被短路的數據線與其他數據線驅動的像素電極的電壓差距很小，液晶偏轉的差異不明顯，顯示的顏色的差異也不明顯，因此這種短路不良是不容易檢測出來的。
[0004]發明人發現現有技術中至少存在如下問題:模組(Module)階段時為全接觸(FullContact)檢測方式，該數據線不與其他數據線連接，修復線8可以拉低這條數據線的電壓，電壓會導致液晶偏轉的不同于正常的區域，檢測表現為兩線。此時檢測出來該數據線存在問題，若問題嚴重的將導致整個面板報廢，不嚴重也將會增加額外修復流程。
【發明內容】
[0005]本發明所要解決的技術問題包括，針對現有的陣列基板存在上述的問題，提供一種可以避免在由于數據線和修復線之間產生ESD將數據線和修復線短接拉低數據線電壓的陣列基板、顯示面板及顯示裝置。
[0006]解決本發明技術問題所采用的技術方案是一種陣列基板，其包括多條信號線，以及在陣列基板周邊區域與信號線交叉且絕緣設置的至少一條修復線和至少一條冗余修復線，且所述冗余修復線與所述修復線絕緣設置；其中，
[0007]所述冗余修復線包括至少一個冗余修復部，每個所述冗余修復部的電阻小于每條所述修復線的電阻。
[0008]本發明的陣列基板由于增加了冗余修復線，該冗余修復線包括至少一個冗余修復部，單位長度的冗余修復部的電阻大于單位長度的修復線的電阻，此時假設ESD發生的區域位于冗余修復部和修復線所在的區域，由于此處的冗余修復部的電阻大于修復線該位置處的電阻，因此ESD將發生在數據線與冗余修復部的交叉位置，是兩者交叉位置處的絕緣層被擊穿，從而使得冗余修復部與數據線短接，將靜電釋放，以避免在數據線與修復線之間產生ESD，同時由于所述冗余修復部的電阻小于每條所述修復線的電阻，所以較修復線而言冗余修復部拉低數據線上的電壓程度大大較小，從而使得在后續模組(Module)階段檢測時不會影響顯示效果，進而使得陣列基板的良品率大大提高。
[0009]優選的是，所述冗余修復線包括:斷開設置且貫穿全部所述信號線的多個冗余修復部，任意兩相鄰的冗余修復部的斷開位置設于兩條相鄰的信號線之間。
[0010]進一步優選的是，所述陣列基板包括兩條冗余修復線，所有所述修復線設于所述兩條所述冗余修復線之間。
[0011]更進一步優選的是，所述陣列基板還包括兩條與所述修復線交叉且絕緣設置的冗余信號線，兩條所述冗余信號線和兩條冗余修復線將所述修復線與所述信號線的交叉位置包圍。
[0012]更進一步優選的是，所述冗余信號線與所述信號線同層且絕緣設置。
[0013]優選的是，所述修復線與所述冗余修復線同層設置。
[0014]優選的是，所述信號線包括數據線和/或柵線。
[0015]優選地是，每個所述冗余修復部的兩端均懸空。
[0016]解決本發明技術問題所采用的技術方案是一種顯示面板，其包括上述陣列基板。
[0017]解決本發明技術問題所采用的技術方案是一種顯示裝置，其包括上述顯示面板。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0018]圖1為現有的陣列基板的周邊區域以及在進行Shorting bar檢測的示意圖；
[0019]圖2為本發明的實施例1的陣列基板的周邊區域以及在進行Shorting bar檢測的示意圖。
[0020]其中附圖標記為:1、紅色數據信號短路條；2、綠色數據信號短路條；3、藍色數據信號短路條；4、公共電極線；5、與紅色子像素連接的數據線；6、與綠色子像素連接的數據線；7、與藍色子像素連接的數據線；8、修復線；9、發生ESD的位置；10、冗余修復線；11、冗余修復部；12、冗余信號線。
【具體實施方式】
[0021]為使本領域技術人員更好地理解本發明的技術方案，下面結合附圖和【具體實施方式】對本發明作進一步詳細描述。
[0022]實施例1:
[0023]結合圖2所示，本實施例提供一種陣列基板，其包括多條信號線，以及在陣列基板周邊區域與信號線交叉且絕緣設置的至少一條修復線8和至少一條冗余修復線10，且所述冗余修復線10與所述修復線8絕緣設置；其中，所述冗余修復線10包括至少一個冗余修復部11，單位長度的冗余修復部11的電阻大于單位長度的修復線8的電阻。
