顯微鏡系統和顯微鏡系統的控制方法

專利名稱：顯微鏡系統和顯微鏡系統的控制方法
技術領域：
本發明涉及顯微鏡系統及控制顯微鏡系統的方法，該顯微鏡系統以高放大倍率諸 如生物試樣的試樣圖像，由獲得的圖像數據生成合成圖像，并且在顯示單元上顯示合成圖像。
背景技術：
近年來，這樣一種顯微鏡系統已廣為人知，其中，以高放大倍率攝取諸如生物試樣 的試樣圖像，并且基于獲得的圖像數據生成合成圖像以將其顯示在顯示單元上(例如，參 見日本專利申請公開第2008-51773號(第W022]段至第W027]段，圖1)；下文中，稱作 專利文獻1)。專利文獻1公開了包括顯微鏡裝置(10)和控制裝置(60)的熒光顯微鏡系統。顯 微鏡裝置(10)獲取試樣S的熒光觀察圖像，其中，將生物試樣置于載玻片上。控制裝置 (60)執行顯微鏡裝置(10)的圖像獲取等的控制。顯微鏡裝置(10)包括能夠保存多個 試樣S的試樣保存單元(11)、傳送試樣S的試樣傳送單元(14)、放置試樣S的試樣載物臺 (15)。此外，顯微鏡裝置(10)包括獲取試樣S的低放大倍率圖像的大圖像獲取單元(macro imageacquisition unit) (20)和獲取試樣S的高放大倍率圖像的微圖像獲取單元(30)。控 制裝置(60)執行包括控制顯微鏡裝置(10)中的圖像獲取操作、設置圖像獲取條件、處理獲 取的試樣S的圖像數據、控制顯示裝置(71)對顯示試樣S的圖像的顯示等的處理。

發明內容
順便提及，通常通過諸如顯微鏡載玻片和蓋玻片的透明保持構件來保持諸如生物 試樣的試樣，并且通過顯微鏡系統獲取其圖像。因此，由于蓋玻片介于試樣和用于攝取試樣 圖像的光學系統(透鏡)之間，所以導致了球面像差，并且出現難以獲取試樣的高精度圖像 的問題。另外，在某些情況下，諸如生物試樣的試樣可能為半透明的，這可能成為導致球面 像差的原因。在這點上，例如，設想在光學系統中采用過去已知的具有校正環(correction collar)功能的物鏡來校正球面像差。然而，在具有校正環功能的物鏡中，通常，用戶不得不 手動旋轉校正環以校正球面像差，這很麻煩。在顯微鏡系統中，對于一個試樣獲取多個(例如，100)高放大倍率圖像，并且組合 這些圖像以顯示在顯示單元上。由于導致球面像差的蓋玻片(或者試樣本身)的厚度不是 很均勻，所以為了校正球面像差，用戶不得不例如100次地調節校正環的旋轉角，如此校正 球面像差。因此，尤其在顯微鏡系統中，手動校正球面像差非常麻煩。
鑒于上述情況，期望提供能夠自動校正球面像差的顯微鏡系統和顯微鏡系統的控 制方法。根據本發明的實施方式，提供了一種顯微鏡系統，包括容納單元、載物臺、光學系 統、攝像單元、移動機構、控制單元、圖像處理單元以及顯示單元。容納單元，能夠容納多個試樣。在載物臺上，放置從容納單元所加載的各個試樣。光學系統，包括用于球面像差校正的透鏡。攝像單元，能夠經由光學系統攝取置于載物臺上的各個試樣的部分圖像。移動機構，沿著光軸移動用于球面像差校正的透鏡。控制單元，控制移動機構對用于球面像差校正的透鏡的移動，并且校正球面像差。圖像處理單元，組合通過攝像單元所攝取的部分圖像，并且生成合成圖像。顯示單元，顯示所生成的合成圖像。在本發明的實施方式中，由于通過控制單元來控制移動機構對用于球面像差校正 的透鏡的移動，所以可以自動校正球面像差。結果，可以消除每當攝取部分圖像時手動校正 球面像差時所引起的不方便。在改顯微鏡系統中，控制單元可以計算各個試樣的上表面和光學系統的焦點位置 之間的第一距離，并且根據第一距離控制移動機構來移動用于球面像差校正的透鏡。球面像差與從試樣的上表面延伸至焦點位置的第一距離具有相關關系。因此，適 用于校正球面像差的用于球面像差校正的透鏡的位置與第一距離具有相關關系。在本發明的實施方式中，通過控制單元的控制來根據第一距離移動用于球面像差 校正的透鏡，結果是可以將用于球面像差校正的透鏡移至適當位置，并且可以精確地校正 球面像差。在顯微鏡系統中，控制單元可以移動用于球面像差校正的透鏡以將光學系統的焦 點位置和成像位置之間的距離保持恒定。結果，實現高速而又簡單的聚焦。顯微鏡系統還可以包括預掃描單元，其在攝像單元攝取各個試樣的部分圖像之前 預掃描各個試樣。在這種情況下，控制單元可以基于通過預掃描單元所獲得的信息計算第一距離。在本發明的實施方式中，可以通過有效使用由預掃描單元所獲得的信息來計算第 一距離。結果，沒有必要為了計算第一距離，而為顯微鏡系統額外地設置新構件等，這導致 成本降低。顯微鏡系統還可以包括測量各個試樣的厚度的厚度測量單元。在這種情況下，控 制單元可以基于各個試樣的厚度信息計算第一距離。此外，當以這種方式計算第一距離時，可以適當校正球面像差。顯微鏡系統還可以包括顯微鏡筒、移動單元以及距離測量單元。顯微鏡筒包括光學系統。移動單元沿著光軸移動顯微鏡筒和載物臺中的至少一個。距離測量單元測量顯微鏡筒側的預定位置和各個試樣的上表面之間的第二距離。在這種情況下，控制單元可以通過控制移動單元來執行聚焦，并且基于在獲得焦點時從距離測量單元所獲得的第二距離的信息來計算第一距離。當以這種方式計算第一距離時，也可以適當地校正球面像差。在顯微鏡系統還可以包括顯微鏡筒(其包括光學系統)和移動單元(其沿著光軸移 動顯微鏡筒和載物臺中的至少一個)的情況下，控制單元可以通過控制移動單元來執行聚焦。在這種情況下，控制單元可以執行通過透鏡方式(throuh-lens-system)的聚焦。根據本發明的另一實施方式，提供了一種顯微鏡系統的控制方法，該方法包括從 能夠容納多個試樣的容納單元加載試樣，并且將試樣置于載物臺上。通過控制移動機構來校正球面像差，其中，該移動機構沿著包括用于球面像差校 正的透鏡的光學系統的光軸移動用于球面像差校正的透鏡。從能夠經由光學系統攝取置于載物臺上的試樣的部分圖像的攝像單元獲取該部 分圖像的信息。基于部分圖像的信息生成合成圖像。在顯示單元上顯示生成的合成圖像。如上所述，根據本發明的實施方式，可以提供能夠自動校正球面像差的顯微鏡系 統和顯微鏡系統的控制方法。根據以下詳細描述的如附圖所示的最佳實施方式，本發明的這些和其他目的、特 征和優點將更加顯而易見。


