專利名稱：防塵裝置的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種防塵裝置，特別涉及一種防止光學元件沾塵的防塵裝置。
背景技術：
光學元件在出貨前需要對產品進行外觀檢測。現有的檢測方法是將裝有多個光學元件的承載盤放置在顯微鏡下觀察，發現有不良的產品再用鑷子取出。然而，在檢測過程中全部的光學元件都一直處于無遮蓋的空間中，空氣中的灰塵很容易飄落在光學元件上，從而影響光學元件的光學效果。
發明內容
鑒于此，有必要提供一種在光學元件進行檢測時防止灰塵飄落在光學元件上的防
塵裝置。一種防塵裝置，其包括底座、一對滑蓋及承載盤。所述底座包括一對相互平行設置的滑軌。所述承載盤放置在所述滑軌之間用于承載待檢測的光學元件。所述滑蓋通過所述滑軌滑動連接在所述底座上，以在光學元件的檢測過程中遮蓋所述承載盤上暫未被檢測到的光學元件。相對于現有技術，本發明所提供的防塵裝置通過在底座上設置一對可滑動的滑蓋，以在檢測光學元件的過程中遮蓋放置于所述承載盤上暫未被檢測到的光學元件，從而防止灰塵飄落在所述光學元件上。
圖1為本發明實施方式所提供的防塵裝置的結構示意圖。
圖2為圖1中的防塵裝置的滑蓋的結構示意圖。
主要元件符號說明
防塵裝置1
底座10
滑蓋12
承載盤14
承載孔140
光學元件3
承載面100
滑軌102
擋板120
連接臂122
鎖定螺栓124
側邊120a
頂面120b
底面120c
容置空間13
連接面122a
內側面122b
外側面122c
滑動凹槽122d
螺紋通孔122e
具體實施例方式請一并參閱圖1及圖2，本發明實施方式所提供的防塵裝置1包括底座10、一對滑蓋12及承載盤14。所述承載盤14為一扁平的長方體平板。所述承載盤14上開設有多個縱橫排列的承載孔140。待檢測的光學元件3依次放置在所述承載孔140內。所述底座10為一扁平的長方體平板，其包括承載面100及設于承載面100的一對相互平行的滑軌102。所述滑軌102為一細長狀長方體突塊，其向上突出于承載面100，并沿所述底座10的長度方向延伸而成。所述兩個滑軌102的間距大于所述承載盤14的寬度。所述每一個滑蓋12包括擋板120、一對連接臂122及至少一個鎖定螺栓124。所述擋板120為一扁平長方體平板，其包括一對相互平行的側邊120a及平行相對的頂面120b 和底面120c。所述連接臂122為一細長狀長方體突塊，其由所述底面120c靠近所述兩側邊 120a的位置垂直向下突出，并沿所述擋板120的長度方向延伸而成。所述擋板120及形成于擋板120兩側的連接臂122共同圍成一 “π”形的容置空間13。所述連接臂122包括連接面122a、內側面12 及外側面122c。所述連接面12 與所述底面120c相互平行設置。所述內側面122b位于所述容置空間13內且與所述連接面12 垂直相連。所述外側面122c位于所述容置空間13外且與所述連接面12 垂直相連。所述每一個連接臂122的連接面12 上沿所述連接臂122的長度方向開設有一滑動凹槽122d。所述滑動凹槽122d的寬度大于所述滑軌102的寬度。所述滑動凹槽122d 與所述滑軌102滑動配合，以使得所述滑蓋12可以沿所述底座10上的滑軌102滑動。所述每個滑蓋12的至少一個連接臂122的外側面122c上開設有貫通至所述滑動凹槽122d的螺紋通孔12加。所述鎖定螺栓IM穿過所述螺紋通孔12 與所述滑軌102相抵靠。通過調節所述鎖定螺栓124，所述滑蓋12可以相對固定于所述滑軌102上的任意位置。