[0024]本領域技術人員可以理解的是，陣列基板通常包括設置個子像素的顯示區域，以及將顯示區域包圍的周邊區域，在陣列基板的制備工藝中，由于工藝原因(例如成膜，特別是在將母板切割成多個基板時，在各基板的周邊區域用于產生靜電)很容易在信號線與修復線之間產生電荷的堆積，并且電荷堆積到一定程度，就會導致靜電釋放(ESD)，從而導致修復線8與信號線之間的絕緣層被擊穿，導致修復線8與信號線短接，且該種不良在Shorting bar不良檢測檢測不出來，進而導致在后續的模組(Module)階段檢測時，修復線8拉低與其短接的信號線的電壓，導致與該信號線對應的像素單元顯示不良。而在本實施例中，由于增加了冗余修復線10，該冗余修復線10包括至少一個冗余修復部11，每個冗余修復部11的電阻大于所述修復線8的電阻，此時假設ESD發生的區域位于冗余修復部11和修復線所在的區域，由于該區域的冗余修復部11的電阻大于修復線8該位置處的電阻，因此ESD將發生在信號線與冗余修復部11的交叉位置(圖2中的9代表發生ESD的位置)，是兩者交叉位置處的絕緣層被擊穿，從而使得冗余修復部11與數據線短接，將靜電釋放，以避免在信號線與修復線8之間產生ESD，同時由于所述冗余修復部11的電阻小于每條所述修復線8的電阻，所以較修復線8而言冗余修復部11拉低信號線上的電壓程度大大較小，從而使得在后續模組(Module)階段檢測時不會影響顯示效果，進而使得陣列基板的良品率大大提尚。
[0025]需要說明的是，圖2中所示，與紅色子像素連接數據線5、與綠色子像素連接數據線6、與藍色子像素連接數據線7也就是上述內容中的信號線，但圖2中所示的數據線并不對本實施例中的信號線構成限制，本實施例中信號線也可以是柵線等其他連接線。而且圖2中冗余修復線的延伸方向是與修復線8的方向相同的，應當理解的是，該種設置方式可以使得布線簡單，制備方便，當然同樣理解的是，冗余修復線的延伸方向(各個冗余修復部8相連的延伸方向)也可以不與修復線8的延伸方向一致，可以是一條斜向，只要保證每個冗余修復部8與信號交叉絕緣設置即可。同時，在本實施例中，冗余修復線的寬度可設置為比修復線8細，由于冗余修復線的寬度較窄，因此不會占用陣列基板上較多的空間，而且冗余修復線也可以與修復線的材料不同的，只要保證每個冗余修復部11的電阻小于修復線8的電阻即可。
[0026]優選地，在本實施例中的冗余修復部11的兩端均為懸空。此時可以避免在發生ESD后，當冗余修復部11和修復線8短接在一起，冗余修復部拉低信號線上的電壓。當然，也可以在冗余修復部11上施加與信號線上相同或相近的電壓，同樣可以避免拉低信號線上的電壓。
[0027]優選的，本實施例的冗余修復線10包括:斷開設置且貫穿全部所述信號線的多個冗余修復部11，任意兩相鄰的冗余修復部11的斷開位置設于兩條相鄰的信號線之間。之所以如此設置是因為，ESD發生的位置9是隨機的，具有不確定性，此時可以更好的避免在修復線8與信號線之間產生ESD，擊穿兩者之間的絕緣層，導致兩者短接的現象。
[0028]進一步優選的，所述陣列基板包括兩條冗余修復線10，所有所述修復線8設于所述兩條所述冗余修復線10之間。也就說將信號線與修復線8交叉位置全部夾設在兩條冗余修復線10之間，此時可以更好的避免在修復線8與信號之間產生ESD，將發生ESD的位置全部轉移至冗余修復線10與信號線之間，該種設置方式布線簡單同時還可以節約成本。
[0029]更進一步優選的，所述陣列基板還包括兩條與所述修復線8交叉且絕緣設置的冗余信號線12，兩條所述冗余信號線12和兩條冗余修復線10將所述修復線8與所述信號線的交叉位置包圍。也就是此時冗余修復線10和冗余信號線12圍起來的圖形類似矩形，因此可以很好的將信號線與修復線8交叉位置全部包圍起來，盡可能的避免修復線8與信號之間產生ESD。其中，所述冗余信號線12與所述信號線同層且絕緣設置，因此可以較少構圖工藝的次數，以節約成本。當然，所述冗余信號線12與所述信號線也可以不設于同一層，只是多一次構圖工藝而已。