圖1是示出了根據本發明實施方式的顯微鏡系統的整體結構的示圖。圖2是示出了通過顯微鏡系統觀察的試樣的實例的示圖。圖3是物鏡的放大圖。圖4是示出了顯微鏡系統的處理的流程圖。圖5是用于說明球面像差校正的基本概念的示圖。圖6是示出了根據本發明的另一實施方式的顯微鏡系統的操作流程圖。圖7是示出了包括在根據本發明的另一實施方式的顯微鏡系統中的高放大倍率 光學系統的示圖。圖8是圖7中所示的高放大倍率光學系統的點示圖。圖9是用于說明當校正球面像差時，用于防止高放大倍率光學系統的物像距離改 變的基本概念的示圖。圖10是用于說明當校正球面像差時，用于防止高放大倍率光學系統的物像距離 改變的基本概念的示圖。圖11是用于說明當校正球面像差時，用于防止高放大倍率光學系統的物像距離 改變的基本概念的示圖。圖12是示出了蓋玻片的厚度和各種參數之間的關系的表。圖13是示出了通過對圖12中所示的表繪圖所獲得的凸輪曲線的示圖。
具體實施例方式下文中，將參照附圖描述本發明的實施方式。
(第一實施方式)[顯微鏡系統的整體結構和各單元的結構]圖1是示出了根據本發明的第一實施方式的顯微鏡系統的整體結構的示圖。圖2 是示出了通過顯微鏡系統所觀察到的試樣的實例的示圖。圖2A是試樣的側視圖，而圖2B 是試樣的平面圖。應該注意，在文中所說明的附圖中，為了更容易理解附圖，在某些情況下 會將包括在顯微鏡系統中的裝置、包括在裝置中的構件等的大小改變為與實際尺寸不同。如圖1所示，顯微鏡系統100包括容納裝置10，可以容納多個試樣1 ；顯微鏡裝置 20，獲取試樣1的圖像數據；以及傳送裝置70，在容納裝置10和顯微鏡裝置20之間傳送試 樣1。此外，顯微鏡系統100還包括顯示裝置61，顯示試樣1(樣本幻的圖像；輸入裝置 62 ；以及控制裝置50，總體控制上述這些裝置。如圖2所示，試樣1包括顯微鏡載玻片4、蓋玻片3以及介于其間并且由顯微鏡載 玻片4和蓋玻片3保持的樣本2。作為顯微鏡載玻片4和蓋玻片3的材料，使用諸如BK7 (注冊商標)的光學玻璃， 但是該材料不局限于此。作為樣本2，例如，使用除人以外的動物、植物等的病理樣本和生物組織樣本。樣本 2的類型沒有具體限制，可以使用適當選自醫學、藥物、食物、農業等領域的樣本。容納裝置10包括容納裝置主體11、架(rack)機構12以及加載機構13。架機構 12容納以架方式排列在其中的多個試樣1。加載機構13加載選自架機構12中所容納的多 個試樣1的任何一個。在容納裝置主體11的側部處，設置了當用戶放入和取出試樣1時使用的開/關單 元14。此外，在容納裝置主體11的另一側部處，設置了用于加載機構13加載試樣1的開口 15。架機構12可從容納裝置主體11拆卸。相對于容納裝置主體11經由開/關單元 14放入和取出以架方式排列有多個試樣1的架機構12。例如，雖然未示出，但是加載機構13由傳送帶和驅動傳送帶的諸如電動機的驅動 源構成。將諸如電動機的驅動源電連接至控制裝置50的主控制器51。加載機構13可以根 據主控制器51的控制從容納裝置主體11選擇性地加載容納在架機構12中的多個試樣1 的任何一個。此外，加載機構13可以將已經進行成像并且從傳送裝置70傳遞來的試樣容 納在架機構12中的初始位置處。例如，雖然未示出，但是傳送裝置70由傳送帶和驅動傳送帶的諸如電動機的驅動 源構成。將諸如電動機的驅動源電連接至主控制器51。傳送裝置70根據主控制器51的控 制將從容納裝置主體11所加載的試樣11傳送到顯微鏡裝置20的載物臺41上。此外，傳 送裝置70從載物臺41傳送已經進行了顯微鏡裝置20攝像的試樣1以將試樣1傳遞至加 載機構13。顯微鏡裝置20包括載物臺41，將試樣1置于其上；以及移動機構42，用于在垂直 方向(ζ軸方向)上和水平方向(χ軸方向和y軸方向)上移動載物臺41。此外，顯微鏡裝 置20還包括預掃描單元31，預掃描試樣1 ；以及高放大倍率圖像獲取單元21，獲取試樣1 的高放大倍率圖像(部分圖像)。在載物臺41的中央附近，設置了用于光路的開口 45。此外，載物臺41設置有保持單元(未示出)，當將試樣1置于載物臺41上時該保持單元保持試樣1不被移動。通過傳 送裝置70將試樣1傳送至在載物臺41上設置用于光路的開口 45的位置，并且通過保持單 元保持該試樣1。載物臺41可在預掃描單元31和高放大倍率圖像獲取單元21之間移動。移動機構42包括升/降單元43，在垂直方向(ζ軸方向)上移動載物臺41;以 及水平移動單元44，在水平方向(χ軸方向和y軸方向)上移動載物臺41。移動機構42包 括諸如滾球絲桿、機架和小齒輪，或者帶和滑輪的機構，以及驅動該機構的諸如步進電動 機的驅動源。將諸如步進電動機的驅動源電連接至主控制器51。移動機構42將載物臺41 的位置信息作為試樣1的位置信息反饋給主控制器51。高放大倍率圖像獲取單元21包括顯微鏡筒36、設置在顯微鏡筒36中的高放大 倍率光學系統22、照明光學系統75以及第一攝像單元37。高放大倍率光學系統22包括物鏡23和成像透鏡對。圖3是物鏡23的放大圖。如圖3所示，物鏡23包括聚光透鏡27與球面像差校正透鏡28和四。球面像差 校正透鏡觀和四校正由蓋玻片3 (或者蓋玻片3和樣本幻所導致的球面像差。