當需要檢測所述承載盤14上的光學元件3時，將裝載有光學元件3的所述承載盤 14放置在所述滑軌102之間的承載面100上。沿所述滑軌102移動滑蓋12，使得所述滑蓋 12的擋板120遮擋住所述承載盤14上暫時未被檢測的光學元件3，而僅露出所述承載盤14 上即將要進行檢測的光學元件3。通過鎖定螺栓IM將滑蓋12的位置固定后再對露出的光學元件3進行檢測。當需要更換被檢測的光學元件3時，可以松開所述鎖定螺栓IM來調節滑蓋12的位置，以更換被遮蓋的光學元件3。如此依次循環，直至承載盤14上所有的光學元件3都被檢測完。于本實施方式中，所述承載盤14放置于所述滑軌102之間承載面100的中間位置處。所述兩個滑蓋12分別設置于所述承載盤14的左右兩側。因此，在檢測過程中通過同時調整所述兩個滑蓋12在滑軌102上的位置，可以從承載盤14的左右兩側同時遮蓋光學元件3，從而最大限度地遮蓋在檢測過程中暫時未被檢測的光學元件3，減少灰塵在檢測過程中落入光學元件3的幾率。本技術領域的普通技術人員應當認識到，以上的實施方式僅是用來說明本發明， 而并非用作為對本發明的限定，只要在本發明的實質精神范圍之內，對以上實施例所作的適當改變和變化都落在本發明要求保護的范圍之內。
權利要求
1.一種防塵裝置，其包括底座、一對滑蓋及承載盤，所述底座包括一對相互平行設置的滑軌，所述承載盤放置在所述滑軌之間用于承載待檢測的光學元件，所述滑蓋通過所述滑軌滑動連接在所述底座上，以在光學元件的檢測過程中遮蓋所述承載盤上暫未被檢測到的光學元件。
2.如權利要求1所述的防塵裝置，其特征在于所述承載盤上開設有多個縱橫排列的承載孔，所述光學元件依次放置在所述承載孔內。
3.如權利要求1所述的防塵裝置，其特征在于所述底座包括一承載面，所述滑軌向上突出于所述承載面，并沿所述底座的長度方向延伸而成，所述兩個滑軌的間距大于所述承載盤的寬度。
4.如權利要求1所述的防塵裝置，其特征在于所述滑蓋包括擋板及一對連接臂，所述擋板包括一對相互平行的側邊及平行相對的頂面及底面，所述連接臂由所述底面靠近所述兩側邊的位置垂直向下突出，并沿所述擋板的長度方向延伸而成，所述擋板及形成于擋板兩側的連接臂共同圍成一“H”形狀的容置空間。
5.如權利要求4所述的防塵裝置，其特征在于所述連接臂包括連接面、內側面及外側面，所述連接面與所述擋板的底面相互平行設置，所述內側面位于所述容置空間內且與所述連接面垂直相連，所述外側面位于所述容置空間外且與所述連接面垂直相連。
6.如權利要求5所述的防塵裝置，其特征在于所述每一個連接臂的連接面上均沿所述連接臂的長度方向開設有一滑動凹槽，所述滑動凹槽的寬度大于所述滑軌的寬度，所述滑動凹槽與所述滑軌滑動配合以使得所述滑蓋沿所述滑軌滑動。
7.如權利要求6所述的防塵裝置，其特征在于所述每一個滑蓋包括至少一個鎖定螺栓，所述每一個滑蓋的至少一個連接臂的外側面上開設有貫通至所述滑動凹槽的螺紋通孔，所述鎖定螺栓穿過所述螺紋通孔與所述滑軌相抵靠。
全文摘要
本發明提供一種防塵裝置，其包括底座、一對滑蓋及承載盤。所述底座包括一對相互平行設置的滑軌。所述承載盤放置在所述滑軌之間用于承載待檢測的光學元件。所述滑蓋通過所述滑軌滑動連接在所述底座上，以在光學元件的檢測過程中遮蓋所述承載盤上暫未被檢測到的光學元件。
文檔編號G02B27/00GK102236169SQ20101015432
公開日2011年11月9日 申請日期2010年4月23日 優先權日2010年4月23日
發明者吳承勛 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司