[0030]優選的，所述修復線8與所述冗余修復線10同層設置。此時可以減少工藝次數，節約成本。當然所述修復線8與所述冗余修復線10也可以是不設于同一層的，不過要多一次構圖工藝。
[0031]優選的，在本實施例中，信號線為數據線和/或柵線。可以理解的是，當信號線為數據線時，冗余信號線12則是冗余數據線，當信號線為柵線時，冗余信號線12則是冗余柵線，當信號線為數據線和柵線時，此時冗余信號線12則包括冗余數據線和冗余柵線。
[0032]需要說明的是，圖2中僅僅是示意圖數據線在進行Shorting bar不良檢測時的示意圖，其中，陣列基板上形成有公共電極線4和分別于紅色子像素、綠色子像素、藍色子像素對應的三條短路條(即，紅色數據信號短路條1、綠色數據信號短路條2、藍色數據信號短路條3);其中，每條短路條連接與其對應的子像素(紅色子像素、綠色子像素、藍色子像素)所連接的數據線5、6、7。通過分別給短路條施加電壓，可以檢測與短路條連接的數據線是是否存在破損。可以理解的是，該shorting bar不良檢測同樣可以用于柵線的檢測，原理與數據線的檢測原理大致相同，在此不一一描述。
[0033]相應的本實施例提供了一種顯示面板，其包括上述陣列基板，故該顯示面板的良品率尚。
[0034]相應的本實施例還提供一種顯示裝置，其包括上述顯示面板，因此本實施例的顯不裝置的良品率進一步提尚。
[0035]該顯示裝置可以為:手機、平板電腦、電視機、顯示器、筆記本電腦、數碼相框、導航儀等任何具有顯示功能的產品或部件。當然，本實施例的顯示裝置中還可以包括其他常規結構，如顯示驅動單元等。
[0036]可以理解的是，以上實施方式僅僅是為了說明本發明的原理而采用的示例性實施方式，然而本發明并不局限于此。對于本領域內的普通技術人員而言，在不脫離本發明的精神和實質的情況下，可以做出各種變型和改進，這些變型和改進也視為本發明的保護范圍。
【權利要求】
1.一種陣列基板，其包括多條信號線，以及在陣列基板周邊區域與信號線交叉且絕緣設置的至少一條修復線，其特征在于，所述陣列基板的周邊區域還設置有至少一條與所述信號線交叉且絕緣設置的冗余修復線，且所述冗余修復線與所述修復線絕緣設置；其中， 所述冗余修復線包括至少一個冗余修復部，每個所述冗余修復部的電阻小于每條所述修復線的電阻。
2.根據權利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述冗余修復線包括:斷開設置且貫穿全部所述信號線的多個冗余修復部，任意兩相鄰的冗余修復部的斷開位置設于兩條相鄰的信號線之間。
3.根據權利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板包括兩條冗余修復線，所有所述修復線設于所述兩條所述冗余修復線之間。
4.根據權利要求3所述的陣列基板，其特征在于，所述陣列基板還包括兩條與所述修復線交叉且絕緣設置的冗余信號線，兩條所述冗余信號線和兩條冗余修復線將所述修復線與所述信號線的交叉位置包圍。
5.根據權利要求4所述的陣列基板，其特征在于，所述冗余信號線與所述信號線同層且絕緣設置。
6.根據權利要求1至5中任意一項所述的陣列基板，其特征在于，所述修復線與所述冗余修復線同層設置。
7.根據權利要求1-5中任意一項所述的陣列基板，其特征在于，所述信號線包括數據線和/或柵線。
8.根據權利要求1-5中任意一項所述的陣列基板，其特征在于，每個所述冗余修復部的兩端均懸空。
9.一種顯示面板，其特征在于，所述顯示面板包括權利要求1至8中任意一項所述的陣列基板。
10.一種顯示裝置，其特征在于，所述顯示裝置包括權利要求9所述的顯示面板。
【文檔編號】G02F1/1362GK104503176SQ201410828139
【公開日】2015年4月8日 申請日期:2014年12月25日 優先權日:2014年12月25日
【發明者】湯展峰, 劉利萍, 李靜, 吳健, 艾雨 申請人:合肥鑫晟光電科技有限公司, 京東方科技集團股份有限公司