換言之， 物鏡23為具有校正環功能的物鏡。聚光透鏡27球面的兩側面均為非球面，因此校正了聚光透鏡27的球面像差。通過透鏡移動機構30來保持球面像差校正透鏡28和四以使其可沿著光軸移動。 透鏡移動機構30包括諸如步進電動機的驅動源(未示出)。驅動源電連接至主控制器51。 根據主控制器51的控制，移動球面像差校正透鏡28和四的相對位置，從而校正了球面像差。圖1和圖3均示出了使用兩個球面像差校正透鏡的情況。然而，球面像差校正透 鏡的數量可以為一個或三個以上。可以不具體限制球面像差校正透鏡的數量。照明光學系統75包括照明透鏡25和照明光源26。作為照明光源沈，例如，使用氙燈或者鹵素燈。照明光學系統75不局限于透射照 明，也可以由反射照明構成。這對于稍后要描述的預掃描單元中的照明光學系統76也同樣 適用。將第一攝像單元37設置在高放大倍率光學系統22的成像位置處。第一攝像單元 37包括諸如CCD(電荷耦合器件)傳感器或者CMOS (互補金屬氧化物半導體)傳感器的攝 像器件。預掃描單元31包括預掃描光學系統32、照明光學系統76以及第二攝像單元38。 預掃描單元31用于在獲取試樣1的高放大倍率圖像之前獲取試樣1的成像范圍6 (參見在 圖2B中的虛線)、焦點信息等。預掃描光學系統32包括攝像透鏡33。此外，預掃描光學系統32包括當獲取試 樣1的結構信息時所使用的一個透鏡組或者多個透鏡組(未示出)。照明光學系統76包括照明透鏡34和照明光源35。將第二攝像單元38設置在預掃描光學系統32的成像位置處。第二攝像單元38 包括諸如CCD(電荷耦合器件)傳感器或者CMOS (互補金屬氧化物半導體)傳感器的攝像 器件。例如，控制裝置50為PC(個人計算機)，包括含有CPU(中央處理單元)等的主8控制器51、存儲單元52以及圖像處理單元53。將主控制器51電連接至包括在顯微鏡系統100中的各個單元，并且總體控制顯微 鏡系統100。例如，主控制器51執行對試樣1的加載、球面像差校正透鏡28和四的移動、 載物臺41的移動等的控制的處理。此外，主控制器51從第一攝像單元37和第二攝像單元 38獲取圖像信息，從移動機構42獲取載物臺41的位置信息(試樣1的位置信息)等。對于存儲單元52，使用諸如磁盤或者光盤的盤狀存儲介質。可選地，存儲單元可以 為諸如固態(半導體、電介質或者磁阻)存儲器的存儲介質。存儲單元52存儲對于顯微鏡系統100的處理所必需的各種程序、查詢表等。此外， 存儲單元52存儲從主控制器51輸出的圖像信息、成像范圍的信息、焦點信息、載物臺的位 置信息(試樣的位置信息)等。圖像處理單元53提取存儲在存儲單元52中的圖像信息和位置信息，并且基于所 提取的圖像信息和位置信息執行圖像處理。此外，圖像處理單元53根據主控制器51的控 制將通過圖像處理所生成的圖像輸出至顯示裝置61，以在顯示裝置61上顯示該圖像。例如，顯示裝置61由液晶顯示器、EL(電致發光)顯示器等構成。輸入裝置62包 括鍵盤、鼠標等。[操作的描述]接下來，將描述通過根據該實施方式的顯微鏡系統100進行的處理。首先，作為通過顯微鏡系統100處理的預備步驟，通過用戶制備多個試樣1。在這 種情況下，用戶將樣本2切片，并且將切片的樣本2夾于顯微鏡載玻片4和蓋玻片3之間， 從而制備多個試樣1。用戶打開容納裝置10的開/關單元14，從容納裝置10取出架機構12。然后，用 戶將多個試樣ι放在從容納裝置10所取出的架機構12中。用戶經由開/關單元14將架 機構12放入容納裝置10，架機構12設置有多個試樣1，并且將架機構12安裝在容納裝置 10中。在這種情況下，將架機構12安裝在容納裝置10內的預定位置處并且進行固定。接下來，用戶操作輸入裝置62以指示控制裝置50開始處理，然后，開始通過顯微 鏡系統100進行的處理。圖4是示出了通過顯微鏡系統100進行的處理的流程圖。主控制器51判定是否從輸入裝置62輸入了開始處理的信號(步驟101)。在沒有輸入開始處理的信號的情況下(在步驟101中的“否”)，主控制器51返回 步驟101，并且再次判定是否輸入了開始處理的信號。換言之，主控制器51在等待輸入開始 處理的信號時為待機狀態。當從輸入裝置62輸入開始處理的信號時(在步驟101中的“是”)，主控制器51前 進至下一步驟102。在步驟102中，主控制器51驅動加載機構13，并且從容納裝置10選擇 性地加載架機構12中所容納的多個試樣1的任何一個。將從容納裝置10所加載的試樣1 傳遞至傳送裝置70。主控制器51驅動傳送裝置70將從容納裝置10所加載的試樣1傳送 至載物臺41上。將試樣1放置在載物臺41的對應于用于光路的開口 45 (其設置在載物臺 41的中央的附近)的位置處，并且通過保持單元(未示出)保持該試樣不被移動。當將試樣1傳送到載物臺41上時，主控制器51驅動移動機構42將載物臺41移 動至預掃描單元31的位置(步驟103)。9
接下來，主控制器51執行預掃描(步驟104和步驟105)。在預掃描期間，設置試樣1的成像范圍6(參見圖2B的虛線)(步驟104)，然后獲 取試樣1的焦點信息和結構信息(步驟105)。在步驟104，在設置試樣1的成像范圍6的過程中，首先，主控制器51通過第二攝 像單元38攝取整個試樣1的圖像，因此，獲取試樣1的完整圖像1。接下來，主控制器51基 于攝取的試樣1的完整圖像的亮度信息來檢測試樣2的邊緣。然后，主控制器51將由邊緣 所圍繞的區域設置為成像范圍6，并且將成像范圍6存儲在存儲單元52中。應該注意，通過均用作試樣的單位區域的微區域5 (參見圖2B的虛線)設置成像 范圍6。微區域5為與在高放大倍率圖像獲取單元21中所攝取的高放大倍率圖像相對應的 單位區域。例如，微區域5具有ImmXlmm的大小，但是不局限于此。在步驟105，在獲取焦點信息時，例如，使用TTL(通過透鏡)方式的自動聚焦來獲 取焦點信息。TTL方式的自動聚焦的實例包括對比度(圖像銳度)方式的自動聚焦和相 位差方式的自動聚焦，但是TTL方式的自動聚焦不局限于此。在執行對比度方式的自動聚焦的情況下，主控制器51從第二攝像單元38獲取圖 像信息，并且從該圖像數據檢測圖像銳度(sharpness，清晰度)。為了評價圖像銳度，使用 指示高頻分量(其當圖像信息的信號通過BPF (帶通濾波器)時所獲得)的強度的信號，或 者通過微分提取的圖像信息的信號的模糊寬度的銳度。主控制器51在ζ軸方向上移動載物臺41以提高圖像銳度。然后，主控制器51在 圖像銳度由增加切換至降低的點處反轉載物臺41的移動方向，在圖像銳度變成最大值的 點處停止移動載物臺41。主控制器51將載物臺41的ζ軸方向上的焦點位置存儲為焦點信息。在使用相位差方式自動聚焦的情況下，例如，將一對C⑶線傳感器(line sensor)、光瞳分離單元、半反射鏡等(未示出)添加至預掃描光學系統32。例如，將半反射 鏡設置在光軸上的預定位置處，其將部分光束引導至CCD線傳感器側。一對CCD線傳感器中的每個接收通過在光瞳分離單元將一束光分成兩束而獲得 的光束，并且將與接收的光量相對應的信號輸出至主控制器51。主控制器51檢測基于接收 的光量輸出的信號的位移量，即，在光束的分離方向上的相對位置的位移量。然后，主控制 器51計算散焦量。主控制器51基于散焦量計算焦點位置。然后，主控制器51將計算的焦點位置作 為焦點信息存儲在存儲單元52中。通常對于包括在試樣1的成像范圍6中的所有微區域5獲取焦點信息。由于主控 制器51已經識別出成像范圍6，所以僅需要獲取包括在成像范圍6中的微區域5的焦點信 肩、ο可選地，在包括在成像范圍6中的微區域5內，可以獲取選取為代表性區域的微區 域5的焦點信息。例如，選取為代表性區域的微區域5的數量為4個，但是該數量不局限于 此。可以根據成像范圍6的大小改變選取為代表性區域的微區域5的數量。在獲取所有微區域5的焦點信息的情況下，獲得了圖像質量方面的優點。在獲得 代表性區域的焦點信息的情況下，獲得了時間效率方面的優點。對于所有微區域5獲取焦點信息的情況和對于代表性區域獲取焦點信息的情況可以互相切換。在步驟105中，除獲取焦點信息以外，還執行試樣1的結構信息的獲取。試樣1的 結構信息包括蓋玻片3的厚度、樣本2的厚度、顯微鏡載玻片4的厚度等。通過包括在預 掃描光學系統32中的一個透鏡組或者多個透鏡組(未示出)獲取試樣1的結構信息。雖然沒有限制，但是通常，對包括在試樣1的成像范圍6中的所有微區域5獲取試 樣1的結構信息。在包括在成像范圍6中的微區域5中，可以對于選擇為代表性區域的微 區域5獲取試樣1的結構信息。對于所有微區域5獲取試樣1的結構信息的情況和對于代 表性微區域5獲取試樣1的結構信息的情況可以相互切換。當預處理單元31的處理結束時，主控制器51驅動移動機構42將載物臺41移至 高放大倍率圖像獲取單元21 (步驟106)。然后，主控制器51前進至步驟107，在步驟107 和此后獲取試樣1的高放大倍率圖像。在這種情況下，主控制器51首先通過水平移動單元44的驅動在水平面上移動載 物臺41，并且將置于載物臺41上的試樣1移動至初始位置(步驟107)。這里，初始位置是與包括在試樣1的成像范圍6中的微區域5中首先被攝取高放 大倍率圖像的微區域5相對應的位置。當將試樣1移至初始位置時，將首先被攝取高放大 倍率圖像的微區域5配置在高放大倍率光學系統22的光軸上。例如，首先被攝取圖像的微區域5是位于包括在成像范圍6中的微區域5的左上 部的微區域fe，但是微區域fe不限于此。首先被攝取圖像的微區域5可以是位于左下部、 右上部或右下部的微區域5。首先被攝取圖像的微區域5可以沒有具體限制。接下來，主控制器51通過移動機構42的升/降單元43的驅動在垂直方向上移動 載物臺41，并且沿著高放大倍率光學系統22的光軸移動試樣1。因此，主控制器51執行要 被攝取圖像的微區域5的聚焦(步驟108)。在這種情況下，主控制器51基于在上述步驟 105中所獲得的焦點信息，在垂直方向上移動載物臺41，并且執行要被攝取圖像的微區域5 的聚焦。接下來，主控制器51驅動透鏡移動機構30將球面像差校正透鏡28和四移至適 當位置，并且校正球面像差(步驟109)。在這種情況下，主控制器51驅動透鏡移動機構30基于在預掃描單元30中所獲取 的信息沿著光軸移動球面像差校正透鏡觀和四，并且校正球面像差。將詳細地描述球面像差校正。圖5是用于說明球面像差校正的基本概念的示圖。圖5示出了焦點位置(參見χ標記)位于從蓋玻片3的底面稍微移位的位置處的 情況。球面像差與從蓋玻片3的上表面延伸至焦點位置的距離D4 (第一距離)具有相關 關系。因此，在球面像差校正時，球面像差校正透鏡觀和四的位置與從蓋玻片3的上表面 延伸至焦點位置的距離D4具有相關關系。結果，如果主控制器51可以識別從蓋玻片3的 上表面延伸至焦點位置的距離D4，則主控制器5可以通過將球面像差校正透鏡28和四移 至適當位置來校正球面像差。由于主控制器51在如上所述的預掃描時獲取了焦點信息(步驟105)，所以已知從 聚光透鏡27的前表面側的前端部至顯微鏡載玻片4的底面的距離D1。另外，由于主控制器51在預掃描時獲取了試樣1的結構信息(步驟105)，所以也已知從蓋玻片3的上表面至顯 微鏡載玻片4的底面的距離D2 (試樣1的厚度)。此外，基于聚光透鏡27的焦距也掌握了從聚光透鏡27的前表面側的前端部至焦 點位置的距離D3。因此，可以根據以下表達式(1)計算從載玻片3的上表面至焦點位置的距離D4。D4 = D2+D3-D1 (1)主控制器51基于如此計算的距離D4獲得球面像差校正透鏡28和四的移動量， 并且將球面像差校正透鏡28和四移動至適當位置。通常，主控制器51參照表示距離D4與球面像差校正透鏡28和四的位置之間關 系的查詢表，獲得球面像差校正透鏡28和四的移動量，并且將球面像差校正透鏡28和四 移動至適當位置。可選地，主控制器51可以根據存儲在存儲單元52中的程序基于距離D4 獲得球面像差校正透鏡28和四的移動量。在圖5的描述中，已描述了將聚光透鏡27的前表面側的前端部設置為距離Dl和 距離D3的基準的情況。然而，設置為距離Dl和距離D3的基準的位置可以不為聚光透鏡27 的前表面側的前端部。只要其為顯微鏡透筒36側的固定位置，設置為距離Dl和距離D3的 基準的位置就可以為任何位置。返回參照圖4，當校正了球面像差時，主控制器51通過第一攝像單元37攝取試樣 1(樣本幻的微區域5的圖像，并且獲取高放大倍率圖像(步驟110)。將高放大倍率圖像 及載物臺41的位置信息(試樣1的位置信息)存儲在存儲單元52中。在步驟110中，主控制器51可以通過移動機構42的驅動在ζ軸方向上改變載物 臺41的位置，并且獲取多個高放大倍率圖像。具體地，主控制器51可以在ζ軸方向上掃描 試樣1的同時，獲取多個高放大倍率圖像。在這種情況下，基于在以上所述的步驟105中所 獲得的試樣1的結構信息(蓋玻片3、試樣2以及顯微鏡載玻片4的各自的厚度)，主控制 器51在ζ軸方向上掃描試樣1的同時獲取多個高放大倍率圖像。例如，在每次獲取高放大 倍率圖像時，載物臺41在ζ軸方向上的移動量為10 μ m，但是該移動量不限于此。當攝取了試樣1的所有微區域5的圖像時，主控制器51判定在成像區域6中是否 存在沒有被攝取圖像的微區域5 (步驟111)。在存在沒有被攝取圖像的微區域5的情況下(在步驟111中的“是”)，主控制器 51通過水平移動單元44的驅動在水平方向上移動載物臺41，并且將試樣1移動至下一位 置(步驟11 。當將試樣1移動至下一位置時，將接下來要被攝取圖像的微區域5配置在 高放大倍率光學系統22的光軸上。應該注意，包括在試樣1的成像范圍6中的微區域5的 圖像的攝取順序沒有具體限制。當將試樣1移動至下一位置時，主控制器51再次執行在步驟108至步驟110中所 示的處理，并且獲取試樣1 (樣本幻的高放大倍率圖像。在步驟111不存在沒有被攝取圖像的微區域5的情況下(在步驟111中的“否”)， 即，攝取了包括在成像范圍6中的所有微區域5的圖像，主控制器51前進至下一步驟113。在步驟113中，主控制器51執行將進行了成像的試樣1返回至容納裝置10的處 理。在這種情況下，首先，主控制器51驅動移動機構42的水平移動單元44將載物臺41移 動至傳送裝置70側，并且將進行了成像的試樣1傳遞至傳送裝置70。主控制器51控制傳送裝置70和加載機構13以使進行了成像的試樣1返回至容納裝置10的初始位置。當進行了成像的試樣1返回至初始位置時，主控制器51判定在容納裝置10中是 否存在沒有進行成像的試樣1 (步驟114)。在存在沒有進行成像的試樣1的情況下(在步 驟114中的“是”)，主控制器51返回步驟102，并且執行在步驟102至步驟113中所示的處 理。然后，主控制器51獲取試樣1的高放大倍率圖像。在步驟114不存在沒有進行成像的試樣(在步驟114中的“否”)S卩，攝取了容納 裝置10中所容納的所有試樣1的圖像的情況下，結束通過主控制器51進行的獲取圖像的處理。圖像處理單元53基于攝取的高放大倍率圖像(部分圖像)和表示高放大倍率圖 像的獲取位置的位置信息生成合成圖像。當生成合成圖像時，圖像處理單元53根據主控制 器51的控制將生成的合成圖像輸出至顯示裝置61進行顯示。以這種方式，在顯示裝置61 上顯示試樣1(樣本幻的圖像。[作用等]如上所述，在該實施方式中，通過主控制器51的控制移動球面像差校正透鏡28和 四以校正球面像差，結果是可以自動校正球面像差。結果，與手動校正球面像差的情況相比 較，提高了處理效率，另外，可以消除手動校正球面像差時所引起的不方便。此外，在該實施方式中，主控制器51計算從蓋玻片3的上表面延伸至焦點位置的 距離D4，并且基于距離D4校正球面像差，結果可以精確地校正球面像差。另外，在該實施方式中，有效使用了在預掃描單元31中所獲取的信息(用于在高 放大倍率圖像獲取單元21中聚焦的焦點信息，用于在ζ軸方向上掃描的試樣1的結構信 息)，結果可以計算出距離D4。結果，不需要另外將用于計算距離D4的新構件等設置到顯 微鏡系統，這導致了成本降低。[第一實施方式的修改例]在第一實施方式的描述中，通過以上表達式(1)來計算從蓋玻片3的上表面延伸 至焦點位置的距離D4。然而，還可以通過除表達式(1)以外的其他方法來計算距離D4。參照圖5，例如，可以通過以下表達式(2)來計算從蓋玻片3的上表面延伸至焦點 位置的距離D4。D4 = D3-D5 (2)具體地，可以通過從聚光透鏡27的前表面側的前端部延伸至焦點位置的距離D3 和從聚光透鏡27的前表面側的前端部延伸至蓋玻片3的上表面的距離D5(第二距離)之 間的差值來計算從蓋玻片3的上表面延伸至焦點位置的距離D4。在通過以上表達式⑵來計算距離D4的情況下，顯微鏡系統100另外設置有檢測 從聚光透鏡27的前表面側的前端部延伸至蓋玻片3的上表面的距離D5的距離傳感器(距 離測量單元)(未示出)。主控制器51可以從距離傳感器獲取距離D5的信息，并且基于例如當執行并獲得 在步驟108中的聚焦時的距離的信息來計算距離D4。此外，當以這種方法計算距離D4時，可以精確地校正球面像差。應該注意，圖5示出了將聚光透鏡27的前表面側的前端部設置為距離D5的基準 的情況。然而，設置為距離D5的基準的位置可以不是聚光透鏡27的前表面側的前端部。只要其為顯微鏡筒36側面上的固定位置，設置為距離D5的基準的位置就可以是任何位置。(第二實施方式)接下來，將描述本發明的第二實施方式。在第二實施方式中，顯微鏡系統100的結構和顯微鏡系統100的各個單元的結構 與實施方式1中的基本相同。因此，將主要描述顯微鏡系統100的操作。應該注意，在第二 實施方式和下文的描述中，通過相同的參考數字來表示在實施方式1中描述的顯微鏡系統 100和顯微鏡系統100的各個單元。圖6是示出了根據第二實施方式的顯微鏡系統的操作的流程圖。在根據上述第一實施方式的顯微鏡系統100進行的處理的描述中，當預掃描單元 31執行預掃描時，獲取焦點信息(參見圖4的步驟105)。另一方面，根據第二實施方式的 顯微鏡系統100進行的處理與根據上述第一實施方式的顯微鏡系統100進行的處理不同， 其不同在于，當在高放大倍率獲取單元21中獲取高放大倍率圖像時，檢測焦點位置(參見 圖6的步驟208)。主控制器51判定是否從輸入裝置62輸入了開始處理的信號(步驟201)。在輸 入了開始處理的信號的情況下，從容納裝置10加載試樣1，并且傳送至載物臺41上(步驟 202)。接下來，主控制器51將載物臺41移動至預掃描單元31 (步驟203)，并且執行試 樣1的預掃描。主控制器51獲取試樣1的完整圖像，并且通過檢測完整圖像的邊緣，設置 試樣1的成像范圍6 (步驟204)。接下來，主控制器51獲取試樣1的結構信息(蓋玻片3、試樣2以及顯微鏡載玻片 4的各自的厚度)(步驟20 。應該注意，當執行預掃描時，沒有獲取焦點信息。當停止預掃描時，主控制器51將載物臺41移動至高放大倍率圖像獲取單元 21 (步驟206)，并且獲取試樣1的高放大倍率圖像。主控制器51在水平方向上移動載物臺41，以將試樣1移動至初始位置(步驟 207)。接下來，將TTL方式的自動聚焦用于執行聚焦。TTL方式的自動聚焦的實例包括對 比度(圖像銳度)方式的自動聚焦和相位差方式的自動聚焦。在執行對比度方式的自動聚焦的情況下，主控制器51僅需要從通過第一攝像單 元37所獲取的圖像數據中檢測圖像銳度，并且在圖像銳度變成最大值的點處停止在ζ軸方 向上移動載物臺41在使用相位差方式的自動聚焦的情況下，例如，將一對CCD線傳感器、光瞳分離單 元、半反射鏡等(未示出)添加至高放大倍率光學系統22。例如，將半反射鏡設置在物鏡 23和成像透鏡M之間的光軸上，其將一部分光束引導至CXD線傳感器側。一對CXD線傳感 器中的每個接收在光瞳分離單元中通過將一束光分成兩束而獲得的光束，并且將與接收到 的光量相對應的信號輸出至主控制器51。主控制器51檢測基于接收到的光量輸出的信號 的位移量，然后計算散焦量。主控制器51基于計算的散焦量在ζ軸方向上移動載物臺41。當結束TTL方式的聚焦時，主控制器51基于從蓋玻片3的上表面延伸至焦點位置 的距離D4計算球面像差校正透鏡觀和四的移動量。然后，主控制器51根據計算的移動 量在ζ軸方向上將球面像差校正透鏡觀和四移動至適當位置，并且校正球面像差。14
可以將以上表達式(1)和( 的任何一個用于計算從蓋玻片3的上表面延伸至焦 點位置的距離D4。應該注意，在使用以上表達式O)的情況下，顯微鏡系統100另外設置 有檢測從聚光透鏡17的前表面側的前端部延伸至蓋玻片3的上表面的距離D5的距離傳感器。當校正了球面像差時，主控制器51通過第一攝像單元37攝取試樣1的微區域5 的圖像，并且獲取試樣1(樣本幻的高放大倍率圖像(步驟210)。在步驟210中，在ζ軸方 向上執行掃描的同時，可以獲取多個高放大倍率圖像。在這種情況下，主控制器51基于當 執行預掃描時獲取的試樣1的結構信息，在ζ軸方向上掃描試樣1的同時獲取多個高放大 倍率圖像。接下來，主控制器51判定是否存在沒有被攝取圖像的微區域5 (步驟211)。在存 在沒有被攝取圖像的微區域5的情況下，主控制器51在水平方向上移動載物臺41以將試 樣1移動至下一位置(步驟21幻。然后，主控制器51再次執行在步驟208至步驟210中所 示的處理，并且獲取試樣1(樣本幻的高放大倍率圖像。應該注意，由于在第二實施方式中 通過TTL方式對包括在成像范圍6中的所有微區域5檢測焦點位置，所以與對代表性區域 檢測焦點位置的情況相比較，在圖像質量方面獲得優勢。在攝取了包括在成像范圍6中的所有微區域5的圖像的情況下(在步驟211中的 “否”)，主控制器51使進行了成像的試樣1返回至容納裝置10中的初始位置(步驟213)。接下來，主控制器51判定在容納裝置10中是否存在沒有進行成像的試樣1 (步驟 214)。在存在沒有進行成像的試樣1的情況下，主控制器51返回步驟202，執行在步驟202 至步驟213中所示的處理。另一方面，當攝取了容納裝置10中所容納的所有試樣1的圖像 時，停止通過主控制器51進行的獲取圖像的處理。通過以上處理也產生了與上述第一實施方式中類似的作用和效果。具體地，通過 主控制器51的控制移動球面像差校正透鏡28和四以校正球面像差，結果是可以自動校正 球面像差。結果，與手動校正球面像差的情況相比，提高了處理效率，另外，可以消除當手動 校正球面像差時所引起的不方便。[第二實施方式的修改例]在第二實施方式中，可以省略預掃描單元31。具體地，在第二實施方式中，在高放 大倍率圖像獲取單元21中檢測焦點位置，所以并非必須要設置預掃描單元31。這里，在省略預掃描單元31的情況下，在步驟205中沒有獲取試樣1的結構信息。 在這種情況下，沒有獲取在以上表達式(1)的右側部分中表示的距離D2(從蓋玻片3的上 表面至顯微鏡載玻片4的底面的距離)的信息。因此，在省略預掃描單元31的情況下，使用以上表達式(2)計算用于球面像差校 正的從蓋玻片3的上表面至焦點位置的距離D4。可選地，在省略預處理單元31的情況下，可以另外將厚度測量單元(未示出)設 置至顯微鏡系統，厚度測量單元測量從蓋玻片3的上表面延伸至顯微鏡載玻片4的底面的 距離D2(試樣1的總厚度)，使用以上表達式(1)計算距離D4。雖然可以將厚度測量單元 設置至顯微鏡系統10的任何位置，但是例如，將其設置在容納裝置10中或者設置至傳送裝 置70。主控制器51僅需要基于通過厚度測量單元所測量的距離D2通過表達式(1)計算距 離D4，并且校正球面像差。
(第三實施方式)接下來，將描述本發明的第三實施方式。第三實施方式在高放大倍率光學系統的結構方面與上述實施方式不同。在第三實 施方式中，提供了以下結構，其中，即使當移動包括在高放大倍率光學系統中的透鏡并且校 正了球面像差時，也可以將高放大倍率光學系統的焦點位置和成像位置之間的距離(下文 中，稱作物像距離)保持恒定。因此，將主要描述這點。圖7是示出了包括在根據第三實施方式的顯微鏡系統中的高放大倍率光學系統 的示圖。如圖7所示，高放大倍率光學系統81包括物鏡82和成像透鏡83。
分別通過透鏡移動機構84和85來保持物鏡82和成像透鏡83，以使其可沿著光軸 移動。物鏡82和成像透鏡83可以通過透鏡移動機構84和85改變相對距離來校正球面像差。換言之，在第三實施方式中的物鏡82和成像透鏡83還用作球面像差校正透鏡。物鏡82在兩側上具有非球面，并且校正了物鏡82的球面像差。將物鏡82的焦距 設置為例如200mm，將物鏡82的前表面側的前端部至焦點位置的距離設置為例如195. 8mm。 將物鏡82的后表面側的曲率半徑設置為例如813. 645mm,并將后表面側的圓錐曲線常數設 置為例如-51. 05。此外，將物鏡82的前表面側的曲率半徑設置為例如116. 359mm，并將前 表面側的圓錐曲線常數設置為-2. 5907。例如，物鏡82在物體側的NA (數值孔徑)為例如0. 707，并且物鏡82的厚度為例 如 50mm。應該注意，物鏡82的焦距、曲率半徑、圓錐曲線常數、NA、厚度等的值不限于上述 值，并當然可以使用其他值。作為成像透鏡83，假設為理想的薄透鏡。例如，將成像透鏡83的焦距設置為 100mm，但是焦距不局限于此。如上所述，雖然物鏡82和成像透鏡83可移動，但是例如，將基準狀態下第一攝像 單元37的成像表面和成像透鏡83之間的距離設置為100mm。此外，在基準狀態下，例如，將 在成像透鏡83和物鏡82的后表面側的后端部之間的距離設置為100mm。圖8是在圖7中所示的高放大倍率光學系統的點示圖。如圖8所示，點示圖的RMS (均方根)半徑為0. 568 μ m，這基本上等于衍射極限。接下來，將描述當移動包括在高放大倍率光學系統81中的透鏡82和83、并且校正 球面像差時，用于防止高放大倍率光學系統81的物像距離改變的基本概念。圖9、圖10和圖11是用于說明基本概念的示圖。如圖9所示，將具有IOmm厚度的蓋玻片3插入高放大倍率光學系統81中，并且將 焦點調節至蓋玻片3的底面。在這種情況下焦點位置和成像位置之間的距離(物像距離)為449. 38mm( = 100 mm+100mm+50mm+189. 38mm+10mm)。另一方面，在圖7中所示的情況，即，沒有插入蓋玻片的情況的物像距離為 445. 8mm( = 100mm+100mm+50mm+195. 8mm)。因此，在將具有IOmm厚度的蓋玻片3插入高放大倍率光學系統81的情況下，與沒有插入蓋玻片3的情況相比較，物像距離增加了 3. 58mm。這是因為蓋玻片3的折射率(例 如，1. 5的折射率)導致了焦點位置的移動。在這種狀態下物像距離發生改變。所以，為了使物像距離與沒有插入蓋玻片3的 情況相一致，假設如圖IOA所示調節物鏡82和成像透鏡83之間的距離。具體地，將物鏡82 向上移動3. 58mm,并且將蓋玻片3向上移動3. 58mm。在這種情況下，物像距離變成 445. 8mm ( = 100mm+96. 42mm+50mm+189. 38mm+10mm) ，這與沒有插入蓋玻片3的情況的物像距離相一致。圖IOB是在圖IOA中所示的情況的點示圖。如圖IOB所示，點示圖的RMS半徑由于球面像差的影響明顯劣化，其為41 μ m。換 言之，即使當物像距離相一致時，RMS半徑也由于球面像差的影響而明顯劣化。可以通過改變蓋玻片3 (對象)和成像透鏡83之間的距離來校正該球面像差。圖IlA示出了在物像距離與沒有插入蓋玻片3的情況相一致并且RMS變成最小值 的情況下，各個構件之間的位置關系。如圖IlA所示，在將具有IOmm厚度的蓋玻片3插入高放大倍率光學系統81的情 況下，將成像表面和成像透鏡83之間的距離設置為100. 064mm(將在蓋玻片3的上表面和 成像透鏡83之間的距離設置為345. 709mm)。此外，將成像透鏡83和物鏡82的后表面之 間的距離設置為96. 743mm,并將物鏡82的前表面和蓋玻片3的上表面之間的距離設置為 188.966mm。通過將成像透鏡83、物鏡82等設置為具有上述位置關系，可以在保持物像距離恒 定的情況下適當地校正球面像差。圖IlB是在圖IlA中所示的情況的點示圖。如圖IlB所示，適當地校正了球面像差，并且在這種情況下的RMS半徑為5. 79 μ m。圖12是示出了蓋玻片3的厚度和各種參數之間的關系的表。在圖12中，將蓋玻 片3 (物體)和成像透鏡83之間的距離、成像透鏡83和物鏡82的后表面之間的距離、物鏡 82的前表面和蓋玻片3的上表面之間的距離以及RMS半徑表示為各種參數。圖13是示出了通過對圖12中所示的表繪圖所獲得的凸輪曲線的示圖。應該注意，圖12和圖13均示出了通過將具有零厚度的蓋玻片3作為基準的改變 量(參見圖7)。雖然圖12和圖13示出了蓋玻片3的厚度和各種參數之間的關系，但是對于從蓋 玻片3的上表面延伸至焦點位置的距離D4(參見圖5)與各種參數之間的關系也建立了在 圖12和圖13中所示的關系。通常，主控制器51可以基于通過上述表達式⑴或者⑵所計算的距離D4移動 成像透鏡、物鏡以及載物臺，以使各種參數滿足在圖12和圖13中所示的關系。結果，可以 在保持物像距離恒定的情況下適當地校正球面像差。如上所述，在第三實施方式中，由于可以在保持物像距離恒定的情況下適當地校 正球面像差，所以實現了高速并且簡單的聚焦。[第三實施方式的修改例]在第三實施方式中，通過透鏡移動機構84和85沿著光軸移動物鏡82和成像透鏡 83這兩者。然而，可以通過透鏡移動機構僅移動物鏡82和成像透鏡83之一。另外，在第三實施方式中描述了由兩個透鏡82和83構成高放大倍率光學系統81的情況，但是包括在高 放大倍率光學系統81中的透鏡的數量可以為3個以上。在這種情況下，通過透鏡移動機構 沿著光軸所移動的透鏡(球面像差校正透鏡)的數量沒有具體限制。(各種修改例)在上述實施方式中，當執行聚焦時，在垂直方向(ζ軸方向)上移動載物臺41側。 然而，本發明不局限于此，可以在垂直方向上移動顯微鏡筒36側。可選地，載物臺41側和 顯微鏡36側這兩者均可以在垂直方向上相對移動。本領域的技術人員應當理解，根據設計要求和其他因素，可以有多種修改、組合、 子組合和變形，均應包含在本發明的權利要求或其等同物的范圍之內。
權利要求
1.一種顯微鏡系統，包括 容納單元，能夠容納多個試樣；載物臺，從所述容納單元所加載的各個所述試樣置于所述載物臺上； 光學系統，包括用于球面像差校正的透鏡；攝像單元，能夠經由所述光學系統攝取置于所述載物臺上的各個所述試樣的部分圖像；移動機構，沿著光軸移動用于球面像差校正的所述透鏡；控制單元，控制所述移動機構對用于球面像差校正的所述透鏡的移動，并且校正球面像差；圖像處理單元，組合通過所述攝像單元所攝取的所述部分圖像并且生成合成圖像；以及顯示單元，顯示所生成的所述合成圖像。
2.根據權利要求1所述的顯微鏡系統，其中，所述控制單元計算各個所述試樣的上表面和所述光學系統的焦點位置之間的 第一距離，并且根據所述第一距離控制所述移動機構對用于球面像差校正的所述透鏡的移動。
3.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，其中，所述控制單元移動用于球面像差校正的所述透鏡，以使所述光學系統的所述焦 點位置和成像位置之間的距離保持恒定。
4.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，還包括預掃描單元，在所述攝像單元攝取各個所述試樣的部分圖像之前預掃描各個所述試樣，其中，所述控制單元基于通過所述預掃描單元所獲得的信息計算所述第一距離。
5.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，還包括 厚度測量單元，測量各個所述試樣的厚度，其中，所述控制單元基于各個所述試樣的厚度信息計算所述第一距離。
6.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，還包括 顯微鏡筒，包括所述光學系統；移動單元，沿著所述光軸移動所述顯微鏡筒和所述載物臺中的至少一個；以及 距離測量單元，測量所述顯微鏡筒側的預定位置和各個所述試樣的上表面之間的第二 距離，其中，所述控制單元通過控制所述移動單元執行聚焦，并且基于在獲得焦點時從所述 距離測量單元所獲得的所述第二距離的信息來計算所述第一距離。
7.根據權利要求1所述的顯微鏡系統，還包括 顯微鏡筒，包括所述光學系統；以及移動單元，沿著所述光軸移動所述顯微鏡筒和所述載物臺中的至少一個， 其中，所述控制單元通過控制所述移動單元來執行聚焦。
8.根據權利要求7所述的顯微鏡系統， 其中，所述控制單元執行通過透鏡方式的聚焦。
9. 一種顯微鏡系統的控制方法，包括從能夠容納多個試樣的容納單元加載試樣，并且將所述試樣置于載物臺上； 通過控制移動機構來校正球面像差，所述移動機構沿著包括用于球面像差校正的透鏡 的光學系統的光軸來移動用于球面像差校正的所述透鏡；從能夠經由所述光學系統攝取置于所述載物臺上的所述試樣的部分圖像的攝像單元 獲取所述部分圖像的信息；基于所述部分圖像的信息生成合成圖像；以及 在顯示單元上顯示所生成的所述合成圖像。
全文摘要
本發明公開了顯微鏡系統和顯微鏡系統的控制方法，該顯微鏡系統包括容納單元、載物臺、光學系統、攝像單元、移動機構、控制單元、圖像處理單元和顯示單元。容納單元能夠容納多個試樣。在載物臺上放置從容納單元所加載的各個試樣。光學系統包括用于球面像差校正的透鏡。攝像單元能夠經由光學系統攝取置于載物臺上的各個試樣的部分圖像。移動機構沿著光軸移動用于球面像差校正的透鏡。控制單元控制移動機構對用于球面像差校正的透鏡的移動，并校正球面像差。圖像處理單元組合通過攝像單元所攝取的部分圖像并生成合成圖像。顯示單元顯示所生成的合成圖像。
文檔編號G02B21/00GK102053358SQ20101052314
公開日2011年5月11日 申請日期2010年10月26日 優先權日2009年11月2日
發明者大里潔, 木原信宏, 木島公一朗 申請人:索尼公司